紅外顯微鏡測定電路板不良焊點(diǎn)

紅外顯微鏡測定硫鎵銀晶體內(nèi)部均勻性

電路板中陰離子和有機(jī)酸的測定

FTIR紅外顯微鏡分析高分子聚合物飲料瓶

氣相色譜儀檢測不良藥物的樣品

紅外顯微鏡在纖維材料研究中的應(yīng)用

恒溫恒濕試驗(yàn)箱低溫不良解決方案

紅外顯微鏡法測定液晶顯示器背光模組聽微小異物

集成電路板性能穩(wěn)定性測試實(shí)驗(yàn)

本實(shí)驗(yàn)方案對集成電路板性能穩(wěn)定性展開測試。運(yùn)用高低溫試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱、電磁干擾模擬器等設(shè)備

電子電路、高溫箱電路板檢測應(yīng)用

使用恒溫箱模擬電路板的實(shí)際工作環(huán)境（恒溫箱最高溫度達(dá)60℃) , 在恒溫箱中使用電調(diào)測溫?zé)嵯駜xATR61，電路板中的電子元器件進(jìn) 行溫度監(jiān)測。

印刷電路板清潔度檢測方法研究

SINEO 廢舊電路板的微波消解方案

電磁振動(dòng)檢測電路板的線路松動(dòng)

紅外顯微鏡法測定液晶顯示器背光模組中的微小異物

PCB電路板機(jī)械應(yīng)力測試方法和標(biāo)準(zhǔn)

應(yīng)變測試可以對SMT封裝在PCBA組裝、測試和操作中受到的應(yīng)變和應(yīng)變率水平進(jìn)行客觀分析。運(yùn)用應(yīng)變測量來控制印制板翹曲對電子工業(yè)是非常有利的，也能作為一種甄別和改善有損制造工藝的方法也被行業(yè)逐漸認(rèn)可。 ...

電路板制備方案-旭鑫盛科

應(yīng)用案例 | 陶瓷基電路板切片制備

高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱評估印刷電路板耐高溫性

本試驗(yàn)利用高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱對印刷電路板進(jìn)行耐高低溫性能測試。通過設(shè)置不同的溫度沖擊范圍（ - 40°C - 125°C）和沖擊循環(huán)次數(shù)（10 - 50 次），模擬高低溫冷熱沖擊環(huán)境。

熱分析技術(shù)在印刷電路板上的應(yīng)用

解決紫外線老化試驗(yàn)箱高溫高濕環(huán)境下散熱不良問題

本文針對紫外線老化試驗(yàn)箱在高溫高濕工況下易出現(xiàn)的散熱不良、溫控精度下降、設(shè)備過載等問題，通過明確實(shí)驗(yàn)條件、規(guī)范操作流程、優(yōu)化散熱措施，開展系統(tǒng)性實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證，提出切實(shí)可行的解決辦法