本文由 上海科學(xué)儀器有限公司 整理匯編

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• 電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ke:流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn)GB/T2423.51-2000

  電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ke:流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn)GB/T2423.51-2000免費(fèi)下載：http://www.bjlihui.comE-mail:lihui@bjlihui.com[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

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• GB/T2423.51-2000試驗(yàn)Ke流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn)

  GB/T2423.51-2000試驗(yàn)Ke流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn)點(diǎn)擊“”可免費(fèi)下載流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn)箱產(chǎn)品鏈接地址：http://www.bjzkhs。。ｃｏｍ/bjzkhs-Products-3912513/[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

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• GB/T2423.51-2000試驗(yàn)Ke：流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn)--上海林頻

  上海林頻儀器股份有限公司座落于ZG上海市科技產(chǎn)業(yè)基地之一的閔行經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)。是一家專業(yè)從事環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的高新技術(shù)股份制企業(yè)?，F(xiàn)已發(fā)展成為國(guó)內(nèi)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備領(lǐng)域的龍頭企業(yè)之一。公司生產(chǎn)各類環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備:鹽霧箱,高低溫箱,恒溫恒濕箱,高溫箱,低溫箱,高低溫交變濕熱箱,干燥箱,真空干燥箱,溫度沖擊箱,藥品穩(wěn)定箱,臭氧老化試驗(yàn)箱,紫外耐候試驗(yàn)箱,氙燈耐氣候試驗(yàn)箱,換氣式老化試驗(yàn)箱,砂塵試驗(yàn)箱,箱式淋雨試驗(yàn)箱,擺管淋雨試驗(yàn)裝置,滴水試驗(yàn)裝置,二氧化硫試驗(yàn)箱,霉菌試驗(yàn)箱,防銹油脂濕熱試驗(yàn)箱,鹽霧試驗(yàn)室,大型步入式試驗(yàn)箱,溫度老化試驗(yàn)室,溫濕度振動(dòng)試驗(yàn)箱,溫度快速變化試驗(yàn)箱,單翼跌落試驗(yàn)機(jī),振動(dòng)試驗(yàn)設(shè)備.同時(shí)我廠還可以根據(jù)客戶需要設(shè)計(jì)非標(biāo)產(chǎn)品，歡迎廣大新老客戶前來公司洽談、指導(dǎo)!以上產(chǎn)品我司均嚴(yán)格按照行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)及相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)制造,符合的標(biāo)準(zhǔn)有:GB/T2423.17-2008、GB/T2423.18-2000《電工電子產(chǎn)品基本規(guī)程試驗(yàn)Ka》，鹽霧試驗(yàn)方法及GB/T10125-1997、GB/T10587-2006、GB10593.2-1990、GB/T1765-1979、GB/T1771-2007、GB/T12967.3-2008、GB/T5170.8-2008以及等效的IEC、GB/T2423.1-2008、GB/T2423.2-2008、GB/T5170.5-2008、GB/T10586-2006、GB/T2423.1-2008試驗(yàn)A、GB/T2423.2-2008試驗(yàn)B、GB/T2423.3-2006試驗(yàn)Ca、GB/T2423.4-2008試驗(yàn)Db、MIL、DIN、ASTM、GB/T16422.2-1999、（GB/T1865-2009、GB/T2423.24-1995、ASTMG155、ISO10SB02/B04、SAEJ2527、SAEJ2412）、GB/T4942.2-1993及外殼防護(hù)等級(jí)（IP代碼）GB4208-2008、GB/T10485-2007、GB/T7762-2003、GB/T2951.21-200、GB/T14522-2008、GB/T16422.3-1997、GB/T16585-96等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，祥情請(qǐng)瀏覽：http://www.linpin.com.cn[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

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• GB/T2423.51-2000流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn)

  GB/T2423.51-2000流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn)資料來自：www.bjlihui.com[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn)（GB/T2423.51-2000）

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ke:流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn)（GB/T2423.51-2000）免費(fèi)下載地址：http://www.bjlihui.com北京北方利輝試驗(yàn)儀器設(shè)備有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

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• GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化

