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HORIBA Auto SE 橢圓偏振光譜儀

品牌：法國HORIBA JY 型號：AutoSE 產(chǎn)地：歐洲法國

廠商：優(yōu)尼康科技有限公司

簡介：HORIBA Auto SE 橢圓偏振光譜儀是一種新型薄膜測量工具。僅需簡單的幾個(gè)按鈕，幾秒鐘內(nèi)即可自動完成樣品測量和分析，并提供完整的薄膜特性分析報(bào)告，包括薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、表面粗糙度和薄膜的不均勻性、反射率或透過率。它是用于快速薄膜測量和器件質(zhì)量控制的解決方案。專為薄膜測量設(shè)計(jì)，一鍵式操作實(shí)現(xiàn)高效率。
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Accurion EP4 成像橢偏儀

品牌：Park原子力顯微鏡型號：Accurion EP4 產(chǎn)地：亞洲韓國

廠商： Park原子力顯微鏡公司
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HORIBA Auto SE 橢圓偏振光譜儀

品牌：法國HORIBA JY 型號：AutoSE 產(chǎn)地：歐洲法國

廠商：優(yōu)尼康科技有限公司

簡介：HORIBA Auto SE 橢圓偏振光譜儀是一種新型薄膜測量工具。僅需簡單的幾個(gè)按鈕，幾秒鐘內(nèi)即可自動完成樣品測量和分析，并提供完整的薄膜特性分析報(bào)告，包括薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、表面粗糙度和薄膜的不均勻性、反射率或透過率。它是用于快速薄膜測量和器件質(zhì)量控制的解決方案。專為薄膜測量設(shè)計(jì)，一鍵式操作實(shí)現(xiàn)高效率。
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Film Sense FS-8 多波長橢偏儀

品牌：美國Film Sense 型號：FS-8 產(chǎn)地：美洲美國

廠商：優(yōu)尼康科技有限公司

簡介：第四代FilmSense FS-8 多波長橢偏儀使用長壽命的LED光源和無移動部件的橢圓偏振探測器。在便攜的緊湊型系統(tǒng)中提供快速而可靠的薄膜測量。通過簡單的1秒測量，可以以很高的精度和準(zhǔn)確度測定大多數(shù)透明薄膜的薄膜厚度和折射率，并對樣品進(jìn)行光學(xué)常數(shù)、n&k值等薄膜性質(zhì)的測量。
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Accurion EP4 成像橢偏儀

品牌：Park原子力顯微鏡型號：Accurion EP4 產(chǎn)地：亞洲韓國

廠商： Park原子力顯微鏡公司
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Bruker FilmTek CD橢偏儀

品牌：德國布魯克型號： FilmTek CD 產(chǎn)地：歐洲德國

廠商：上海爾迪儀器科技有限公司

簡介：FilmTekTM CD光學(xué)臨界尺寸系統(tǒng)是我們解決方案，可用于1x nm設(shè)計(jì)節(jié)點(diǎn)及更高級別的全自動化、高通量CD測量和高級薄膜分析。該系統(tǒng)同時(shí)提供已知和完全未知結(jié)構(gòu)的實(shí)時(shí)多層堆疊特性和CD測量。 FilmTek CD利用多模測量技術(shù)來滿足與開發(fā)和生產(chǎn)中復(fù)雜的半導(dǎo)體設(shè)計(jì)特征相關(guān)的挑戰(zhàn)性需求。這項(xiàng)技術(shù)能夠測量極小的線寬，在低于10納米的范圍內(nèi)進(jìn)行高精度測量。
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Bruker 橢偏儀 FilmTek 2000M TSV

品牌：德國布魯克型號：FilmTek 2000M TSV 產(chǎn)地：歐洲德國

廠商：上海爾迪儀器科技有限公司

簡介：FilmTek? 2000M TSV計(jì)量系統(tǒng)為半導(dǎo)體封裝應(yīng)用提供了速度和精度組合。該系統(tǒng)為各種封裝工藝和相關(guān)結(jié)構(gòu)的高通量測量提供了測量性能和精度，包括表征抗蝕劑厚度、硅通孔（TSV）、銅柱、凸塊和再分布層（RDL）。
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偏振光譜儀-HORIBA橢圓偏振光譜儀UVISEL Plus

