- 2025-07-07 04:16:40反應(yīng)離子刻蝕
- 反應(yīng)離子刻蝕(RIE)結(jié)合化學(xué)反應(yīng)和物理轟擊實(shí)現(xiàn)材料刻蝕,利用高能離子束轟擊樣品表面,同時(shí)引入反應(yīng)性氣體與樣品發(fā)生化學(xué)反應(yīng),生成揮發(fā)性產(chǎn)物并被抽走。它廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、微電子、光學(xué)等領(lǐng)域,具有刻蝕精度高、邊緣整齊、適用于復(fù)雜圖形加工等優(yōu)勢(shì)。
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反應(yīng)離子刻蝕資訊
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- 預(yù)算1104萬(wàn)元 zycgr24041501 采購(gòu)反應(yīng)離子刻蝕機(jī)等三設(shè)備
- 反應(yīng)離子刻蝕機(jī)等三設(shè)備 招標(biāo)項(xiàng)目的潛在投標(biāo)人應(yīng)在線上獲取招標(biāo)文件,并于2025年05月09日 14點(diǎn)00分(北京時(shí)間)前遞交投標(biāo)文件。
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- 電子科技大學(xué)光電集成與智能交互實(shí)驗(yàn)平臺(tái)建設(shè)(二)采購(gòu)項(xiàng)目 招標(biāo)項(xiàng)目的潛在投標(biāo)人應(yīng)在四川中澤盛世招標(biāo)代理有限公司網(wǎng)站(http://www.sczzss.cn/)獲取招標(biāo)文件,并于2025年04月21日
反應(yīng)離子刻蝕文章
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- Syskey RIE 反應(yīng)離子刻蝕機(jī)特點(diǎn)
- 本文以產(chǎn)品知識(shí)普及為主,結(jié)合型號(hào)參數(shù)與場(chǎng)景化應(yīng)用,幫助實(shí)驗(yàn)室、科研與工業(yè)單位快速定位需求、理解原理并完成選型決策。
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- Oxford RIE反應(yīng)離子刻蝕機(jī)PlasmaPro 80特點(diǎn)
- PlasmaPro 80 支持微結(jié)構(gòu)的各向異性與各向同性刻蝕并行優(yōu)化,適用于 CMOS、MEMS、光電與傳感器等領(lǐng)域的工藝窗口探索與量產(chǎn)替代。其緊湊的腔體設(shè)計(jì)、靈活的氣體系統(tǒng)與可拓展的控制接口,使得用戶能夠在不同工藝節(jié)點(diǎn)之間快速切換,提升研發(fā)效率與工藝穩(wěn)定性。
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- Oxford RIE反應(yīng)離子刻蝕機(jī)PlasmaPro 80參數(shù)
- 以穩(wěn)定的等離子體刻蝕能力、靈活的氣路配置和友好的工藝托管為核心,PlasmaPro 80 可支持多種刻蝕任務(wù),包括深溝刻蝕、微結(jié)構(gòu)加工以及薄膜層之間的選擇性刻蝕。下面以參數(shù)、型號(hào)與應(yīng)用要點(diǎn)為線索,幫助從業(yè)人員快速理解其產(chǎn)品特征與選型要點(diǎn)。
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反應(yīng)離子刻蝕問(wèn)答
- 2022-11-18 16:15:48反應(yīng)離子刻蝕技術(shù)
