本文由 捷歐路（北京）科貿(mào)有限公司 整理匯編

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  2020-06-30 14:34

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  水是生命之源，人不吃飯可以活 4-6 周，但是不喝水，卻Z多只能活 7 天。人類對“水”的依賴與重視，是亙古不變的話題。但是隨著近現(xiàn)代工業(yè)的發(fā)展，水污染也越來越嚴(yán)重，從萊茵河污染事件到北美死湖事件，可謂觸目驚心。據(jù)世界衛(wèi)生組織(WHO)調(diào)查表明，全世 界約 80%的疾病和 50%的兒童死亡都與飲用水水質(zhì)不良有關(guān)！ 我國各地的水質(zhì)狀況也不容樂觀，東北、華中地區(qū)水質(zhì)硬度較高，西北西南多苦咸水，華東華南部分地區(qū)存在酸雨。即便是飲用的自來水，也存在諸多隱患。 [詳細(xì)]

  2024-09-28 22:59

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  2015-05-25 00:00

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  2013-02-05 00:00

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  取向是晶體材料的重要基本參數(shù)，拉曼光譜雖然不能像 EBSD 一樣直接進(jìn)行晶面指數(shù) 的分析，但是對于很多無機(jī)材料來說，取向不同其拉曼特征峰也會產(chǎn)生積分強(qiáng)度不同或者 峰位有所偏移的情況[詳細(xì)]

  2024-09-10 22:20

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  2024-09-28 04:20

  實(shí)驗(yàn)操作

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• 掃描電鏡下樣品降解效應(yīng)：產(chǎn)生原因及解決辦法

  當(dāng)使用掃描電子顯微鏡（SEM）時，隨著觀察時間增加，電子束可以改變甚至降解在被觀察樣品。我們并不喜歡這種降解過程，因?yàn)樗鼤淖兓蛏踔疗茐挠^察細(xì)節(jié)，從而影響實(shí)驗(yàn)結(jié)果。本文會講述降解效應(yīng)的產(chǎn)生原因以及解決辦法。在掃描電鏡SEM中是使用聚焦電子束掃描樣品表面，獲取信號并處理來獲得圖像。電子由燈絲產(chǎn)生并被高壓電場加速。高壓一般在1kV至30kV之間，典型的束流一般在納安范圍。經(jīng)過高壓加速的電子與樣品表面相互作用，對于不導(dǎo)電樣品，這種相互作用可能損害樣品和降解樣品。該過程表現(xiàn)為樣品表面產(chǎn)生的裂紋，或者是材料熔化甚至沸騰。降解速度隨加速電壓，觀察束流和放大倍數(shù)的變化而變化。圖1：不同種類非導(dǎo)電材料的降解現(xiàn)象對于那些看起來像是熔化或沸騰了的樣品，你可能會認(rèn)為是由于材料被電子束加熱導(dǎo)致的。然而實(shí)際模擬結(jié)果表明，只有對于極端案例，溫度才會達(dá)到材料的熔點(diǎn)。在這些極端案例中，是用極大束流、極高倍數(shù)聚焦極低熱導(dǎo)系數(shù)的樣品。不過，在低束流和低放大倍數(shù)下也可以發(fā)生降解效應(yīng)，只是需要的時間更久些。是什么原因?qū)е陆到庑?yīng)？入射電子照射到樣品上之后，與樣品原子中的電子發(fā)生相互作用。如果價(jià)電子碰巧被激發(fā)，它將留下一個空穴。該電子空穴必須在100飛秒內(nèi)（即原子振動周期）被另一個電子填充，否則化學(xué)鍵將斷裂。在導(dǎo)電材料中，這不是問題，因?yàn)殡娮涌昭ㄌ畛湓?飛秒（fs）內(nèi)。但是對于非導(dǎo)電材料，可能需要多達(dá)幾微秒來填充電子空穴，導(dǎo)致化學(xué)鍵被破壞，進(jìn)而改變化學(xué)材料及其形態(tài)。如何減緩降解效應(yīng)?降解速度因材料不同而有很大差異，有些樣品你可能根本看不到。如果樣品降解并且會干擾您的結(jié)果，那么這里有一些提示可以減緩降解：用噴金設(shè)備濺射金膜涂覆樣品以減緩降解。金膜越厚，效果越好。但要小心，不要用金膜遮蓋細(xì)節(jié)。降低電流和加速電壓。在樣品的非重要區(qū)域調(diào)整拍照參數(shù)（例如對焦和對比度）。當(dāng)設(shè)置好之后，移動到目標(biāo)區(qū)域，立即拍照并迅速離開，這樣就盡可能減少了電子束照射時間。[詳細(xì)]

  2018-08-22 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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  磁性樣品的掃描電鏡觀察與分析[詳細(xì)]

  2024-09-27 23:46

  其它

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  掃描電鏡使用技巧Get，有機(jī)顆粒樣品分析有妙招飛納臺式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)（PhenomParticleMetric），簡稱顆粒系統(tǒng)，由荷蘭Phenom-World公司發(fā)布于2013年11月。顆粒系統(tǒng)通過顆粒與背景襯度的差異對顆粒進(jìn)行圖像識別，在獲取SEM圖像的同時可以獲取所有顆粒的形貌數(shù)據(jù)，例如直徑、等效面積、等效體積、圓度等。并且可以將這些數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)。顆粒探測范圍：100nm-0.1mm，顆粒探測速度高達(dá)1000顆/分。圖1.PhenomParticleMetric配置圖在實(shí)際操作過程中，顆粒與背景元素差異大的顆粒可以很好的識別，但由于圖像識別技術(shù)局限性，如顆粒與背景元素差異較小，例如有機(jī)顆粒，則軟件難以進(jìn)行有效識別，在這種情況下，我們可以采用噴金的辦法人為創(chuàng)造出黑色顆粒邊界，從而增加軟件識別的準(zhǔn)確性。粘在導(dǎo)電膠表面的顆粒與導(dǎo)電膠之間形成空隙區(qū)，如圖2右上所示，在噴金過程中，此孔隙區(qū)無法被金覆蓋。噴金完成之后，結(jié)構(gòu)示意圖如圖3所示。此時在SEM視圖下，可以清晰看到顆粒邊緣的黑色邊界，圖4為顆粒在噴金后陰影邊界與顆粒識別案例。識別結(jié)果證明適當(dāng)噴金有利于提升顆粒系統(tǒng)識別的準(zhǔn)確性。而噴金多少呢？我們通過實(shí)踐總結(jié)規(guī)律得出，噴金厚度為顆粒尺寸5~10%范圍內(nèi)，可以有效增強(qiáng)顆粒系統(tǒng)識別的準(zhǔn)確性。圖2.顆粒樣品噴金過程示意圖圖3.顆粒樣品噴金結(jié)果示意圖圖4.噴金后陰影邊界與顆粒識別案例在拍照過程中，應(yīng)注意調(diào)節(jié)圖像的亮度/對比度，如亮度對比度都較低，則容易造成軟件識別率下降，如圖5所示。因此，[詳細(xì)]

  2018-08-22 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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