本文由 上海科學儀器有限公司 整理匯編

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• GB 5170.20-1990 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法

  中華人民共和國國家標準：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法【水試驗設(shè)備方法】本標準（GB5170.20-1990電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法）規(guī)定了電工電子產(chǎn)品按GB2423.38《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗R:水試驗方法》進行水試驗時所用試驗設(shè)備的檢定方法。本標準適用于電工電子產(chǎn)品環(huán)境水試驗設(shè)備。上海林頻儀器股份有限公司座落于ZG上海市科技產(chǎn)業(yè)基地閔行經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)，是一家專業(yè)從事環(huán)境試驗設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的高新技術(shù)股份制企業(yè)。歷經(jīng)市場洗禮和多年的拼搏積淀，林頻儀器現(xiàn)已發(fā)展成為環(huán)境試驗設(shè)備領(lǐng)域的龍頭企業(yè)之一。公司專業(yè)生產(chǎn)各類環(huán)境試驗設(shè)備：高低溫低氣壓試驗箱、液氮深冷低溫箱、CASS交變鹽霧箱、高低溫沖擊試驗箱、太陽能光伏組件濕凍試驗設(shè)備、溫度老化試驗室及各類非標產(chǎn)品,“林頻”生產(chǎn)的試驗設(shè)備可滿足GB、GJB、MIL、DIL、IEC等各行業(yè)各國家的標準，關(guān)于產(chǎn)品細節(jié)請致電021-34098999，如果您需要下載相關(guān)標準或產(chǎn)品技術(shù)資料，請登陸：http://www.linpin.com.cn！[詳細]

  2018-09-03 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB 5170.20-1990 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定

  GB 5170.20-1990 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定[詳細]

  2024-09-14 01:07

  報價單

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• GB 5170.19-1989 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法

  中華人民共和國國家標準：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法【溫度/振動（正弦）綜合試驗設(shè)備方法】本標準（GB5170.19-89電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法）規(guī)定了溫度/振動正弦）綜合試驗設(shè)備的基本參數(shù)檢定方法。本標準適用于溫度/振動（正弦）綜合試驗設(shè)備。本標準所確定的檢定方法與按GB2423.35《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動（正弦）綜合試驗方法》和GB2423.36《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BFc:散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動（正弦）綜合試驗方法》進行試驗時所用試驗設(shè)備（以下簡稱設(shè)備）的基本參數(shù)的檢定方法相一致。上海林頻儀器股份有限公司座落于ZG上海市科技產(chǎn)業(yè)基地閔行經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)，是一家專業(yè)從事環(huán)境試驗設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的高新技術(shù)股份制企業(yè)。歷經(jīng)市場洗禮和多年的拼搏積淀，林頻儀器現(xiàn)已發(fā)展成為環(huán)境試驗設(shè)備領(lǐng)域的龍頭企業(yè)之一。公司專業(yè)生產(chǎn)各類環(huán)境試驗設(shè)備：高低溫低氣壓試驗箱、液氮深冷低溫箱、CASS交變鹽霧箱、高低溫沖擊試驗箱、太陽能光伏組件濕凍試驗設(shè)備、溫度老化試驗室及各類非標產(chǎn)品,“林頻”生產(chǎn)的試驗設(shè)備可滿足GB、GJB、MIL、DIL、IEC等各行業(yè)各國家的標準，關(guān)于產(chǎn)品細節(jié)請致電021-34098999，如果您需要下載相關(guān)標準或產(chǎn)品技術(shù)資料，請登陸：http://www.linpin.com.cn！[詳細]

  2018-09-03 10:00

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• GB 5170.18-1987 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定

  GB 5170.18-1987 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定[詳細]

  2024-09-18 18:06

  報價單

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• GB 5170.19-1989 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定

  GB 5170.19-1989 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定[詳細]

  2024-09-28 06:13

  操作手冊

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• GB/T 5170.20-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 水試驗設(shè)備

  GB/T5170.20-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗設(shè)備規(guī)定了水試驗設(shè)備在進行周期檢定時的檢定項目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測量點數(shù)量及位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理與檢定結(jié)果等內(nèi)容。武漢尚測試驗設(shè)備有限公司生產(chǎn)的箱式淋雨試驗箱、擺管淋雨試驗機、滴水試驗裝置等外殼防護試驗設(shè)備適用于電工電子產(chǎn)品（包括元件）在運輸和使用期間可能受到滴水,沖水和浸水影響的水試驗.[詳細]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設(shè)備

  GBT5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備本資料來源：http://www.hongda17.cn[詳細]

  2018-08-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定 水試驗設(shè)備

  GBT5170.20-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗設(shè)備[詳細]

  2018-09-14 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設(shè)備

  GBT 5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設(shè)備[詳細]

