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儀器網(wǎng)>產(chǎn)品中心>光學(xué)儀器>電子光學(xué)儀器>透射電鏡/透射電子顯微鏡 更新時(shí)間:2026-04-14 20:27:18

透射電鏡/透射電子顯微鏡

(共82件相關(guān)產(chǎn)品信息)
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    賽默飛世爾 透射電子顯微鏡 Talos F200X G2 TEM

    賽默飛世爾 Talos F200X G2 TEM 美洲 美國(guó)
    賽默飛電子顯微鏡
    適用于高分辨率 TEM 和 STEM 以及準(zhǔn)確化學(xué)定量的 TEM 顯微鏡。
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    賽默飛世爾 透射電子顯微鏡 Talos F200S G2 TEM

    賽默飛世爾 Talos F200S G2 TEM 美洲 美國(guó)
    賽默飛電子顯微鏡
    TEM顯微鏡用于高生產(chǎn)率、高分辨率的TEM和具有化學(xué)定量的STEM表征。
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    JEOL原子級(jí)分辨率透射電子顯微鏡JEM-ARM200F NEOARM

    日本電子 JEM-ARM200F NEOARM 亞洲 日本
    深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
    JEM-ARM200F NEOARM 原子級(jí)分辨率透射電子顯微鏡, 標(biāo)配了日本電子獨(dú)自開(kāi)發(fā)的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍(Cold-FEG)和全新的高階球差校正器(ASCOR)。無(wú)論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下,均能實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨率的觀察與分析。同時(shí)還配備了自動(dòng)像差校正系統(tǒng),可以自動(dòng)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的像差校正。新STEM成像技術(shù)(e-ABF法)可以更加簡(jiǎn)便地觀察到含有輕元素樣品的高清晰(襯度)圖像。
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    JEOL 超高壓透射電子顯微鏡JEM-1000

    日本電子 JEM-1000 亞洲 日本
    深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
    JEM-1000 超高壓透射電子顯微鏡,由于超高壓透射電子顯微鏡的加速電壓很高電子波長(zhǎng)很短,即使增大物鏡極靴之間的間隙,也能獲得高分辨率的圖像。此外,電子束具有很強(qiáng)的穿透能力,即使厚樣品也能觀察到清晰的圖像,這是超高壓透射電子顯微鏡的Z大優(yōu)點(diǎn)。
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    賽默飛(原FEI)ELITE 系統(tǒng)

    賽默飛世爾 ELITE 美洲 美國(guó)
    賽默飛電子顯微鏡
    ELITE 是DY款可為二維和三維器件提供動(dòng)態(tài)無(wú)損實(shí)時(shí) LIT 的完全集成系統(tǒng)。作為市場(chǎng)領(lǐng)導(dǎo)者,ELITE 系統(tǒng)的設(shè)計(jì)采用專有的高靈敏度 InSb 攝像頭、定制光學(xué)器件和高級(jí)算法,具有出眾的性能,并可以在Z短時(shí)間內(nèi)獲得結(jié)果,通過(guò)為失效分析工程師提供根本原因分析所需的關(guān)鍵信息,有效縮短分析學(xué)習(xí)的周期。
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    賽默飛世爾 Krios G4冷凍透射電子顯微鏡(cryo-TEM)

    賽默飛世爾 Krios G4 美洲 美國(guó)
    賽默飛電子顯微鏡
    新一代 Thermo Scientific? Krios? G4冷凍透射電鏡Cryo-TEM是該系列產(chǎn)品中設(shè)計(jì)Z緊湊的。通過(guò)對(duì)機(jī)械底座框架和設(shè)備外殼的全新設(shè)計(jì),該款設(shè)備凈身高縮短至3 m以內(nèi),適用于任何天花板高度在3.04 m(10 ft)以上的實(shí)驗(yàn)室,由此可省去昂貴的實(shí)驗(yàn)室改造費(fèi)用。
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    賽默飛世爾 Talos 透射電鏡

    賽默飛世爾 Talos 美洲 美國(guó)
    賽默飛電子顯微鏡
    Talos? 是新一代 TEM 產(chǎn)品,致力于讓用戶迅速訪問(wèn)二維和三維數(shù)據(jù),從而專注于研究發(fā)現(xiàn)。
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    Tundra 冷凍透射電子顯微鏡 (Cryo-TEM)

