本文由 安捷倫科技（中國）有限公司 整理匯編

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• 使用配備單納米顆粒應用模塊的Agilent 7900 ICP-MS 實現(xiàn)單個納米顆粒的自動化高靈敏度分析

  納米技術的發(fā)展將對各個行業(yè)領域產(chǎn)生重要影響。由于納米顆粒 (NP) 的理化性 質(zhì)較為新穎，它們的許多環(huán)境歸宿和毒理學性質(zhì)仍然不為人知。因此，人們對一 種能夠快速、準確而靈敏地完成各種類型樣品中納米顆粒表征與定量的技術的需 求也日益增長。ICP-MS 技術中稱作單顆粒 ICP-MS (sp-ICP-MS) 的方法可用來 測定單個納米顆粒。該方法在一次快速分析中可同時測定納米顆粒的粒徑、粒徑 分布、元素組成和計數(shù)濃度 [1-3]。我們對 ICP-MS 硬件和軟件的Zxin升級進一 步改善了這一技術。 安捷倫針對 ICP-MS MassHunter 軟件開發(fā)出一種專用的單納米顆粒應用模 塊 (G5714A)，可簡化使用 Agilent 7900 ICP-MS 進行 sp-ICP-MS 分析的過程。[詳細]

  2016-07-14 00:00

  標準

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• Agilent 7900 ICP-MS 實現(xiàn)單個納米顆粒的自動化 高靈敏度分析

  使用配備單納米顆粒應用模塊的 Agilent 7900 ICP-MS 實現(xiàn)單個納米顆粒的自動化高靈敏度分析 納米技術的發(fā)展將對各個行業(yè)領域產(chǎn)生重要影響。由于納米顆粒 (NP) 的理化性質(zhì)較為新穎，它們的許多環(huán)境歸宿和毒理學性質(zhì)仍然不為人知。因此，人們對一種能夠快速、準確而靈敏地完成各種類型樣品中納米顆粒表征與定量的技術的需求也日益增長。ICP-MS 技術中稱作單顆粒 ICP-MS (sp-ICP-MS) 的方法可用來測定單個納米顆粒。該方法在一次快速分析中可同時測定納米顆粒的粒徑、粒徑分布、元素組成和計數(shù)濃度。我們對 ICP-MS 硬件和軟件的Zxin升級進一步改善了這一技術。[詳細]

  2016-07-22 00:00

  應用文章

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• 配備 UHMI 的 Agilent 7900 ICP-MS 的高鹽基質(zhì)分析性能

  配備 UHMI 的 Agilent 7900 ICP-MS 的高鹽基質(zhì)分析性能[詳細]

  2014-09-05 00:00

  標準

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• 使用 ICP-MS 表征水樣中的納米顆粒

  使用 ICP-MS 表征水樣中的納米顆粒[詳細]

  2020-05-08 10:15

  應用文章

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• 使用NexION300 ICP-MS單粒子模式對 NIST黃金納米顆粒參

  使用NexION300 ICP-MS單粒子模式對 NIST黃金納米顆粒參[詳細]

  2013-07-18 00:00

  選購指南

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• 使用 Agilent 7900 ICP-MS 在 scICP-MS 模式下進行單細胞分析

  擴展對金屬在細胞生物學中的作用的了解是一個新興的研究領域。許多元素對細胞 健康至關重要，元素不平衡、缺乏或過量可能會破壞自然細胞過程。用于測量細胞 中金屬的傳統(tǒng)整體性分析方法依賴于樣品溶解、提取或消解，然后利用原子光譜進 行分析。這些樣品前處理步驟破壞了細胞結(jié)構(gòu)，因此報告的金屬濃度結(jié)果為數(shù)千個 細胞的平均值。 在單細胞 ICP-MS (scICP-MS) 中，樣品溶液中包含的完整細胞被霧化，各個細胞懸 浮在氣溶膠液滴中。使用與通過 ICP-MS (spICP-MS) 進行單納米顆粒分析的成熟方 法類似的方法將各個細胞引入等離子體中。[詳細]

  2020-05-08 14:19

  應用文章

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• 納米顆粒粒度分析的新進展

  納米顆粒粒度分析的新進展[詳細]

  2024-09-18 19:11

  其它

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• 納米顆粒跟蹤分析技術在生物醫(yī)學中的應用

  納米顆粒跟蹤分析技術在生物醫(yī)學中的應用[詳細]

  2015-08-28 00:00

  操作手冊

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• 使用 Agilent 7900 ICP-MS 對牛奶和奶粉進行常規(guī)高通量分析

  使用 Agilent 7900 ICP-MS 對牛奶和奶粉進行常規(guī)高通量分析[詳細]

  2024-09-28 01:19

  操作手冊

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• 安捷倫 Agilent 7900 電感耦合等離子體質(zhì)譜儀 ICP-MS

  安捷倫 Agilent 7900 電感耦合等離子體質(zhì)譜儀 ICP-MS[詳細]

  2025-08-05 16:38

  產(chǎn)品樣冊

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• 使用高xiao進樣系統(tǒng)進行單納米顆粒樣品檢測

  使用高xiao進樣系統(tǒng)進行單納米顆粒樣品檢測[詳細]

