Pharos STEM 臺式生物掃透電鏡
Pharos STEM 臺式生物掃透電鏡
適合納米材料研究的高分辨掃描透射電鏡一體機 Pharos STEM
適合組織切片病理學(xué)研究掃描透射電鏡 Phenom STEM
適合組織切片病理學(xué)研究掃描透射電鏡 Phenom STEM
Phenom Pharos 臺式場發(fā)射掃描電鏡因其多功能性和良好的成像性能贏得了良好的口碑 —— 即使是在傳統(tǒng)較難觀測的樣品中也表現(xiàn)優(yōu)異。直觀的用戶界面有助于將高分辨率圖像呈現(xiàn)給用戶, FEG 場發(fā)射電子源在 1-20kV 的加速電壓范圍內(nèi)都提供了高分辨率。
Phenom Pharos-STEM 掃描透射電子顯微鏡,配備了 STEM 樣品杯,從另一個維度提高了其成像能力和應(yīng)用的多樣性。

作為稍有臺式 Phenom Pharos-STEM 掃描透射電子顯微鏡,在較低的加速電壓下,減少了電子束對樣品的損傷,顯著提高了圖像的襯度。在臺式掃描電鏡下即可快速獲得高分辨的 BF 像、DF 像、HAADF 像,且支持用戶自定義成像。Pharos STEM 樣品杯為材料領(lǐng)域的研究提供了高效、全面的表征方式。

BF 像:主要是樣品正下方同軸的探測器接收透射電子和部分散射電子。影響明場像襯度(Contrast)的主要因素是樣品的厚度和成分。樣品越厚,原子序數(shù)(Z)越大,穿透樣品的電子越少,圖像就越暗,因此 BF 像對輕元素(Z 較?。┍容^敏感。
DF 像:主要是樣品下方非同軸位置的探測器接收散射電子信號。
HAADF 像:主要是接收高角度的非相干散射電子信號。原子序數(shù)(Z)越大,散射角也越大,原子核對入射電子的散射作用越強,圖像上更亮。因此又被稱為 Z 襯度像。
三種成像模式各有特點,具有不同的成像優(yōu)勢,可以根據(jù)樣品情況搭配使用,成像結(jié)果進行互相驗證。

煙草花葉病毒的BSE 像、BF 像、 DF 像和 HAADF 像
對比掃描電鏡的背散射電子圖像(BSE),桿狀的煙草花葉病毒在 BF 模式下更加直觀。BF 模式更適合觀察輕元素(Z 較?。?,輕元素散射作用較弱,因此在 HAADF 模式下較難清晰觀測細(xì)節(jié)。
而桿狀煙草花葉病毒周圍較厚的脂質(zhì)球,電子較難穿透,BF 像上相對較暗。在 DF 模式下,密度較大的脂質(zhì)球表現(xiàn)出較強的衍射,因此在 DF 像上相對較亮。
規(guī)格參數(shù):
系統(tǒng)兼容:Phenom Pharos G2 臺式場發(fā)射掃描電鏡
樣品兼容:ø 3mm TEM 載網(wǎng)(夾具固定)
成像時間:< 40 s*
成像模式:BF、DF、HAADF、 自定義**
成像工作流程:固定的 WD,設(shè)置較優(yōu)的探測器 ,完全集成的 UI
真空度:0.1, 10 & 60 Pa
分辨率:優(yōu)于 1 nm
* 加載樣品到呈現(xiàn)圖像的時間
** STEM 具有 11 分割探測器,用戶可以對其進行自定義選擇
具體詳情以Phenom Pharos-STEM 掃描透射電子顯微鏡產(chǎn)品資料為準(zhǔn)
上傳人:復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
大?。? B
407
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Spectra新的檢測功能,使科學(xué)家和工程師能夠獲得以前難以獲得的原子級數(shù)據(jù),以滿足更廣泛的應(yīng)用需求。該平臺可以獲得極其光束敏感的材料和半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的詳細(xì)圖像,包括金屬有機框架,沸石和聚合物,如果暴露在電子束中太長時間或在錯誤的電壓下可能會損壞或破壞。它還滿足了使用EDX(能量分散X射線)或EELS(電子能量損失光譜)等多種方式對大量原子級化學(xué)分析的不斷增長的需求。
Phenom Pharos STEM 臺式場發(fā)射電子顯微鏡,從另一個維度提高了其成像能力和 應(yīng)用的多樣性。 Pharos STEM 電子顯微鏡,利用 FEG 高亮度電子源,可在透射模式下對薄樣品進行成像。專用的樣品夾可輕松裝載常規(guī) 3mm 直徑透射電鏡(TEM)載網(wǎng),實現(xiàn)樣品的快速、安全切換??商峁┟鲌?(BF) 、暗場 (DF) 和高角度環(huán)形暗場 (HAADF) 像,并支持自定義選擇成像模式。
專用掃描透射顯微鏡HD-2700,配備了與德國CEOS GmbH公司(總經(jīng)理Max Haider先生)共同開發(fā)的球差校正儀,顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能,更適合高級納米技術(shù)研究。由于球差校正系統(tǒng)校正了限制電子顯微鏡的性能的球差,使其與標(biāo)準(zhǔn)型號顯微鏡相比,分辨率提高了1.5倍,同時,探針電流提高了10倍。
該平臺可以獲得極其光束敏感的材料和半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的詳細(xì)圖像,包括金屬有機框架,沸石和聚合物,如果暴露在電子束中太長時間或在錯誤的電壓下可能會損壞或破壞。它還滿足了使用EDX(能量分散X射線)或EELS(電子能量損失光譜)等多種方式對大量原子級化學(xué)分析的不斷增長的需求。
?更高亮度的電子源 ?更簡單的電氣特性分析 ?高動態(tài)范圍映射