本文由 蘇州圣光儀器有限公司 整理匯編

2018-09-26 10:00 1932閱讀次數(shù)

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• 金屬覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜國(guó)標(biāo)

  常規(guī)的X射線測(cè)厚儀比如德國(guó)菲希爾的FISCHERSCOPEX-RAYXULM，是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，它結(jié)構(gòu)緊湊，小巧耐用。它們十分適用于無(wú)損測(cè)量細(xì)小零部件上的鍍層厚度和成分分析。為了使每次測(cè)量都能在Zyou的條件下進(jìn)行，XULM配備了可電動(dòng)調(diào)整的多種準(zhǔn)直器及基本濾片。比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量。由于采用了Fischer基本參數(shù)法，無(wú)論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行準(zhǔn)確分析和測(cè)量?？蓽y(cè)量的元素范圍從氯（17）到鈾（92）。XULM型X射線光譜儀有著良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。本款儀器特別適合用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：微小零部件、接插件和線材上鍍層厚度的測(cè)量印制線路板上手動(dòng)測(cè)量珠寶手表業(yè)中的鍍層厚度測(cè)量及成分分析設(shè)計(jì)理念FISCHERSCOPEX-RAYXULM設(shè)計(jì)為界面友好、結(jié)構(gòu)緊湊的臺(tái)式測(cè)量?jī)x器系列。根據(jù)使用用途，有以下兩種不同版本型號(hào)，分別對(duì)應(yīng)不同樣品平臺(tái)：XULM：固定平面平臺(tái)XULMXYm：手動(dòng)X/Y平臺(tái)高分辨的彩色攝像頭配以強(qiáng)大的放大功能，可以極ng確定位測(cè)量位置。盡管儀器本身結(jié)構(gòu)緊湊，但是由于XULM光譜儀配備了寬敞的測(cè)量室，從而可以測(cè)量更大體積的樣品。外罩底部留下了空隙，可方便地測(cè)量超出測(cè)量室大小的大尺寸扁平樣品，如大面積的印制線路板等。通過(guò)強(qiáng)大且界面友好的WinFTM軟件，可以在電腦上便捷地完成整個(gè)測(cè)量過(guò)程，包括測(cè)量結(jié)果的數(shù)據(jù)分析和所有相關(guān)信息的顯示等。XULM型光譜儀是型式許可符合德國(guó)”DeutscheRntgenverordnung-RV“法令要求的，有完善防護(hù)措施的測(cè)量?jī)x器。[詳細(xì)]

  2018-09-26 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 陽(yáng)極溶解庫(kù)侖法

  金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 陽(yáng)極溶解庫(kù)侖法[詳細(xì)]

  2010-12-30 00:00

  實(shí)驗(yàn)操作

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• GB/T 4957-2003 非磁性基體金屬上非導(dǎo)電覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 渦流法

  本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用渦流測(cè)厚儀無(wú)損測(cè)量非磁性基體金屬上非導(dǎo)電覆蓋層厚度的方法。 本方法適用于測(cè)量大多數(shù)陽(yáng)極氧化膜的厚度；但它不適用于一切的轉(zhuǎn)化膜，有些轉(zhuǎn)化膜因?yàn)樘《荒苡眠@種方法測(cè)量。 本方法理論上能測(cè)量磁性基體金屬上覆蓋層的厚度，但不予推薦。在這種情況下，應(yīng)采用 GB/T 4956 中所規(guī)定的磁性方法進(jìn)行測(cè)量。[詳細(xì)]

  2024-09-19 22:19

  標(biāo)準(zhǔn)

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• GB/T 4956-2003 磁性基體上非磁性覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 磁性法

  本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用磁性測(cè)厚儀無(wú)損測(cè)量磁性基體金屬上非磁性覆蓋層（包括釉瓷和搪瓷層）厚度的方法。 本方法僅適用于在適當(dāng)平整的試樣上的測(cè)量。非磁性基體上的鎳覆蓋層厚度測(cè)量?jī)?yōu)先采用 GB/T 13744 規(guī)定的方法。[詳細(xì)]

  2018-10-26 10:40

  標(biāo)準(zhǔn)

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• GB/T 4956-2003 磁性基體上非磁性覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 磁性法

  本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用磁性測(cè)厚儀無(wú)損測(cè)量磁性基體金屬上非磁性覆蓋層（包括釉瓷和搪瓷層）厚度的方法。 本方法僅適用于在適當(dāng)平整的試樣上的測(cè)量。非磁性基體上的鎳覆蓋層厚度測(cè)量?jī)?yōu)先采用 GB/T 13744 規(guī)定的方法。[詳細(xì)]

  2018-11-05 17:03

  標(biāo)準(zhǔn)

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• 微區(qū)XRF（X射線分析顯微鏡）對(duì)金屬薄膜的快速厚度測(cè)量

