紫外的應(yīng)用點(diǎn)
紫外成像可以獲得比可見光成像更高的分辨率,能夠量測(cè)更小的尺寸及分辨更小的缺陷。廣泛應(yīng)用于晶圓和掩膜版關(guān)鍵尺寸(CD)測(cè)量及缺陷分析。
(基于瑞利公式對(duì)比,基于紫外光和可見光波段相比,基于相同0.9NA物鏡對(duì)比)
什么是關(guān)鍵尺寸
晶圓 / 掩膜版的CD(關(guān)鍵尺寸),是芯?微結(jié)構(gòu)中決定器件性能、制程良率的核心線寬 / 間距 / 孔徑,是光刻、量測(cè)環(huán)節(jié)需極致精準(zhǔn)控制的核心指標(biāo)。
現(xiàn)有主流CD測(cè)量方案
受限于可見光的極限分辨率影響,如果關(guān)鍵尺寸低于350納米左右,現(xiàn)有客戶會(huì)選擇CD-SEM進(jìn)行量測(cè)工作。
CD-SEM和紫外的優(yōu)缺點(diǎn)對(duì)比
CD-SEM(CD掃描電鏡)的分辨率可以達(dá)到納米甚至亞納米,廣泛應(yīng)用于先進(jìn)制程20納米的CD測(cè)量。但CD-SEM造價(jià)昂貴,且測(cè)量速度不如傳統(tǒng)光學(xué)檢測(cè),對(duì)于250-350納米區(qū)間的成熟制程屬于過度配置方案,在該區(qū)域市面缺少合適的方案。
徠卡紫外方案
徠卡紫外成像系統(tǒng)搭載365納米紫外LED光源與150倍0.9NA紫外專用物鏡,實(shí)測(cè)可實(shí)現(xiàn)理論最低250納米左右的尺寸量測(cè),以及3σ 5納米的重復(fù)精度。
徠卡紫外成像方案在該成熟制程區(qū)間可以給客戶提供更快的測(cè)量速度以及根據(jù)性價(jià)比的方案。
■徠卡紫外方案內(nèi)部結(jié)構(gòu)簡介 ■
反射內(nèi)部光軸集成了電動(dòng)可切換的長壽命白光LED與UV LED光源
一鍵切換白光照明與UV照明,無需重新對(duì)焦,可編碼照明設(shè)置
光源完全集成在內(nèi)部,幾乎無熱量產(chǎn)生,確保潔凈間的良好環(huán)境
150倍可見光明場(chǎng)和150倍UV 效果對(duì)比
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