本文由 東莞市科文試驗設(shè)備有限公司 整理匯編

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• 電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法GJB1032-90

  主題內(nèi)容與適用范圍本標準規(guī)定了jun用電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選的要求、條件和方法。本標準適用于下列各類電子產(chǎn)品，在研制和批生產(chǎn)階段的環(huán)境應(yīng)力篩:地面固定設(shè)備；地面移動設(shè)備；極an船用設(shè)備；fei機用設(shè)備及外掛；　　篩選產(chǎn)品可以是印刷電路板組裝件、電子組件或整機；對大型電子產(chǎn)品應(yīng)優(yōu)先考慮在較低裝配級別如印刷電路板組裝件上進行篩選。引用標準GB　2036　印制電路名詞術(shù)語及定義GB　5170　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法GB　8052　單水平和多水平連續(xù)計數(shù)抽樣檢查程序及表GJB　150　jun用設(shè)備環(huán)境試驗方法GJB　431　產(chǎn)品層次、產(chǎn)品互換性、樣機及有關(guān)術(shù)語GJB　450　裝備研制與生產(chǎn)的可靠性通用大綱GJB　451　可靠性、維修性術(shù)語GJB　457　機載電子設(shè)備通用規(guī)范術(shù)語3.1環(huán)境應(yīng)力篩選　　在電子產(chǎn)品施加隨機振動及溫度循環(huán)應(yīng)力，以鑒別和剔除產(chǎn)品工藝和元件引起的早期故障的一種工序或方法。3.2環(huán)境應(yīng)力篩選故障　　在環(huán)境應(yīng)力篩選試驗中由產(chǎn)品工藝缺陷或元件缺陷引起的故障。3.3非環(huán)境應(yīng)力篩選　　由于非環(huán)境應(yīng)力引起的故障，包括：產(chǎn)品安裝不當引起的故障；監(jiān)視儀表失靈引起的故障；操作錯誤引起的故障；試驗程序錯誤或程序執(zhí)行錯誤引起的故障；過環(huán)境應(yīng)力引起的故障；從屬故障；維修期間引起的故障。3.4優(yōu)勢頻率　　在功率譜密度曲線上Zda處對應(yīng)的頻率。3.5瞬態(tài)故障　　需在一定的環(huán)境應(yīng)力作用下方能顯示的故障。4　一般要求4.1環(huán)境應(yīng)力篩選對象　　研制階段和批生產(chǎn)初期的全部產(chǎn)品均應(yīng)進行環(huán)境應(yīng)力篩選；在批生產(chǎn)中、后期可根據(jù)產(chǎn)品批量及質(zhì)量穩(wěn)定情況進行抽樣篩選，抽樣方案見附D。4.2試驗產(chǎn)品的要求　　a.所有試驗產(chǎn)品應(yīng)具有檢驗合格證明；　　b.所有試驗產(chǎn)品應(yīng)去除包裝物及減震裝置后再進行試驗。4.3試驗的大氣條件4.3.1　標準大氣條件：　　溫度：15～35℃；　　相對濕度：不加控制的室內(nèi)環(huán)境；　　大氣壓力：試驗場所的當?shù)貧鈮骸?.3.2仲裁大氣條件：　　溫度：23±2℃；　　相對濕度：（50±5）%；大氣壓力：86～106KPa。4.4試驗條件允差4.4.1溫度試驗允差　　除必要的支承點外，試驗產(chǎn)品應(yīng)完全被溫變試驗箱內(nèi)空氣包圍。箱內(nèi)溫度梯度（靠近試驗產(chǎn)品外測得）應(yīng)小于1℃/m；箱內(nèi)溫度不得超過試驗溫度±2℃的范圍，但總的Zda值為2.2℃(試驗產(chǎn)品不工作)。環(huán)境應(yīng)力篩選試驗箱,快速溫變試驗箱,快速溫度變化試驗箱,溫變試驗箱專業(yè)生產(chǎn)廠商“東莞市科文試驗設(shè)備有限公司KOWINTESTINGEQUIPMENTCO.,LTD"[詳細]

