減反射膜是以光的波動性和干涉現(xiàn)象為基礎的。二個振幅相同，波長相同的光波

疊加，那么光波的振幅增強；如果二個光波原由相同，波程相差，如果這二個光

波疊加，那么互相抵消了。減反射膜就是利用了這個原理，在鏡片的表面鍍上減

反射膜，使得膜層前后表面產(chǎn)生的反射光互相干擾，從而抵消了反射光，達到減

反射的效果。

1）振幅條件

膜層材料的折射率必須等于鏡片片基材料折射率的平方根。

2）位相條件

膜層厚度應為基準光的 1/4 波長。d=λ/4  λ=555nm 時，d=555/4=139nm

對 于 減 反 射 膜 層 ， 許 多 眼 鏡 片 生 產(chǎn) 商 采 用 人 眼 敏 感 度 較 高 的 光 波 （ 波 長 為

555nm)。當鍍膜的厚度過薄（〈139nm),反射光會顯出淺棕黃色，如果呈藍色則表

示鍍膜的厚度過厚（  〉139nm）。

鍍膜反射膜層的目的是要減少光線的反射，但并不可能做到?jīng)]有反射光線。鏡片

的表面也總會有殘留的顏色，但殘留顏色哪種是Z好的，其實并沒有標準，目前

主要是以個人對顏色的喜好為主，較多為綠色的色系。 我們也會發(fā)現(xiàn)殘留顏色在鏡片凸面與凹面的曲率不同也使鍍膜的速度不同，因此 在鏡片ZY部分呈綠色，而在邊緣部分則為淡紫紅色或其它顏色。

鍍減反射膜技術

有機鏡片鍍膜的難度要比玻璃鏡片高。玻璃材料能夠承受 300  °C 以上的高溫，

而有機鏡片在超過 100  °C 時便會發(fā)黃，隨后很快分解。

可以用于玻璃鏡片的減反射膜材料通常采用氟化鎂（MgF2），但由于氟化鎂的鍍

膜工藝必須在高于 200°C 的環(huán)境下進行，否則不能附著于鏡片的表面，所以有

機鏡片并不采用它。

20 世紀 90 年代以后，隨著真空鍍膜技術的發(fā)展，利用離子束轟擊技術，使得膜

層與鏡片的結合，膜層間的結合得到了改良。而且提煉出的象氧化鈦，氧化鋯等

高純度金屬氧化物材料可以通過蒸發(fā)工藝鍍于樹脂鏡片的表面，達到良好的減反

射效果。

以下對有機鏡片的減反射膜鍍膜技術作一介紹。

1）鍍膜前的準備

鏡片在接受鍍膜前必須進行預清洗，這種清洗要求很高，達到分子級。在清洗槽

中分別放置各種清洗液，并采用超聲波加強清洗效果，當鏡片清洗完后，放進真

空艙內，在此過程中要特別注意避免空氣中的灰塵和垃圾再黏附在鏡片表面。Z

后的清洗是在真空艙內，在此過程中要特別注意避免空氣中的灰塵和垃圾再黏附

在鏡片表面。Z后的清洗是在真空艙內鍍前進行的，放置在真空艙內的離子槍將

轟擊鏡片的表面（例如用氬離子），完成此道清洗工序后即進行減反射膜的鍍膜。

2）真空鍍膜

真空蒸發(fā)工藝能夠保證將純質的鍍膜材料鍍于鏡片的表面，同時在蒸發(fā)過程中，

對鍍膜材料的化學成分能嚴密控制。真空蒸發(fā)工藝能夠對于膜層的厚度精確控

制，精度達到。

3）膜層牢固性

對眼鏡片而言，膜層的牢固性是至關重要的，是鏡片重要的質量指標。鏡片的質

量指標包括鏡片抗磨損、抗文化館、抗溫差等。因此現(xiàn)在有了許多針對性的物理

化學測試方法，在模擬戴鏡者的使用條件下，對鍍膜鏡片進行膜層牢度質量的測

試。這些測試方法包括：鹽水試驗、蒸汽試驗、去離子水試驗、鋼絲絨磨擦試驗、

溶解試驗、黏著試驗、溫差試驗和潮濕度試驗等等。

經(jīng)常有用戶和瑞研的銷售反饋，自己買的產(chǎn)品為什么一擦拭表面就會出現(xiàn)細細的劃痕，而且比較容易有灰塵的吸附，下面給各位講述一下對耐污/防油/防水/耐劃傷膜混合膜層，瑞研光學如何一次性解決的：

