利用FT150測量Au/Pd/Ni三層膜

超薄Au,Pd,Ni和磷青銅的三層鍍層測量

利用FT150h測量陶瓷芯片部件中Sn/Ni 雙層膜

使用FT150測量片式元器件電極膜厚

利用FT150進(jìn)行無電解無電解鎳鍍層膜厚和磷成分分析

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超薄Au鍍膜的測量

X射線熒光鍍層膜厚分析儀FT150 -軟件概要-

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利用激光同位素分析儀測量水汽同位素

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雞白痢抗體檢測(PD)ELISA試劑盒

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利用納米壓痕技術(shù)評估襯底和膜層的脆性

定期分享KLA Instruments旗下產(chǎn)品的各種技術(shù)資料、應(yīng)用筆記和使用指南。 旗下產(chǎn)品包括：探針式/光學(xué)輪廓儀、納米壓痕儀、薄膜測厚儀、方阻測量儀等測量儀器。

用戶論文：利用掃描隧道顯微鏡研究腈基－苯基－脲聚合物膜