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銀牌會員 第 8 年
復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司
認證：工商信息已核實
- 產(chǎn)品分類
- 品牌分類
- 激光共聚焦顯微鏡
- 飛納電鏡
- SEM/TEM 離子束制樣設(shè)備
- 原子力顯微鏡
- 原子層沉積方案
- DENS TEM 原位實驗樣品桿
- VSParticle
- 可視化顆粒檢測
- 雙光子顯微鏡
- NEOSCAN 臺式顯微 CT
- （ 荷蘭）Confocal.nl
- （ 加拿大）icspi
- （ 丹麥）Atlant 3D
- （ 匈牙利）Femtonics
- （ 荷蘭）Fastmicro
- （ 比利時）比利時 NEOSCAN
- （ 荷蘭）DENS TEM 原位樣品桿
- （ 美國）Forge Nano
- （ 匈牙利）Technoorg Linda
- （ 荷蘭）VSParticle
- （ 荷蘭）飛納電鏡
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儀企號
復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司
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「新」AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機價格：面議- 品牌：飛納電鏡
- 型號：AFM-SEM
- 產(chǎn)地：歐洲 荷蘭
全新發(fā)布的 AFM-in-Phenom XL 結(jié)合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優(yōu)勢，實現(xiàn)了在同一系統(tǒng)中對樣品進行多模態(tài)（SEM 及 AFM 形貌、元素、機械、電學(xué)、磁學(xué)
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- 品牌：飛納電鏡
- 型號：AFM-SEM
- 產(chǎn)地：歐洲 荷蘭
全新發(fā)布的 AFM-in-Phenom XL 結(jié)合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優(yōu)勢，實現(xiàn)了在同一系統(tǒng)中對樣品進行多模態(tài)（SEM 及 AFM 形貌、元素、機械、電學(xué)、磁學(xué)
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- 品牌：飛納電鏡
- 型號：AFM-SEM
- 產(chǎn)地：歐洲 荷蘭
全新發(fā)布的 AFM-in-Phenom XL 結(jié)合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優(yōu)勢，實現(xiàn)了在同一系統(tǒng)中對樣品進行多模態(tài)（SEM 及 AFM 形貌、元素、機械、電學(xué)、磁學(xué)
滬公網(wǎng)安備 31011502008050號