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掃描電鏡分析樣品表面的深度是多少
本文由 復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司 整理匯編
2020-06-30 13:42 758閱讀次數(shù)
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Z近，有飛納電鏡用戶詢問關(guān)于電子束分析樣品時可以穿透樣品的深度的問題，這里小編將為大家詳細(xì)介紹一下。
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掃描電鏡分析樣品表面的深度是多少 Z近，有飛納電鏡用戶詢問關(guān)于電子束分析樣品時可以穿透樣品的深度的問題，這里小編將為大家詳細(xì)介紹一下。 [詳細(xì)]
2020-06-30 13:42
應(yīng)用文章
如何呈現(xiàn)掃描電鏡樣品表面的“真實形貌” 掃描電子顯微鏡（SEM）是依靠電子束與樣品相互作用產(chǎn)生俄歇電子、特征 X 射線和連續(xù)譜 X 射線、背散射電子等信號，對樣品進(jìn)行分析研究。 掃描電鏡在表征樣品時，受諸多參數(shù)的影響，不同類型樣品應(yīng)選用合適的參數(shù)，才能呈現(xiàn)出樣品更真實的表面信息。如在不同的加速電壓下，電子束與樣品作用所獲得的信號會有很大的差別。[詳細(xì)]
2020-06-30 13:25
應(yīng)用文章
使用SmartSPM掃描樣品表面的納米顆粒 使用SmartSPM掃描樣品表面的納米顆粒[詳細(xì)]
2014-02-21 00:00
產(chǎn)品樣冊
有機(jī)顆粒樣品掃描電鏡分析 掃描電鏡使用技巧Get，有機(jī)顆粒樣品分析有妙招飛納臺式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)（PhenomParticleMetric），簡稱顆粒系統(tǒng)，由荷蘭Phenom-World公司發(fā)布于2013年11月。顆粒系統(tǒng)通過顆粒與背景襯度的差異對顆粒進(jìn)行圖像識別，在獲取SEM圖像的同時可以獲取所有顆粒的形貌數(shù)據(jù)，例如直徑、等效面積、等效體積、圓度等。并且可以將這些數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計。顆粒探測范圍：100nm-0.1mm，顆粒探測速度高達(dá)1000顆/分。圖1.PhenomParticleMetric配置圖在實際操作過程中，顆粒與背景元素差異大的顆?？梢院芎玫淖R別，但由于圖像識別技術(shù)局限性，如顆粒與背景元素差異較小，例如有機(jī)顆粒，則軟件難以進(jìn)行有效識別，在這種情況下，我們可以采用噴金的辦法人為創(chuàng)造出黑色顆粒邊界，從而增加軟件識別的準(zhǔn)確性。粘在導(dǎo)電膠表面的顆粒與導(dǎo)電膠之間形成空隙區(qū)，如圖2右上所示，在噴金過程中，此孔隙區(qū)無法被金覆蓋。噴金完成之后，結(jié)構(gòu)示意圖如圖3所示。此時在SEM視圖下，可以清晰看到顆粒邊緣的黑色邊界，圖4為顆粒在噴金后陰影邊界與顆粒識別案例。識別結(jié)果證明適當(dāng)噴金有利于提升顆粒系統(tǒng)識別的準(zhǔn)確性。而噴金多少呢？我們通過實踐總結(jié)規(guī)律得出，噴金厚度為顆粒尺寸5~10%范圍內(nèi)，可以有效增強(qiáng)顆粒系統(tǒng)識別的準(zhǔn)確性。圖2.顆粒樣品噴金過程示意圖圖3.顆粒樣品噴金結(jié)果示意圖圖4.噴金后陰影邊界與顆粒識別案例在拍照過程中，應(yīng)注意調(diào)節(jié)圖像的亮度/對比度，如亮度對比度都較低，則容易造成軟件識別率下降，如圖5所示。因此，[詳細(xì)]