  微區(qū)XRF（X射線分析顯微鏡）對(duì)金屬薄膜的快速厚度測(cè)量[詳細(xì)]

  2010-03-23 00:00

  實(shí)驗(yàn)操作

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• GB-6458-86金屬覆蓋層 中性鹽霧實(shí)驗(yàn)（NSS試驗(yàn)）

  GB-6458-86金屬覆蓋層中性鹽霧實(shí)驗(yàn)（NSS試驗(yàn)）[詳細(xì)]

  2018-12-17 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 金屬覆蓋層中性鹽霧實(shí)驗(yàn)（NSS試驗(yàn)）方法

  GB-6458-86金屬覆蓋層中性鹽霧實(shí)驗(yàn)（NSS試驗(yàn)）法適用于評(píng)定金屬覆蓋層的抗鹽霧腐蝕能力，也可用于同一覆蓋層的工藝質(zhì)量比較。由于影響覆蓋層腐蝕的因素有很多，單一的抗鹽霧性能不能代替抗其他介質(zhì)的性能。所以本標(biāo)準(zhǔn)獲得的試驗(yàn)結(jié)果，不能作為被覆蓋層的所有使用環(huán)境中抗腐蝕性能的依據(jù)，也不能作為不同覆層在使用中抗腐蝕性能的對(duì)比依據(jù)。本標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于試樣的類型、試驗(yàn)周期和試驗(yàn)結(jié)果的解釋均不作規(guī)定，這些內(nèi)容應(yīng)有覆蓋層或產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)來(lái)提供。[詳細(xì)]

  2024-10-01 04:05

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• JBT 6073-1992 金屬覆蓋層 實(shí)驗(yàn)室全浸腐蝕試驗(yàn)

  JBT 6073-1992 金屬覆蓋層 實(shí)驗(yàn)室全浸腐蝕試驗(yàn)[詳細(xì)]

  2014-05-27 00:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T6458-1986 金屬覆蓋層 中性鹽霧試驗(yàn)（NSS試驗(yàn)）

  GB/T6458-1986金屬覆蓋層中性鹽霧試驗(yàn)(NSS試驗(yàn))備注：詳細(xì)資料請(qǐng)下載瀏覽附件[詳細(xì)]

  2018-08-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GBT 9798-2005 金屬覆蓋層鎳電沉積層

  YWX-150小型鹽霧試驗(yàn)箱產(chǎn)品用途：鹽水噴霧試驗(yàn)機(jī)乃針對(duì)各種材質(zhì)之表面處理，包含涂料、電度、無(wú)機(jī)及有機(jī)皮膜、陽(yáng)極處理、防銹油等防蝕處理后，測(cè)試其制品之耐腐蝕性。型號(hào):YWX/Q-150內(nèi)型尺寸D×W×H450×600×400:（mm）型號(hào):YWX/Q-250內(nèi)型尺寸D×W×H600×900×500:（mm）型號(hào):YWX/Q-750內(nèi)型尺寸D×W×H750×1100×500:（mm）型號(hào):YWX/Q-010內(nèi)型尺寸D×W×H850×1300×600:（mm）型號(hào):YWX/Q-020內(nèi)型尺寸D×W×H900×2000×600:（mm）技術(shù)參數(shù)：溫度范圍：RT+10℃~55℃濕度范圍：≥93%R.H溫度均勻度：±2℃溫度波動(dòng)度：±0.5℃霧沉降量：1～2ml/80c噴霧方式：連續(xù)/周期任選試驗(yàn)方法：中性鹽霧試驗(yàn)（NSS試驗(yàn)）、醋酸鹽霧試驗(yàn)（ASS試驗(yàn)）、鹽霧試驗(yàn)（SS試驗(yàn)）銅加速醋酸鹽霧試驗(yàn)（CASS試驗(yàn)）等鹽霧試驗(yàn)方法；試樣架：試樣架可滿足15℃~３０℃傾斜試驗(yàn)（兩層）；空氣壓縮機(jī)型號(hào)：V-0.013/12.5（客戶自配）排氣壓力：1.25M容積流量：0.13m3/min箱體制作材料：鹽水噴霧試驗(yàn)機(jī)整體為進(jìn)口PVC增強(qiáng)硬質(zhì)塑料板，表面光潔平整，并耐老化、耐腐蝕；摒棄玻璃鋼材質(zhì)因時(shí)間而產(chǎn)生表面退色.全塑結(jié)構(gòu)鹽霧試驗(yàn)箱更能滿足長(zhǎng)期強(qiáng)酸、強(qiáng)鹽霧試驗(yàn)而不產(chǎn)生任何損傷。鹽水噴霧試驗(yàn)機(jī)箱蓋為全透明進(jìn)口耐沖擊板材制造,便于試驗(yàn)時(shí)觀測(cè)試驗(yàn)樣品受試狀況.箱蓋與箱體采用水密封，從而防止鹽霧外泄；加熱系統(tǒng)：鹽水噴霧試驗(yàn)機(jī)箱體內(nèi)試驗(yàn)溫度為水套式加熱加濕，加熱器件采用國(guó)外先進(jìn)的鈦合金護(hù)管，內(nèi)置鎳鉻合金遠(yuǎn)紅外發(fā)熱芯體。升溫快，溫度分布均勻；且比起玻璃鋼箱體夾套式加熱功耗節(jié)省約二分之一。執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：本產(chǎn)品滿足GB2423.17《電工電子產(chǎn)品基本規(guī)程試驗(yàn)Ka》，鹽霧試驗(yàn)方法及GB10587、GJB150、DIN50021持續(xù)鹽霧等及國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)；免費(fèi)送貨上門(mén)，并安裝調(diào)試操作介紹（直到需方員工獨(dú)立操作并滿意為止）經(jīng)營(yíng)產(chǎn)品:鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱/高低溫試驗(yàn)箱/高低溫濕熱試驗(yàn)箱/紫外老化試驗(yàn)箱/氙燈老化試驗(yàn)箱/振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)/高溫箱/燥箱/精密干燥箱/二氧化硫試驗(yàn)箱/高低溫沖擊試驗(yàn)箱/恒溫恒濕試驗(yàn)箱/高溫?fù)Q氣老化試驗(yàn)箱/沙塵（防塵）試驗(yàn)箱/箱式淋雨試驗(yàn)箱/擺管淋雨試驗(yàn)箱/滴水試驗(yàn)機(jī)/臭氧老化試驗(yàn)箱/霉菌培養(yǎng)試驗(yàn)箱/防銹油脂試驗(yàn)箱/鹽霧試驗(yàn)室/步入式高低溫試驗(yàn)室武漢中科萬(wàn)通儀器有限公司TEL:027-85827958（總機(jī)）FAX:027-85827978H.P:18971243067http://www.zkwtyq.com公司地址：武漢市江漢區(qū)友誼路101號(hào)[詳細(xì)]