    賽默飛世爾 Tundra 美洲 美國(guó)
    賽默飛電子顯微鏡
    獲取生命過(guò)程中相關(guān)生物機(jī)器的結(jié)構(gòu)信息對(duì)于充分理解生物學(xué)過(guò)程和疾病的發(fā)病機(jī)制至關(guān)重要。值得注意的是,在基礎(chǔ)生物學(xué)或疾病發(fā)病機(jī)制中起關(guān)鍵作用的蛋白質(zhì),經(jīng)常具有多重構(gòu)象或者與其他蛋白質(zhì)相互作用形成復(fù)合體,這一情況變得日益明顯。這些大的和/或動(dòng)態(tài)的體系給傳統(tǒng) 3D 結(jié)構(gòu)解析方法帶來(lái)了挑戰(zhàn)。幸運(yùn)的是,冷凍電鏡 (Cryo-EM) 技術(shù),尤其是單顆粒分析 (SPA) 技術(shù),已經(jīng)成為研究天然蛋白質(zhì)功能和復(fù)雜生物系統(tǒng)動(dòng)態(tài)過(guò)程的一種非常理想的方法。
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    ¥2600000

    二手 FEI Tecnai F30 透射電子顯微鏡 TEM

    美國(guó)FEI Tecnai F30 美洲 美國(guó)
    上海睿測(cè)電子科技有限公司
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    ¥2400000

    二手 FEI Tecnai F20 透射電子顯微鏡 TEM

    美國(guó)FEI Tecnai F20 美洲 美國(guó)
    上海睿測(cè)電子科技有限公司
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    ¥9999000

    賽默飛 Talos F200X G2 透射電子顯微鏡 S/TEM

    賽默飛 Talos F200X S/TEM 美洲 美國(guó)
    上海睿測(cè)電子科技有限公司
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    ¥5000000

    賽默飛 Talos L120C 透射電子顯微鏡TEM

    賽默飛 Talos L120C 美洲 美國(guó)
    上海睿測(cè)電子科技有限公司
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    ¥9999000

    賽默飛 Talos F200i 透射電子顯微鏡TEM

    賽默飛 Talos F200i 美洲 美國(guó)
    上海睿測(cè)電子科技有限公司
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    場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡 HF-3300

    日立 HF-3300 亞洲 日本
    似空科學(xué)儀器(上海)有限公司
    日立馳名的冷場(chǎng)發(fā)射電子源和300 kV加速電壓技術(shù)共同打造了超高分辨率成像和高靈敏度分析功能。雙棱鏡全息技術(shù),空間分辨電子能量損失譜以及高精度平行納米電子束衍射技術(shù)開(kāi)辟了GX,高精度樣品分析的新途徑。
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    透射電子顯微鏡 HT7800系列

    日立 HT7800系列 亞洲 日本
    似空科學(xué)儀器(上海)有限公司
    ~從生物醫(yī)學(xué)到材料領(lǐng)域~ 以創(chuàng)新的操作性,滿足廣泛領(lǐng)域的需求。 新一代TEM"RuliTEM"誕生。
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    透射電子顯微鏡 HT7700

    日立 HT7700 亞洲 日本
    似空科學(xué)儀器(上海)有限公司
    日立HT7700 : 數(shù)字一體化的TEM操作平臺(tái),操作簡(jiǎn)便的通用性設(shè)計(jì) HT7700優(yōu)異的高反差、高分辨圖像觀察與強(qiáng)大的分析擴(kuò)展功能,可為生物醫(yī)學(xué)、醫(yī)藥、食品、農(nóng)業(yè)、高分子、化學(xué)、納米材料等多領(lǐng)域提供**的TEM解決方案。
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    透射電子顯微鏡 H-9500

    日立 H-9500 亞洲 日本
    似空科學(xué)儀器(上海)有限公司
    為了滿足這種高端需求,日立高新技術(shù)公司研發(fā)出了 H-9500透射電子顯微鏡,此款高分辨透射電子顯微鏡不僅具備實(shí)地驗(yàn)證過(guò)的各種性能,而且配置了很多滿足客戶多種需求的獨(dú)特功能,并采用了zuixin的數(shù)字技術(shù),便于用戶及時(shí)快速獲取原子水平的樣品結(jié)構(gòu)信息。
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    布魯克Hysitron PI 95透射電鏡測(cè)試系統(tǒng)

    布魯克 Hysitron PI 95 美洲 美國(guó)
    冠乾科技(上海)有限公司
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    日立L型 FIB-SEM-Ar 三束系統(tǒng) NX9000

    日立 NX9000 亞洲 日本
    日立科學(xué)儀器(北京)有限公司
    -高亮度場(chǎng)發(fā)射電子槍冷 冷場(chǎng)發(fā)射電子槍先天具有的高亮度和高能量分辨率的特點(diǎn),使納米量分析研究成為可能,對(duì)超高分辨圖像和電子全息攝影具有大貢獻(xiàn)。 -300kV高壓系統(tǒng) 300kV高壓系統(tǒng)具有更高的穿透能力,保證了厚樣品的原子分辨率圖像,降低了樣品制備難度,尤其對(duì)于金屬、陶瓷等高原子序數(shù)樣品的觀測(cè)十分有利。 -特的分析能力 新引入了雙重雙棱鏡全息攝影功能、高空間分辨率電子能量損失譜(EELS)和高精度平行納米束衍射技術(shù)等特的分析技術(shù)。
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    自動(dòng)進(jìn)樣場(chǎng)發(fā)射透射電鏡

