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微區(qū)XRF(X射線分析顯微鏡)對金屬薄膜的快速厚度測量
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本文由 HORIBA(中國) 整理匯編
2010-03-23 00:00 1251閱讀次數(shù)
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微區(qū)XRF(X射線分析顯微鏡)對金屬薄膜的快速厚度測量
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- Stateoftheartmicro-XRFappliedtogeologicalsamplesMicro-XRFongeologicalsamplesM4TornadoLargesamples(H×W×D:200mm×160mm×120mm)Powerfulsamplestage(100mm/s,5kg)Pre-VacuumconditionsfordetectionofelementsdowntoNaPolycapillaryopticsforhighexcitationintensityandspotsize<25μmSDDsfordetection/processingofover100kcpsVariousmeasurementmodes(single-ormulti-point,linescans,areascans)Optional2ndX-raytubeOptional2nddetectorPositionTaggedSpectroscopy(HyperMap)Versatile"data-mining"softwareStandard-freequantificationScanoftheCetaceous/PaleogeneboundaryinRatonBasinUSThinsectionsmeasurements(64-bitOS)TraceelementsingarentThinsectionofagarentcontainingslateFullareamapshowssymmetricMncorewithinthecrystalsSelectedgarnetneasuredextensivelywithstrongprimaryfiltertoreducebackgroundandtoavoidBraggdiffractionpeaks370pixel×460pixel→170000pixelmapMeasurementtime:1s/pixelSteps:25μmSummaryUniquespeedandperfoimanceinthedeterminationoftheelementdistributioninlargesamplewithmeasurementtiomesperpixelof0.3msanduptp4MillionpixelsinasingleHyperMapHighspatialresolutiondownto25μmX-rayspotsize,motorsstepsof4μmOptimalfortheanalysisofinhomogeneoussamples,duetobetteridentificationoftherepresentativelocationofinterestNon-destructive,fastanalysisoflargesampleswithoutpreparation,includingsolid,poweroeliquidsamplesQualitativeandquantitativeanalysisofallelementsfromNaupwards,duetovacuumchamber,detectionlimitforheavytraceelementsinthelowppmrangeStandardlessFundamentalParameterquantificationwithtypecalibrationoptionPowerfulSoftwarewithmultipletoolsforoptimaldatamining[詳細]
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2018-08-15 10:57
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- 常規(guī)的X射線測厚儀比如德國菲希爾的FISCHERSCOPEX-RAYXULM,是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀,它結(jié)構(gòu)緊湊,小巧耐用。它們十分適用于無損測量細小零部件上的鍍層厚度和成分分析。為了使每次測量都能在Zyou的條件下進行,XULM配備了可電動調(diào)整的多種準直器及基本濾片。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率,這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer基本參數(shù)法,無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行準確分析和測量??蓽y量的元素范圍從氯(17)到鈾(92)。XULM型X射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性,這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。本款儀器特別適合用于客戶進行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:微小零部件、接插件和線材上鍍層厚度的測量印制線路板上手動測量珠寶手表業(yè)中的鍍層厚度測量及成分分析設(shè)計理念FISCHERSCOPEX-RAYXULM設(shè)計為界面友好、結(jié)構(gòu)緊湊的臺式測量儀器系列。根據(jù)使用用途,有以下兩種不同版本型號,分別對應(yīng)不同樣品平臺:XULM:固定平面平臺XULMXYm:手動X/Y平臺高分辨的彩色攝像頭配以強大的放大功能,可以極ng確定位測量位置。盡管儀器本身結(jié)構(gòu)緊湊,但是由于XULM光譜儀配備了寬敞的測量室,從而可以測量更大體積的樣品。外罩底部留下了空隙,可方便地測量超出測量室大小的大尺寸扁平樣品,如大面積的印制線路板等。通過強大且界面友好的WinFTM軟件,可以在電腦上便捷地完成整個測量過程,包括測量結(jié)果的數(shù)據(jù)分析和所有相關(guān)信息的顯示等。XULM型光譜儀是型式許可符合德國”DeutscheRntgenverordnung-RV“法令要求的,有完善防護措施的測量儀器。[詳細]
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2018-09-26 10:00
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