本文由 東莞市科文試驗(yàn)設(shè)備有限公司 整理匯編

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• GB/T2423.8 電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 自由跌落試驗(yàn)方法

  本試驗(yàn)分為兩種方法。**種方法通常是用來(lái)模擬非包裝狀態(tài)的產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能經(jīng)受到的自由跌落，樣品通常是按照規(guī)定的姿態(tài)從規(guī)定的高度跌落到規(guī)定的表面上兩次。第二種方法通常用來(lái)模擬附在電纜上的連接器、小型遙控裝置等在使用中可能經(jīng)受的重復(fù)自由跌落。使試驗(yàn)樣品從規(guī)定高度重復(fù)跌落到規(guī)定的表面上。它是通過(guò)使用合適的設(shè)備，例如（旋轉(zhuǎn)）滾筒來(lái)實(shí)現(xiàn)的。自由跌落目的：確定產(chǎn)品在搬運(yùn)期間由于粗率裝卸遭到跌落的適應(yīng)性，或確定安全要求用的Zdi牢固等級(jí)。本試驗(yàn)主要用于非包裝的試驗(yàn)樣品，以及在運(yùn)輸箱中其包裝可以作為樣品一部分的試驗(yàn)樣品。[詳細(xì)]

  2018-10-11 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落

  GB/T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T2423.8-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落試驗(yàn)方法》和GB2424.6-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程自由跌落試驗(yàn)導(dǎo)則》[詳細(xì)]

  2018-09-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T2423.6-電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：試驗(yàn)方法

  GB/T2423.6-電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞上海覽浩儀器設(shè)備有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

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• 自由跌落試驗(yàn)方法

  自由跌落試驗(yàn)方法詳細(xì)介紹請(qǐng)瀏覽：http://www.010sy17.com[詳細(xì)]

  2018-10-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T2423.8-電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed

  GB/T2423.8-電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed上海覽浩儀器設(shè)備有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB_T2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed和導(dǎo)則 自由跌落

  GB_T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed和導(dǎo)則自由跌落本試驗(yàn)可由中科美其（北京）科技有限公司試驗(yàn)設(shè)備有限公司提供的跌落試驗(yàn)臺(tái)又名跌落試驗(yàn)機(jī)來(lái)執(zhí)行。[詳細(xì)]

  2018-09-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T2423.1-89電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB/T2423.1-89標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：已作廢替代情況：替代GB2423.1-81;被GB/T2423.1-2001[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• 自由跌落試驗(yàn)條件試驗(yàn)方法

  SYT5422-91石油勘探開(kāi)發(fā)儀器基本環(huán)境試驗(yàn)方法試驗(yàn)F：自由跌落試驗(yàn)[詳細(xì)]

  2018-10-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T2423.23-電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Q：密封

  GB/T2423.23-電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)Q：密封上海覽浩儀器設(shè)備有限公司電話(huà)：021-59788381[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T2423.13-電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：試驗(yàn)Fdb：

  GB/T2423.13-電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fdb：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)上海覽浩儀器設(shè)備有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T2423.12-電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) ：試驗(yàn)fda

  GB/T2423.12-電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)fda寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)高再現(xiàn)性上海覽浩儀器設(shè)備有限公司021-59788381[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)綜合試驗(yàn)方法

  GB/T2423.102-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)：溫度（低溫、高溫）低氣壓振動(dòng)（正弦）綜合本部分規(guī)定了溫度（低溫、高溫）低氣壓振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)的基本要求，嚴(yán)酷等級(jí)，試驗(yàn)程序以及其他技術(shù)要求。本部分適用于確定產(chǎn)品在溫度（低溫、高溫）低氣壓和振動(dòng)（正弦）綜合作用下的貯存，運(yùn)輸和使用的適用性。有溫度變化的綜合試驗(yàn)可參考本部分。更多資料信息請(qǐng)下載瀏覽附件[詳細(xì)]

