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SEMILAB 光譜型橢偏儀是多功能薄膜測試系統(tǒng),適合各種薄膜材料的研究。
Proflim 3D是一款基于白光干涉儀的光學輪廓儀,采用相位掃描干涉技術(PSI)對納米級特征進行測量,以及采用垂直掃描干涉技術(VSI)對亞微米至毫米級特征進行測量。 Proflim 3D的程序設置簡單靈活,可以進行單次掃描或多點自動測量,適用于研發(fā)和生產環(huán)境。
在納米尺度研究領域,瑞士Nanosurf公司推出的DriveAFM原子力顯微鏡系統(tǒng)代表了當前尖端技術的巔峰之作。通過光熱激振(CleanDrive)、直驅掃描(Direct Drive)和全電動控制三大核心技術的協同創(chuàng)新,DriveAFM徹底解決了傳統(tǒng)AFM在精度、穩(wěn)定性和跨環(huán)境兼容性上的固有瓶頸,為材料科學和生命科學研究提供了前所未有的高精度、高穩(wěn)定性的研究平臺。
FlexAFM是一款高度通用且靈活穩(wěn)定的原子力顯微鏡,適用于物理、材料科學及生物科學等領域。它具有穩(wěn)定的常規(guī)材料學應用性能,并能便捷地與倒置光學顯微鏡集成用于生物研究,或放置在手套箱中研究二維材料。FlexAFM支持多種操作模式和升級配件,具備高分辨率成像和探索樣品地形的能力,尤其擅長處理敏感樣品的電氣特性,是全球眾多科研人員的理想選擇。此外,它還能與外部硬件集成,擴展研究功能。對于生命科學研究,FlexAFM能夠與倒置顯微鏡聯用,實現在液體環(huán)境中的納米材料、生物分子或細胞研究。結合流體力學探針顯微鏡FluidFM技術,FlexAFM進一步解鎖了單細胞生物學和納米科學的新應用。
瑞士Nanosurf 原子力顯微鏡,專為工業(yè)級高精度與超大樣品而設計,將科研級分辨率與工業(yè)兼容性深度融合,成為半導體量產、新材料研發(fā)及跨學科微觀表征的強有力工具。
表面形貌是許多高科技材料表面的重要特性,其可能低至幾納米,表面粗糙度不到一納米。原子力顯微鏡可以在正常環(huán)境條件下輕松分析這些特征。
Alphacen 300 原子力顯微鏡系統(tǒng)是一種獨特的 AFM 解決方案,可以輕松處理大型和重型樣品。它具有Flex-Mount掃描頭,采用針尖掃描的設計方式,無論樣品重量如何,都能實現高性能成像。配置的CX 控制器是 Nanosurf 最先進的 AFM 控制器,可快速精確地控制掃描過程,穩(wěn)定成像。專用的隔音罩可減少外部噪音和振動的影響。同時,該系統(tǒng)還可以通過添加額外移動軸或旋轉軸進行更復雜的定制,滿足您的特定樣品測試需求。
※ 從納米級到毫米級的3D臺階高度 ※ 3D粗糙度、波紋度、翹曲度和形狀,紋理表征 ※ 3D缺陷表面形貌、缺陷表征 ※ 大型透明薄膜的表面進行高分辨率掃描 ※ 高粗糙度,低反射率,劃痕表征