  2018-10-11 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 秒懂環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS）

  秒懂環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS）-------www.otschina。。ｃｎ東莞市欣寶儀器邀您一起淺析ESS基本概念環(huán)境應(yīng)力篩選(EnvironmentalStressScreening)，簡稱ESS，是為發(fā)現(xiàn)和排除產(chǎn)品中不良零件、元器件、工藝缺陷和防止出現(xiàn)早期失效，在環(huán)境應(yīng)力下所做的一系列試驗。它的意義就是篩選產(chǎn)品，把通過不能用常規(guī)檢驗或試驗的方法，或肉眼檢驗或電氣試驗方法查出的缺陷，暴露出來，這些有缺陷的零部件與其制造工藝或工藝技術(shù)有關(guān)，并大量分布在早期失效區(qū)域。ESS是可靠性試驗中的一種類型，也是產(chǎn)品制造過程中的一道工序。產(chǎn)品的組裝等級可分為設(shè)備級、組件級和元器件級，ESS可以在產(chǎn)品不同的組裝等級上實施。應(yīng)對三個組裝等級的產(chǎn)品1**%實施ESS。應(yīng)根據(jù)對產(chǎn)品篩選的效果選擇相應(yīng)的環(huán)境應(yīng)力。對電子產(chǎn)品，ESS的應(yīng)力主要選擇溫度（高、低溫）循環(huán)和隨機振動，這兩種應(yīng)力的組合篩選效果較好，能暴露產(chǎn)品各組裝等級大部分故障。研究表明，高低溫循環(huán)的篩選效果取決于四個方面：高、低溫的設(shè)定值，高、低溫保持的時間，溫度變化速率和循環(huán)的次數(shù)。增大溫度變化速率，效果較好。設(shè)備中元器件數(shù)量多，則循環(huán)次數(shù)應(yīng)增加。隨機振動篩選效果好于掃頻正弦振動，在不造成對產(chǎn)品損壞的情況下，振動應(yīng)力強一些，則效果好。關(guān)于ESS的五大誤解為了更好地理解和應(yīng)用環(huán)境應(yīng)力篩選程序，需要澄清如下的誤解：誤解一：ESS與老化試驗是一樣的ESS是從老化理論發(fā)展起來的，但它是一個有顯著優(yōu)點的程序，老化是使產(chǎn)品長時間受恒定溫度的作用，而ESS是一個加速程序，即在預(yù)先確定的環(huán)境溫度之間，使產(chǎn)品承受多次的循環(huán)應(yīng)力。誤解二：ESS就是隨機抽樣ESS要求100％的產(chǎn)品作暴露試驗，而不能隨機抽樣，因為產(chǎn)品潛在的缺陷特性是隨機的，將所有產(chǎn)品進行篩選是**辦法，以保證篩選程序的有效性。誤解三：ESS可用于確認設(shè)計盡管ESS可能有時暴露一個不合理的設(shè)計，但它的意圖是不同的。設(shè)計有效性用環(huán)境模擬和實驗室分析去確定，即當產(chǎn)品用在不超過規(guī)定的環(huán)境下，產(chǎn)品是否有效。而ESS則不同，為了達到暴露產(chǎn)品潛在缺陷的目的，對其施以Zda容許的激勵，強制潛在缺陷失效，并從失效數(shù)據(jù)中分析零、部件及產(chǎn)品失效的模式，是工藝缺陷還是設(shè)計錯誤。