可快速測試Seebeck系數(shù)，對樣品無特殊要求，測量方法穩(wěn)定可靠

薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)是專門針對薄膜材料的Seebeck系數(shù)和電阻率測量，測溫范圍達(dá)到81K~700K，采用動(dòng)態(tài)法測量Seebeck系數(shù),避免了靜態(tài)測量在溫差測量上的系統(tǒng)誤差,測量更準(zhǔn)確。

熱電參數(shù)測試系統(tǒng)采用動(dòng)態(tài)法(具有ZL技術(shù))和四線法分別測量樣品的Seebeck系數(shù)和電阻率。 熱電參數(shù)測試系統(tǒng)主要是用于測試塊體熱電材料，包括康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、Z...

霍爾效應(yīng)測試系統(tǒng)依據(jù)范德堡法測量材料的電運(yùn)輸性能參數(shù)：載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等，薄膜或薄層材料均可測量，可應(yīng)用于所有半導(dǎo)體材料，包括Si、ZnO、SiGe、SiC，GaAs，InGaAs...

薄膜變溫電阻測試儀采用雙電法測量高溫、真空、氣氛條件下的電阻和電阻率，可以用來分析樣品的電阻率隨溫度變化曲線、電阻溫阻系數(shù)、樣品相變溫度點(diǎn)。其廣泛用于光電、鐵電、熱電等各種導(dǎo)電材料的電阻率測量。