本文由 上海睿測電子科技有限公司 整理匯編

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  日立 NX9000 直角型FIB-SEM系統(tǒng)[詳細]

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• FIB-SEM 小知識—氣體注入系統(tǒng)（GIS）

  FIB-SEM 雙束電鏡不僅僅是將聚焦離子束與掃描電鏡集成于一體，更重要的是通過集成其他輔助系統(tǒng)使 FIB-SEM 的加工及分析功能更加豐富。下圖是 TESCAN LYRA3 FIB-SEM 樣品室內(nèi)部的照片，可以看到不同的部件的安裝情況。其中氣體注入系統(tǒng) GIS 是 FIB-SEM 的基本配置之一，GIS 在 FIB-SEM 中起著非常重要的作用。[詳細]

  2021-05-21 13:58

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  日立液相色譜柱[詳細]

  2024-09-24 23:37

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  日立ZxinUHPLC-ChromasterUltra Rs[詳細]

  2014-01-27 00:00

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  日立合金分析儀X-MET8000樣本資料[詳細]

  2024-09-11 17:46

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• TESCAN LYRA3 FIB-SEM with integrated TOF-SIMS analyser

  The unique combination of an FIB-SEM system from TESCAN and a Time-of-Flight (TOF) Secondary Ion Mass Spectrometer (SIMS) from TOFWERK represents a novel and cost-effective solution for material analysis. The user of the system is provided with information on the material composition (including light elements) and distribution of individual elements in the analysed volume. [詳細]

  2021-05-21 13:50

  應(yīng)用文章

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• Analysis of optical fibers by TOF-SIMS on TESCAN LYRA3 FIB-SEM

  Special optical fibers doped by various optically active elements are becoming increasingly important for the development of fiber optic components, sensors, and lasers. The optimization of optical fiber manufacturing requires the monitoring of spatial distribution of doping elements within the optical fiber core.[詳細]

  2021-05-21 13:10

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• FIB-SEM雙束電鏡應(yīng)用之生物樣品3D重構(gòu)

  FIB 能夠通過連續(xù)切片提供 3D 的形貌信息，尤其在生命科學領(lǐng)域有著廣闊的應(yīng)用前景。但是生 物樣品都是經(jīng)過染色包埋處理，在掃描電鏡下很難找到需要切割的位置。TESCAN FIB-SEM 標配 光電聯(lián)用軟件 X-Positioner 能夠很方便的實現(xiàn)熒光顯微鏡圖片的導(dǎo)航，快速的確定分析區(qū)域[詳細]

  2024-09-18 18:10

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• Insulator analysis using combined FIB-SEM instrument with TOF-SIMS

  The development of a Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometer (TOF-SIMS) that can be attached to a FIB-SEM instrument provides an analyzer that very well complements the standard EDS detector. However, contrary to EDS, it gives much better depth resolution, possibility of depth profiling as well as distinguishing isotopes. [詳細]

  2024-09-28 18:23

  期刊論文

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• FIB-SEM雙束電鏡應(yīng)用之TOF-SIMS輕元素分析

  大型的飛行時間二次離子質(zhì)譜儀（TOF-SIMS）是非常昂貴的元素及同位素分析設(shè)備，現(xiàn)在 TESCAN 已經(jīng)將小型化的 TOF-SIMS 集成于所有的 FIB-SEM 上了。[詳細]

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  FIB-SEM 雙束電鏡自上世紀九十年代問世以來就收到材料研究工作者的青睞，尤其是對于半 導(dǎo)體領(lǐng)域。在 1990 年 Orsay Physics 就為 IBM 研制出了世界上DY臺 FIB-SEM 雙束系統(tǒng)。所 謂的 FIB-SEM 雙束電鏡就是在掃描電鏡的基礎(chǔ)上增加了聚焦離子槍（FIB）。因為 FIB 具備微區(qū) 加工能力，雙束電鏡不僅能夠觀察和分析樣品的表面特征，同時可以利用離子槍的切割能力，觀 察和分析樣品表層下面的微區(qū)特征；因此 FIB 和 SEM 的結(jié)合，發(fā)展成為一種功能更加全面的材料微區(qū)分析手段[詳細]

  2024-09-23 23:11

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• 日立液相色譜柱LaChrom系列

  日立液相色譜柱LaChrom系列[詳細]

  2010-06-01 00:00

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  2024-09-11 18:51

  安裝說明

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  日立小型空壓機樣本[詳細]

  2024-09-28 00:43

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• 日立 DMA7100 動態(tài)熱機械分析儀

  日立 DMA7100 動態(tài)熱機械分析儀[詳細]

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• FIB-SEM應(yīng)用之鎳基合金表面涂層研究

  Inconel 713C 鎳基高溫合的表面涂層,通常使用噴涂技術(shù)制備完成,其所使用的涂層材料是商 用的純硅和純鋁粉末,兩種粉末被分散于液態(tài)醋酸戊酯的有機粘結(jié)劑內(nèi)而形成噴涂涂料。噴涂完成 后,鎳基合金在氬氣保護氣氛中,經(jīng)過兩道熱處理程序,其表面即形成富硅-滲鋁涂層。[詳細]

  2021-05-24 14:48

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• FIB-SEM雙束電鏡應(yīng)用之生物3D EBSD分析

  EBSD 技術(shù)是近年來發(fā)展比較迅速的一項材料微觀表征技術(shù)，越來越受到材料研究工作者的 青睞。隨著 FIB-SEM 的普及，3D EBSD 技術(shù)也逐步進入材料學者的視野，但是由于以前在設(shè)計 上沒有認真的考慮 3D EBSD 使用的方便性，使得這一技術(shù)遲遲沒有得到發(fā)展。[詳細]

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  截面拋光是 FIB 主要用途之一。所謂截面拋光就是利用離子束將樣品剖開觀察內(nèi)部的結(jié)構(gòu)， 從而分析樣品內(nèi)部的微觀組織或缺陷。如下圖所示，為了分析焊接界面處的產(chǎn)物，需要將焊接處 剖開，從而可以對界面進行成份和晶體結(jié)構(gòu)進行研究。[詳細]

  2024-09-11 17:49

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