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環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備系統(tǒng)的一種溫度改進(jìn)控制方案研究
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本文由 北京恒泰豐科試驗(yàn)設(shè)備有限公司 整理匯編
2024-09-29 04:04 249閱讀次數(shù)
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環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備系統(tǒng)的一種溫度改進(jìn)控制方案研究
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環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備系統(tǒng)的一種溫度改進(jìn)控制方案研究
- 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備系統(tǒng)的一種溫度改進(jìn)控制方案研究[詳細(xì)]
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2024-09-29 04:04
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環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備系統(tǒng)的一種溫度改進(jìn)控制方案研究.pdf
- 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備系統(tǒng)的一種溫度改進(jìn)控制方案研究.pdf[詳細(xì)]
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2014-10-31 00:00
其它
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環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備系統(tǒng)溫度改進(jìn)控制方案研究
- 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備系統(tǒng)的一種溫度改進(jìn)控制方案研究.pdf[詳細(xì)]
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2018-10-05 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 溫度沖擊試驗(yàn)方法
- GJB150.5環(huán)境試驗(yàn)方法溫度沖擊試驗(yàn).pdf[詳細(xì)]
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2018-10-05 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
- 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備[詳細(xì)]
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2013-11-15 00:00
標(biāo)準(zhǔn)
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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法_溫度試驗(yàn)設(shè)備
- 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法_溫度試驗(yàn)設(shè)備售后服務(wù)承諾:用戶的滿意是我們服務(wù)的宗旨,完善的售后服務(wù)使您解除一切后顧之憂,我們堅(jiān)信一個(gè)好的企業(yè)賣出去的不僅僅是一臺(tái)好的產(chǎn)品,更重要的是良好的服務(wù)。宏展儀器主營(yíng):溫度試驗(yàn)箱;高溫試驗(yàn)箱;低溫試驗(yàn)箱;高低溫試驗(yàn)箱;高低溫交變?cè)囼?yàn)箱;濕熱試驗(yàn)箱;高溫高濕試驗(yàn)箱;恒定濕熱試驗(yàn)箱;高低溫恒定濕熱試驗(yàn)箱;高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱;溫變?cè)囼?yàn)箱;快速溫度變化試驗(yàn)箱;溫度沖擊箱;高低溫沖擊試驗(yàn)箱;環(huán)境試驗(yàn)室;步入式高溫試驗(yàn)室;步入式高低溫試驗(yàn)室;步入式高低溫恒定濕熱試驗(yàn)室;步入式高低溫交變濕熱試驗(yàn)室;高溫試驗(yàn)箱;真空干燥箱;耐候試驗(yàn)箱;紫外耐候試驗(yàn)箱;鹽霧試驗(yàn)箱;鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱;模擬運(yùn)輸振動(dòng)臺(tái);跌落試驗(yàn)臺(tái);蒸氣老化試驗(yàn)機(jī)等其它環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備.另可依客戶要求之尺寸制作試驗(yàn)室,滿足客戶的要求。歡迎廣大客戶來(lái)電來(lái)函咨詢訂購(gòu)!北京宏展環(huán)境科技有限公司聯(lián)系地址:北京市豐臺(tái)區(qū)和義東里6區(qū)1號(hào)樓7單元502室 聯(lián)系電話:010-6799652067957820 聯(lián)系傳真:010-67965617聯(lián)系手機(jī):15001084958聯(lián)系QQ:1796337665Skype:lihuibj聯(lián)系人:李 慧(小姐)聯(lián)系MSN:lihuibj@hotail.com電子郵件:hui.li@hongzhan.com.hk公司網(wǎng)址:http://www.a5317.com http://www.thermotron.com.cnhttp://www.hongzhan.com.hkhttp://www.hongzhangroup.comhttp://hongzhanbj.cn.alibaba.comhttp://testchamber.en.alibaba.com宏展在用戶身邊用戶在宏展心中愛(ài)儀器熱線:400-0000-217[詳細(xì)]
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2018-09-04 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
