本文由 安捷倫科技（中國）有限公司 整理匯編

2024-09-29 01:36 628閱讀次數(shù)

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• 使用 Agilent 8900 ICP-MS/MS分析高純度銅中的超痕量雜質(zhì)

  使用 Agilent 8900 ICP-MS/MS分析高純度銅中的超痕量雜質(zhì)[詳細]

  2024-09-29 01:36

  應(yīng)用文章

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• 高純度次磷酸鈉產(chǎn)品中的雜質(zhì)陰離子分析

  高純度次磷酸鈉產(chǎn)品中的雜質(zhì)陰離子分析[詳細]

  2009-02-05 00:00

  期刊論文

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• ICP-OES 分析高純度銦 (In)、鎵(Ga) 中的雜質(zhì)

  高純度精煉的鎵(Ga)是半導體化合物砷化鎵的主要原料，可用作高溫溫度計的填充物、溫度標準物質(zhì)及熔點較低的合金材料，是現(xiàn)代電子產(chǎn)業(yè)不可或缺的元素之一，隨著高純度鎵的需求增大，對雜質(zhì)含量的檢驗成為必不可少的環(huán)節(jié)。本文建立了利用ICP-OES分析高純度銦 (In)、鎵(Ga) 中的雜質(zhì)的解決辦法。[詳細]

  2020-05-20 16:29

  應(yīng)用文章

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• 使用 Agilent 8800 ICP-MS/MS 在冷等離子體反應(yīng)池模式下測量超純水中的超痕量鉀及其他元素

  使用 Agilent 8800 ICP-MS/MS 在冷等離子體反應(yīng)池模式下測量超純水中的超痕量鉀及其他元素[詳細]

  2021-04-08 10:08

  應(yīng)用文章

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• 使用 Agilent 8800 ICP-MS/MS 進行常規(guī)土壤分析

  使用 Agilent 8800 ICP-MS/MS 進行常規(guī)土壤分析[詳細]

  2016-07-22 00:00

  課件

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• 使用 Agilent 8800 ICP-MS/MS 進行常規(guī)土壤分析

  使用 Agilent 8800 ICP-MS/MS 進行常規(guī)土壤分析[詳細]

  2024-09-28 21:14

  期刊論文

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• 使用UPC2/MS進行雜質(zhì)分析

  使用UPC2/MS進行雜質(zhì)分析[詳細]

  2014-06-20 00:00

  其它

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• Agilent 8800 ICP-MS/MS 產(chǎn)品樣冊

  Advanced technology products containing rare earth elements (REEs) continue to evolve at a rapid pace. [詳細]

  2024-09-28 00:08

  標準

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• 安捷倫 Agilent 8900 串聯(lián)四極桿電感耦合等離子體質(zhì)譜儀 ICP-MS

  安捷倫 Agilent 8900 串聯(lián)四極桿電感耦合等離子體質(zhì)譜儀 ICP-MS[詳細]

  2025-08-27 15:50

  產(chǎn)品樣冊

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• 采用 Agilent 7820A 氣相色譜分析苯中痕量烴類雜質(zhì)

  在制造加工過程中生產(chǎn)或使用苯時，了解苯中雜質(zhì)的含量可提供嚴格的質(zhì)量控制信息。 采用 ASTM D4492[1] 分析這些雜質(zhì)，包括高達 9 個碳原子的非芳烴、甲苯、C8 芳烴和 1,4- 二氧雜環(huán)乙烷。Agilent 7820A 氣相色譜儀提供GX而易于操作的平臺，用于分析苯和其 它芳烴溶劑。在這篇應(yīng)用中，Agilent 7820A 氣相色譜儀配置分流/不分流毛細管進樣口和 氫火焰離子化檢測器(FID)。Agilent EZChrom Elite Compact 軟件用于控制 7820A GC ，并 提供數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)分析功能。Agilent 7820A GC 支持自動液體進樣器 (ALS)，從進樣至 Z終報告實現(xiàn)完全無人操作。 [詳細]

  2024-09-14 22:35

  應(yīng)用文章

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• 采用 Agilent 8800 ICP-MS/MS 通過HPLC-ICP-MS 聯(lián)機進行蘋果汁中砷的形態(tài)分析