- 反應(yīng)離子刻蝕概述:反應(yīng)離子腐蝕技術(shù)是一種各向異性很強(qiáng)、選擇性高的干法腐蝕技術(shù)。它是在真空系統(tǒng)中利用分子氣體等離子來(lái)進(jìn)行刻蝕的,利用了離子誘導(dǎo)化學(xué)反應(yīng)來(lái)實(shí)現(xiàn)各向異性刻蝕,即是利用離子能量來(lái)使被刻蝕層的表面形成容易刻蝕的損傷層和促進(jìn)化學(xué)反應(yīng),同時(shí)離子還可清除表面生成物以露出清潔的刻蝕表面的作用。主要用于Si、SiO2、SiNx、半導(dǎo)體材料、聚合物、金屬的刻蝕以及光刻膠的去除等,廣泛應(yīng)用于物理,生物,化學(xué),材料,電子等領(lǐng)域。 工作原理:通常情況下,反應(yīng)離子刻蝕機(jī)的整個(gè)真空壁接地, 作為陽(yáng)極, 陰極是功率電極, 陰極側(cè)面的接地屏蔽罩可防止功率電極受到濺射。要腐蝕的基片放在功率電極上。腐蝕氣體按照一定的工作壓力和搭配比例充滿整個(gè)反應(yīng)室。對(duì)反應(yīng)腔中的腐蝕氣體, 加上大于氣體擊穿臨界值的高頻電場(chǎng), 在強(qiáng)電場(chǎng)作用下, 被高頻電場(chǎng)加速的雜散電子與氣體分子或原子進(jìn)行隨機(jī)碰撞, 當(dāng)電子能量大到一定程度時(shí), 隨機(jī)碰撞變?yōu)榉菑椥耘鲎? 產(chǎn)生二次電子發(fā)射, 它們又進(jìn)一步與氣體分子碰撞, 不斷激發(fā)或電離氣體分子。這種激烈碰撞引起電離和復(fù)合。當(dāng)電子的產(chǎn)生和消失過(guò)程達(dá)到平衡時(shí), 放電能繼續(xù)不斷地維持下去。由非彈性碰撞產(chǎn)生的離子、電子及及游離基(游離態(tài)的原子、分子或原子團(tuán)) 也稱為等離子體, 具有很強(qiáng)的化學(xué)活性, 可與被刻蝕樣品表面的原子起化學(xué)反應(yīng), 形成揮發(fā)性物質(zhì), 達(dá)到腐蝕樣品表層的目的。同時(shí), 由于陰極附近的電場(chǎng)方向垂直于陰極表面, 高能離子在一定的工作壓力下, 垂直地射向樣品表面, 進(jìn)行物理轟擊, 使得反應(yīng)離子刻蝕具有很好的各向異性。所以,反應(yīng)離子刻蝕包括物理和化學(xué)刻蝕兩者的結(jié)合。 刻蝕氣體的選擇對(duì)于多晶硅柵電極的刻蝕,腐蝕氣體可用Cl2或SF6,要求對(duì)其下層的柵氧化膜具有高的選擇比??涛g單晶硅的腐蝕氣體可用Cl2/SF6或SiCl4/Cl2;刻蝕SiO2的腐蝕氣體可用CHF3或CF4/H2;刻蝕Si3N4的腐蝕氣體可用CF4/O2、SF6/O2或CH2F2/CHF3/O2;刻蝕Al(或Al-Si-Cu合金)的腐蝕氣體可用Cl2、BCl3或SiCl4;刻蝕W的腐蝕氣體可用SF6或CF4;刻蝕光刻膠的腐蝕氣體可用氧氣。對(duì)于石英材料, 可選擇氣體種類較多, 比如CF4、CF4+ H2、CHF3 等。我們選用CHF3 氣體作為石英的腐蝕氣體。其反應(yīng)過(guò)程可表示為:CHF3 + e——CHF+2 + F (游離基) + 2e,SiO 2 + 4F SiF4 (氣體) + O 2 (氣體)。SiO 2 分解出來(lái)的氧離子在高壓下與CHF+2 基團(tuán)反應(yīng), 生成CO ↑、CO 2↑、H2O ↑、O F↑等多種揮發(fā)性氣體。對(duì)于鍺材料、選用含F(xiàn) 的氣體是十分有效的。然而, 當(dāng)氣體成份中含有氫時(shí), 刻蝕將受到嚴(yán)重阻礙, 這是因?yàn)闅淇梢院头咏Y(jié)合, 形成穩(wěn)定的HF, 這種雙原子HF 是不參與腐蝕的。實(shí)驗(yàn)證明, SF6 氣體對(duì)Ge 有很好的腐蝕作用。反應(yīng)過(guò)程可表示為:SF6 + e——SF+5 + F (游離基) + 2e,Ge + 4F——GeF4 (揮發(fā)性氣體) 。 