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磁性樣品的掃描電鏡觀察與分析
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本文由 捷歐路（北京）科貿(mào)有限公司 整理匯編
2024-09-27 23:46 1076閱讀次數(shù)
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磁性樣品的掃描電鏡觀察與分析
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磁性樣品的掃描電鏡觀察與分析- 磁性樣品的掃描電鏡觀察與分析[詳細(xì)]
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2024-09-27 23:46
其它
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- 掃描電鏡中如何觀察含水樣品？
- 掃描電鏡（SEM）用電子束掃描樣品表面，收集攜帶電子束與樣品相互作用信息的反射電子。如果樣品倉(cāng)內(nèi)殘留有空氣，空氣原子與電子束相互作用，部分偏轉(zhuǎn)電子，并在圖像上增加噪聲。這就是掃描電鏡成像前必須達(dá)到一定真空度的原因。但是，雖然高的真空對(duì)于準(zhǔn)確的分析來(lái)說(shuō)是至關(guān)重要的，但它也會(huì)對(duì)某些類(lèi)型的材料成像產(chǎn)生負(fù)面影響，例如含有水分的樣品。閱讀這篇博客，了解如何在掃描電鏡的真空環(huán)境中觀察對(duì)真空敏感的樣品，并保持樣品結(jié)構(gòu)完整。SEM中的真空度首先，我們來(lái)談?wù)剴呙桦婄R（SEM）中的真空度。真空度（或壓力值）可由操作者控制。對(duì)于臺(tái)式掃描電鏡，真空度在1-10帕斯卡之間。用于比較的是：大氣壓是100000帕斯卡。當(dāng)壓力降到大氣壓值以下時(shí)，所有液體都會(huì)發(fā)生相變。因此所有掃描電鏡（SEM）的內(nèi)部必須采用不受高真空度影響的特殊材料。有些樣品會(huì)受到影響，并且它們的行為也會(huì)有所不同：Z敏感的是含水樣品。有內(nèi)部孔隙的樣品，或者是由含水材料制成的樣品，都可能會(huì)受到影響，因?yàn)樗鼈儠?huì)在成像過(guò)程中釋放出氣體。任何從樣品中釋放出的氣體都是成像工具的風(fēng)險(xiǎn)，因?yàn)樗赡軙?huì)污染鏡筒或探測(cè)器，損害儀器的功能，或影響圖像質(zhì)量。出于這個(gè)原因，飛納臺(tái)式掃描電鏡（PhenomDesktopSEM）通常配備一個(gè)保護(hù)程序，當(dāng)檢測(cè)到突然或意外增加的壓力水平時(shí)，會(huì)彈出樣品。[詳細(xì)]
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2018-08-22 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- 有機(jī)顆粒樣品掃描電鏡分析
- 掃描電鏡使用技巧Get，有機(jī)顆粒樣品分析有妙招飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)（PhenomParticleMetric），簡(jiǎn)稱(chēng)顆粒系統(tǒng)，由荷蘭Phenom-World公司發(fā)布于2013年11月。顆粒系統(tǒng)通過(guò)顆粒與背景襯度的差異對(duì)顆粒進(jìn)行圖像識(shí)別，在獲取SEM圖像的同時(shí)可以獲取所有顆粒的形貌數(shù)據(jù)，例如直徑、等效面積、等效體積、圓度等。并且可以將這些數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)。顆粒探測(cè)范圍：100nm-0.1mm，顆粒探測(cè)速度高達(dá)1000顆/分。圖1.PhenomParticleMetric配置圖在實(shí)際操作過(guò)程中，顆粒與背景元素差異大的顆?？梢院芎玫淖R(shí)別，但由于圖像識(shí)別技術(shù)局限性，如顆粒與背景元素差異較小，例如有機(jī)顆粒，則軟件難以進(jìn)行有效識(shí)別，在這種情況下，我們可以采用噴金的辦法人為創(chuàng)造出黑色顆粒邊界，從而增加軟件識(shí)別的準(zhǔn)確性。粘在導(dǎo)電膠表面的顆粒與導(dǎo)電膠之間形成空隙區(qū)，如圖2右上所示，在噴金過(guò)程中，此孔隙區(qū)無(wú)法被金覆蓋。噴金完成之后，結(jié)構(gòu)示意圖如圖3所示。此時(shí)在SEM視圖下，可以清晰看到顆粒邊緣的黑色邊界，圖4為顆粒在噴金后陰影邊界與顆粒識(shí)別案例。識(shí)別結(jié)果證明適當(dāng)噴金有利于提升顆粒系統(tǒng)識(shí)別的準(zhǔn)確性。而噴金多少呢？我們通過(guò)實(shí)踐總結(jié)規(guī)律得出，噴金厚度為顆粒尺寸5~10%范圍內(nèi)，可以有效增強(qiáng)顆粒系統(tǒng)識(shí)別的準(zhǔn)確性。圖2.顆粒樣品噴金過(guò)程示意圖圖3.顆粒樣品噴金結(jié)果示意圖圖4.噴金后陰影邊界與顆粒識(shí)別案例在拍照過(guò)程中，應(yīng)注意調(diào)節(jié)圖像的亮度/對(duì)比度，如亮度對(duì)比度都較低，則容易造成軟件識(shí)別率下降，如圖5所示。因此，[詳細(xì)]
