產(chǎn)品介紹：

特征

NanoScope 開放工具箱

MultiMode 8-HR 提供了多種用于監(jiān)控信號(hào)、修改實(shí)時(shí)操作和實(shí)現(xiàn)自定義離線分析的方式。標(biāo)準(zhǔn) NanoScope? 可直接打開 MATLAB數(shù)據(jù)并導(dǎo)出ASCII 碼。您可以使用Virtual SAM 監(jiān)控內(nèi)部信號(hào)并對(duì)輸入信號(hào)進(jìn)行修改，或選配 SAM lll 擴(kuò)展您的功能。還可以通過選配納米刻蝕和修改COM界面來控制AFM的功能。您可以利用 NanoScope 開放訪問功能將實(shí)驗(yàn)擴(kuò)展到標(biāo)準(zhǔn) AFM 模式之外，以開發(fā)獨(dú)特的模式來獲取全新的數(shù)據(jù)。

用于信號(hào)輸入和輸出的 NanoScope 控制器。

PeakForce-HR 模塊

使用PeakForce-HR 對(duì)聚合物成像。掃描范圍 1 μm ，掃描速度 5 Hz。 樣品由北卡羅來納大學(xué)的 S. Sheiko提供。

MultiMode 8-HR 旨在充分利用峰值力輕敲技術(shù)，在空氣成像速度加快了6倍，而不會(huì)降低圖像質(zhì)量。

了解有關(guān)峰值力輕敲的更多信息先進(jìn)的環(huán)境控制

Multimode 8-HR 具有對(duì)樣品加熱和冷卻功能。低溫配件可在 -35°C 至 100°C 的空氣或液體中加熱和冷卻。高溫配件可加熱至 250°C，通常用于研究聚合物相變。變溫功能的獨(dú)特之處在于，允許在變溫過程中通入保護(hù)氣，防止樣品氧化和尖 端加熱，還可以同時(shí)加熱探針，防止探針被污染。環(huán)境控制附件既可與加熱/冷卻配件集成在一起，也可作為單獨(dú)的環(huán)境室選配。

下載環(huán)境控制數(shù)據(jù)表

三聚物的 PeakForce-HR 圖像。從室溫(左)開始，樣品在加熱至 60°C(中間)時(shí)熔化，然后在冷卻至 55°C(右)時(shí)重新結(jié)晶。掃描范圍 3 μm，以 10 Hz 成像。

AFM 模式

用AFM拓展您的應(yīng)用

憑借一整套出色的AFM成像模式，布魯克能為您每項(xiàng)研究提供適用的 AFM 技術(shù)。

基于核心成像模式(接觸模式和輕敲模式)，布魯克提供的全套 AFM測(cè)試模式，允許用戶探測(cè)樣品的電學(xué)、磁性等豐富性能。布魯克獨(dú) 創(chuàng)的全新的峰值力輕敲技術(shù)作為一種新的核心成像模式，已被應(yīng)用到多種測(cè)量模式中，能同時(shí)提供形貌、電學(xué)和力學(xué)性能數(shù)據(jù)。

了解有關(guān) AFM 模式的更多功能

Multimode 8-HR 數(shù)據(jù)庫

聚(3-六基乙基苯)(P3HT)有機(jī)導(dǎo)電納米線的PF TUNA電流圖，電壓為3V。掃描范圍為 3 μm ，電流從 0 到 80 pA 范圍內(nèi)變化。

五氧化二氮薄膜的輕敲圖像，掃描范圍為 5 μm。薄膜用作鋰微電池中的正極，并在原始狀態(tài)(左)、第 一次放電后(中間)和隨后充電后(右)進(jìn)行測(cè)試。充電/放電循環(huán)不可逆地改變了薄膜結(jié)構(gòu)。圖片由法國(guó)波城大學(xué)的B.Fleutot提供。

用PeakForce HR表征間同立構(gòu)聚丙烯 (sPP) 和聚乙烯氧化物 (PEO) 共混物。掃描范圍3um，掃描速度5Hz。

PeakForce QNM 圖像揭示了空氣中聚乙烯晶體的分子缺陷。從單個(gè)分子的形貌(A) 以及粘附力 (B) 和剛度 (C) 圖可以看出，缺陷位點(diǎn)剛度顯著降低。圖像大小 10 nm。

此模量圖揭示了 ULDPE 連接層與截面包裝材料的 PS/LDPE 密封層之間的微妙過渡。掃描范圍為 3 μm。

通過 PeakForce TUNA 獲得的碳納米管形貌 (A) 和電流 (B) 圖。圖像大小 1 μm。

使用峰值力輕敲得到云母表面原子級(jí)分辨率的形貌和粘附力。

使用PF QNM 得到的聚二基硅氧烷 (PDES) 模量圖。在 3 μm 的掃描范圍內(nèi)，模量從 1.5 到 15 MPa內(nèi)變化。