使用R400-7-VIS-NIR反射探頭測量 涂敷印刷電路板反射率

印刷電路板清潔度檢測方法研究

反射測量解決方案

高低溫冷熱沖擊試驗箱評估印刷電路板耐高溫性

本試驗利用高低溫冷熱沖擊試驗箱對印刷電路板進行耐高低溫性能測試。通過設(shè)置不同的溫度沖擊范圍（ - 40°C - 125°C）和沖擊循環(huán)次數(shù)（10 - 50 次），模擬高低溫冷熱沖擊環(huán)境。

熱分析技術(shù)在印刷電路板上的應(yīng)用

熱分析技術(shù)在印刷電路板行業(yè)的應(yīng)用（上）

運用數(shù)碼顯微鏡快速、可靠地檢測和分析印刷電路板

CD的同時多探頭SMP測量和使用積分球測量丙氨酸粉末樣品

i-spec透射反射測量應(yīng)用

DMA在銅箔基板(CCL)及印刷電路板(PCB)的應(yīng)用

原子吸收光譜法檢測廢棄印刷電路板（PCB）中的貴金屬元素

塔式紫外線測試印刷電路板（PCB）性能可靠性實驗方案報告

TIRF 全內(nèi)反射熒光測量應(yīng)用

海洋光學Zxin推出熒光測量光纖探頭

礦粉反射率

通過物性測試儀的柱型探頭，測量面包屑的硬度

使用 Cary 7000 全能型分光光度計 (UMS) 測量光學材料不同入射角下的反射率 — 考察小型顯示器的性能

Probes光纖探頭

基于光纖耦合顯微探頭的光致發(fā)光/拉曼測量方案