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銀牌會(huì)員 第 9 年
賽默飛電子顯微鏡
認(rèn)證：工商信息已核實(shí)
- 產(chǎn)品分類
- 品牌分類
- SEM掃描電鏡
- 透射電子顯微鏡(透射電鏡、TEM )
- 臺(tái)式掃描電鏡
- TEM透射電鏡
- 冷凍電鏡 (Cryo-EM)
- Micro CT
- 其它無損檢測儀器/設(shè)備
- FIB-SEM DualBeam
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儀企號(hào)
賽默飛電子顯微鏡
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友情鏈接
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賽默飛世爾 電路編輯系統(tǒng) Centrios 電路編輯系統(tǒng)價(jià)格：面議- 品牌：賽默飛世爾
- 型號(hào)：Centrios
- 產(chǎn)地：美洲 美國
用于快速原型設(shè)計(jì)和半導(dǎo)體電路調(diào)試和維修的電路編輯技術(shù)。
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賽默飛世爾 Meridian WS-DP 系統(tǒng)價(jià)格：面議- 品牌：賽默飛世爾
- 型號(hào)：Meridian WS-DP
- 產(chǎn)地：美洲 美國
實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)條件下高達(dá) 300 mm 的全半導(dǎo)體晶片的電氣故障分析。
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賽默飛世爾 電氣故障分析系統(tǒng) Meridian S 系統(tǒng)價(jià)格：面議- 品牌：賽默飛世爾
- 型號(hào)：Meridian S
- 產(chǎn)地：美洲 美國
用于半導(dǎo)體故障分析和服務(wù)實(shí)驗(yàn)室的靜態(tài)光學(xué)故障隔離解決方案。
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賽默飛世爾 DUALBEAM 顯微鏡 Scios 2 DualBeam價(jià)格：面議- 品牌：賽默飛世爾
- 型號(hào)：Scios 2 DualBeam
- 產(chǎn)地：美洲 美國
聚焦離子束掃描電子顯微鏡，用于超高分辨率、高質(zhì)量樣品制備和 3D 表征。
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- 品牌：賽默飛世爾
- 型號(hào)：Aquilos 2 Cryo FIB
- 產(chǎn)地：美洲 美國
具有延長運(yùn)行時(shí)間和增強(qiáng)自動(dòng)化的冷凍電鏡樣品制備工具。
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賽默飛世爾 DUALBEAM 顯微鏡 Helios 5 Hydra DualBeam價(jià)格：面議- 品牌：賽默飛世爾
- 型號(hào)：Helios 5 Hydra Du
- 產(chǎn)地：美洲 美國
具有多個(gè)離子種類、適用于 3D EM 和 TEM 樣品制備的等離子聚焦離子束掃描電子顯微鏡檢查。
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賽默飛世爾 DUALBEAM 顯微鏡 Helios 5 PFIB DualBeam價(jià)格：面議- 品牌：賽默飛世爾
- 型號(hào)：Helios 5 PFIB Dua
- 產(chǎn)地：美洲 美國
用于 TEM 樣品制備（包括 3D 表征、橫截面成像和微加工）的等離子體聚焦離子束掃描電子顯微鏡。
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賽默飛世爾 DUALBEAM 顯微鏡 Helios 5 DualBeam價(jià)格：面議- 品牌：賽默飛世爾
- 型號(hào)：Helios 5 DualBea
- 產(chǎn)地：美洲 美國
用于 TEM 和 STEM 成像或原子探針斷層掃描的樣品制備。產(chǎn)品可實(shí)現(xiàn)先進(jìn)的自動(dòng)化操作，簡單易用，并且能夠進(jìn)行高質(zhì)量的亞表面 3D 表征。
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- 品牌：賽默飛世爾
- 型號(hào)：Helios 5 EXL DualBeam
- 產(chǎn)地：美洲 美國
用于半導(dǎo)體工業(yè)的 FIB-SEM TEM 樣品制備，可實(shí)現(xiàn)全晶圓分析。
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賽默飛世爾 DUALBEAM FIB-SEM 顯微鏡價(jià)格：面議- 品牌：賽默飛世爾
- 型號(hào)：ExSolve Wafer TEM Prep DualBea
- 產(chǎn)地：美洲 美國
用于自動(dòng)化、高通量半導(dǎo)體晶片分析的 TEM 分析樣品制備工作。
滬公網(wǎng)安備 31011502008050號(hào)