    日本電子 JEM-F200 亞洲 日本
    深圳市科時(shí)達(dá)電子科技有限公司
    2016年新年伊始,日本電子株式會(huì)社(JEOL)即全球同步推出了新款場(chǎng)發(fā)射透射電鏡JEM-F200。
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    美國(guó)Delong 臺(tái)式透射電子顯微鏡LVEM5(Bench-top TEM)

    捷克Delong Instruments DelongLVEM5(Bench-topTEM) 歐洲 其它
    深圳市科時(shí)達(dá)電子科技有限公司
    美國(guó)Delong 臺(tái)式透射電子顯微鏡LVEM5(Bench-top TEM),小型臺(tái)式多用途電子顯微鏡,透射電鏡(TEM)、電子衍射(ED)、掃描電鏡(SEM)、掃描透射電鏡(STEM)四種成像模式,分辨率:1.5nm(TEM);10nm(SEM)。
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    Tundra 冷凍透射電子顯微鏡 (Cryo-TEM)

    賽默飛世爾 Tundra(Cryo-TEM) 美洲 美國(guó)
    深圳市科時(shí)達(dá)電子科技有限公司
    冷凍電鏡技術(shù)獲取生命過(guò)程中相關(guān)生物機(jī)器的結(jié)構(gòu)信息對(duì)于充分理解生物學(xué)過(guò)程和疾病的發(fā)病機(jī)制至關(guān)重要。值得注意的是,在基礎(chǔ)生物學(xué)或疾病發(fā)病機(jī)制中起關(guān)鍵作用的蛋白質(zhì),經(jīng)常具有多重構(gòu)象或者與其他蛋白質(zhì)相互作用形成復(fù)合體,這一情況變得日益明顯。這些大的和/或動(dòng)態(tài)的體系給傳統(tǒng) 3D 結(jié)構(gòu)解析方法帶來(lái)了挑戰(zhàn)。
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    日立120kV透射電鏡HT7800

    日立 120kVHT7800 亞洲 日本
    深圳市科時(shí)達(dá)電子科技有限公司
    日立新一代全數(shù)字化120kV透射電子顯微鏡HT7800,屬于日立瑠璃系列產(chǎn)品Ruli TEM,操作的一體化和自動(dòng)化程度都有明顯提高。HT7800系列產(chǎn)品有兩個(gè)型號(hào)HT7800和HT7830。 HT7800系列產(chǎn)品的ZD特點(diǎn)是采用日立ZX設(shè)計(jì)的第二代雙隙物鏡,很好地繼承了日立120kV-TEM的基本理念,兼顧低倍率與寬視野觀察、高襯度與高分辨率觀察,可在同一儀器上一鍵切換等。集高襯度和高
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    HF-3300場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡

    日立 HF-3300 亞洲 日本
    深圳市科時(shí)達(dá)電子科技有限公司
    日立馳名的冷場(chǎng)發(fā)射電子源和300 kV加速電壓技術(shù)共同打造了超高分辨率成像和高靈敏度分析功能。雙棱鏡全息技術(shù),空間分辨電子能量損失譜以及高精度平行納米電子束衍射技術(shù)開(kāi)辟了高效,高精度樣品分析的新途徑。
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    賽默飛Talos L120C TEM透射電子顯微鏡

    賽默飛世爾 TalosL120CTEM 美洲 美國(guó)
    深圳市科時(shí)達(dá)電子科技有限公司
    alos L120C TEM產(chǎn)品描述Talos L120C TEM在為模塊化多功能性、ZD穩(wěn)定性和操作簡(jiǎn)便性而設(shè)計(jì)的平臺(tái)上提供經(jīng)驗(yàn)證的ZJ成像性能。Thermo ScientificTM TalosTM L120C TEM通過(guò)模塊化設(shè)計(jì)和改進(jìn)的光學(xué)穩(wěn)定性,從而產(chǎn)生超高的觀測(cè)效率、穩(wěn)定的運(yùn)行時(shí)間以及舒適的操作體驗(yàn)。Talos L120C TEM是入門(mén)級(jí)冷凍研究的理想解決方案,簡(jiǎn)單的點(diǎn)擊成像,以及用于

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The Talos L120C TEM 的平臺(tái)式設(shè)計(jì)具備了模塊多功能化,ZG的穩(wěn)定性及操作的便捷性,從而提供可靠的ZJ成像性能。

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完全集成飛秒激光系統(tǒng)的Thermo Scientific Helios 5 Laser PFIB,這是一臺(tái)先進(jìn)的聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM),可以利用納米級(jí)分辨率實(shí)現(xiàn)快速3D表征毫米尺度材料。

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技術(shù)專欄:

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透射電鏡制樣
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透射電鏡工作原理
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