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失效分析，如何助力芯片研發(fā)和良率提升？

來源：賽默飛電子顯微鏡 更新時間：2026-03-12 16:45:33 閱讀量：50
導讀：失效分析，如何助力芯片研發(fā)和良率提升？

在半導體技術(shù)持續(xù)邁向更高良率與更強可靠性的進程中，精準洞察與高效驗證能力正成為關(guān)鍵競爭力。賽默飛誠摯邀請您參加2026年半導體解決方案研討會（上海站）。

本次會議將圍繞：

  • 物性與電性失效分析技術(shù)

  • ESD測試與失效路徑驗證

  • 多維度協(xié)同分析方法

  • AI時代下的半導體分析解決方案

結(jié)合真實應用案例與實踐經(jīng)驗，系統(tǒng)探討高良率和可靠性階段的問題定位路徑與可落地的技術(shù)方案。

我們期待與您現(xiàn)場交流，共同探索更高效、更精準的分析思路。


會議信息

時間：

2026年3月24日（周二）13:00-18:30


地點：

賽默飛客戶體驗中心

（上海市浦東新區(qū)張江高科技園區(qū)金科路2517號中國芯科技園A棟）


形式：

線上線下同步進行


??歡迎掃碼提前報名??



報名須知：

1、報名線下參會者以最終收到報名成功消息通知為準。

2、本次會議線上線下全程免費參會。

3、線上參會觀看累計時長超過80分鐘將獲得精美禮品一份。

4、本次活動的最終解釋權(quán)歸賽默飛所有。


會議聯(lián)系人：

郵箱：yiling.zhang@thermofisher.com

電話：186 2103 5632



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