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銀牌會(huì)員 第 8 年
復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
認(rèn)證:工商信息已核實(shí)
- 產(chǎn)品分類
- 品牌分類
- 激光共聚焦顯微鏡
- 飛納電鏡
- SEM/TEM 離子束制樣設(shè)備
- 原子力顯微鏡
- 原子層沉積方案
- DENS TEM 原位實(shí)驗(yàn)樣品桿
- VSParticle
- 可視化顆粒檢測(cè)
- 雙光子顯微鏡
- NEOSCAN 臺(tái)式顯微 CT
- ( 荷蘭)Confocal.nl
- ( 加拿大)icspi
- ( 丹麥)Atlant 3D
- ( 匈牙利)Femtonics
- ( 荷蘭)Fastmicro
- ( 比利時(shí))比利時(shí) NEOSCAN
- ( 荷蘭)DENS TEM 原位樣品桿
- ( 美國(guó))Forge Nano
- ( 匈牙利)Technoorg Linda
- ( 荷蘭)VSParticle
- ( 荷蘭)飛納電鏡
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儀企號(hào)
復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
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飛納掃描電鏡原位拉伸臺(tái)價(jià)格:面議- 品牌:飛納電鏡
- 型號(hào):Tensile Sample Holder
- 產(chǎn)地:歐洲 荷蘭
拉伸測(cè)試是研究材料面對(duì)拉力或壓力反應(yīng)時(shí)的一種最簡(jiǎn)單、最常用的測(cè)試方法。通過(guò)測(cè)試樣品在斷裂臨界點(diǎn)時(shí)的受力大小,可以確定出 某材料的強(qiáng)度,設(shè)計(jì)師和品質(zhì)經(jīng)理可以藉此預(yù)測(cè)該材料在特定領(lǐng)域的具體性能。











