本文由 武漢尚測試驗設備有限公司 整理匯編

2018-10-08 10:00 1391閱讀次數(shù)

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• GBT 2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分：試驗方法 試驗Eg：撞擊 彈簧錘

  GB/T2423.44-1995《電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試樣方法試驗Eg：撞擊彈簧錘》為中華人民共和國國家標準，與1995年實施。GB/T2423.44-1995提供了一種確定電子電工產(chǎn)品經(jīng)受嚴酷等級撞擊能力的標準方法，在評定產(chǎn)品的安全性是，用以論證可接受的強度等級。符合GB/T2423.44-1995的撞擊試驗用于手持彈簧錘對家用及類似用途的電工電子設備及其附件以及類似設備按規(guī)定方向、能量和次數(shù)進行撞擊的試驗方法。GB/T2423.44-1995采用了GB/T2298-91中的機械振動與沖擊術語。GB/T2423.44-1995由上海市電子儀表標準計量測試所、機械部上海電器科學研究所起草，主要起草人：尹兆明、何錦康、于占泉。武漢尚測試驗設備有限公司提供參照GB/T2423.44-1995《電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試樣方法試驗Eg：撞擊彈簧錘》標準生產(chǎn)的各種彈簧錘，并免費一年維修服務。[詳細]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB-T2423.44-1995試驗Eg：撞擊彈簧錘

  GB-T2423.44-1995試驗Eg：撞擊彈簧錘免費下載地址:http://www.bjzkhs.com[詳細]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• GB_T2423.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗.第二部分.試驗方法.試驗FC：（正弦）

  GB_T2423.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗.第二部分.試驗方法.試驗FC：（正弦）本試驗可由中科美其（北京）科技有限公司試驗設備有限公司提供的電磁式振動試驗臺執(zhí)行。[詳細]

  2018-09-05 10:00

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• GB_T2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分 試驗方法 試驗B 高溫試驗

  GB_T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分試驗方法試驗B高溫試驗相應試驗由中科美其（北京）科技有限公司試驗設備公司提供的高低溫試驗箱或高溫恒溫試驗箱執(zhí)行。高低試驗箱可以做150℃以下的高低溫試驗，高溫恒溫箱可以做室溫+10℃~200；300；400℃的試驗。[詳細]

  2018-09-05 10:00

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• GBT 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第3部分試驗導則地震試驗方法

  GBT2424.25-2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第3部分試驗導則地震試驗方法[詳細]

  2018-10-10 10:00

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• GBT 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第3部分試驗導則 地震試驗方法

  GBT2424.25-2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第3部分試驗導則地震試驗方法[詳細]

  2024-10-04 00:25

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• GBT 2423.37-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗L 沙法試驗

  GBT2423.37-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗L沙法試驗免費下載地址：http://www.bjlihui.com北京北方利輝試驗儀器設備有限公司[詳細]

  2018-09-19 10:00

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• GBT 2424.25-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第3部分試驗導則 地震試驗方法

  GBT 2424.25-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第3部分試驗導則 地震試驗方法[詳細]

  2014-07-02 00:00

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• GBT 2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ka：鹽霧

