本文由 安捷倫科技（中國）有限公司 整理匯編

2014-09-05 00:00 387閱讀次數(shù)

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• 配備 UHMI 的 Agilent 7900 ICP-MS 的高鹽基質(zhì)分析性能

  配備 UHMI 的 Agilent 7900 ICP-MS 的高鹽基質(zhì)分析性能[詳細]

  2014-09-05 00:00

  標(biāo)準(zhǔn)

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• 使用配備單納米顆粒應(yīng)用模塊的Agilent 7900 ICP-MS 實現(xiàn)單個納米顆粒的自動化高靈敏度分析

  納米技術(shù)的發(fā)展將對各個行業(yè)領(lǐng)域產(chǎn)生重要影響。由于納米顆粒 (NP) 的理化性 質(zhì)較為新穎，它們的許多環(huán)境歸宿和毒理學(xué)性質(zhì)仍然不為人知。因此，人們對一 種能夠快速、準(zhǔn)確而靈敏地完成各種類型樣品中納米顆粒表征與定量的技術(shù)的需 求也日益增長。ICP-MS 技術(shù)中稱作單顆粒 ICP-MS (sp-ICP-MS) 的方法可用來 測定單個納米顆粒。該方法在一次快速分析中可同時測定納米顆粒的粒徑、粒徑 分布、元素組成和計數(shù)濃度 [1-3]。我們對 ICP-MS 硬件和軟件的Zxin升級進一 步改善了這一技術(shù)。 安捷倫針對 ICP-MS MassHunter 軟件開發(fā)出一種專用的單納米顆粒應(yīng)用模 塊 (G5714A)，可簡化使用 Agilent 7900 ICP-MS 進行 sp-ICP-MS 分析的過程。[詳細]

  2016-07-14 00:00

  標(biāo)準(zhǔn)

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• Agilent 7900 ICP-MS 實現(xiàn)單個納米顆粒的自動化 高靈敏度分析

  使用配備單納米顆粒應(yīng)用模塊的 Agilent 7900 ICP-MS 實現(xiàn)單個納米顆粒的自動化高靈敏度分析 納米技術(shù)的發(fā)展將對各個行業(yè)領(lǐng)域產(chǎn)生重要影響。由于納米顆粒 (NP) 的理化性質(zhì)較為新穎，它們的許多環(huán)境歸宿和毒理學(xué)性質(zhì)仍然不為人知。因此，人們對一種能夠快速、準(zhǔn)確而靈敏地完成各種類型樣品中納米顆粒表征與定量的技術(shù)的需求也日益增長。ICP-MS 技術(shù)中稱作單顆粒 ICP-MS (sp-ICP-MS) 的方法可用來測定單個納米顆粒。該方法在一次快速分析中可同時測定納米顆粒的粒徑、粒徑分布、元素組成和計數(shù)濃度。我們對 ICP-MS 硬件和軟件的Zxin升級進一步改善了這一技術(shù)。[詳細]

  2016-07-22 00:00

  應(yīng)用文章

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• 安捷倫 Agilent 7900 電感耦合等離子體質(zhì)譜儀 ICP-MS

  安捷倫 Agilent 7900 電感耦合等離子體質(zhì)譜儀 ICP-MS[詳細]

  2025-08-05 16:38

  產(chǎn)品樣冊

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• Determination of trace elements in steel using the Agilent 7900 ICP-MS

  Monitoring and control領(lǐng) the level of trace element impurities in metals and alloys is important, as impurities can affect the properties of the metal and may degrade the functionality of the finished component.[詳細]

  2024-09-24 10:13

  標(biāo)準(zhǔn)

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• 使用 Agilent 7900 ICP-MS 在 scICP-MS 模式下進行單細胞分析

  擴展對金屬在細胞生物學(xué)中的作用的了解是一個新興的研究領(lǐng)域。許多元素對細胞 健康至關(guān)重要，元素不平衡、缺乏或過量可能會破壞自然細胞過程。用于測量細胞 中金屬的傳統(tǒng)整體性分析方法依賴于樣品溶解、提取或消解，然后利用原子光譜進 行分析。這些樣品前處理步驟破壞了細胞結(jié)構(gòu)，因此報告的金屬濃度結(jié)果為數(shù)千個 細胞的平均值。 在單細胞 ICP-MS (scICP-MS) 中，樣品溶液中包含的完整細胞被霧化，各個細胞懸 浮在氣溶膠液滴中。使用與通過 ICP-MS (spICP-MS) 進行單納米顆粒分析的成熟方 法類似的方法將各個細胞引入等離子體中。[詳細]

