布魯克三維X射線顯微鏡-X4 POSEIDON
布魯克三維X射線顯微鏡-SKYSCAN 1273
三維X射線顯微鏡-SKYSCAN 2214
布魯克 電子背散射衍射儀 EBSD eflash FS
布魯克 電子背散射衍射儀 EBSD eflash FS
顯微 CT 和 3D X 射線顯微鏡的未來
X4 POSEIDON 是一款功能強(qiáng)大的微型計(jì)算機(jī)斷層掃描機(jī),采用緊湊的臺(tái)式設(shè)計(jì),具有落地式系統(tǒng)的功能。
顯微計(jì)算機(jī)斷層掃描(Micro-CT)又稱三維 X 射線顯微鏡(3D XRM),是一種先進(jìn)的成像技術(shù),可為生物醫(yī)學(xué)、生命科學(xué)和材料科學(xué)提供深入的樣品三維視圖。
X4 POSEIDON - 一瞥:
X4 POSEIDON 是先進(jìn)的高分辨率三維 X 射線成像系統(tǒng),它建立在我們久負(fù)盛名的 SKYSCAN 1272 和 SKYSCAN 1275 系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之上。
X4 POSEIDON 的模塊化硬件和以用戶為中心的軟件可滿足任何分析任務(wù)的需要。得益于其旗艦技術(shù),該系統(tǒng)在視場、放大率和速度之間實(shí)現(xiàn)了有效平衡--掃描速度快如閃電,覆蓋范圍廣,可分辨小至 2 μm 的特征。
X4 POSEIDON 結(jié)合了兩個(gè)探測器,是有史以來第一個(gè)多視角臺(tái)式三維 X 射線顯微鏡解決方案。我們先進(jìn)的采集算法和獨(dú)特的 GEM Plus™ 功能可確保以有效方式采集每一組三維圖像。
X4 POSEIDON 是一種無障礙的步入式系統(tǒng),具有簡單明了的工作流程、直觀的用戶界面和多語言支持,提供無與倫比的易用性。
X4 POSEIDON 只需要標(biāo)準(zhǔn)電源和實(shí)驗(yàn)室工作臺(tái),就可以安裝在任何實(shí)驗(yàn)室中,為每個(gè)人、每個(gè)地方帶來高質(zhì)量、非破壞性的三維成像!
模塊化臺(tái)式機(jī)系統(tǒng),可持續(xù)發(fā)展
X4 POSEIDON 是一種模塊化 X 射線臺(tái)式顯微鏡。該儀器可以根據(jù)不同的需求進(jìn)行升級,而且隨著技術(shù)的發(fā)展,還可以輕松集成新的組件。
X4 POSEIDON 從一開始就是一個(gè)全面的微型計(jì)算機(jī)斷層掃描解決方案,具有多種高級功能增強(qiáng)用戶體驗(yàn)。
X4 POSEIDON 的基本配置包括一個(gè)成熟的反射 X 射線源和多功能平板探測器。有了這些組件,該系統(tǒng)就能在不影響分辨率的情況下,以卓越的視野和銳利的對比度進(jìn)行超快速掃描。
無論您的實(shí)驗(yàn)室是支持不同研發(fā)領(lǐng)域的多個(gè)用戶,還是支持特定的工業(yè)流程,X4 POSEIDON 都能提供全面的無損、定性和定量三維分析功能。
GEM Plus™: 成像的靈活性
X4 POSEIDON 結(jié)合了掃描-幾何和多尺度視野技術(shù),通過幾何放大倍率增強(qiáng)模式(GEM Plus™)為臺(tái)式機(jī)提供了極高的靈活性。
通過將樣品移近光源或移近探測器,可實(shí)現(xiàn)視場和分辨率的平衡。利用掃描幾何技術(shù),探測器也可以連續(xù)移動(dòng),從而在實(shí)現(xiàn)相同放大倍率的同時(shí),對給定的樣品尺寸進(jìn)行理想的錐形光束利用,從而顯著提高掃描速度。
GEM Plus™ 以 Multi-Vision 和 Best-Scan-Geometry 為基礎(chǔ),在純分辨率、掃描速度和視場角之間實(shí)現(xiàn)了很好平衡。
多視野: 雙探測器技術(shù)實(shí)現(xiàn)快速高分辨率 3D 成像
X4 POSEIDON 是真正的多探測器臺(tái)式 XRM 解決方案。它可以配備多功能平板探測器、科學(xué)級 CMOS 探測器或兩者兼?zhèn)洌?/p>
在選擇滿足您需求的理想探測器時(shí),您必須考慮視場角、分辨率和掃描速度之間的平衡。如果速度是重中之重,那么平板探測器就非常適合您的應(yīng)用。另一方面,sCMOS 探測器則是實(shí)現(xiàn)最高分辨率的理想選擇。
有了 X4 POSEIDON,您就不必再做選擇了--多虧了 Multi-Vision 功能,您可以兩者兼得!
X4 POSEIDON 平臺(tái)允許現(xiàn)場升級到 Multi-Vision。
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布魯克X4 Poseidon模塊化三維X射線顯微成像系統(tǒng)集超高分辨率、無損探測和自由進(jìn)化于一身,提供反射/透射雙光源和雙探測器配置,支持硬件升級及15位自動(dòng)進(jìn)樣器,實(shí)現(xiàn)快速應(yīng)對不同需求。其GEM Plus技術(shù)顯著提升分辨率與掃描速度,雙探測器聯(lián)動(dòng)和4D動(dòng)態(tài)追蹤功能為科研和工業(yè)檢測帶來全新視角,而智能化軟件則簡化操作流程,助力用戶輕松獲取高質(zhì)量三維成像結(jié)果。