- 一、電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備適用范圍:溫度:【0℃至150℃】,【-20℃至150℃】,【-40℃至150℃】,【-60℃至150℃】,,【-70℃至150℃】濕度:【20%至98%RH】二、電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備表頭控制精度:溫度:【±0.3℃】濕度:【±2.5%RH】三、電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備表頭解析精度:溫度:【0.1℃】濕度:【0.1%RH】四、升溫速率:3度/分鐘。五、降溫速率:1度/分鐘。六、電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備機(jī)器結(jié)構(gòu)與材質(zhì):1.內(nèi)箱尺寸:【50cm(W)×75cm(H)×60cm(D)】2.外箱尺寸:【105cm(W)×167cm(H)×116cm(D)】3.內(nèi)箱材質(zhì):SUS#304耐熱耐寒不銹鋼板。4.外箱材質(zhì):SUS#304高張力不銹鋼板,并經(jīng)多道薄膜游離層表面處理。5.保溫材質(zhì):針對(duì)可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱專用高密度玻璃棉及高強(qiáng)度PU發(fā)泡絕緣材料。6.防汗機(jī)件:以系統(tǒng)K型管之熱能作防汗處理。7.門(mén)氣密材料:高張力parking耐溫-90至280℃。8.附屬設(shè)備:a.可調(diào)式活動(dòng)盤(pán)2只,可任意改變距離。b.外接用測(cè)試孔乙只,可作動(dòng)態(tài)測(cè)試。c.廣角投射照明設(shè)備,采省電GX率日光燈。d.多層真空玻璃窗口,防爆型。e.附可調(diào)固定軸及活動(dòng)輪4組。七、全自動(dòng)恒溫恒濕設(shè)備冷凍系統(tǒng)及加熱系統(tǒng):1.省電型GX率法國(guó)泰康壓縮機(jī)。2.采環(huán)保R404A冷煤。3.全程管路系統(tǒng)氮?dú)饧訅簻y(cè)漏。4.波浪狀鰭片型強(qiáng)迫送風(fēng)冷凝器。5.斜率式FINTUBE蒸發(fā)器。6.電磁閥;干燥過(guò)濾器等冷凍組件。7.內(nèi)螺旋式KTYPE冷媒銅管。8.UTYPE高速電熱管,加熱迅速。9.加溫、降溫系統(tǒng)完全獨(dú)立,不需手動(dòng)控制。[詳細(xì)]
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2018-10-11 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 溫度試驗(yàn)箱性能確定
- GB_T2424.5-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn).pdf[詳細(xì)]
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2018-10-05 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范
- 一、環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)可滿足以下標(biāo)準(zhǔn):GB2423.1-89低溫試驗(yàn)方法、GB2423.2-89高溫試驗(yàn)方法、IEC68-2-30試驗(yàn)方法。二、控制方式與特色:平衡調(diào)溫調(diào)濕控制系統(tǒng)(BTHC),以P.I.D.方式控制SSR,使系統(tǒng)之加熱加濕量等于熱濕損耗量,故能長(zhǎng)期穩(wěn)定的使用。三、主要技術(shù)參數(shù):型號(hào):LK-150G內(nèi)部尺寸:150L(50*60*50)cm內(nèi)箱材質(zhì):鏡面或霧面不銹鋼板(SUS#3041.0mm厚)外箱材質(zhì):不銹鋼板(SUS#3041.0mm厚)或冷軋鋼烤漆處理保溫材質(zhì):硬質(zhì)Polyurethane發(fā)泡及玻璃棉可程式高低溫試驗(yàn)機(jī)溫度范圍:溫度波動(dòng)度:±0.5℃溫度偏差:≤±2℃溫度Zdi極限:H表示-20℃M表示-40℃L表示-70℃升溫時(shí)間:平均3℃/min(非線性空載時(shí))降溫時(shí)間:平均1℃/min(非線性空載時(shí))壓縮機(jī):法國(guó)泰康原裝進(jìn)口全密式壓縮機(jī)冷媒:環(huán)保冷媒R404A控制器:(可選擇)韓國(guó)TEMI880彩色觸摸式智能可程序溫濕度控制器;原裝韓國(guó)進(jìn)口TEMI300液晶顯示薄膜按鍵式數(shù)據(jù)輸入;原裝日本進(jìn)口OYO單點(diǎn)式控制器;使用電源:AC1ψ3W220V或3ψ5W380V五、標(biāo)準(zhǔn)配置:A.電源線4.0mm?x4蕊,低阻抗橡膠電纜線2.5m長(zhǎng)1條B.RS-232C通訊接口端子一個(gè)(9PIN)C.不銹鋼SUS#304方型沖孔鋼板置物架2片D.不銹鋼可調(diào)整間距40mm置物架軌道2組E.11W節(jié)能照明窗口燈一支F.機(jī)體左側(cè)ψ50mm測(cè)試孔1個(gè)附不銹鋼孔蓋1只,硅膠塞頭1只。G.標(biāo)準(zhǔn)測(cè)SY不織布5片H.保險(xiǎn)絲一套(易損件)I.控制器使用說(shuō)明書(shū)一套,操作說(shuō)明書(shū)一套,測(cè)試報(bào)告一份東莞勤卓科技從事恒溫恒濕箱、高低溫箱、冷熱沖擊箱等設(shè)備研發(fā)生產(chǎn)已經(jīng)走過(guò)了十年歷程。研發(fā)設(shè)計(jì)技術(shù)工藝已凌駕于同類進(jìn)口產(chǎn)品,品質(zhì)精良,價(jià)格低廉。望廣大新老客戶電話咨詢。優(yōu)級(jí)的服務(wù):免費(fèi)包裝送貨,免費(fèi)保修一年,終身服務(wù)并提供配件及易損件[詳細(xì)]
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2018-10-11 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備溫度濕度校準(zhǔn)規(guī)范
- 本規(guī)范適用于環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備溫度濕度計(jì)量性能的校準(zhǔn),也可其他類似設(shè)備也可參照本規(guī)范校準(zhǔn)。[詳細(xì)]