這與模擬試驗的任務(wù)是完全不同的。誤解四：ESS無需失效ESS是用以強制發(fā)生Z適當?shù)氖В@些失效在產(chǎn)品正常使用情況下都會發(fā)生，ESS基于某種產(chǎn)品的模擬性而確定Zda允許加載應(yīng)力，無缺陷的產(chǎn)品能吸收而不影響其使用壽命，絕大多數(shù)有潛在缺陷的產(chǎn)品將失效，并在出廠前在廠內(nèi)檢查出來。誤解五：ESS是昂貴的ESS程序雖然要花去一些費用和時間，但是，由于可大大減少維修費用，三包費用，提高產(chǎn)品的價值，增大市場占有份額，其綜合效益是非常明顯的，ESS提供的方法，是理想的使用產(chǎn)品維修費降到Zdi點的方法。不同環(huán)境應(yīng)力對應(yīng)的失效形式不同的環(huán)境應(yīng)力會激發(fā)多種不同的失效，需要注意的是當某種失效類型發(fā)生時，這時再出現(xiàn)另外一個應(yīng)力，之前的失效可能會因為新的應(yīng)力的出現(xiàn)而加劇，也就是說前面應(yīng)力會為后面應(yīng)力創(chuàng)造條件，從而使得產(chǎn)品更容易失效。從產(chǎn)品開發(fā)角度來看我們是需要避免這樣的情況發(fā)生，從而Zda限度保證產(chǎn)品少失效。但是從試驗的角度看，我們又需要這么做來盡可能的暴露產(chǎn)品的潛在失效，從而降低在現(xiàn)場使用的失效，提高產(chǎn)品的可靠性。雨、雪、霧及結(jié)露：結(jié)構(gòu)退化、破壞及腐蝕；電子失效和保護膜的損壞沙塵：引發(fā)表面損壞；增加表面摩擦；潤滑油污染；管道堵塞；促進疲勞和斷裂和材料斷裂鹽霧：傳導性能降低；金屬的化學腐蝕；電子遷移濕度：低濕導致脆性增加；墊片膨脹；促進腐蝕；材料表面?zhèn)鲗阅馨l(fā)生變化；加速氧化陽光輻射：色彩褪色；橡膠老化；容器內(nèi)部溫度上升；熱老化高溫：導致參數(shù)漂移，例如電阻值、電容值、電感值、功率因數(shù)和介電常數(shù)；引起運動部件軟化或者膨脹；引起表面膨脹；引起部件熱老化；化學活性增加；潤滑油的粘性變化；由于物理變形導致結(jié)構(gòu)過載低溫：橡膠彈性降低；結(jié)露；增加熱損耗導致表明破裂；潤滑油粘性增加；物理膨脹而導致結(jié)構(gòu)過載溫度沖擊：導致電子性能參數(shù)變化；材料短時過載導致結(jié)構(gòu)失效或者斷裂高/低氣壓：爆炸；容器或者建筑物損壞；空氣密封失效；散熱性能降低；儀表顯示錯誤；氣體：加速金屬腐蝕；介電性能降低；加速氧化；改變熱電轉(zhuǎn)換參數(shù)；空氣爆炸對于常見的環(huán)境應(yīng)力，他們對產(chǎn)品失效的影響的大小是不同的，下面所有失效中不同環(huán)境應(yīng)力的比例關(guān)系，其中可以看到溫度所占的比重Z高，其次是振動和濕度，實施上在實際的用戶使用環(huán)境中這三類環(huán)境應(yīng)力是Z常見的，相應(yīng)來講如果沒有很好的就這幾個應(yīng)力進行充分測試就變的非常危險。篩選度計算產(chǎn)品中存在對某一特定篩選敏感的潛在缺陷時，該篩選將該缺陷以故障形式析出的概率（摘自GJB/Z34）。