品牌：堀場型號：UVISEL Plus 產(chǎn)地：亞洲日本

廠商： HORIBA（中國）

簡介：UVISEL Plus作為一款高準(zhǔn)確性、高靈敏度、高穩(wěn)定性的經(jīng)典橢偏機(jī)型，它采用了PEM 相位調(diào)制技術(shù)，與機(jī)械旋轉(zhuǎn)部件技術(shù)相比，能提供更好的穩(wěn)定性和信噪比。光譜范圍從190nm到2100nm。
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HORIBA UVISEL Plus 橢圓偏振光譜儀

品牌：日本堀場型號：UVISEL Plus 產(chǎn)地：亞洲日本

廠商：優(yōu)尼康科技有限公司

簡介：HORIBA UVISEL Plus 相位調(diào)制型橢圓偏振光譜儀基于新版的電子設(shè)備，數(shù)據(jù)處理和高速單色儀，F(xiàn)astacq技術(shù)能夠?yàn)橛脩籼峁└叻直婕翱焖俚臄?shù)據(jù)采集。FastAcq為薄膜表征特殊設(shè)計(jì)，雙調(diào)制技術(shù)使您可以獲得完整的測試結(jié)果。相位調(diào)制與消色差光學(xué)設(shè)計(jì)的結(jié)合提供了特別的膜厚測試效果。配備雙單色儀系統(tǒng)的特殊設(shè)計(jì)滿足用戶的期望值，通過模塊化的設(shè)計(jì)，更多的附件選擇，使得儀器使用能變得靈活。
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HORIBA Smart SE 橢圓偏振光譜儀

品牌：法國HORIBA JY 型號：Smart SE 產(chǎn)地：歐洲法國

廠商：優(yōu)尼康科技有限公司

簡介：HORIBA Smart SE 橢圓偏振光譜儀是一種薄膜測量工具。僅需簡單的幾個(gè)按鈕，幾秒鐘內(nèi)即可自動完成樣品測量和分析，并提供完整的薄膜特性分析報(bào)告，包括薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、表面粗糙度和薄膜的不均勻性、反射率或透過率。它是用于快速薄膜測量和器件質(zhì)量控制的解決方案。為薄膜測量設(shè)計(jì)，一鍵式操作。
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Accurion EP4 成像橢偏儀

品牌：Park原子力顯微鏡型號：Accurion EP4 產(chǎn)地：亞洲韓國

廠商： Park原子力顯微鏡公司
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光譜橢偏儀

品牌：沈陽科晶型號：SE-Glass 產(chǎn)地：遼寧沈陽

廠商：沈陽科晶自動化設(shè)備有限公司
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光譜橢偏儀

品牌：沈陽科晶型號：SE-Mapping 產(chǎn)地：遼寧沈陽

廠商：沈陽科晶自動化設(shè)備有限公司
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光譜橢偏儀

品牌：沈陽科晶型號：SE-L 產(chǎn)地：遼寧沈陽

廠商：沈陽科晶自動化設(shè)備有限公司
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光譜橢偏儀

品牌：沈陽科晶型號：SE-VE 產(chǎn)地：遼寧沈陽

廠商：沈陽科晶自動化設(shè)備有限公司
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光譜橢偏儀

品牌：沈陽科晶型號：SE-VM 產(chǎn)地：遼寧沈陽

廠商：沈陽科晶自動化設(shè)備有限公司
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全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀

品牌：沈陽科晶型號：ME-L 產(chǎn)地：遼寧沈陽

廠商：沈陽科晶自動化設(shè)備有限公司
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橢偏儀-SE2000光譜式橢偏儀Semilab

品牌：上海納嘉型號：SE2000 產(chǎn)地：上海虹口區(qū)

廠商：上海納嘉儀器有限公司

簡介：SEMILAB 光譜型橢偏儀是多功能薄膜測試系統(tǒng)，適合各種薄膜材料的研究。
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激光橢偏儀SE 400adv PV

品牌：德國Sentech 型號：SE 400adv PV 產(chǎn)地：歐洲德國

廠商：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

簡介：激光橢偏儀SE 400adv PV,是全球化使用的標(biāo)準(zhǔn)儀器，用于測量PV單層防反射涂層的厚度和折射率指數(shù)。特別用于表征單晶和多晶硅太陽能電池上的SiNx 防反射單層膜的性能。該儀器用于SiNx涂層和薄鈍化層SiO2和Al2O3的質(zhì)量控制。
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光譜橢偏儀SE 800 PV