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2018-08-22 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- TESCAN掃描電鏡應(yīng)用之孢子觀察
- 地球環(huán)境的急劇變化導(dǎo)致全世界植物群很多物種逐漸消失。因此，對(duì)植物的嚴(yán)密監(jiān)護(hù)很有必
要。孢子來(lái)自于山腳區(qū)的角苔類(lèi)，是很重要的植物物種之一。每種植物都有自己特有的孢子結(jié)構(gòu)，植物學(xué)家通過(guò)觀察植物孢子的結(jié)構(gòu)和形貌，便可確定該植物在自然界的存在情況。[詳細(xì)]
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2024-09-18 04:19
應(yīng)用文章
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- 掃描電鏡分析樣品表面的深度是多少
- Z近，有飛納電鏡用戶(hù)詢(xún)問(wèn)關(guān)于電子束分析樣品時(shí)可以穿透樣品的深度的問(wèn)題，這里小編將為大家詳細(xì)介紹一下。 [詳細(xì)]
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2020-06-30 13:42
應(yīng)用文章
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- 放大倍數(shù)是掃描電鏡分析樣品的關(guān)鍵嗎？
- 放大倍數(shù)是一個(gè)非常簡(jiǎn)單的概念，但是由于其自身的定義有時(shí)會(huì)產(chǎn)生混亂。這個(gè)博客的目的是澄清這個(gè)話題，并探討其他可以更好地描述一個(gè)對(duì)象有多大的參數(shù)。**個(gè)放大鏡可以追溯到希臘時(shí)期，阿里斯托芬首先使用其描述了孩子們?cè)噲D看到小細(xì)節(jié)的休閑活動(dòng)。這是**次“放大”這個(gè)詞語(yǔ)出現(xiàn)在我們的語(yǔ)言中。隨著時(shí)代的發(fā)展進(jìn)步，人們?cè)诳茖W(xué)探索中對(duì)微觀和納米世界的興趣呈指數(shù)級(jí)增長(zhǎng)，從而需要量化放大倍數(shù)?，F(xiàn)代科學(xué)對(duì)于放大倍率的定義是兩次測(cè)量之間的比率，這意味著需要兩個(gè)對(duì)象來(lái)正確評(píng)估該值。**個(gè)對(duì)象顯然是樣品，第二個(gè)是它的圖片。事實(shí)上，雖然樣品尺寸不變，但圖片可以以任意大小打印。所以請(qǐng)?jiān)试S我做一些計(jì)算：這意味著如果我打印蘋(píng)果照片時(shí)**次打印時(shí)選擇標(biāo)準(zhǔn)打印機(jī)的紙張，再次打印時(shí)選擇用于覆蓋建筑物的海報(bào)，則兩次放大倍數(shù)值將發(fā)生顯著變化。[詳細(xì)]
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2018-08-22 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- 掃描電鏡低電壓觀察在鋼鐵研究中的應(yīng)用
- 掃描電鏡低電壓觀察在鋼鐵研究中的應(yīng)用[詳細(xì)]
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2024-09-11 17:56
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- 掃描電鏡金屬材料失效分析中的應(yīng)用——觀察金屬件微裂紋和孔洞
- 掃描電鏡金屬材料失效分析中的應(yīng)用——觀察金屬件微裂紋和孔洞[詳細(xì)]
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2024-09-14 02:58
應(yīng)用文章
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- 與核潛艇運(yùn)行有關(guān)的樣品分析
