在研究先進材料時，首先需要對樣品的表面形貌、晶體結構和化學成分有深刻的了解。無論您是想實現(xiàn)下一次技術創(chuàng)新，還是專注于產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)，這些性息都能幫助您更加了解初始材料的性能，評估缺陷，并確保成品的質(zhì)量

適用于對樣品進行大體積連續(xù)切片以及多能量反卷積三維重構的SEM掃描電鏡。

一款具備優(yōu)異性能的多功能型成像及分析的掃描電鏡

具有環(huán)境功能的掃描電鏡，適用于工業(yè)研究和開發(fā)。

環(huán)境掃描電鏡(ESEM)，用于研究包括含水樣品在內(nèi)的各種樣品。

利用亞納米分辨率和高材料對比度進行納米材料表征和分析。

重新定義掃描電鏡工作流程，讓使用體驗更加愉悅

在大體積樣品上獲得ZG質(zhì)量三個方向分辨率一致三維數(shù)據(jù)

新一體化鎢燈絲掃描電鏡 Axia ChemiSEM，該儀器將微區(qū)成分分析與電鏡成像集成在同一平臺上，快速提供所需微觀形貌及實時成分信息，幫助學術和工業(yè)用戶快速獲得全面、可靠的數(shù)據(jù)，準確執(zhí)行故障分析和缺...

Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam（冷凍聚焦離子束顯微鏡，Cryo-FIB）是一款專用的冷凍雙束顯微鏡系統(tǒng)，可為高端冷凍透射電鏡斷層掃描...

Verios 是 FEI 領先的 XHR（極高分辨率）SEM 系列的第二代產(chǎn)品。在JD半導體制造和材料科學應用中，它可在 1 至 30 kV 范圍內(nèi)提供亞納米量級分辨率以及增強的對比度，滿足材料精密測...

Thermo Scientific? Quattro? 掃描電鏡將成像和分析的全面性能與獨特的環(huán)境模式（ESEM）相結合，使得樣品研究得以在自然狀態(tài)下進行。

Apreo 復合透鏡結合了靜電和磁浸沒技術，可產(chǎn)生前所未有的高分辨率和材料對比度。

Thermo Scientific? Prisma? E SEM是首臺支持一體化ColorSEM技術進行直觀元素分析的鎢燈絲掃描電子顯微鏡。Prisma 配置環(huán)境真空模式，并可靈活配置，多種配件選項能...

FEI Scios? 是一款超高分辨率 DualBeam? 分析系統(tǒng)，能為包括磁性材料在內(nèi)的眾多樣本提供出色的二維和三維性能。FEI Scios 的創(chuàng)新功能可提高通量、精度與易用性，非常適于學院、政府...

一直以來，Helios NanoLab 都綜合采用了 FEI 的ZJ電子和離子光學系統(tǒng)、配件和軟件，能夠為JD納米量級研究提供強大的解決方案。對于從事納米技術前沿研究的科學家，Helios NanoL...