高分辨率X-ray無損檢測設備 360°旋轉檢測平臺 Max傾斜70°觀測 高分辨高灰階數(shù)字平板相機 成像清晰 強大的軟件功能 安全防護

高性價比探針臺，滿足手動探針臺的測試需求，可測6英寸晶圓，移動行程、觀察視野、扎針范圍可覆蓋整個6英寸晶圓，顯微鏡倍率Z高可放大至1000X，可升級高溫、射頻、光纖測試

高性價比探針臺，滿足手動探針臺的測試需求，可測4英寸晶圓，移動行程、觀察視野、扎針范圍可覆蓋整個4英寸晶圓，可升級高溫、射頻、光纖測試

高性價比探針臺，滿足手動探針臺的測試需求，可測4英寸晶圓，移動行程、觀察視野、扎針范圍可覆蓋整個4英寸晶圓，可升級高溫、射頻、光纖測試

廣泛應用于半導體工業(yè)、MEMS 、超導、電子學、鐵電子學、物理學、材料學和生物醫(yī)學等領域。

廣泛應用于半導體工業(yè)、MEMS 、超導、電子學、鐵電子學、物理學、材料學和生物醫(yī)學等領域。

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