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銀牌會(huì)員 第 8 年
復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司
認(rèn)證：工商信息已核實(shí)
- 產(chǎn)品分類
- 品牌分類
- 激光共聚焦顯微鏡
- 飛納電鏡
- SEM/TEM 離子束制樣設(shè)備
- 原子力顯微鏡
- 原子層沉積方案
- DENS TEM 原位實(shí)驗(yàn)樣品桿
- VSParticle
- 可視化顆粒檢測
- 雙光子顯微鏡
- NEOSCAN 臺(tái)式顯微 CT
- （ 荷蘭）Confocal.nl
- （ 加拿大）icspi
- （ 丹麥）Atlant 3D
- （ 匈牙利）Femtonics
- （ 荷蘭）Fastmicro
- （ 比利時(shí)）比利時(shí) NEOSCAN
- （ 荷蘭）DENS TEM 原位樣品桿
- （ 美國）Forge Nano
- （ 匈牙利）Technoorg Linda
- （ 荷蘭）VSParticle
- （ 荷蘭）飛納電鏡
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儀企號(hào)
復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司
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掩膜版｜保護(hù)膜表面顆粒物快速檢測系統(tǒng)（PDS）價(jià)格：面議- 品牌：Fastmicro
- 型號(hào)：FM-PR-PDS
- 產(chǎn)地：歐洲 荷蘭
高通量檢測：每小時(shí)可檢測 400 片晶圓（WPH） 數(shù)據(jù)輸出：根據(jù) ISO 14644-9 標(biāo)準(zhǔn)，在用戶界面和 PDF 報(bào)告輸出 SCP 等級(jí) 正反兩面檢測：單次測量中完成正反兩面檢測（無需翻轉(zhuǎn)）...
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晶圓表面顆粒物快速檢測系統(tǒng)（PDS)價(jià)格：面議- 品牌：Fastmicro
- 型號(hào)：FM-W-PDS
- 產(chǎn)地：歐洲 荷蘭
高通量檢測：每小時(shí)可檢測 400 片晶圓 最小檢測顆粒：100 nm 尺寸：支持 4/6/8/12 英寸晶圓 位置精度：重復(fù)定位精度 15 um 檢測：同時(shí)檢測正反兩面，無需翻面
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儀器表面顆粒物分析儀價(jià)格：面議- 品牌：Fastmicro
- 型號(hào)：FM-PS-SAS-V01
- 產(chǎn)地：歐洲 荷蘭
符合 ISO 14644-9 標(biāo)準(zhǔn)：在用戶界面生成具有認(rèn)證的 PDF 報(bào)告 檢測范圍：可檢測低至 0.5 um 顆粒 穩(wěn)定：90% 采集效率 | >90% 重復(fù)性 快速：10 秒完成檢測
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環(huán)境落塵顆粒實(shí)時(shí)監(jiān)控儀價(jià)格：面議- 品牌：Fastmicro
- 型號(hào)：Fastmicro-PFS
- 產(chǎn)地：歐洲 荷蘭
數(shù)據(jù)輸出及可視化：符合 ISO 14644-17 標(biāo)準(zhǔn) 高通量檢測：可檢測低至 0.5 um 顆粒 快速：10 秒完成 2 英寸面積檢測 定量：適用于生產(chǎn)與研發(fā)環(huán)境的驗(yàn)證與監(jiān)測
滬公網(wǎng)安備 31011502008050號(hào)