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資料庫
有序多孔膜的掃描電子顯微鏡觀察
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本文由 北京歐波同光學技術(shù)有限公司 整理匯編
2015-08-19 00:00 796閱讀次數(shù)
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有序多孔膜的掃描電子顯微鏡觀察
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有序多孔膜的掃描電子顯微鏡觀察- 有序多孔膜的掃描電子顯微鏡觀察[詳細]
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2015-08-19 00:00
操作手冊
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- 聚合物有序多孔薄膜的熒光顯微鏡和掃描電子顯微鏡的鑒定
- 聚合物有序多孔薄膜的熒光顯微鏡和掃描電子顯微鏡的鑒定[詳細]
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2015-08-19 00:00
安裝說明
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掃描電子顯微鏡的應用- 掃描電子顯微鏡的應用[詳細]
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2010-07-20 00:00
操作手冊
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- 掃描電子顯微鏡的主要性能
- 掃描電子顯微鏡是高性能、功能強大的高分辨應用型掃描電子顯微鏡。掃描電子顯微鏡用于材料領(lǐng)域,用于生命科學領(lǐng)域。掃描電子顯微鏡采用多接口的大樣品室和藝術(shù)級的物鏡設(shè)計，提供高低真空成像功能，可對各種材料表面作分析，并且具有業(yè)界領(lǐng)先的X射線分析技術(shù)。革命性的的設(shè)計，確保在低電壓條件下提供高分辨率的銳利圖像，同時還可以進行準確的能譜分析。樣品臺為五軸全自動控制。標準的GX率無油渦輪分子泵能夠滿足快速的樣品更換和無污染(免維護)成像分析。
掃描電子顯微鏡廣泛地應用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學、化工、石油、地質(zhì)礦物學、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗和研究。在材料科學研究、金屬材料、陶瓷材料、半導體材料、化學材料等領(lǐng)域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實時微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，掃描電子顯微鏡快速的多元素面掃描和線掃描分布測量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量。[詳細]
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2019-01-02 15:49
課件
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- 臺式掃描電子顯微鏡
- 臺式掃描電子顯微鏡[詳細]
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2012-07-27 00:00
課件
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- 蔡司 EVO掃描電子顯微鏡
- 蔡司 EVO掃描電子顯微鏡[詳細]
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2025-07-23 14:50
產(chǎn)品樣冊
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- 掃描電子顯微鏡的工作原理講解
- 工作原理：
掃描電子顯微鏡由電子槍發(fā)射出電子束(直徑約50um)，在加速電壓的作用下經(jīng)過磁透鏡系統(tǒng)匯聚，形成直徑為5 nm的電子束，聚焦在樣品表面上，在第二聚光鏡和物鏡之間偏轉(zhuǎn)線圈的作用下，電子束在樣品上做光柵狀掃描，電子和樣品相互作用產(chǎn)生信號電子。這些信號電子經(jīng)探測器收集并轉(zhuǎn)換為光子，再經(jīng)過電信號放大器加以放大處理，成像在顯示系統(tǒng)上。
試樣可為塊狀或粉末顆粒，成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。其中二次電子是主要的成像信號。由電子槍發(fā)射的能量為5～35keV的電子，以其交叉斑作為電子源，經(jīng)二級聚光鏡及物鏡的縮小形成具有一定能量、一定束流強度和束斑直徑的微細電子束，在掃描線圈驅(qū)動下，于試樣表面按一定時間、空間順序做柵網(wǎng)式掃描。聚焦電子束與試樣相互作用，產(chǎn)生二次電子發(fā)射(以及其他物理信號)，二次電子發(fā)射量隨試樣表面形貌而變化。二次電子信號被探測器收集轉(zhuǎn)換成電信號，經(jīng)視頻放大后輸入到顯像管柵極，調(diào)制與入射電子束同步掃描的顯像管亮度，掃描電子顯微鏡得到反應試樣表面形貌的二次電子像。[詳細]
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2019-02-22 09:08
課件
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- 日立掃描電子顯微鏡的現(xiàn)狀分析
- 日立掃描電子顯微鏡是一臺場發(fā)射掃描電子顯微鏡，采用冷陰極場發(fā)射槍、高真空和精密的數(shù)字技術(shù)，可進行顯微結(jié)構(gòu)的高分辨率、高質(zhì)量成像。本系統(tǒng)裝配錐形場發(fā)射槍和物鏡，可以在任何掃描速度下進行高分辨率的成像以及高質(zhì)量的實時圖像顯示，使您即使在明亮的房間里也可觀察和記錄清晰的圖像，可以處理直徑Zda為8英寸的樣品。