  食品中潛在有毒元素和化合物的存在日益受到公眾的密切關(guān)注，因此，食品生產(chǎn)者及管理部門就要求有快速、可靠的篩選方法來準確定量食品和飲料中這些污染物的含量。[詳細]

  2014-09-24 00:00

  產(chǎn)品樣冊

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• NexION300S ICP-MS測定半導體行業(yè)中使用有機溶劑的雜質(zhì)

  NexION300S ICP-MS測定半導體行業(yè)中使用有機溶劑的雜質(zhì)[詳細]

  2024-10-05 12:26

  實驗操作

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• GC/MS分析變性燃料乙醇中的雜質(zhì)

  GC/MS分析變性燃料乙醇中的雜質(zhì)[詳細]

  2024-09-28 11:10

  期刊論文

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• Co-Sense for Impurity系統(tǒng)對原料藥中雜質(zhì)的LC/MS/MS分析

  Co-Sense for Impurity系統(tǒng)對原料藥中雜質(zhì)的LC/MS/MS分析[詳細]

  2014-10-27 00:00

  其它

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• 使用 Agilent Captiva EMR-Lipid 與LC/MS/MS 和 GC/MS/MS 對牛奶中的多種農(nóng)藥殘留進行分析

  使用 Agilent Captiva EMR-Lipid 與LC/MS/MS 和 GC/MS/MS 對牛奶中的多種農(nóng)藥殘留進行分析[詳細]

  2024-09-22 18:46

  應(yīng)用文章

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• 使用 Agilent Captiva EMR-Lipid 和GC/MS/MS 對三文魚中的多殘留農(nóng)藥進行分析

  使用 Agilent Captiva EMR-Lipid 和GC/MS/MS 對三文魚中的多殘留農(nóng)藥進行分析[詳細]

  2024-09-29 15:23

  應(yīng)用文章

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• 電感耦合等離子體質(zhì)譜法測定磷酸鋇激光玻璃中超痕量銅

  電感耦合等離子體質(zhì)譜法測定磷酸鋇激光玻璃中超痕量銅[詳細]

  2016-01-12 00:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 使用Trap-Free二維HPLC和LC/MS/MS測定藥物中的雜質(zhì)

  使用Trap-Free二維HPLC和LC/MS/MS測定藥物中的雜質(zhì)[詳細]

  2024-09-30 07:44

  應(yīng)用文章

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• 使用配備自動化在線 SPE 的 LC/MS/MS 分析水中的痕量有機污染物

  使用配備自動化在線 SPE 的 LC/MS/MS 分析水中的痕量有機污染物[詳細]

  2016-07-22 00:00

  課件

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• 利用ICP-MS對半導體級鹽酸中的雜質(zhì)進行分析

  在半導體設(shè)備的生產(chǎn)過程中，許多流程中都要用到各種酸類試劑。其中Z重要的是鹽酸（HCl），其主要用途是與過氧化氫和水配制成混合物用來清潔硅晶片的表面。由于半導體設(shè)備尺寸不斷縮小，其生產(chǎn)中使用的試劑純度變得越來越重要，這是因為即使是少量雜質(zhì)也會導致設(shè)備的失效。國際SEMI標準規(guī)定的是金屬雜質(zhì)的Zda濃度（SEMI標準C27-07081用于鹽酸），而半導體設(shè)備的生產(chǎn)商對雜質(zhì)濃度的要求往往更加嚴格，這樣就給試劑供應(yīng)商帶來了更大的挑戰(zhàn)。其結(jié)果是，分析儀器也必須能夠?qū)Ω蜐舛鹊碾s質(zhì)成分極ng確檢測。電感耦合等離子體質(zhì)譜（ICP-MS）具備極ng確測定納克/升（ng/L，PPT）甚至更低濃度元素含量的能力，是Z適合測量痕量及超痕量金屬的技術(shù)。然而，常規(guī)的測定條件下，氬、氧、氫離子會與酸基體相結(jié)合，對待測元素產(chǎn)生多原子離子干擾。[詳細]

  2018-08-17 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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