  2024-09-20 02:09

  應用文章

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• 單顆粒模式分析NIST金納米顆粒參考物質(zhì)

  本工作探索NexION350ICP-MS對測定工業(yè)金屬納米粒子的重要特性的能力。[詳細]

  2018-08-17 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 使用配備COX 模塊的Agilent 490 微型氣相色譜分析性氣體的應用報告

  這一應用報告展示了配備 COX 色譜柱的 Agilent 490 微型 GC 的性能，包括對性氣體的分離和反吹功能，確保延長色譜柱的壽命。[詳細]

  2016-07-27 00:00

  應用文章

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• 柴油納米顆粒的實時測量

  柴油納米顆粒的實時測量[詳細]

  2024-09-18 19:20

  操作手冊

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• 使用 Agilent 7700x ICP-MS 進行單顆粒分析

  納米顆粒 (NP) 被定義為尺寸在 1–100 nm 之間的超細顆粒 [1]。由于其體積小， 相對于自身重量的表面積非常大，所以它們的反應性質(zhì)往往不同于相同成分的大 體積固體或溶解態(tài)材料。因此這種顆?？蔀閺V泛應用帶來新穎獨特的性質(zhì)。納米 顆?，F(xiàn)有和潛在的應用范圍涵蓋食品添加劑、化妝品和藥品，直至滅菌包裝、燃 料電池技術和電子行業(yè)。但隨著納米顆粒使用范圍的不斷增加，人們越來越關心 它們的安全性以及對健康的影響。因此，我們亟需開發(fā)出適用于納米顆粒特性評 估的分析方法。這些方法必須適合納米顆粒的特定性質(zhì)，應不僅能夠測定納米顆 粒的質(zhì)量濃度，還應該可以評估顆粒大小（粒度）及其分布。 [詳細]

  2020-05-08 14:38

  應用文章

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• 使用 spICP-MS 測量納米顆粒中的多種元素

  使用 spICP-MS 測量納米顆粒中的多種元素[詳細]

  2024-09-28 07:49

  應用文章

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• 納米顆粒型材料的應用及其比表面積測定

  納米顆粒型材料的應用及其比表面積測定[詳細]

  2024-10-01 13:21

  期刊論文

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• 用于單顆粒ICP-MS檢測的Syngistix納米應用模塊

  用于單顆粒ICP-MS檢測的Syngistix納米應用模塊[詳細]

  2016-08-24 00:00

  標準

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• 單細胞ICP-MS 監(jiān)測淡水藻類對金納米顆粒的攝入行為

  對于人類健康和環(huán)境安全來說，監(jiān)測單細胞對于金屬離子和納米顆粒（NPs）的攝入都是非常重要的。目前，利用ICP-MS對于細胞內(nèi)金屬含量的常規(guī)測定方法為：通過離心或過濾將細胞從其天然培養(yǎng)介質(zhì)中分離出來，再用新鮮介質(zhì)進行清洗，然后用酸消解后上機檢測。采用這種方法可以得到一定數(shù)量細胞中金屬的總量，而無法獲得單個細胞的相關數(shù)據(jù)，單個細胞內(nèi)金屬的含量只能通過假定所有細胞內(nèi)含有的金屬顆?；螂x子濃度相同，通過計算獲得。而通過透射電子顯微鏡（TEM）、掃描電子顯微鏡（SEM）或熒光示蹤法的輔助表征，證明利用這種方法獲得的單細胞數(shù)據(jù)并不準確。如果利用上述顯微方法對細胞攝入納米顆粒進行表征，又存在耗時長、人為誤差大的缺點。而且，TEM和SEM法只能定性，也容易由于納米顆粒標示物化學性質(zhì)不穩(wěn)定而導致假陽性結(jié)果。相比于這些常規(guī)方法，全新的基于單顆粒ICP-MS（SP-ICP-MS）的單細胞ICP-MS（SC-ICP-MS）具有可以極ng確地對單個細胞中金屬離子或納米顆粒進行定量的優(yōu)勢，一次性檢測的細胞數(shù)量也大于顯微鏡方法。與SP-ICP-MS類似，SC-ICP-MS是基于利用等離子體將單個細胞完全離子化后對離子含量進行測定來獲得結(jié)果的。SC-ICP-MS的優(yōu)勢在于可以在更短的時間內(nèi)分析更多的細胞數(shù)量；具有快速的數(shù)據(jù)采集速率，低于100μs的駐留時間保證數(shù)據(jù)具有更高的精密度。NexIONICP-MS獨特的單細胞檢測能力可用于研究細胞內(nèi)部在其自然環(huán)境中固有的金屬含量和對于金屬的攝入行為，從而對生物曝露風險進行研究和評估。本文介紹了利用SC-ICP-MS技術監(jiān)測單個淡水藻類（Cyptomonasovata）對金離子和納米顆粒的攝入行為。[詳細]

  2018-08-17 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• Determination of trace elements in steel using the Agilent 7900 ICP-MS

  Monitoring and control領 the level of trace element impurities in metals and alloys is important, as impurities can affect the properties of the metal and may degrade the functionality of the finished component.[詳細]

  2024-09-24 10:13

  標準

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