聚合物尤其是高分子復(fù)合材料的微型 ATR 化學(xué)成像通常需要施加相當(dāng)大的壓力以確保 ATR 晶體和樣品之間的良好接觸為了確保此類薄樣品能夠承受壓力而不發(fā)生彎曲變形，通常需要詳細(xì)制定樣品制備過(guò)程以對(duì)截面材料提供支撐：將樣品包埋到樹脂內(nèi)，切割樹脂以及拋光接觸表面此類過(guò)程極為繁瑣，不僅需要將樹脂過(guò)夜固化，還增加了交叉污染的風(fēng)險(xiǎn)本文中我們展示了一種新型的超低壓力微型 ATR FTIR 化學(xué)成像方法，不需要任何支撐結(jié)構(gòu)通過(guò)與 ATR 晶體直接接觸，該方法可讓樣品按原狀進(jìn)行測(cè)量這項(xiàng)獨(dú)特的功能是通過(guò)采用安捷倫的實(shí)時(shí) ATR 成像技術(shù)實(shí)現(xiàn)的，該技術(shù)不僅增強(qiáng)了化學(xué)對(duì)比功能，而且能夠確定樣品與 ATR 晶體之間發(fā)生接觸的極ng確時(shí)刻，還可提供接觸質(zhì)量的可視化測(cè)量分析人員無(wú)需樣品制備即可在 50 微米厚的高分子復(fù)合材料中清晰觀察到薄至數(shù)微米的粘 合層 Agilent Cary 620 FTIR 顯微鏡和成像系統(tǒng)