設(shè)備:典型的(平行板)RIE系統(tǒng)包括圓柱形真空室,晶片盤位于室的底部。晶片盤與腔室的其余部分電隔離。氣體通過(guò)腔室頂部的小入口進(jìn)入,并通過(guò)底部離開(kāi)真空泵系統(tǒng)。所用氣體的類型和數(shù)量取決于蝕刻工藝;例如,六氟化硫通常用于蝕刻硅。通過(guò)調(diào)節(jié)氣體流速和/或調(diào)節(jié)排氣孔,氣體壓力通常保持在幾毫托和幾百毫托之間的范圍內(nèi)。存在其他類型的RIE系統(tǒng),包括電感耦合等離子體(ICP)RIE。在這種類型的系統(tǒng)中,利用RF供電的磁場(chǎng)產(chǎn)生等離子體。雖然蝕刻輪廓傾向于更加各向同性,但可以實(shí)現(xiàn)非常高的等離子體密度。平行板和電感耦合等離子體RIE的組合是可能的。在該系統(tǒng)中,ICP被用作高密度離子源,其增加了蝕刻速率,而單獨(dú)的RF偏壓被施加到襯底(硅晶片)以在襯底附近產(chǎn)生定向電場(chǎng)以實(shí)現(xiàn)更多的各向異性蝕刻輪廓。 操作方法:通過(guò)向晶片盤片施加強(qiáng)RF(射頻)電磁場(chǎng),在系統(tǒng)中啟動(dòng)等離子體。該場(chǎng)通常設(shè)定為13.56兆赫茲的頻率,施加在幾百瓦特。振蕩電場(chǎng)通過(guò)剝離電子來(lái)電離氣體分子,從而產(chǎn)生等離子體 。在場(chǎng)的每個(gè)循環(huán)中,電子在室中上下電加速,有時(shí)撞擊室的上壁和晶片盤。同時(shí),響應(yīng)于RF電場(chǎng),更大質(zhì)量的離子移動(dòng)相對(duì)較少。當(dāng)電子被吸收到腔室壁中時(shí),它們被簡(jiǎn)單地送到地面并且不會(huì)改變系統(tǒng)的電子狀態(tài)。然而,沉積在晶片盤片上的電子由于其DC隔離而導(dǎo)致盤片積聚電荷。這種電荷積聚在盤片上產(chǎn)生大的負(fù)電壓,通常約為幾百伏。由于與自由電子相比較高的正離子濃度,等離子體本身產(chǎn)生略微正電荷。由于大的電壓差,正離子傾向于朝向晶片盤漂移,在晶片盤中它們與待蝕刻的樣品碰撞。離子與樣品表面上的材料發(fā)生化學(xué)反應(yīng),但也可以通過(guò)轉(zhuǎn)移一些動(dòng)能來(lái)敲除(濺射)某些材料。由于反應(yīng)離子的大部分垂直傳遞,反應(yīng)離子蝕刻可以產(chǎn)生非常各向異性的蝕刻輪廓,這與濕化學(xué)蝕刻的典型各向同性輪廓形成對(duì)比。RIE系統(tǒng)中的蝕刻條件很大程度上取決于許多工藝參數(shù),例如壓力,氣體流量和RF功率。 RIE的改進(jìn)版本是深反應(yīng)離子蝕刻,用于挖掘深部特征。
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- 2022-08-19 15:06:53反應(yīng)離子刻蝕機(jī)檢驗(yàn)操作及判斷
- 反應(yīng)離子刻蝕機(jī)是一款獨(dú)立式RIE反應(yīng)離子刻蝕系統(tǒng),配套有淋浴頭氣體分布裝置以及水冷RF樣品。具有不銹鋼柜子以及13"的上蓋式圓柱形鋁腔,便于晶圓片裝載.腔體有兩個(gè)端口:一個(gè)帶有2"的視窗,另一個(gè)空置用于診斷。反應(yīng)離子刻蝕機(jī)可以支持zui大到12"的晶圓片。腔體為超凈設(shè)計(jì),并且根據(jù)配套的真空泵可以達(dá)到10-6 Torr 或更小的極限真空。反應(yīng)離子刻蝕機(jī)系統(tǒng)可以在20mTorr到8Torr之間的真空下工作。真空泵組包含一個(gè)節(jié)流閥,一個(gè)250l/s的渦輪分子泵,濾網(wǎng)過(guò)濾器,以及一個(gè)10cfm的機(jī)械泵(帶Formblin泵油)。RF射頻功率通過(guò)600W,13.56MHz的電源和自動(dòng)調(diào)諧器提供。