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銀牌會(huì)員 第 9 年
賽默飛電子顯微鏡
認(rèn)證:工商信息已核實(shí)
- 產(chǎn)品分類
- 品牌分類
- SEM掃描電鏡
- 透射電子顯微鏡(透射電鏡、TEM )
- 臺(tái)式掃描電鏡
- TEM透射電鏡
- 冷凍電鏡 (Cryo-EM)
- Micro CT
- 其它無(wú)損檢測(cè)儀器/設(shè)備
- FIB-SEM DualBeam
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儀企號(hào)
賽默飛電子顯微鏡
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友情鏈接
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賽默飛世爾 DUALBEAM FIB-SEM 顯微鏡價(jià)格:面議- 品牌:賽默飛世爾
- 型號(hào):ExSolve Wafer TEM Prep DualB
- 產(chǎn)地:美洲 美國(guó)
用于自動(dòng)化、高通量半導(dǎo)體晶片分析的 TEM 分析樣品制備工作。