  GB/T2423.22-2012環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介GB/T2423的本部分規(guī)定的試驗(yàn)用來確定元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品耐受環(huán)境溫度快速變化的能力。實(shí)現(xiàn)這一目的所需的各溫度下的暴露持續(xù)時(shí)間取決于試驗(yàn)樣品的特性。替代情況：替代GB/T2423.22-2002;GB/T2424.13-2002[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A低溫標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。本部分代替GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫》，與之相比，主要變化如下：刪除了試驗(yàn)Aa：非散熱試驗(yàn)樣品溫度突變的低溫試驗(yàn)；刪除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E；增加了試驗(yàn)Ae：散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落

  GB/T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T2423.8-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落試驗(yàn)方法》和GB2424.6-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程自由跌落試驗(yàn)導(dǎo)則》[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫由中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局和ZG國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)2008年12月30號(hào)發(fā)布，GB/T2423.1-2008等同于國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC60068-2-1:2007.代替了GB/T2423.1-2001標(biāo)準(zhǔn)。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。本低溫試驗(yàn)的目的僅用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力，不能用來評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)可使用武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司生產(chǎn)的低溫恒定濕熱試驗(yàn)箱來模擬試驗(yàn)的低溫環(huán)境。低溫恒定濕熱試驗(yàn)箱用于檢測(cè)材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab；恒定溫?zé)嵩囼?yàn)

  GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab；恒定溫?zé)嵩囼?yàn)代替GB/T2423.3-1993，GB/T2423.9-2001本部分規(guī)定了試驗(yàn)的嚴(yán)酷等級(jí)，如高溫度、高濕度和持續(xù)時(shí)間等。本部分適用于散熱和非散熱樣品免費(fèi)下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

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• JIS C5402-11-7-2006 電子設(shè)備連接器.試驗(yàn)和測(cè)量.第11-7部分氣候試驗(yàn).試驗(yàn)11g流動(dòng)的混合氣體腐蝕試驗(yàn)

  JISC5402-11-7-2006電子設(shè)備連接器.試驗(yàn)和測(cè)量.第11-7部分氣候試驗(yàn).試驗(yàn)11g流動(dòng)的混合氣體腐蝕試驗(yàn)資料下載地址:http://www.hongda17.cn[詳細(xì)]

  2018-08-19 10:00

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• GB/T2423.1-2008代替GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A；低溫

  GB/T2423.1-2008代替GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A；低溫免費(fèi)下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

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• GB/T2423.17-第2部分：試驗(yàn)方法 鹽霧試驗(yàn)

  GB/T2423.17-電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)--鹽霧試驗(yàn)機(jī)上海覽浩儀器設(shè)備有限公司021-59788381[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

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• GB_T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫

  GB_T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A低溫相應(yīng)試驗(yàn)由中科美其（北京）科技有限公司試驗(yàn)設(shè)備公司的高低溫試驗(yàn)箱執(zhí)行。[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

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• GBT2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)_第2部分：試驗(yàn)方法_試驗(yàn)A：_低溫

  GBT2423.1-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)_第2部分：試驗(yàn)方法_試驗(yàn)A：_低溫[詳細(xì)]

  2018-10-02 10:03

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• GB/T 2423.45-2012環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABDM：氣候順序

  GB/T2423.45-2012環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/ABDM：氣候順序標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介GB/T2423的本部分給出了確定試驗(yàn)樣品在承受依次由溫度、濕熱和低氣壓(必要時(shí))等環(huán)境應(yīng)力組成的環(huán)境條件時(shí)的環(huán)境適應(yīng)性的一種標(biāo)準(zhǔn)的組合試驗(yàn)方法。施加應(yīng)力的次序與試驗(yàn)步驟轉(zhuǎn)換時(shí)的環(huán)境條件已經(jīng)選定,以便加速并強(qiáng)化與自然氣候條件相同的劣化機(jī)理。注:自然界環(huán)境條件的分類分級(jí)見GB/T4797和GB/T4798。當(dāng)劣化機(jī)理相同且滿足規(guī)定的試驗(yàn)要求時(shí),本部分也可作為編寫類似試驗(yàn)方法的基礎(chǔ)。在本試驗(yàn)中,試驗(yàn)樣品按標(biāo)準(zhǔn)順序接受環(huán)境試驗(yàn),并按GB/T2421.12008附錄A規(guī)定的代號(hào)分類,只是第3組數(shù)字用于表示第5步:交變濕熱試驗(yàn)Db的周期數(shù)(見GB/T2423.42008第5章)。在本部分中,-/-/56、40/-/-等氣候類型中的短劃線可用55/100/56、25/085/56、40/085/21等組合中適合于該位置的任何標(biāo)準(zhǔn)值代替,如需要改變,有關(guān)規(guī)范應(yīng)為所選試驗(yàn)方法的每個(gè)步驟提供所需的資料(見第8章)。本試驗(yàn)常被安排在與機(jī)械應(yīng)力有關(guān)的其他試驗(yàn)如端子強(qiáng)度試驗(yàn)、可焊性試驗(yàn)和振動(dòng)試驗(yàn)之后進(jìn)行,以作為確定試驗(yàn)樣品的密封性是否損壞的方法。替代情況：替代GB/T2423.45-1997[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423.37-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)L:沙塵試驗(yàn)