  2014-01-09 00:00

  標準

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• GBT 5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備

  GBT 5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備[詳細]

  2013-11-20 00:00

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• GBT 5170.1-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則

  GBT5170.1-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則資料下載地址：http://www.hongda17.cn本資料由北京鴻達天矩試驗設(shè)備有限公司編輯提供，供大家參考，希望對您有幫助。[詳細]

  2018-08-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB 5170.18-1987 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度 濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備

  中華人民共和國國家標準：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法【溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備方法】本標準（GB5170.18-1987電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度、濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備）規(guī)定了按GB2423.34-86《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗方法試驗Z/AD:濕度/濕度組合循環(huán)試驗方法》進行溫度/濕度組合循環(huán)試驗時所用試驗設(shè)備（以下簡稱設(shè)備）基本參數(shù)的檢定方法。溫度/濕度組合循環(huán)試驗在同一試驗箱內(nèi)進行時（以下簡稱一箱法），應(yīng)符合本標準的所有規(guī)定;溫度/濕度組合循環(huán)試驗在一個獨立試驗箱進行時（以下簡稱二箱法），濕熱試驗箱應(yīng)符合本標準所有規(guī)定;低溫試驗箱應(yīng)符合GB5170.2-85《電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫試驗設(shè)備》的規(guī)定。本標準與GB5170.1-85《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則》一起使用。上海林頻儀器股份有限公司座落于ZG上海市科技產(chǎn)業(yè)基地閔行經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)，是一家專業(yè)從事環(huán)境試驗設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的高新技術(shù)股份制企業(yè)。歷經(jīng)市場洗禮和多年的拼搏積淀，林頻儀器現(xiàn)已發(fā)展成為環(huán)境試驗設(shè)備領(lǐng)域的龍頭企業(yè)之一。公司專業(yè)生產(chǎn)各類環(huán)境試驗設(shè)備：高低溫低氣壓試驗箱、液氮深冷低溫箱、CASS交變鹽霧箱、高低溫沖擊試驗箱、太陽能光伏組件濕凍試驗設(shè)備、溫度老化試驗室及各類非標產(chǎn)品,“林頻”生產(chǎn)的試驗設(shè)備可滿足GB、GJB、MIL、DIL、IEC等各行業(yè)各國家的標準，關(guān)于產(chǎn)品細節(jié)請致電021-34098999，如果您需要下載相關(guān)標準或產(chǎn)品技術(shù)資料，請登陸：http://www.linpin.com.cn！[詳細]

  2018-09-03 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 檢定電工電子產(chǎn)品基本參數(shù)的方法的試驗設(shè)備

  根據(jù)相關(guān)國家標準，電子電工產(chǎn)品基本參數(shù)檢定的方法是由振動試驗臺來檢定的。[詳細]

  2018-10-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT5170.8-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)

  GBT5170.8-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)[詳細]

  2011-03-16 00:00

  實驗操作

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• GB/T 5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備

  GB/T5170.18-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備規(guī)定了溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備在進行周期檢定時的檢定項目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測量點數(shù)量及位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。GB/T5170.18-2005適用于GB/T2423.34-2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法》所用試驗設(shè)備的周期檢定。溫度/濕度組合循環(huán)試驗在同一試驗箱內(nèi)進行時，應(yīng)符合本部分的所有規(guī)定；溫度/濕度組合循環(huán)試驗在兩個獨立試驗箱進行時，溫熱試驗箱應(yīng)符合本部分所有規(guī)定；低溫試驗箱應(yīng)符合GB/T5170.2-1996《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備》的規(guī)定。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的周期檢定。試驗采用高低溫交變濕熱試驗箱。[詳細]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度 濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備

  GBT5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度 濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備[詳細]

  2013-11-16 00:00

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• GB/T 5170.17-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備

  GB/T5170.17-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備規(guī)定了低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備在進行周期檢定時的檢定項目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測量點數(shù)量及布放位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。武漢尚測試驗設(shè)備有限公司生產(chǎn)制造的恒溫恒濕試驗箱可用于電工電子、橡膠塑料、車輛制造、汽車制造、印染紡織、建材、食品、油漆、涂料、材料研究等的溫濕度變化產(chǎn)品試驗檢測。[詳細]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 5170.8-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 鹽霧試