品牌：德國Sentech 型號：SE 800 PV 產(chǎn)地：歐洲德國

廠商：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

簡介：光譜橢偏儀SE 800 PV是分析結(jié)晶和多晶硅太陽能電池防反射膜的理想工具。可以測量單層薄膜(SiNx、SiO2、TiO2、Al2O3)和多層疊層膜(SiNX/SiO2、SiNx1/SiNx2、SiNx/Al2O3)。
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激光橢偏儀SE 500adv

品牌：德國Sentech 型號：SE 500adv 產(chǎn)地：歐洲德國

廠商：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

簡介：激光橢偏儀SE 500adv，結(jié)合橢偏反射CER的SE 500adv 橢偏儀SE 500adv將激光橢偏儀和反射儀結(jié)合在一個(gè)系統(tǒng)中。這種組合允許零度反射法用于快速薄膜分析，并且允許透明膜以激光橢偏儀的亞埃精度將可測量的厚度范圍擴(kuò)展到25埃米，從而明確地確定厚度。
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德國Sentech激光橢偏儀SE 400adv

品牌：德國Sentech 型號：SE 400adv 產(chǎn)地：歐洲德國

廠商：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

簡介：德國Sentech激光橢偏儀SE 400adv, 測量透明薄膜的厚度和折射率指數(shù)，具有測量速度、亞埃級別的厚度精度和折射率測定的精度。多角度測量允許使用激光橢偏儀SE 400adv表征吸收膜特征。
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SENDURO 全自動光譜橢偏儀

品牌：德國Sentech 型號：SENDURO 產(chǎn)地：歐洲德國

廠商：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

簡介：SENDURO 全自動光譜橢偏儀包括基于測量的僅在幾秒鐘內(nèi)即可完成的快速數(shù)據(jù)分析。橢圓儀的設(shè)計(jì)是為了便于操作：放置樣品，自動樣品對準(zhǔn)，自動測量和分析結(jié)果。在全自動模式下使用光譜橢偏儀非常適合于質(zhì)量控制和研發(fā)中的常規(guī)應(yīng)用。
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德國Sentech紅外光譜橢偏儀SENDIRA

品牌：德國Sentech 型號：SENDIRA 產(chǎn)地：歐洲德國

廠商：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

簡介：SENDIRA紅外光譜橢偏儀,振動光譜的特點(diǎn)是傅立葉紅外光譜儀FTIR。測量紅外分子振動模的吸收譜帶，分析長分子鏈的走向和薄膜的組成。紅外光譜橢偏儀適用于測量導(dǎo)電膜的電荷載流子濃度。
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光譜橢偏儀SENpro

品牌：德國Sentech 型號：SENpro 產(chǎn)地：歐洲德國

廠商：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

簡介：德國 Sentech 低成本GX益的光譜橢偏儀SENpro,SENpro橢偏儀是橢偏儀應(yīng)用的智能解決方案。它具有角度計(jì)，入射角度步進(jìn)值5°。操作簡單，快速測量和直觀的數(shù)據(jù)分析相結(jié)合，以低成本效益高的設(shè)計(jì)來測量單層和多層膜的厚度和光學(xué)常數(shù)。
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SENresearch 4.0 擁有寬光譜范圍的光譜橢偏儀

品牌：德國Sentech 型號：SENresearch 4.0 產(chǎn)地：歐洲德國

廠商：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

簡介：SENresearch 4.0:擁有寬光譜范圍的光譜橢偏儀，在寬的光譜范圍從190nm（深紫外）到3,500 nm（近紅外）。每一臺SENresearch 4.0都是客戶特定的橢偏光譜解決方案。SENresearch 4.0可以配置用于全穆勒矩陣、各向異性、廣義橢偏、散射測量等。使用步進(jìn)掃描分析器原理實(shí)現(xiàn)測量結(jié)果。
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EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀（光伏專用）

品牌：賽凡型號：EM12-PV 產(chǎn)地：北京

廠商：北京賽凡光電儀器有限公司

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深圳浦東雄安YOLO橢偏儀價(jià)格本公司堯零智能儀器根據(jù)教學(xué)大綱要求自主研發(fā)的固定波長激光橢圓偏振儀用于大學(xué)近代物理實(shí)驗(yàn)，儀器集光、機(jī)、電于一體，操作簡單，性能穩(wěn)定，可無接觸、無損傷精確測定超薄薄膜厚度。; 智能型多功能橢偏儀 Smart SE; 在線橢偏儀 In-situ series; 一鍵式全自動快速橢偏儀 Auto SE; 研究級經(jīng)典型橢偏儀 UVISEL; 美國AST橢偏儀