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• GB/T 2423.50-2012環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cy 恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗

  GB/T2423.50-2012環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cy恒定濕熱主要用于元件的加速試驗標準簡介GB/T2423的本部分規(guī)定了一種以加速方式評價小型電工電子產(chǎn)品(主要是非氣密元件)耐濕熱劣化效應(yīng)的試驗方法。本試驗不適用于評價諸如腐蝕和變形等外部效應(yīng)。替代情況：替代GB/T2423.50-1999[詳細]

  2018-09-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 2423.50-2012 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cy 恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗.pdf

  GBT 2423.50-2012 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cy 恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗.pdf[詳細]

  2014-12-04 00:00

  實驗操作

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• GBT 試驗Cy 恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗

  GBT2423.50-2012環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cy恒定濕熱主要用于元件的加速試驗[詳細]

  2018-09-14 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 2423.50 試驗Cy 恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗

  GBT2423.50-2012環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cy恒定濕熱主要用于元件的加速試驗[詳細]

  2018-09-14 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 2423.50 試驗Cy 恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗

  GBT2423.50-2012環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cy恒定濕熱主要用于元件的加速試驗[詳細]

  2018-10-10 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 2423 試驗Cy 恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗

  GBT2423.50-2012環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cy恒定濕熱主要用于元件的加速試驗[詳細]

  2018-10-10 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T2423.50-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分；試驗方法 試驗Cy：恒定濕熱

  GB/T2423.50-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分；試驗方法試驗Cy：恒定濕熱主要用于元件的加速試驗本標準規(guī)定了一種以加速方式評價小型電工電子產(chǎn)品，主要是非氣密元件耐濕熱劣化效應(yīng)的試驗方法本試驗不適用于評價諸如腐蝕和變形等外部效應(yīng)免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱

  GB/T2423的本部分適用于確定電工電子產(chǎn)品、元件或設(shè)備在高濕度的條件下使用、貯存和運輸時的適應(yīng)性。本部分規(guī)定了試驗的嚴酷等級,如高溫度、高濕度和持續(xù)時間等。本部分適用于散熱和非散熱樣品。本部分適用于小型設(shè)備及元件,同時也適用于與試驗箱外的測試裝置有復(fù)雜聯(lián)接的大型設(shè)備,這種聯(lián)接需要一定的裝配時間。在安裝期間,可以不用預(yù)熱或維持特定的試驗條件。東莞市勤卓環(huán)境測試設(shè)備有限公司專業(yè)產(chǎn)銷各種類型的高低溫濕熱試驗箱，恒溫恒濕試驗箱，高低溫試驗箱，可靠性環(huán)境試驗箱，步入式環(huán)境試驗室等試驗設(shè)備。[詳細]

  2018-10-11 10:00

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• GB/T2423.50-1999 試驗Cy：恒定濕熱

  GB/T2423.50-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分；試驗方法試驗Cy：恒定濕熱主要用于元件的加速試驗本標準規(guī)定了一種以加速方式評價小型電工電子產(chǎn)品，主要是非氣密元件耐濕熱劣化效應(yīng)的試驗方法本試驗不適用于評價諸如腐蝕和變形等外部效應(yīng)免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱方法 下載

  GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cab:恒定濕熱方法下載免費下載地址：http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:02

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗Cb；設(shè)備用恒定濕熱

  GB/T2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cb；設(shè)備用恒定濕熱本標準實施之日起，同時代替GB/T2423.9-1989免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab；恒定溫?zé)嵩囼?/a>

  GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab；恒定溫?zé)嵩囼灤鍳B/T2423.3-1993，GB/T2423.9-2001本部分規(guī)定了試驗的嚴酷等級，如高溫度、高濕度和持續(xù)時間等。本部分適用于散熱和非散熱樣品免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• GB_T2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Cb設(shè)備用恒定濕熱

  GB_T2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Cb設(shè)備用恒定濕熱本試驗可由中科美其（北京）科技有限公司試驗設(shè)備有限公司提供的恒溫恒濕試驗箱、高低溫濕熱試驗箱、或高低溫交變濕熱試驗箱執(zhí)行。[詳細]