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2018-11-17 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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GBT5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
- GBT5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備資料下載:http://www.hongda17.cn[詳細(xì)]
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2018-08-19 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備控制過(guò)程中的PID整定
- 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備控制器PID算法原理和PID整定方法[詳細(xì)]
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2018-10-05 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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JJF1101-2003 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范
- JJF1101-2003環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范[詳細(xì)]
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2018-10-05 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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JJF1101-2003《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范》
- 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備溫度濕度校準(zhǔn)規(guī)范北京恒泰豐科試驗(yàn)設(shè)備有限公司主要產(chǎn)品高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,溫度沖擊試驗(yàn)箱,鹽霧試驗(yàn)箱,氙燈耐候試驗(yàn)箱,紫外老化試驗(yàn)箱,臭氧老化試驗(yàn)箱,真空干燥試驗(yàn)箱,電熱鼓風(fēng)干燥箱,換氣老化試驗(yàn)箱,電池檢測(cè)試驗(yàn)設(shè)備,淋雨試驗(yàn)設(shè)備,振動(dòng)試驗(yàn)機(jī),藥品穩(wěn)定試驗(yàn)箱,砂塵試驗(yàn)箱,培養(yǎng)試驗(yàn)箱,防銹油脂試驗(yàn)箱,大型試驗(yàn)室等詳細(xì)信息請(qǐng)瀏覽:http://www.010sy17.com[詳細(xì)]
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2018-10-05 10:01
產(chǎn)品樣冊(cè)
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GBT 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
- 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):GB/T5170.2-2008中文標(biāo)準(zhǔn)名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備代替標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備,標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介:本部分規(guī)定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于對(duì)GB/T2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫》、GB/T2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫》和GB/T2423.22《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化》所用試驗(yàn)設(shè)備的S次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分代替GB/T5170.21996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備。與GB/T5170.21996相比,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化:標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備”;所有用詞“檢定”更改為“檢驗(yàn)”;增加了“術(shù)語(yǔ)和定義”一章;增加了“溫度波動(dòng)度”檢驗(yàn)項(xiàng)目;增加了“溫度均勻度”檢驗(yàn)項(xiàng)目;增加了“每5MIN溫度平均變化速率”檢驗(yàn)項(xiàng)目;增加了“溫度指示誤差”檢驗(yàn)項(xiàng)目;增加了“溫度過(guò)沖量”檢驗(yàn)項(xiàng)目;增加了“溫度過(guò)沖恢復(fù)時(shí)間”檢驗(yàn)項(xiàng)目;增加了“噪聲”檢驗(yàn)項(xiàng)目;刪除了“相對(duì)濕度”檢驗(yàn)項(xiàng)目;在“檢驗(yàn)用主要儀器及要求”一章中,給出了溫度測(cè)量系統(tǒng)其測(cè)量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度(K=2)的要求增加了“檢驗(yàn)負(fù)載”一章;修改了“溫度變化速率”的計(jì)算方法;測(cè)量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù);刪除了“檢定過(guò)程中的處理”部分;附錄A“測(cè)量記錄表格示例”更改為“檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇”;刪除了附錄B“溫度波動(dòng)度、溫度均勻度檢定方法”。