電子和光電（第三代化合物半導(dǎo)體GaN、InP、SiC...）

? CL-SEM系統(tǒng)能夠精準(zhǔn)檢測(cè)和可視化材料中的應(yīng)變、位錯(cuò)及缺陷信息并創(chuàng)建高分辨率的缺陷和應(yīng)變分布圖

? 通過(guò)CL-SEM系統(tǒng)中陰極發(fā)光信號(hào)可以測(cè)量材料的局部電子能帶結(jié)構(gòu)，能夠確定不同區(qū)域的電子帶隙大小

? CL-SEM系統(tǒng)可表征量子阱和量子點(diǎn)的發(fā)光特性、能量狀態(tài)和空間分布

? 利用CL-SEM系統(tǒng)可以對(duì)半導(dǎo)體材料中的摻雜濃度進(jìn)行高精度映射

? CL-SEM的時(shí)間分辨系統(tǒng)可通過(guò)超快光譜測(cè)量半導(dǎo)體材料中載流子遷移、復(fù)合動(dòng)力學(xué)以及局域載流子壽命

材料科學(xué)

? 微/納米線、纖維、粒子光譜mapping

? 微/納米結(jié)構(gòu)光譜分析

? 表面等離子體共振模式分析

? 分子分布mapping和成分

? 晶體生長(zhǎng)定位、結(jié)晶度分析

生物學(xué)：藥物與納米醫(yī)學(xué)

? 細(xì)胞、細(xì)菌、ECM、DNA…成像和光譜分析

? 生物結(jié)構(gòu)mapping和成分

? 功能化囊泡/納米載體分析

在第三代半導(dǎo)體的故障分析、開(kāi)發(fā)和研究中，Allalin的光譜測(cè)量能力為快速可靠的缺陷檢測(cè)和定位提供了無(wú)與倫比的解決方案。經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的數(shù)據(jù)類(lèi)型包括位錯(cuò)密度、材料成分波動(dòng)、應(yīng)變、摻雜劑類(lèi)型和濃度的測(cè)量，局部輻射和非輻射載流子壽命的測(cè)量、半導(dǎo)體異質(zhì)結(jié)構(gòu)中的激發(fā)載流子動(dòng)力學(xué)研究；以及其他廣泛的應(yīng)用。

在科學(xué)研究中，Allalin能夠創(chuàng)建納米分辨率的光譜圖，這使得它成為了深入了解納米尺度材料物理特性的終極工具。此外，Allalin還能支持復(fù)雜器件的優(yōu)化和設(shè)計(jì)，為高效的電子和光電應(yīng)用提供強(qiáng)有力的數(shù)據(jù)支撐。