  中華人民共和國國家標準：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ka：鹽霧【鹽霧試驗方法是】本試驗適用于比較具有相似結構的試樣的抗鹽霧腐蝕的能力。本試驗也適用于評定保護性涂層的質量及均勻性。a）本試驗不適合作為通用的鹽霧腐蝕試驗;b）本試驗也不適用于在含鹽大氣中使用的單個試樣的評定。對于本設備以及零部件，試驗Kb提供了更符合實際情況的試驗條件以及單個試樣的評定方法。但如果某些情況下為了確保質量，相關規(guī)范要求個別試樣采用本試驗方法時，試樣應當作為整個組件或者設備的組成部分連同實際的保護性設備（箱體、蓋子、外套等）一起進行試驗。上海林頻儀器股份有限公司座落于ZG上海市科技產(chǎn)業(yè)基地閔行經(jīng)濟技術開發(fā)區(qū)，是一家專業(yè)從事環(huán)境試驗設備研發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的高新技術股份制企業(yè)。歷經(jīng)市場洗禮和多年的拼搏積淀，林頻儀器現(xiàn)已發(fā)展成為環(huán)境試驗設備領域的龍頭企業(yè)之一。公司專業(yè)生產(chǎn)各類環(huán)境試驗設備：高低溫低氣壓試驗箱、液氮深冷低溫箱、CASS交變鹽霧箱、高低溫沖擊試驗箱、太陽能光伏組件濕凍試驗設備、溫度老化試驗室及各類非標產(chǎn)品,“林頻”生產(chǎn)的試驗設備可滿足GB、GJB、MIL、DIL、IEC等各行業(yè)各國家的標準，關于產(chǎn)品細節(jié)請致電021-34098999，如果您需要下載相關標準或產(chǎn)品技術資料，請登陸：http://www.linpin.com.cn！[詳細]

  2018-09-03 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T2423.16-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分：試驗方法 試驗J和導則 長霉

  GB/T2423.16-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法試驗J和導則長霉免費下載地址：http://www.bjlihui.comE-mail:lihui@bjlihui.com[詳細]

  2018-09-29 10:02

  產(chǎn)品樣冊

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• GB_T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫

  GB_T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗A低溫相應試驗由中科美其（北京）科技有限公司試驗設備公司的高低溫試驗箱執(zhí)行。[詳細]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB_T_2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗A：低溫

  GB_T_2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分：試驗方法_試驗A：低溫免費下載地方:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2部分：試驗方法_試驗A：_低溫

  GBT2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2部分：試驗方法_試驗A：_低溫[詳細]

  2018-10-02 10:03

  產(chǎn)品樣冊

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗綜合試驗方法

  GB/T2423.102-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗：溫度（低溫、高溫）低氣壓振動（正弦）綜合本部分規(guī)定了溫度（低溫、高溫）低氣壓振動（正弦）綜合試驗的基本要求，嚴酷等級，試驗程序以及其他技術要求。本部分適用于確定產(chǎn)品在溫度（低溫、高溫）低氣壓和振動（正弦）綜合作用下的貯存，運輸和使用的適用性。有溫度變化的綜合試驗可參考本部分。更多資料信息請下載瀏覽附件[詳細]

  2018-08-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗方法低溫

  本部分規(guī)定的低溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Ab和試驗Ad與早期版本無實質性的差異，增加試驗Ae的目的主要是檢測那些要求在整個試驗過程包括降溫調(diào)節(jié)期間都要通電運行的設備。本低溫試驗的目的于用來確定元件、設備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。本低溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這種情況下，應采用GB/T2433.22。[詳細]

  2018-10-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗方法沙塵試驗

  本部分規(guī)定了確定空氣中懸浮的沙塵對產(chǎn)品的影響的試驗方法。本試驗方法不適用于檢測空氣過濾器，只有試驗方法Lc2適用于模擬高速粒子的腐蝕效應。[詳細]

  2018-10-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗方法高溫

  本高溫試驗的目的于用來確定元件、設備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運輸或儲存的能力。本高溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這情況下應采用GB/T2423.22.[詳細]

  2018-10-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 水試驗方法：

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 水試驗方法：[詳細]

  2024-10-03 20:15

  專利

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• GB-T2423.33-2005電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗第二部分試驗Kca：高濃度二氧化硫試

  GB-T2423.33-2005電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗第二部分試驗Kca：高濃度二氧化硫試免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗方法試驗B高溫

  本部分規(guī)定的高溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Bb和試驗Bd與早期版本無實質上的差異。本高溫試驗的目的于用來確定元件，設備和其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。本高溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這種情況下，應采用GB/T2423.22[詳細]

  2018-10-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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