篩選度計算公式GJB/Z34介紹了幾個常用計算公式，英文原版來自MIL-HDBK-344A。1、恒定高溫篩選強度SS=1-exp[-0.0017(R+0.6)^0.6t]式中：R高溫與室溫(一般取25℃)的差值；t恒定高溫持續(xù)時間(h)；例：用85℃對某一元器件進行48H的篩選，則其篩選強度為:61.6%=1-EXP[-0.0017*(60+0.6)^0.6*48]；注意：這里R=85-25=60，而不是直接用85代入計算；分析：若上例中如果產(chǎn)品的潛在缺陷對于恒定高溫敏感，85度&48小時的測試僅有61.6%的概率暴露出故障，若要提高概率，可以通過增加溫度或者增加測試時間。這里算了下，若溫度不變，將測試時間增加到100小時可以有91.4%的概率暴露故障，實際情況根據(jù)不同需要更改時間或溫度；注意：選用此方案時，關(guān)機情況下溫度上限不能超過產(chǎn)品的存儲溫度上限，開機時溫度不能超過產(chǎn)品的工作溫度上限。2、溫度循環(huán)的篩選強度SS=1-exp{-0.0017(R+0.6)0.6[Ln(e+v)]^3N}式中：R溫度循環(huán)的變化范圍（℃）；V溫變率（℃/min）；N溫度循環(huán)次數(shù)，e為自然對數(shù)的底數(shù)2.71828.....;例：用60℃到－40℃以10℃/min的速率做15次循環(huán)，則對應(yīng)的篩選強度為：99.87%=1-EXP{-0.0017*(100+0.6)^0.6*[ln(2.71828+10)]^3)*15}；分析：上例中如果產(chǎn)品的潛在缺陷對于溫度循環(huán)敏感，85度&48小時的測試僅有61.6%的概率暴露出故障，若要提高概率，可以通過增加溫度或者增加測試時間。這里算了下，若溫度不變，將測試時間增加到100小時可以有91.4%的概率暴露故障，實際情況根據(jù)不同需要更改時間或溫度；注意：有的推薦每個循環(huán)20分鐘，這里不建議選取，因為這不是溫度沖擊測試，通常在做溫度循環(huán)篩選時，需要在每個溫度點保持到產(chǎn)品溫度穩(wěn)定，一般電子產(chǎn)品選擇2小時左右，也即一個循環(huán)需差不多4小時。3、隨機振動的篩選強度SS=1-exp{-0.0046(Grms)^1.71*t}4、掃頻正弦振動的篩選強度SS=1-exp{-0.000727(Grms)^0.863*t}5、共振點駐留的篩選強度SS=1-exp{-0.00047(Grms)^0.49*t}3,4,5式中：t為振動時間（min）；Grms---振動G值；例：用6Grms進行5分鐘測試，則對應(yīng)的篩選強度為：38.89%=1-EXP{-0.0046*6^1.71*5}注意：對于振動篩選，通常選用隨機振動進行篩選。下圖為MIL-HDBK-344A原版公式。驗證篩選有效性先進行溫度循環(huán)，接著進行隨機振動，施加的應(yīng)力量級與剔除失效的篩選應(yīng)力等級相同，不同的是將溫度循環(huán)時間增加到Zda80小時，隨機振動時間增加到Zda15分鐘，若試驗樣品在80小時內(nèi)的連續(xù)40小時無故障，則認為其通過了溫度循環(huán)篩選；若試驗樣品在15分鐘內(nèi)的連續(xù)5分鐘無故障，則認為其通過了振動篩選。（摘自GJB/1032）[詳細]