  GB/T2423.37-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)L:沙塵試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC60068-2-68：2001，本標(biāo)準(zhǔn)描述了沙塵試驗(yàn)的基本結(jié)構(gòu)，規(guī)定了確定空氣中懸浮的沙塵對(duì)產(chǎn)品的影響的試驗(yàn)方法。替代情況：替代GB/T2423.37-1989[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

  GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介GB/T2423的本部分規(guī)定的高溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)Ｂｂ和試驗(yàn)Ｂｄ與早期版本無實(shí)質(zhì)上的差異１）。１）IEC60068-2-2:2007原文在句前有“對(duì)于非散熱試驗(yàn)樣品”。本高溫試驗(yàn)的目的于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。本高溫試驗(yàn)不能用來評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22。本高溫試驗(yàn)方法細(xì)分為以下幾種：非散熱試驗(yàn)樣品高溫試驗(yàn)：●　試驗(yàn)Ｂｂ，溫度漸變。散熱試驗(yàn)樣品高溫試驗(yàn)：●　試驗(yàn)Ｂｄ，溫度漸變；●　試驗(yàn)Ｂｅ，溫度漸變，試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電。本部分給出的試驗(yàn)方法通常用于試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T2423.50-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分；試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy：恒定濕熱

  GB/T2423.50-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分；試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cy：恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了一種以加速方式評(píng)價(jià)小型電工電子產(chǎn)品，主要是非氣密元件耐濕熱劣化效應(yīng)的試驗(yàn)方法本試驗(yàn)不適用于評(píng)價(jià)諸如腐蝕和變形等外部效應(yīng)免費(fèi)下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-29 10:01

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• GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)

  GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)/濕熱老化試驗(yàn)/高低溫濕熱試驗(yàn)/高溫高濕試驗(yàn)-KOWIN科文恒溫恒濕試驗(yàn)箱1.GB/T2423的本部分適用于確定電工電子產(chǎn)品、元件或設(shè)備在高濕度的條件下使用、貯存和運(yùn)輸時(shí)的適應(yīng)性。本部分規(guī)定了試驗(yàn)的嚴(yán)酷等級(jí)，如高溫度，高濕度和持續(xù)時(shí)間等。本部分適用于散熱和非散熱樣品。本部分適用于小型設(shè)備及元件，同時(shí)也適用于與恒溫恒濕試驗(yàn)箱外的測(cè)試裝置有復(fù)雜聯(lián)接的大型設(shè)備，這種聯(lián)接需要一定的裝配時(shí)間。在安裝期間，可以不用預(yù)熱或維持特定的試驗(yàn)條件。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件，其Zxin版本適用于本部分。GB/T2421-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1部分：總則（idtIEC60068-1:1988)GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)（idtIEC60068-2-2:1974)3.概述：在本試驗(yàn)中，將樣品置于同為試驗(yàn)室溫度的濕熱老化試驗(yàn)箱內(nèi)。試驗(yàn)箱內(nèi)的條件應(yīng)符合第5章所規(guī)定的嚴(yán)酷等級(jí)，并持續(xù)到規(guī)定的時(shí)間。由于散熱樣品的影響，可能引起高低溫濕熱老化試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度和濕度條件與規(guī)定的試驗(yàn)條件不同，則這兩個(gè)參數(shù)的測(cè)量應(yīng)按自由空氣條件的測(cè)量方法進(jìn)行測(cè)量（參見GB/T2421-1999中的4.4及4.6.2).“GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)”標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)內(nèi)容請(qǐng)點(diǎn)擊上方“”免費(fèi)獲取，無需注冊(cè)，即點(diǎn)即下載。[詳細(xì)]

  2018-10-11 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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