2018-08-22 10:00
產(chǎn)品樣冊
X射線分析深度與樣品厚度 X射線分析深度與樣品厚度[詳細(xì)]
2024-09-17 05:06
期刊論文
磁性樣品的掃描電鏡觀察與分析 磁性樣品的掃描電鏡觀察與分析[詳細(xì)]
2024-09-27 23:46
其它
掃描電鏡在光子晶體研究方面的應(yīng)用 光子晶體是一種由不同折射率的介質(zhì)周期性排列而形成的人工微結(jié)構(gòu)。介電系數(shù)在空間上的周期性變化伴隨著空間折射率的周期性變化，當(dāng)介電系數(shù)的變化足夠大且其變化周期與光波長同步時，光波會產(chǎn)生帶狀結(jié)構(gòu)，即光子能帶結(jié)構(gòu)（photonic band structures）。 [詳細(xì)]
2020-06-30 14:26
應(yīng)用文章
放大倍數(shù)是掃描電鏡分析樣品的關(guān)鍵嗎？ 放大倍數(shù)是一個非常簡單的概念，但是由于其自身的定義有時會產(chǎn)生混亂。這個博客的目的是澄清這個話題，并探討其他可以更好地描述一個對象有多大的參數(shù)。**個放大鏡可以追溯到希臘時期，阿里斯托芬首先使用其描述了孩子們試圖看到小細(xì)節(jié)的休閑活動。這是**次“放大”這個詞語出現(xiàn)在我們的語言中。隨著時代的發(fā)展進(jìn)步，人們在科學(xué)探索中對微觀和納米世界的興趣呈指數(shù)級增長，從而需要量化放大倍數(shù)?，F(xiàn)代科學(xué)對于放大倍率的定義是兩次測量之間的比率，這意味著需要兩個對象來正確評估該值。**個對象顯然是樣品，第二個是它的圖片。事實上，雖然樣品尺寸不變，但圖片可以以任意大小打印。所以請允許我做一些計算：這意味著如果我打印蘋果照片時**次打印時選擇標(biāo)準(zhǔn)打印機(jī)的紙張，再次打印時選擇用于覆蓋建筑物的海報，則兩次放大倍數(shù)值將發(fā)生顯著變化。[詳細(xì)]
2018-08-22 10:00
產(chǎn)品樣冊
利用掃描電鏡全面了解樣品 樣品名稱鉛電池極片框架樣品類型金屬，固體是否噴金未噴金設(shè)備型號飛納臺式掃描電鏡PhenomPure+測試項目掃描電鏡：背散射探頭模式Topo模式3D粗糙度重建二次電子探頭能譜：EDSmapping測試目的表面鍍層質(zhì)量觀察[詳細(xì)]
2018-08-22 10:00
產(chǎn)品樣冊
紡織材料表面的接觸角的測量 紡織材料表面的接觸角的測量[詳細(xì)]
2010-08-31 00:00
實驗操作
掃描電鏡中如何觀察含水樣品？ 掃描電鏡（SEM）用電子束掃描樣品表面，收集攜帶電子束與樣品相互作用信息的反射電子。如果樣品倉內(nèi)殘留有空氣，空氣原子與電子束相互作用，部分偏轉(zhuǎn)電子，并在圖像上增加噪聲。這就是掃描電鏡成像前必須達(dá)到一定真空度的原因。但是，雖然高的真空對于準(zhǔn)確的分析來說是至關(guān)重要的，但它也會對某些類型的材料成像產(chǎn)生負(fù)面影響，例如含有水分的樣品。閱讀這篇博客，了解如何在掃描電鏡的真空環(huán)境中觀察對真空敏感的樣品，并保持樣品結(jié)構(gòu)完整。SEM中的真空度首先，我們來談?wù)剴呙桦婄R（SEM）中的真空度。真空度（或壓力值）可由操作者控制。對于臺式掃描電鏡，真空度在1-10帕斯卡之間。用于比較的是：大氣壓是100000帕斯卡。當(dāng)壓力降到大氣壓值以下時，所有液體都會發(fā)生相變。因此所有掃描電鏡（SEM）的內(nèi)部必須采用不受高真空度影響的特殊材料。有些樣品會受到影響，并且它們的行為也會有所不同：Z敏感的是含水樣品。有內(nèi)部孔隙的樣品，或者是由含水材料制成的樣品，都可能會受到影響，因為它們會在成像過程中釋放出氣體。任何從樣品中釋放出的氣體都是成像工具的風(fēng)險，因為它可能會污染鏡筒或探測器，損害儀器的功能，或影響圖像質(zhì)量。出于這個原因，飛納臺式掃描電鏡（PhenomDesktopSEM）通常配備一個保護(hù)程序，當(dāng)檢測到突然或意外增加的壓力水平時，會彈出樣品。[詳細(xì)]