- 與核潛艇運(yùn)行有關(guān)的樣品分析[詳細(xì)]
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2016-09-07 00:00
安裝說(shuō)明
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- 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡與鎢燈絲掃描電鏡的區(qū)別
- 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡與鎢燈絲掃描電鏡的區(qū)別[詳細(xì)]
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2024-09-18 11:20
安裝說(shuō)明
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- 利用掃描電鏡觀察氫氧化鉀蝕刻制備的硅微觀結(jié)構(gòu)
- 氫氧化鉀蝕刻（KOH）是制造微型器件的一個(gè)重要工藝，用于從硅片上去除材料。選擇性地蝕刻硅片的某些部分，用一層二氧化硅或掩膜來(lái)保護(hù)剩下的部分。然而，殘留物的存在成為這種技術(shù)的一個(gè)缺點(diǎn)，因?yàn)樗鼤?huì)對(duì)器件的制造過(guò)程產(chǎn)生負(fù)面影響。在這篇博客中，我們提出了一種利用蝕刻殘留物的方法，將其作為后續(xù)蝕刻的掩膜，以制造兩層微結(jié)構(gòu)。我們還提供了如何有效地利用掃描電鏡SEM對(duì)這些微結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像的例子。KOH化學(xué)硅蝕刻技術(shù)蝕刻是微加工中一個(gè)非常重要和關(guān)鍵的過(guò)程，在此過(guò)程中，材料通過(guò)蝕刻劑在硅片表面進(jìn)行化學(xué)去除。蝕刻有兩種:濕蝕刻，蝕刻劑是液體，和干蝕刻，蝕刻劑是等離子體。干蝕刻是各向異性的，因此在蝕刻材料中形成垂直側(cè)壁，如圖1a所示。在另一方面，濕蝕刻劑通常是各向同性，這意味著蝕刻在各個(gè)方向都是均勻的，產(chǎn)生圓壁和削弱效果，如圖1b所示。KOH是一種液相蝕刻劑，在晶體平面上是各向異性的。因此，它對(duì)硅片的晶體取向很敏感，產(chǎn)生梯形截面腔，如圖1c所示。KOH蝕刻的主要缺點(diǎn)之一是殘留物的沉積，這是由蝕刻劑和被移出材料之間的相互作用所造成的:是這項(xiàng)技術(shù)Z薄弱的一點(diǎn)。圖1:生成的基體橫截面示意圖，(a)wan美各向異性的侵蝕，(b)一個(gè)完全各向同性的侵蝕，(c)一個(gè)濕蝕刻的各向異性腐蝕劑[詳細(xì)]
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2018-08-22 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- 你的掃描電鏡樣品有一個(gè)秘密
- 某些樣品很難成像。有時(shí)即使前期使用**的制樣方法，也不能幫助你得到想要的結(jié)果。樣品表面粗糙度和表面特征可能會(huì)將你感興趣的特定區(qū)域覆蓋，這些區(qū)域可能包含材料的表面缺陷或特征等重要信息。正如這個(gè)案例一樣，你需要從一個(gè)新的角度解析。例如在電腦芯片上進(jìn)行故障分析時(shí)，一根導(dǎo)線或者其他物體可能會(huì)將導(dǎo)致故障的錯(cuò)誤連接覆蓋住?；蚴墙y(tǒng)計(jì)特殊設(shè)計(jì)的合金顆粒，這些顆粒能提高Zxin發(fā)動(dòng)機(jī)部件或微型YL工具的性能，由于表面粗糙結(jié)構(gòu)能將部分顆粒隱藏，使得統(tǒng)計(jì)結(jié)果不準(zhǔn)確。[詳細(xì)]
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2018-08-22 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- 樣品導(dǎo)電性對(duì)掃描電鏡成像的影響
- 樣品制備在掃描電鏡分析中占有重要地位，它關(guān)系到微觀圖像的觀察效果。如果制備的樣品不適用于掃描電鏡的觀察條件，則很難拍攝出好的圖像。眾所周知，理想的掃描電鏡樣品一定是導(dǎo)電性非常好的，例如金顆粒、錫球等金屬類(lèi)材料。對(duì)于不導(dǎo)電的樣品，如生物材料、紙張、塑料和陶瓷等，容易造成放電、圖像漂移等現(xiàn)象，這些都是荷電效應(yīng)產(chǎn)生的。 [詳細(xì)]
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2024-09-12 18:27
應(yīng)用文章
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- 如何避免掃描電鏡觀察過(guò)程中碳沉積現(xiàn)象