  2018-09-27 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 環(huán)境應(yīng)力篩選試驗ESS - **章可靠性試驗概述

  環(huán)境應(yīng)力篩選的目的和原理1.1環(huán)境應(yīng)力篩選的目的環(huán)境應(yīng)力篩選的目的在于發(fā)現(xiàn)和排除產(chǎn)品的早期失效，使其在出廠時便進入隨機失效階段，以固有的可靠性水平交付用戶使用。1.2環(huán)境應(yīng)力篩選的原理環(huán)境應(yīng)力篩選是通過向電子裝備施加合理的環(huán)境應(yīng)力和電應(yīng)力，將其內(nèi)部的潛在缺陷加速變成故障，以便人們發(fā)現(xiàn)并排除。環(huán)境應(yīng)力篩選是裝備研制生產(chǎn)的一種工藝手段，篩選效果取決于施加的環(huán)境應(yīng)力、電應(yīng)力水平和檢測儀表的能力。施加應(yīng)力的大小決定了能否將潛在的缺陷在預(yù)定時間內(nèi)加速變?yōu)楣收希粰z測能力的大小決定了能否將已被應(yīng)力加速變成故障的潛在缺陷找出來，以便加以排除。因此，環(huán)境應(yīng)力篩選又可看作是產(chǎn)品質(zhì)量控制檢查和測試過程的延伸。售后服務(wù)承諾:用戶的滿意是我們服務(wù)的宗旨，完善的售后服務(wù)使您解除一切后顧之憂，我們堅信一個好的企業(yè)賣出去的不僅僅是一臺好的產(chǎn)品，更重要的是良好的服務(wù)。宏展儀器主營:紫外光耐氣候試驗箱;紫外線加速耐候試驗機;高低溫交變濕熱箱;可程式恒溫恒濕試驗機;溫濕度檢定箱;高低溫恒溫試驗箱;高低溫沖擊試驗箱;蓄溫式冷熱沖擊試驗機;步入式環(huán)境實驗室;步入式恒溫恒濕試驗室;精密烘箱;鼓風干燥箱;鹽水噴霧試驗機;模擬運輸試驗機;跌落試驗機;蒸氣老化試驗機;快速溫變應(yīng)力篩選試驗機[ESS];其它環(huán)境試驗設(shè)備另可依客戶要求之尺寸制作試驗室，滿足客戶的要求。歡迎廣大客戶來電來函咨詢訂購!北京宏展環(huán)境科技有限公司聯(lián)系地址：北京市豐臺區(qū)和義東里6區(qū)12樓603室聯(lián)系電話：010-6799652067957820傳真號碼：010-67965617移動電話：15001084958李慧公司網(wǎng)址：http://www.thermotron.com.cn/http://www.hongzhan.com.hk電子郵件：hui.li@hongzhan.com.hk[詳細]

  2018-09-04 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 新遺傳篩選方法

  新遺傳篩選方法[詳細]

  2013-11-11 00:00

  課件

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• 電子產(chǎn)品低溫試驗方法

  電子產(chǎn)品低溫試驗方法[詳細]

  2015-08-20 00:00

  選購指南

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• 電子產(chǎn)品恒定濕熱試驗方法

  電子產(chǎn)品恒定濕熱試驗方法[詳細]

  2010-02-03 00:00

  應(yīng)用文章

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• 基因組時代的高通量篩選方法

  有多少miRNA功能性參與了腫瘤的發(fā)生，尤其是腫瘤轉(zhuǎn)移，文中系統(tǒng)的評價了所有的已知人類miRNA，那些能夠調(diào)節(jié)腫瘤轉(zhuǎn)移相關(guān)細胞。開發(fā)了一種自組裝的細胞芯片，可通過高通量的檢測儀器-高內(nèi)涵，檢測miRNA對細胞遷移的影響。結(jié)果表明，有超過20%的miRNA對多種細胞有調(diào)節(jié)細胞遷移的功能。MiR-23b可YZ人結(jié)腸癌，有利調(diào)節(jié)體內(nèi)腫瘤轉(zhuǎn)移中的多種時期，包括腫瘤生長、入侵及血管生成。[詳細]

  2021-02-19 13:51

  應(yīng)用文章

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• SPME方法快速篩選水和土壤樣品

  SPME方法快速篩選水和土壤樣品[詳細]

  2012-06-08 00:00

  專利

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• Cell亮點論文：新遺傳篩選方法

  Cell亮點論文：新遺傳篩選方法[詳細]

  2024-09-16 02:45

  專利

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗綜合試驗方法

  GB/T2423.102-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗：溫度（低溫、高溫）低氣壓振動（正弦）綜合本部分規(guī)定了溫度（低溫、高溫）低氣壓振動（正弦）綜合試驗的基本要求，嚴酷等級，試驗程序以及其他技術(shù)要求。本部分適用于確定產(chǎn)品在溫度（低溫、高溫）低氣壓和振動（正弦）綜合作用下的貯存，運輸和使用的適用性。有溫度變化的綜合試驗可參考本部分。更多資料信息請下載瀏覽附件[詳細]

  2018-08-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗方法低溫

  本部分規(guī)定的低溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Ab和試驗Ad與早期版本無實質(zhì)性的差異，增加試驗Ae的目的主要是檢測那些要求在整個試驗過程包括降溫調(diào)節(jié)期間都要通電運行的設(shè)備。本低溫試驗的目的于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。本低溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2433.22。[詳細]