2018-08-22 10:00
產(chǎn)品樣冊
掃描電鏡制樣篇--金相樣品 所謂“相”就是合金中具有同一化學(xué)成分、同一結(jié)構(gòu)和同一原子聚集狀態(tài)的均勻部分。不同
相之間有明顯的界面分開。合金的性能一般都是由組成合金的各相本身的結(jié)構(gòu)性能和各相的
組合情況決定的。合金中的相結(jié)構(gòu)大致可分為固溶體和化合物兩大基本類型。所謂“金相”
就是金屬或合金的相結(jié)構(gòu)。
為了獲得金屬材料的真實顯微組織并準(zhǔn)確地觀察、記錄、測量和分析，合理有效的樣品制備
是至關(guān)重要的。金相分析作為檢驗分析材料的手段之一，旨在揭示材料的真實結(jié)構(gòu)。要進(jìn)行
金相分析，就必須制備能用于微觀觀察檢驗的樣品——金相試樣。金相樣品制備與制備人
員操作經(jīng)驗密切相關(guān)，制備人員的水平?jīng)Q定了試樣的制備質(zhì)量。
[詳細(xì)]
2020-06-29 14:24
應(yīng)用文章
超疏水表面的動態(tài)接觸角測定 超疏水表面的動態(tài)接觸角測定[詳細(xì)]
2015-07-17 00:00
產(chǎn)品樣冊
零部件表面的殘油測量-零件表面 零部件表面的殘油測量-零件表面[詳細(xì)]
2024-09-20 13:32
應(yīng)用文章
你的掃描電鏡樣品有一個秘密 某些樣品很難成像。有時即使前期使用**的制樣方法，也不能幫助你得到想要的結(jié)果。樣品表面粗糙度和表面特征可能會將你感興趣的特定區(qū)域覆蓋，這些區(qū)域可能包含材料的表面缺陷或特征等重要信息。正如這個案例一樣，你需要從一個新的角度解析。例如在電腦芯片上進(jìn)行故障分析時，一根導(dǎo)線或者其他物體可能會將導(dǎo)致故障的錯誤連接覆蓋住。或是統(tǒng)計特殊設(shè)計的合金顆粒，這些顆粒能提高Zxin發(fā)動機(jī)部件或微型YL工具的性能，由于表面粗糙結(jié)構(gòu)能將部分顆粒隱藏，使得統(tǒng)計結(jié)果不準(zhǔn)確。[詳細(xì)]
2018-08-22 10:00
產(chǎn)品樣冊
保證掃描電鏡樣品清潔有多重要？ 掃描電鏡（SEM）主要用于微觀形貌分析，其測試結(jié)果的好壞，一方面是由儀器的性能、測試條件和操作人員水平?jīng)Q定，另一方面還與樣品制備過程有關(guān)。
SEM 樣品需要保持清潔、無污染物，盡量把污染程度降到。因此要求我們在拿取與制備樣品時需要佩戴干凈無粉手套，使用的剪刀、鑷子等制樣工具亦要保持干凈。 [詳細(xì)]
2020-06-30 11:26
應(yīng)用文章
樣品導(dǎo)電性對掃描電鏡成像的影響 樣品制備在掃描電鏡分析中占有重要地位，它關(guān)系到微觀圖像的觀察效果。如果制備的樣品不適用于掃描電鏡的觀察條件，則很難拍攝出好的圖像。眾所周知，理想的掃描電鏡樣品一定是導(dǎo)電性非常好的，例如金顆粒、錫球等金屬類材料。對于不導(dǎo)電的樣品，如生物材料、紙張、塑料和陶瓷等，容易造成放電、圖像漂移等現(xiàn)象，這些都是荷電效應(yīng)產(chǎn)生的。 [詳細(xì)]
2024-09-12 18:27
應(yīng)用文章
超疏水表面的潤濕性及其應(yīng)用研究 超疏水表面的潤濕性及其應(yīng)用研究[詳細(xì)]
2014-12-10 00:00
實驗操作
淺水流動表面的大尺度PIV測量 淺水流動表面的大尺度PIV測量[詳細(xì)]
2008-02-05 00:00
期刊論文
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