- 在使用掃描電鏡進(jìn)行樣品觀察時(shí)，尤其是采用二次電子模式，隨著觀察時(shí)間的延長(zhǎng)，在觀察的區(qū)域會(huì)出現(xiàn)一塊黑的矩形的區(qū)域。 如下圖所示，對(duì)一塊空白的鋁制樣品臺(tái)進(jìn)行觀察時(shí)，一段時(shí)間后降低放大倍數(shù)，發(fā)現(xiàn)圖像中間有一明顯的黑色矩形，我們可以簡(jiǎn)單的稱(chēng)這種現(xiàn)象叫做碳沉積。 [詳細(xì)]
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2020-06-30 13:24
應(yīng)用文章
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- 利用掃描電鏡全面了解樣品
- 樣品名稱(chēng)鉛電池極片框架樣品類(lèi)型金屬，固體是否噴金未噴金設(shè)備型號(hào)飛納臺(tái)式掃描電鏡PhenomPure+測(cè)試項(xiàng)目掃描電鏡：背散射探頭模式Topo模式3D粗糙度重建二次電子探頭能譜：EDSmapping測(cè)試目的表面鍍層質(zhì)量觀察[詳細(xì)]
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2018-08-22 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- 掃描電鏡與藥物研發(fā)息息相關(guān)
- 隨著大氣污染和汽車(chē)尾氣帶來(lái)的哮喘和慢性阻塞性肺?。–OPD）患者的日益增多，吸入式干粉制劑（Dry Powder Inhalation，DPI）的研發(fā)和仿制迎來(lái)了機(jī)遇。 吸入干粉制劑（Dry Powder Inhalation，DPI）又稱(chēng)為干粉吸入劑，是指將活性藥物成分（Active Pharmaceutical Ingredient, API）以干粉的形式通過(guò)呼吸道吸入，作用于呼吸道黏膜和肺泡的一種給YF式。與口服劑型相比，吸入式干粉制劑直接作用于呼吸道和肺泡，具有用量少、起效快、副作用低等明顯優(yōu)勢(shì)。
[詳細(xì)]
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2020-06-30 14:22
應(yīng)用文章
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- 透射電鏡與掃描電鏡區(qū)別
- 透射電鏡與掃描電鏡區(qū)別[詳細(xì)]
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2024-09-12 18:32
安裝說(shuō)明
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- 掃描電鏡（SEM）是如何檢測(cè)樣品信息的
- 掃描電鏡（SEM）是一種用途廣泛的科學(xué)儀器，它可以根據(jù)用戶(hù)的需求提供樣品不同類(lèi)型的信息。在這里我們將闡述在掃描電鏡（SEM）中產(chǎn)生的不同類(lèi)型的電子，它們是如何被檢測(cè)出來(lái)的，以及它們可以提供的信息等。電子顯微鏡是通過(guò)電子束來(lái)成像的。在圖1中，您可以看到電子與物質(zhì)相互作用所產(chǎn)生的各種信號(hào)，所有這些不同類(lèi)型的信號(hào)攜帶著關(guān)于樣品的不同的有用信息，由電子顯微鏡的操作人員根據(jù)需要選擇接收的信號(hào)。例如在透射電鏡（TEM）中，正如它的名字所示，檢測(cè)到的信號(hào)是透過(guò)樣品的電子，會(huì)提供樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的信息。在掃描電鏡（SEM）下，通常需要檢測(cè)兩種類(lèi)型的信號(hào)：背散射電子（BSE）和二次電子（SE）。圖1：電子與物質(zhì)相互作用區(qū)域，產(chǎn)生不同類(lèi)型的信號(hào)[詳細(xì)]
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2018-08-22 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- 應(yīng)用原子力顯微鏡對(duì)高深寬比樣品的觀察
- 應(yīng)用原子力顯微鏡對(duì)高深寬比樣品的觀察[詳細(xì)]
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2010-01-07 00:00
應(yīng)用文章
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