  2018-08-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)方法低溫

  本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)Ab和試驗(yàn)Ad與早期版本無(wú)實(shí)質(zhì)性的差異，增加試驗(yàn)Ae的目的主要是檢測(cè)那些要求在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程包括降溫調(diào)節(jié)期間都要通電運(yùn)行的設(shè)備。本低溫試驗(yàn)的目的于用來(lái)確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。本低溫試驗(yàn)不能用來(lái)評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2433.22。[詳細(xì)]

  2018-10-13 10:00

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)方法沙塵試驗(yàn)

  本部分規(guī)定了確定空氣中懸浮的沙塵對(duì)產(chǎn)品的影響的試驗(yàn)方法。本試驗(yàn)方法不適用于檢測(cè)空氣過(guò)濾器，只有試驗(yàn)方法Lc2適用于模擬高速粒子的腐蝕效應(yīng)。[詳細(xì)]

  2018-10-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)方法高溫

  本高溫試驗(yàn)的目的于用來(lái)確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或儲(chǔ)存的能力。本高溫試驗(yàn)不能用來(lái)評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這情況下應(yīng)采用GB/T2423.22.[詳細(xì)]

  2018-10-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 水試驗(yàn)方法：

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 水試驗(yàn)方法：[詳細(xì)]

  2024-10-03 20:15

  專(zhuān)利

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• GB/T 2423.2-89電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

  GB/T2423.2-89電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：已作廢代替情況：被GB/T2423.2-2001代替[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 自由跌落試驗(yàn)

  自由跌落試驗(yàn)[詳細(xì)]

  2013-11-18 00:00

  實(shí)驗(yàn)操作

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• GB2423.8 電工電子產(chǎn)品試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法:自由跌落（零跌落試驗(yàn)機(jī)）

  GB2423.8電工電子產(chǎn)品試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法:自由跌落（零跌落試驗(yàn)機(jī)）試驗(yàn)Ed:自由跌落EnvironmentaltestingforelectricandelectronicproductsPart2:TestmethodsTestEd:Freefall引言：本試驗(yàn)分為兩種方法。**種方法通常是用來(lái)模擬非包裝狀態(tài)的產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能經(jīng)受到的自由中東，樣品通常是按照規(guī)定的姿態(tài)從規(guī)定的高度跌落到規(guī)定的表面上兩次。第二種方法通常用來(lái)模擬附在電纜上的連接器、小型遙控裝置等在使用中可能經(jīng)受的重復(fù)自由跌落。使試驗(yàn)樣品從規(guī)定高度重復(fù)跌落到規(guī)定的表面上。它是通過(guò)使用合適的設(shè)備，例如（旋轉(zhuǎn)）滾筒來(lái)實(shí)現(xiàn)的。方法一：自由跌落（零跌落試驗(yàn)機(jī)）1目的：確定產(chǎn)品在搬運(yùn)期間由于粗率裝卸遭到跌落的適應(yīng)性，或確定安全要求用的Zdi牢固等級(jí)。本試驗(yàn)主要用于非包裝的試驗(yàn)樣品，以及在運(yùn)輸箱中其包裝可以作為樣品一部分的試驗(yàn)樣品。更多自由跌落試驗(yàn)方法請(qǐng)下載此文www.kowintest.com東莞市科文試驗(yàn)設(shè)備有限公司專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)銷(xiāo)售：自由跌落試驗(yàn)機(jī)，零跌落試驗(yàn)機(jī)，自由跌落測(cè)試機(jī)，零跌落試驗(yàn)臺(tái)，單翼跌落試驗(yàn)機(jī)，E字跌落試驗(yàn)機(jī)，雙翼跌落試驗(yàn)機(jī)，大型跌落試驗(yàn)機(jī)等。[詳細(xì)]

  2018-10-11 10:00

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)方法試驗(yàn)B高溫

  本部分規(guī)定的高溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)Bb和試驗(yàn)Bd與早期版本無(wú)實(shí)質(zhì)上的差異。本高溫試驗(yàn)的目的于用來(lái)確定元件，設(shè)備和其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。本高溫試驗(yàn)不能用來(lái)評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22[詳細(xì)]

  2018-10-13 10:00

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