本文通過分析304 cm-1930 cm-1處拉曼峰位的紅移進(jìn)一步證實(shí)了Cu摻雜后薄膜晶粒尺寸增大， 通過缺陷程度的變化證明了Cu摻入 晶格間隙的摻雜機(jī)理 激光顯微共聚焦拉曼光譜技術(shù)是一種無損傷無接觸靈敏度高的檢測手段，通過晶體的拉曼光 譜可以了解晶格內(nèi)部有關(guān)化學(xué)鍵晶格程度晶格畸變以及相變等信息，為薄膜在太陽能電池導(dǎo) 電材料光電器件催化傳感等領(lǐng)域的應(yīng)用提供理論指導(dǎo)與實(shí)驗依據(jù) 研究級激光共聚焦顯微拉曼光譜儀 Finder Vista