  2018-10-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗方法沙塵試驗

  本部分規(guī)定了確定空氣中懸浮的沙塵對產(chǎn)品的影響的試驗方法。本試驗方法不適用于檢測空氣過濾器，只有試驗方法Lc2適用于模擬高速粒子的腐蝕效應(yīng)。[詳細]

  2018-10-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗方法高溫

  本高溫試驗的目的于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運輸或儲存的能力。本高溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這情況下應(yīng)采用GB/T2423.22.[詳細]

  2018-10-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 水試驗方法：

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 水試驗方法：[詳細]

  2024-10-03 20:15

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• 食品中農(nóng)殘快速檢測方法的篩選

  食品中農(nóng)殘快速檢測方法的篩選[詳細]

  2024-09-20 00:04

  專利

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• 熱敏紙中Cl元素的快速篩選方法

  熱敏紙中Cl元素的快速篩選方法[詳細]

  2024-09-21 00:32

  實驗操作

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• GBT5170.11-電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法

  GBT5170.11-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法腐蝕氣體試驗設(shè)備鹽霧試驗箱采用含鹽溶液或酸性含鹽溶液，在一定的溫度和相對的濕度的環(huán)境下對材料或產(chǎn)品進行加速腐蝕，重現(xiàn)材料或產(chǎn)品在一定時間范圍內(nèi)所遭受的破壞程度。鹽霧試驗箱廣泛應(yīng)用于金屬材料防護層、機械零部件、電子元器件、汽車零部件、工業(yè)產(chǎn)品、汽車摩托車、電工電子、質(zhì)檢計量、涂層等進行鹽霧腐蝕試驗，考核材料防護層及產(chǎn)品抗鹽霧腐蝕的性能，以及相似防護層的工藝質(zhì)量比較，也可以用來考核某些產(chǎn)品抗鹽霧腐蝕的能力。一、技術(shù)參數(shù)：1.溫度范圍：RT+10℃～55℃2.飽和器溫度范圍：RT+10℃～70℃3.溫度均勻度：≤±2℃(空載時)4.溫度波動度：≤±0.5℃(空載時)5.鹽霧沉降量：1～2mL/80c.h6.時間設(shè)定范圍：0～9999h、m、s具有一鍵恢復功能7.間斷噴霧時間范圍：0～99h、m、s8.試樣架：試樣架可滿足15°/30°傾斜試驗,也可采用掛鉤方式。二、鹽霧試驗箱規(guī)格(單位:mm)：型號YWX/Q-150工作室尺寸D×W×H450×600×400型號YWX/Q-250工作室尺寸D×W×H600×900×500型號YWX/Q-750工作室尺寸D×W×H750×1100×500型號YWX/Q-010工作室尺寸D×W×H850×1300×600型號YWX/Q-016工作室尺寸D×W×H850×1600×600型號YWX/Q-020工作室尺寸D×W×H900×2000×600[詳細]

  2018-09-03 10:00

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  GB/T2423.6-電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Eb和導則:碰撞上海覽浩儀器設(shè)備有限公司[詳細]

  2018-09-03 10:00

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  2018-09-14 10:00

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  北京恒泰豐科試驗設(shè)備有限公司是專業(yè)生產(chǎn)低溫試驗箱廠家，可以根據(jù)客戶要求訂做非標產(chǎn)品。公司主要產(chǎn)品有高低溫試驗箱,恒溫恒濕試驗箱,溫度沖擊試驗箱,鹽霧試驗箱,氙燈耐候試驗箱,紫外老化試驗箱,臭氧老化試驗箱,真空干燥試驗箱,電熱鼓風干燥箱,換氣老化試驗箱,電池檢測試驗設(shè)備,淋雨試驗設(shè)備,振動試驗機,藥品穩(wěn)定試驗箱,砂塵試驗箱,培養(yǎng)試驗箱,防銹油脂試驗箱,大型試驗室等[詳細]

  2018-10-05 10:00

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