  南京環(huán)科專業(yè)生鹽霧試驗箱，高低溫試驗箱，沙塵試驗箱，淋雨試驗箱，老化試驗設(shè)備等等。鹽霧試驗箱參照標準本鹽霧試驗箱符合并適用我國頒布國家鹽霧試驗標準GJB150.11及電工電子產(chǎn)品鹽霧試驗的標準GB2423.17；用于金屬覆蓋層的鹽霧試驗標準GB6458、GB6459、GB6460；專門用于考核輕工產(chǎn)品電鍍層的鹽霧試驗標準GB5938、GB5939、GB5940；主要適用于油漆層的鹽霧試驗標準GB1771標準及國際上目前正在使用的有關(guān)鹽霧腐蝕的其他標準。鹽霧試驗箱產(chǎn)品規(guī)格lYWX-150工作室尺寸：D500*W600*H450lYWX-250工作室尺寸：D600*W900*H500lYWX-750工作室尺寸：D750*W1100*H500lYWX-010工作室尺寸：D850*W1300*H600鹽霧試驗箱技術(shù)指標l溫度范圍：35℃～50℃l濕度范圍：95～98%RHl溫度均勻度：2℃l溫度波動度：±0.5℃l鹽霧沉降量：1～2mL/80cm2h參照網(wǎng)址：www.njhuanke.comwww.huanke17.com[詳細]

  2018-09-22 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度 濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備

  標準編號:GB/T5170.18-2005中文標準名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備代替標準號:GB/T5170.18-1987電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備,標準簡介:本部分規(guī)定了溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備在進行周期檢定時的檢定項目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測量點數(shù)量及位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。本部分適用于GB/T2423.34-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法》所用試驗設(shè)備的周期檢定。溫度/濕度組合循環(huán)試驗在同一試驗箱內(nèi)進行時,應(yīng)符合本部分的所有規(guī)定;溫度/濕度組合循環(huán)試驗在兩個獨立試驗箱進行時,溫熱試驗箱應(yīng)符合本部分所有規(guī)定;低溫試驗箱應(yīng)符合GB/T5170.2-1996《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備》的規(guī)定。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的周期檢定。國際標準分類號:19.080ZG標準分類號:K04標準狀態(tài):現(xiàn)行標準前言:本部分是GB/T5170《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》的一個部分。本部分是對GB/T5170.18-1987電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備的修訂,與GB/T5170.18-1987相比,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化:-明確本部分適用于環(huán)境試驗設(shè)備在使用期間的周期檢定,以區(qū)別產(chǎn)品的型式檢驗、出廠檢驗等;-增加了規(guī)范性引用文件一章;-在檢定項目中,刪除了工作室內(nèi)壁與工作空間溫差和工作室內(nèi)壁輻射系數(shù)兩個項目;-在檢定用主要儀器及要求一章中,給出了儀器的擴展不確定度（k=2）的要求;-增加了檢定條件一章;-對于溫度測量點數(shù)量,設(shè)備的工作空間容積由以1m,分界改為以2m分界,對于大于2m的設(shè)備,溫度和風速的測量點由21點減少為15點;-周期檢定試驗設(shè)備時,溫度偏差、相對濕度偏差的測量時間縮短為30min;-在數(shù)據(jù)處理與檢定結(jié)果中,給小了溫度偏差、溫度波動度溫度均勻度、濕度偏差、溫度變化速率、風速的計算公式;增加了環(huán)境參數(shù)場的調(diào)整和試驗設(shè)備儀表修正值的范圍,并且對限用的范圍給予了必要的說明;-本部分的附錄中給出干濕表法惻量相對濕度,;-刪除了記錄表格。本部分由ZG電器工業(yè)協(xié)會提出本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境技術(shù)標準化技術(shù)委員會歸口。本部分起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。本部分主要起草人:謝晨浩、賴文光。本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況:GB/T5170.18-1987引用標準:下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件,其Zxin版本適用于本部分。GB/T2423.34-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法（IEG60068-2-38:1974,IDT）GB/T5170.1-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備GB/T6999環(huán)境試驗用相對濕度查算表標準關(guān)注次數(shù):20次標準上傳日期:2010-11-14發(fā)布日期:2005-09-19實施日期:2006-06-01S次發(fā)布日期:1987-08-19英文標準名稱:InspectionmethodsforbasicparametersofEnvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts--Compositetemperature/humiditycyclictestingequipments采用國際標準:無標準類別:國家標準標準頁數(shù):主管部門:604-2ZG電器工業(yè)協(xié)會歸口單位:469-8全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術(shù)委員會起草人:謝晨浩、賴文光起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子5所[詳細]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 5170.13-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動（正弦）試驗用機械振動臺

  GB/T5170.13-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用機械振動臺規(guī)定了振動（正弦）試驗用機械振動臺在進行定型鑒定、出廠檢驗和定期檢定時的檢定項目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、檢定時的一般規(guī)定、檢定方法及檢定結(jié)果等內(nèi)容。機械振動臺適用于玩具、電子、家具、禮品、陶瓷、包裝等產(chǎn)品進行模擬運輸測試，電磁振動試驗臺模擬產(chǎn)品在運輸過程中可能出現(xiàn)的各種不良，以評定其結(jié)構(gòu)的耐振性、可靠性和完好性。[詳細]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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