本文由 珀金埃爾默企業(yè)管理(上海)有限公司 整理匯編

2019-01-14 13:44 1535閱讀次數(shù)

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• NexION 2000 ICP-MS 評估水樣中鍶雙電荷對鈣的影響 App Note(300005_CHN_01)

  利用ICP-MS檢測痕量鈣（Ca）一直是一個(gè)難點(diǎn)，由于Ca自然豐度Z高的同位素（96.9%）為40Ca，與40Ar為同質(zhì)異位素，使用常規(guī)方法無法測定。所以，通常對Ca進(jìn)行檢測的標(biāo)準(zhǔn)方法中推薦的質(zhì)量數(shù)，U.S.EPA200.8為43；國內(nèi)HJ700-2014為44，測定下限為26.4μg/L。而43Ca和43Ca的自然豐度分別僅有0.14%和2.1%，在測定過程中由于靈敏度較低，且干擾消除不完全，容易導(dǎo)致檢出限偏高、結(jié)果精密度差等缺點(diǎn)。 NexION2000ICP-MS的通用池技術(shù)可以使用各種高純高反應(yīng)性氣體對質(zhì)譜干擾進(jìn)行去除，對于40Ca，可以使用1**%純氨氣（**電離能10.16eV）對40Ar（**電離能15.76eV）進(jìn)行去除，獲得亞ppb級的檢出限。這得益于NexION2000可以調(diào)諧和優(yōu)化通用池四極桿的RPq參數(shù)，使得高反應(yīng)性氣體的各種副產(chǎn)物干擾被徹底去除。 40Ar+ + NH3 → 40Ar + NH3+ ΔHr = ΔIP = -15.76 eV+10.16 eV = -5.60 eV ( 放熱，反應(yīng)自發(fā)進(jìn)行) [詳細(xì)]

  2019-01-14 13:44

  應(yīng)用文章

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• NexION 2000 ICP-MS 評估水樣中鍶雙電荷對鈣的影響 Application Note (300005_CHN_01)

  NexION 2000 ICP-MS 評估水樣中鍶雙電荷對鈣的影響 Application Note (300005_CHN_01)[詳細(xì)]

  2024-08-26 13:53

  應(yīng)用文章

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• NexION ICP-MS 檢測土壤中鍶-90 Application Note (011824_CHN_01_-1

  NexION ICP-MS 檢測土壤中鍶-90 Application Note (011824_CHN_01_-1[詳細(xì)]

  2024-09-17 01:56

  應(yīng)用文章

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• NexION ICP-MS 檢測土壤中鍶-90 Application Note (011824_CHN_01_

  NexION ICP-MS 檢測土壤中鍶-90 Application Note (011824_CHN_01_[詳細(xì)]

  2024-09-15 21:01

  應(yīng)用文章

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• 采用NexION 2000 ICP-MS分析尿液中的微量元素

  在檢測尿液中的微量金屬元素時(shí)主要需要攻克兩大難關(guān)：基體產(chǎn)生的多原子離子干擾的存在和用于評估污染物接觸的某些元素的含量極低，包括砷（As）、鎘（Cd）、汞（Hg）等。PerkinElmerNexION2000ICP質(zhì)譜儀（ICP-MS）的通用池系統(tǒng)具有標(biāo)準(zhǔn)（Standard）、碰撞（KED）和反應(yīng)（DRC）三種模式，并具有三個(gè)氣路，可選擇的碰撞/反應(yīng)氣體種類也很豐富，所以NexION2000能夠Z有效地排除干擾，準(zhǔn)確地測定Zdi的濃度水平。[詳細(xì)]

  2018-08-17 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• NexION 2000 ICP-MS 飲用水中重金屬元素分析 Application Note (300002_CHN_02)

  NexION 2000 ICP-MS 飲用水中重金屬元素分析 Application Note (300002_CHN_02)[詳細(xì)]

  2024-09-20 13:31

  應(yīng)用文章

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• NexION 2000 ICP-MS 土壤樣品的快速消解與重金屬污染物檢測 Application Note (300001_CHN_01)

  NexION 2000 ICP-MS 土壤樣品的快速消解與重金屬污染物檢測 Application Note (300001_CHN_01)[詳細(xì)]

  2024-09-29 06:26

  應(yīng)用文章

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• NexION 2000 ICP-MS全新等離子發(fā)生器產(chǎn)品優(yōu)勢

