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FIB小知識:FIB-SEM雙束電鏡的應(yīng)用領(lǐng)域

本文由 泰思肯貿(mào)易(上海)有限公司 整理匯編

2024-09-23 23:11 1371閱讀次數(shù)

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FIB-SEM 雙束電鏡自上世紀(jì)九十年代問世以來就收到材料研究工作者的青睞,尤其是對于半
導(dǎo)體領(lǐng)域。在 1990 年 Orsay Physics 就為 IBM 研制出了世界上DY臺 FIB-SEM 雙束系統(tǒng)。所
謂的 FIB-SEM 雙束電鏡就是在掃描電鏡的基礎(chǔ)上增加了聚焦離子槍(FIB)。因為 FIB 具備微區(qū)
加工能力,雙束電鏡不僅能夠觀察和分析樣品的表面特征,同時可以利用離子槍的切割能力,觀
察和分析樣品表層下面的微區(qū)特征;因此 FIB 和 SEM 的結(jié)合,發(fā)展成為一種功能更加全面的材料微區(qū)分析手段

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