光功率熱分析儀是世界首臺(tái)納米級(jí)薄膜材料物性分析儀，填補(bǔ)了國(guó)際對(duì)納米級(jí)薄膜材料無(wú)損檢測(cè)其相變溫度和熱膨脹系數(shù)的技術(shù)空白！不僅可用于檢測(cè)塊體，還可檢測(cè)低至1nm的薄膜材料。根據(jù)材料相變前后光學(xué)性質(zhì)（反射光...

熱膨脹系數(shù)分析儀采用創(chuàng)新的光干涉原理ZL技術(shù)，可無(wú)損檢測(cè)塊體和薄膜樣品透明材料的熱膨脹系數(shù)，廣泛應(yīng)用于輔助各種新材料，尤其是薄膜材料的研究與開(kāi)發(fā)以及質(zhì)量檢驗(yàn)。

相變溫度分析儀根據(jù)材料相變前后光學(xué)性質(zhì)（反射光功率）有較大差異的特性，在程序控溫下，使用一束恒定功率的激光照射樣品表面，記錄反射光功率變化，形成反射光功率與溫度變化曲線，從而確定相變溫度。并且具有ZL...