  2024-10-06 08:23

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗

  GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗/濕熱老化試驗/高低溫濕熱試驗/高溫高濕試驗-KOWIN科文恒溫恒濕試驗箱1.GB/T2423的本部分適用于確定電工電子產(chǎn)品、元件或設(shè)備在高濕度的條件下使用、貯存和運輸時的適應(yīng)性。本部分規(guī)定了試驗的嚴酷等級，如高溫度，高濕度和持續(xù)時間等。本部分適用于散熱和非散熱樣品。本部分適用于小型設(shè)備及元件，同時也適用于與恒溫恒濕試驗箱外的測試裝置有復(fù)雜聯(lián)接的大型設(shè)備，這種聯(lián)接需要一定的裝配時間。在安裝期間，可以不用預(yù)熱或維持特定的試驗條件。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的Zxin版本。凡是不注日期的引用文件，其Zxin版本適用于本部分。GB/T2421-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第1部分：總則（idtIEC60068-1:1988)GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫試驗（idtIEC60068-2-2:1974)3.概述：在本試驗中，將樣品置于同為試驗室溫度的濕熱老化試驗箱內(nèi)。試驗箱內(nèi)的條件應(yīng)符合第5章所規(guī)定的嚴酷等級，并持續(xù)到規(guī)定的時間。由于散熱樣品的影響，可能引起高低溫濕熱老化試驗箱內(nèi)的溫度和濕度條件與規(guī)定的試驗條件不同，則這兩個參數(shù)的測量應(yīng)按自由空氣條件的測量方法進行測量（參見GB/T2421-1999中的4.4及4.6.2).“GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗”標準詳細內(nèi)容請點擊上方“”免費獲取，無需注冊，即點即下載。[詳細]

  2018-10-11 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分_試驗方法_試驗Cab_恒定濕

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分_試驗方法_試驗Cab_恒定濕[詳細]

  2011-07-19 00:00

  安裝說明

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• GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化

  GB/T2423.22-2012環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化標準簡介GB/T2423的本部分規(guī)定的試驗用來確定元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品耐受環(huán)境溫度快速變化的能力。實現(xiàn)這一目的所需的各溫度下的暴露持續(xù)時間取決于試驗樣品的特性。替代情況：替代GB/T2423.22-2002;GB/T2424.13-2002[詳細]

  2018-09-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗A低溫標準簡介本部分規(guī)定的低溫試驗適用非散熱和散熱試驗樣品。本部分代替GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫》，與之相比，主要變化如下：刪除了試驗Aa：非散熱試驗樣品溫度突變的低溫試驗；刪除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E；增加了試驗Ae：散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗試驗樣品在整個試驗過程通電。[詳細]

  2018-09-13 10:00

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• GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

  GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫由中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局和ZG國家標準化管理委員會2008年12月30號發(fā)布，GB/T2423.1-2008等同于國際標準IEC60068-2-1:2007.代替了GB/T2423.1-2001標準。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。本低溫試驗的目的僅用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力，不能用來評價試驗樣品耐溫度變化能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22。GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗可使用武漢尚測試驗設(shè)備有限公司生產(chǎn)的低溫恒定濕熱試驗箱來模擬試驗的低溫環(huán)境。低溫恒定濕熱試驗箱用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。[詳細]

  2018-10-08 10:00

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• GB/T 2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗

  GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗_第2_部分試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗免費下載地址：http://www.bjlihui.com北京北方利輝試驗設(shè)備有限公司[詳細]

  2018-09-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB/T 2423.45-2012環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABDM：氣候順序

  GB/T2423.45-2012環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/ABDM：氣候順序標準簡介GB/T2423的本部分給出了確定試驗樣品在承受依次由溫度、濕熱和低氣壓(必要時)等環(huán)境應(yīng)力組成的環(huán)境條件時的環(huán)境適應(yīng)性的一種標準的組合試驗方法。施加應(yīng)力的次序與試驗步驟轉(zhuǎn)換時的環(huán)境條件已經(jīng)選定,以便加速并強化與自然氣候條件相同的劣化機理。注:自然界環(huán)境條件的分類分級見GB/T4797和GB/T4798。當劣化機理相同且滿足規(guī)定的試驗要求時,本部分也可作為編寫類似試驗方法的基礎(chǔ)。在本試驗中,試驗樣品按標準順序接受環(huán)境試驗,并按GB/T2421.12008附錄A規(guī)定的代號分類,只是第3組數(shù)字用于表示第5步:交變濕熱試驗Db的周期數(shù)(見GB/T2423.42008第5章)。在本部分中,-/-/56、40/-/-等氣候類型中的短劃線可用55/100/56、25/085/56、40/085/21等組合中適合于該位置的任何標準值代替,如需要改變,有關(guān)規(guī)范應(yīng)為所選試驗方法的每個步驟提供所需的資料(見第8章)。本試驗常被安排在與機械應(yīng)力有關(guān)的其他試驗如端子強度試驗、可焊性試驗和振動試驗之后進行,以作為確定試驗樣品的密封性是否損壞的方法。替代情況：替代GB/T2423.45-1997[詳細]

  2018-09-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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