系統(tǒng)將持續(xù)監(jiān)控直流自偏壓,該自偏壓可以高達(dá)-500V,這對(duì)于各向異性的刻蝕至關(guān)重要。反應(yīng)離子刻蝕機(jī)是基于PC控制的全自動(dòng)系統(tǒng)。系統(tǒng)真空壓力及DC直流偏壓將以圖形格式實(shí)時(shí)顯示,流量及功率則以數(shù)字形式實(shí)時(shí)顯示。系統(tǒng)提供密碼保護(hù)的四級(jí)訪問(wèn)功能:操作員級(jí)、工程師級(jí)、工藝人員級(jí),以及維護(hù)人員級(jí)。允許半自動(dòng)模式(工程師模式)、寫程序模式(工藝模式),和全自動(dòng)執(zhí)行程序模式(操作模式)運(yùn)行系統(tǒng)?;谌詣?dòng)的控制,該系統(tǒng)具有高度的可重復(fù)性。 反應(yīng)離子刻蝕機(jī)檢驗(yàn)操作及判斷 1. 確認(rèn)萬(wàn)用表工作正常,量程置于200mV。 2.冷探針連接電壓表的正電極,熱探針與電壓表的負(fù)極相連。 3.用冷、熱探針接觸硅片一個(gè)邊沿不相連的兩個(gè)點(diǎn),電壓表顯示這兩點(diǎn)間的電壓為正值,說(shuō)明導(dǎo)電類型為P 型,刻蝕合格。相同的方法檢測(cè)另外三個(gè)邊沿的導(dǎo)電類型是否為P型。 4.如果經(jīng)過(guò)檢驗(yàn),任何一個(gè)邊沿沒(méi)有刻蝕合格,則這一批硅片需要重新裝片,進(jìn)行刻蝕。
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- 2022-10-08 12:47:10廣西師范大學(xué)RIE反應(yīng)離子刻蝕機(jī)順利驗(yàn)收
- 廣西師范大學(xué)RIE反應(yīng)離子刻蝕機(jī)順利驗(yàn)收近日,NANO-MASTER工程師至廣西師范大學(xué),順利安裝驗(yàn)收NRE-3000型RIE反應(yīng)離子刻蝕系統(tǒng)!詳細(xì)參數(shù):1. 腔體:10”直徑的圓柱形腔體;陽(yáng)極氧化鋁材質(zhì),抗腐蝕性強(qiáng);上下蓋設(shè)計(jì),氣動(dòng)升降頂蓋,一鍵實(shí)現(xiàn)上蓋的開(kāi)啟/閉合;淋浴頭設(shè)計(jì),最佳的氣流均勻分布2. 樣品臺(tái):4”樣品臺(tái);冷卻功能;偏壓功能,支持各向異性的垂直刻蝕;3. 質(zhì)量流量控制器:4路氣體,每路包含MFC、氣動(dòng)截止閥和不銹鋼管路氣體4. 真空系統(tǒng):分子泵與機(jī)械泵,4分鐘內(nèi)可達(dá)10-4Torr的高工藝真空度,12小時(shí)抽氣后,干凈腔體中的壓力可達(dá)極限真空6x10-7 Torr;分子泵與工藝腔體采用直連設(shè)計(jì)方案,具有最佳的真空傳導(dǎo)率5. 射頻電源:13.56MHz,300W,反射功率≤5W,配套自動(dòng)調(diào)諧器,穩(wěn)定輸出功率為95%6. 控制系統(tǒng):Lab View軟件控制;四級(jí)密碼授權(quán)訪問(wèn);壓力、流量、功率等主要參數(shù)指標(biāo)實(shí)時(shí)顯示;20”的監(jiān)控屏幕7. 系統(tǒng)信息:26”×26”占地面積;鋁質(zhì)柜體;完全的安全聯(lián)鎖8. 主要工藝參數(shù)(1)應(yīng)用范圍:有機(jī)物刻蝕、硅的化合物刻蝕、光刻膠去膠等;(2)工藝參數(shù):4”片為例;(3)刻蝕均勻性優(yōu)于:+/-3%;(4)Si3N4的刻蝕速率:≥50nm/min;(5)對(duì)PR選擇比:≥1.5:1;(6)陡直度:≥82°;(7)SiO2的刻蝕速率:≥40nm/min;(8)對(duì)PR選擇比:≥1.5:1;(9)陡直度:≥85°。
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