  2020-05-08 14:19

  應(yīng)用文章

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• 使用 Agilent 7900 ICP-MS 對牛奶和奶粉進行常規(guī)高通量分析

  使用 Agilent 7900 ICP-MS 對牛奶和奶粉進行常規(guī)高通量分析[詳細]

  2024-09-28 01:19

  操作手冊

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• Ultra-trace analysis of metals in mineral reference materials using the Agilent 7900 ICP-MS with UHM

  The analytical requirements of the geological survey and mining industries are demanding in terms of high number of samples, number of elements, time/cost constraints and the difficult matrices. [詳細]

  2016-07-21 00:00

  應(yīng)用文章

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• Quantitative analysis of high purity metals using laser ablation coupled to an Agilent 7900 ICP-MS

  Laser Ablation-ICP-MS (LA-ICP-MS) is used for the elemental analysis of solid samples and powders,including geological materials, ceramics, biological tissue and forensic samples.[詳細]

  2016-07-21 00:00

  應(yīng)用文章

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• 使用 Agilent 8800 三重四極桿 ICP-MS 分析高純硅樣品中的 Li 元素

  Agilent 8800 ICP-MS/MS（采用 MS/MS 模式）可以準(zhǔn) 確、GX地測定不同濃度（30 ppm 和 2000 ppm）高純硅 基質(zhì)中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL 都非常低，MS/MS 模式可以確保將目標(biāo)產(chǎn)物離子與其他 分析物生成的潛在干擾產(chǎn)物離子分離。這是 8800 ICP-MS/ MS 的 MS/MS 模式所獨有的功能。即使在使用超低流量 霧化器的條件下，仍然可以獲得優(yōu)異的靈敏度和超低的檢 測限，對于 2000 ppm Si 基質(zhì)樣品可連續(xù)測定超過 3 小 時，表明儀器具有出色的信號穩(wěn)定性。 [詳細]

  2024-09-16 04:29

  應(yīng)用文章

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• 徹底解決高鹽等樣品TOC分析的有效手段

  徹底解決高鹽等樣品TOC分析的有效手段[詳細]

  2008-05-27 00:00

  其它

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• 高鹽樣品的總有機碳含量的測定

  高鹽樣品的總有機碳含量的測定[詳細]

  2024-09-28 22:52

  專利

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• 使用配備氣體進樣閥的?Agilent Intuvo 9000?氣相色譜儀進行輕質(zhì)烴分析

  本應(yīng)用簡報介紹了一種使用 Agilent Intuvo 9000 氣相色譜儀分析標(biāo)準(zhǔn)烴類氣體混合物的方法。該系統(tǒng)包括一個氣體進樣閥、一個柱后 D1/D2 檢測器分流器芯片，以及火焰離子化檢測器 (FID) 和熱導(dǎo)檢測器 (TCD)。流路中兩個檢測器的保留時間和峰響應(yīng)結(jié)果相差無幾。 [詳細]

  2024-10-03 05:16

  應(yīng)用文章

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• Agilent 7900 電感耦合等離子體質(zhì)譜儀產(chǎn)品樣本

  新型 Agilent 7900 將再次重新定義 ICP-MS：高鹽基質(zhì)耐受能力增強了 10 倍，動態(tài)范圍擴展了 10 倍，信噪比提高了 10 倍，同時配備了可幫助您編寫方法的強大軟件。[詳細]

  2016-07-18 00:00

  產(chǎn)品樣冊

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• Agilent 7700 ICP-MS培訓(xùn)教材

  Agilent 7700 ICP-MS培訓(xùn)教材[詳細]

  2010-11-12 00:00

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  2013-07-05 00:00

  選購指南

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  宣傳資料[詳細]

  2024-09-11 17:53

  產(chǎn)品樣冊

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• 使用 Agilent 8900 ICP-MS/MS分析高純度銅中的超痕量雜質(zhì)

  使用 Agilent 8900 ICP-MS/MS分析高純度銅中的超痕量雜質(zhì)[詳細]

  2024-09-29 01:36

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