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儀器網(wǎng)/ 應(yīng)用方案/ X射線熒光鍍層膜厚分析儀FT150 -硬件概要-

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X射線熒光鍍層厚度測量儀作為一種可高速簡便地對電子零件等的鍍層，半導(dǎo)體工藝中的薄膜，以及汽車部件中各類工業(yè)產(chǎn)品表皮膜等的膜厚進(jìn)行管理的儀器而被廣泛應(yīng)用 FT150利用多毛細(xì)管所產(chǎn)生的照射直徑為30 m的高強(qiáng)度X射線光束，Z適于測量微小連接器柔性電路板及導(dǎo)線架等微小零件及超薄鍍層 日立 FT150系列 熒光X射線鍍層膜厚測量儀

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