國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào):19.040ZG標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào):K04標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)目錄:前言Ⅲ1范圍12規(guī)范性引用文件13術(shù)語(yǔ)和定義14檢驗(yàn)項(xiàng)目15檢驗(yàn)用主要儀器及要求26檢驗(yàn)負(fù)載27檢驗(yàn)條件28檢驗(yàn)方法29數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果710檢驗(yàn)周期7附錄A(規(guī)范性附錄)檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇8引用標(biāo)準(zhǔn):下列文件中的條款通過(guò)GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫(GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫,IDTIEC60068-2-1:1環(huán)境試驗(yàn).第2-1部分:試驗(yàn).試驗(yàn)A:低溫990)GB/T2423.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫(GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫,IDTIEC60068-2-2環(huán)境測(cè)試.第2-2部分:試驗(yàn).試驗(yàn)B:干熱:1974)GB/T2423.22電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化(GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化,IEC60068-2-14環(huán)境試驗(yàn).第2-14部分:試驗(yàn).試驗(yàn)N:溫度的改變:1984,IDT)GB/T2424.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)(GB/T2424.5-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn),IEC60068-3-5:2001,IDT)GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則GB/T16839.1熱電偶第1部分:分度表(GB/T16839.1-1997熱電偶第1部分:分度表,IDTIEC60584-1:1995熱電偶第1部分:參考表)IEC60751工業(yè)鉑電阻敏感元件標(biāo)準(zhǔn)關(guān)注次數(shù):7次標(biāo)準(zhǔn)上傳日期:2009-12-15發(fā)布日期:2008-06-16實(shí)施日期:2009-03-01S次發(fā)布日期:1985-05-07英文標(biāo)準(zhǔn)名稱:Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Temperaturetestingequipments采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):無(wú)標(biāo)準(zhǔn)類別:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù):13頁(yè)主管部門(mén):604-2ZG電器工業(yè)協(xié)會(huì)歸口單位:469-8全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國(guó)良起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所[詳細(xì)]
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2018-09-05 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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實(shí)驗(yàn)環(huán)境中噪音的控制方案
- 30多年來(lái),TMC一直致力于為精密測(cè)量實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)提供精密工作臺(tái)面和隔振系統(tǒng)。為了提供ZJ性能,精密“臺(tái)面”及其配套隔離器的設(shè)計(jì)必須解決核心問(wèn)題:環(huán)境噪音的控制。
有三個(gè)主要的振動(dòng)源(噪音):地面振動(dòng),聲學(xué)噪音,和“直接力”干擾。地面振動(dòng)或地震振動(dòng)存在于世界上所有的環(huán)境中。這種噪音有各種各樣的來(lái)源,從海浪沖擊海岸線,大地板塊的持續(xù)磨擦,風(fēng)吹動(dòng)樹(shù)木和建筑物,到人為的來(lái)源,如機(jī)器,暖通空調(diào)系統(tǒng),街道交通,甚至是行走的人。TMC隔振系統(tǒng)旨在將這些振源的影響降到zui低。[詳細(xì)]
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2021-04-26 09:59
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2024-10-04 20:06
專利
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GBT 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備.pdf
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2015-06-08 00:00
操作手冊(cè)
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GBT 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備.pdf
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2014-10-28 00:00
課件
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GBT 5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
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2013-11-20 00:00
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