  自從PerkinElmer-SCIEX公司于1983年S次商品化電感耦合等離子體質(zhì)譜法（ICP-MS）以來，它就成為了發(fā)展Z快的痕量元素檢測技術(shù)，覆蓋了多個(gè)應(yīng)用領(lǐng)域。隨著ZX抽頭接地線圈的設(shè)計(jì)突破，我們S次克服了ICP源與質(zhì)譜儀成功聯(lián)結(jié)的障礙，從而將等離子體電勢降至Zdi，消除了等離子體與接地MS接口之間的二次放電問題。等離子體射頻發(fā)生器進(jìn)一步發(fā)展后出現(xiàn)了獨(dú)特的不同步設(shè)計(jì)，在無活動部件的情況下，這種設(shè)計(jì)可以通過細(xì)微的頻率變化實(shí)現(xiàn)等離子體阻抗變化的即時(shí)匹配。另外，通過電平衡與地面電勢有關(guān)的等離子體使等離子體電勢保持在Zdi水平。[詳細(xì)]

  2018-08-17 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 使用NexION 2000 ICP-MS分析飲用水和天然水

  本文介紹了NexION2000ICP-MS應(yīng)用于U.S.EPA200.8方法時(shí)，在標(biāo)準(zhǔn)模式下分析天然水和飲用水樣品的實(shí)例。通過多種有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)和加標(biāo)回收率的分析驗(yàn)證了方法的準(zhǔn)確性，并通過至少九小時(shí)的分析驗(yàn)證了方法的穩(wěn)定性。方法的檢測下限完全可以滿足200.8的要求。此外，智能電子稀釋功能可以選擇性地對某些待測元素的信號進(jìn)行衰減，實(shí)現(xiàn)高低含量元素同步測定，可有效替代ICP-OES或火焰AA分析方法。NexION2000為U.S.EPA200.8方法提供了一套全面的解決方案。[詳細(xì)]

  2018-08-17 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• NexION 300S ICP-MS 對光刻膠中的Si的分析

  使用ICP、ICP-MS分析時(shí)存在光學(xué)干擾，而儀器的結(jié)構(gòu)又決定了Si的檢出限比其他元素更高，所以為了分析低濃度的Si，必須去除光學(xué)干擾或更換儀器進(jìn)樣系統(tǒng) ( 霧室、霧化器、ZX管、炬管 )。 本實(shí)驗(yàn)的目的是利用NexION 的 DRC模式確定分析Si的**條件。 [詳細(xì)]

  2024-09-14 16:18

  應(yīng)用文章

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• Two Refineries App Note

  Two Refineries App Note[詳細(xì)]

  2016-02-17 00:00

  實(shí)驗(yàn)操作

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• NexION 2000 ICP-MS 按照U.S. EPA 6020B 方法分析土壤和水 Application Note (013259_CHN_01)

  NexION 2000 ICP-MS 按照U.S. EPA 6020B 方法分析土壤和水 Application Note (013259_CHN_01)[詳細(xì)]

  2024-09-16 03:36

  應(yīng)用文章

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• NexION 2000樣本

  珀金埃爾默電感耦合等離子體質(zhì)譜儀/ICP-MS NexION 2000產(chǎn)品樣本[詳細(xì)]

  2018-01-18 15:57

  產(chǎn)品樣冊

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• ELAN DRC-e ICP-MS 分析環(huán)境水樣 Application Note (006869_01)

  ELAN DRC-e ICP-MS 分析環(huán)境水樣 Application Note (006869_01)[詳細(xì)]

  2024-09-17 19:14

  應(yīng)用文章

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• 使用 ICP-MS 表征水樣中的納米顆粒

  使用 ICP-MS 表征水樣中的納米顆粒[詳細(xì)]

  2020-05-08 10:15

  應(yīng)用文章

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• 81 pestcides in foods app note

  81 pestcides in foods app note[詳細(xì)]

  2024-09-15 17:54

  標(biāo)準(zhǔn)

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• NexION 1000 ICP-MS 分析飲用水中微量元素 Application Note (013785_CHN_01)

  NexION 1000 ICP-MS 分析飲用水中微量元素 Application Note (013785_CHN_01)[詳細(xì)]

  2024-09-28 01:21

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• NexION 300S ICP-MS測定硅晶片中的雜質(zhì)

  NexION 300S ICP-MS測定硅晶片中的雜質(zhì)[詳細(xì)]

  2013-07-17 00:00

  操作手冊

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• NexION 300 ICP-MS 分析電廠煙氣脫硫廢水的優(yōu)勢 Application Note (010397_01 _CN)

  NexION 300 ICP-MS 分析電廠煙氣脫硫廢水的優(yōu)勢 Application Note (010397_01 _CN)[詳細(xì)]

  2024-09-28 13:35

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• 水樣中雙酚A(BPA)的檢測

  水樣中雙酚A(BPA)的檢測[詳細(xì)]

  2014-10-20 00:00

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