  2018-10-20 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• X射線成像儀

  產(chǎn)品資料[詳細(xì)]

  2022-06-17 10:29

  標(biāo)準(zhǔn)

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• X射線探測(cè)

  X射線探測(cè)[詳細(xì)]

  2024-09-13 17:06

  選購(gòu)指南

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• 微區(qū)XRF（X射線分析顯微鏡）分析金屬磨損物

  微區(qū)XRF（X射線分析顯微鏡）分析金屬磨損物[詳細(xì)]

  2024-09-29 05:53

  專利

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• GB/T 6458-1986 金屬覆蓋層中性鹽霧試驗(yàn)（NSS試驗(yàn)）

  GB/T6458-1986金屬覆蓋層中性鹽霧試驗(yàn)（NSS試驗(yàn)）規(guī)定了中性鹽霧試驗(yàn)所使用的設(shè)備、試劑和方法。GB/T6458-1986用于評(píng)定金屬覆蓋層的抗鹽霧腐蝕能力，也可用于同一覆蓋層的工藝質(zhì)量比較。鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱可以檢測(cè)材料的耐鹽霧腐蝕性能，可做中性鹽霧試驗(yàn)。[詳細(xì)]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 高分辨率X射線成像系統(tǒng) 高分辨率X射線成像系統(tǒng)產(chǎn)品樣冊(cè)

  該高分辨率X射線成像系統(tǒng)是為X射線光束對(duì)準(zhǔn)應(yīng)用而設(shè)計(jì)的。它采用了獨(dú)特的機(jī)械結(jié)構(gòu)，可結(jié)合各種相機(jī)實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)X射線光束對(duì)準(zhǔn)。?鈹輸入窗實(shí)現(xiàn)了寬范圍的X射線能量；并配以L形石英光學(xué)系統(tǒng)，可提供高X射線輻射耐受性。 [詳細(xì)]

  2024-10-02 13:18

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 鍍膜厚度測(cè)量

  無(wú)損檢測(cè)，樣品可以不被破壞；Z多可測(cè)量五層，采用JEOLZxinFP法軟件，無(wú)需標(biāo)樣皆可進(jìn)行測(cè)量，是檢測(cè)和操作都變得非常方便。[詳細(xì)]

  2024-09-19 15:04

  應(yīng)用文章

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• X射線一致性檢測(cè)工具

  X射線一致性檢測(cè)工具[詳細(xì)]

  2018-10-26 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 軟X射線探測(cè)器

  軟X射線探測(cè)器[詳細(xì)]

  2023-02-16 14:34

  應(yīng)用文章

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• X射線衍射儀

  X射線衍射儀[詳細(xì)]

  2024-09-18 18:06

  期刊論文

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