日立掃描電子顯微鏡是智能計算機掃描電子顯微鏡，保證了與未來計算機技術(shù)的兼容性。它的圖形用戶界面可以控制條件設(shè)置、樣品臺馬達驅(qū)動、成像和數(shù)據(jù)存檔，確保操作穩(wěn)定可靠。系統(tǒng)的主計算機采用了高級網(wǎng)絡技術(shù)的Window? 2000，方便于從成像到數(shù)據(jù)處理的整個過程，使操作人員可以顯示實時圖像、通過網(wǎng)絡將數(shù)據(jù)保存到外接電腦、檢索和管理數(shù)據(jù)。[詳細]
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2019-04-09 09:08
課件
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- 環(huán)境掃描電子顯微鏡的成像特點
- 環(huán)境掃描電子顯微鏡的成像特點[詳細]
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2024-09-20 13:31
標準
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- 掃描電子顯微鏡圖像系統(tǒng)改造方法
- 掃描電子顯微鏡圖像系統(tǒng)改造方法[詳細]
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2009-07-19 00:00
選購指南
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- 臺式掃描電子顯微鏡產(chǎn)品樣冊
- 臺式掃描電子顯微鏡產(chǎn)品樣冊[詳細]
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2016-10-19 17:10
操作手冊
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- FEI Quanta 系列掃描電子顯微鏡
- FEI Quanta 系列掃描電子顯微鏡[詳細]
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2025-08-04 10:22
產(chǎn)品樣冊
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- 日立 SU3500 掃描電子顯微鏡SEM
- 日立 SU3500 掃描電子顯微鏡SEM[詳細]
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2025-07-31 16:40
產(chǎn)品樣冊
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- 掃描電子顯微鏡的功能及用途說明
- 掃描電子顯微鏡主要由七大系統(tǒng)組成，即電子光學系統(tǒng)、信號探測處理和顯示系統(tǒng)、圖像記錄系統(tǒng)、樣品室、真空系統(tǒng)、冷卻循環(huán)水系統(tǒng)、電源供給系統(tǒng)。制樣簡單、放大倍數(shù)可調(diào)范圍寬、圖像的分辨率高、景深大、保真度高、有真實的三維效應等，對于導電材料，可直接放入樣品室進行分析，對于導電性差或絕緣的樣品則需要噴鍍導電層。
具體功能用途歸納如下：
1、掃描電鏡追求固體物質(zhì)高分辨的形貌，形態(tài)圖像-形貌分析(表面幾何形態(tài)，形狀，尺寸)；
2、顯示化學成分的空間變化，基于化學成分的相鑒定-化學成分像分布，微區(qū)化學成分分析；
3、利用背散射電子衍射信號對樣品物質(zhì)進行晶體結(jié)構(gòu)(原子在晶體中的排列方式)，晶體取向分布分析，基于晶體結(jié)構(gòu)的相鑒定。
4、掃描電子顯微鏡在半導體器件研究中的特殊應用：
1)利用電子束感生電流進行成像，可以用來進行集成電路中的定位和損傷研究。
2)利用樣品電流成像，結(jié)果可顯示電路中金屬層的開、短路，因此電阻襯度像經(jīng)常用來檢查金屬布線層、多晶連線層、金屬到硅的測試圖形和薄膜電阻的導電形式。
3)利用二次電子電位反差像，反映了樣品表面的電位，從它上面可以看出樣品表面[詳細]
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2020-04-26 09:46
標準
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- 微化石研究之電子顯微鏡觀察的應用例
- 微化石研究之電子顯微鏡觀察的應用例[詳細]
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2024-09-28 14:06
應用文章
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- FEI Q45掃描電子顯微鏡產(chǎn)品樣冊
- FEI Q45掃描電子顯微鏡產(chǎn)品樣冊[詳細]
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2016-10-18 14:39
實驗操作
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- KYKY-EM6900系列掃描電子顯微鏡產(chǎn)品樣冊
- KYKY-EM6900系列掃描電子顯微鏡產(chǎn)品樣冊[詳細]
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2016-10-19 17:54
選購指南
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- 日立高新掃描電子顯微鏡SU1510樣本
- 日立高新掃描電子顯微鏡SU1510樣本[詳細]
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2014-09-03 00:00
應用文章
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- 日立高新掃描電子顯微鏡S-3700N樣本
- 日立高新掃描電子顯微鏡S-3700N樣本[詳細]
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2014-09-03 00:00
課件
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