原理

鏡片表面鍍有多層減反射膜后，鏡片特別容易產(chǎn)生污漬，而污漬會破壞減反射膜

的減反射效果。在顯微鏡下，我們可以發(fā)現(xiàn)減反射膜層呈孔狀結構，所以油污特

別容易浸潤至減反射膜層。解決的方法是在減反射膜層上再鍍一層具有抗油污和

抗水性能的頂膜，而且這層膜必須非常薄，以使其不會改變減反射膜的光學性能。

工藝

抗污膜的材料以氟化物為主，有二種加工方法，一種是浸泡法，一種是真空鍍膜，

而Z常見的方法是真空鍍膜。而Z常用的方法是真空鍍膜。當減反射膜層完成后，

可使用蒸發(fā)工藝將氟化物鍍于反射膜上?？刮勰た蓪⒍嗫椎臏p反射膜層覆蓋起

來，并且能夠將水和油與鏡片的接觸面積減少，使油和水滴不易粘附于鏡片表面，

因此也稱為防水膜。

理想的表面系統(tǒng)處理應該是包括抗磨損膜、多層減反射膜和頂膜抗污膜的復合膜。通常抗磨損膜鍍層Z厚，約為 3－5mm，多層減反射膜的 厚度約為 0.3um，頂層抗污臘鍍Z薄，約為 0.005－0.01mm。以法國依視路公司 的鉆晶（crizal)，復合膜為例，在鏡片的片基上首先鍍上具有有機硅的耐磨損膜； 然后采用 IPC 的技術，用離子轟擊進行鍍減反射膜前的預清洗；清洗后采用高硬 度的二氧化鋯（ZrO2)等材料進行多層減反射膜層的真空鍍制；Z后再鍍上具有110 的接觸角度的頂膜。

瑞研光學成功研制了YTA鉆晶復合膜技術，成功一次性解決了耐污/防油/防水/耐劃傷的問題。

光學膜厚儀（SpectraThick series）的特點是非接觸, 非破壞方式測量，無需樣品的前處理，軟件支持Windows操作系統(tǒng)等。

Filmetrics的光學膜厚儀使用的是白光干涉的原理，從而對樣品表面的膜層進行測量，基本上所有光滑的、半透明的或者地吸收洗漱的薄膜都可以進行測量。

不管是打算測量薄膜厚度，還是光學常數(shù)，或者是打算知道材料的反射率和透過率，優(yōu)尼康科技有限公司提供的儀器都可以滿足你的需求，通過簡單安裝，連接電腦，就可以很快測量出結果。

這種產(chǎn)品主要應用在，

半導體行業(yè)如：光刻膠的厚度測量；加工膜層的厚度測量，介電層的厚度測量等。

液晶顯示器行業(yè)如：OLED領域各種透明薄膜的厚度測量，玻璃上面涂層的厚度測量等

光學鍍層行業(yè)如：硬涂層，抗反射層等涂層厚度測量。

生物醫(yī)學行業(yè)如：聚對二甲苯，YL器械等領域可透光涂層膜厚的測量。

光學膜厚儀應用領域極其廣闊，適用于多種行業(yè)以及大學實驗室等，提供低至納米級別的薄膜厚度測量可能。

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近年來，隨著信息技術的快速發(fā)展，數(shù)字切片掃描已逐漸應用于醫(yī)學教學、病理診斷、科研領域。目前市面上的數(shù)字切片掃描儀主要分為兩類：箱式和顯微鏡式，兩者對比的話優(yōu)點各異，箱式的結構上會更簡便，但功能相對比較單一；顯微鏡式的相當于是在普通顯微鏡上的升級改造，功能更加多樣性。接下來我們介紹的是明美光電顯微鏡式數(shù)字切片掃描儀，它通過自主設計的光源與電子手輪，完整保留了傳統(tǒng)顯微鏡的手動交互操作，在此基礎上新增了切片全景掃描的功能，而且支持透反射雙光路顯微系統(tǒng)掃描，既可以掃描透明的病理切片，亦可以掃描不透明的地質礦石類標本，應用十分廣泛。

20X物鏡病理切片全景掃描圖（透射光路）

20X物鏡礦石標本全景掃描圖（反射光路）

明美數(shù)字切片掃描儀組成

研究級正置顯微鏡機身，也可采用BX41、BX43、BX53等進口主機；標配透射光源，可選配反射照明模塊。

高精度電動平臺，XY電動平臺行程80*50mm，閉環(huán)定位精度0.5μm；Z軸閉環(huán)定位精度0.1μm，步進

高幀率掃描相機，掃描幀率＞120fps，分辨率1920*1200，曝光時間＜7μs，由于標配的是雙光路C接口，還預留一個接口可以用于安裝大靶面顯微相機，保留原顯微鏡單視野高分辨率拍照功能。

快速無縫拼接系統(tǒng)，采用特殊優(yōu)化的圖像拼接算法，針對月牙形，U型等各種異形切片樣品進行過拼接優(yōu)化，能夠在掃描成像后秒出無縫全局大圖；15mm×15mm成像區(qū)域，10X物鏡掃描成像速度

豐富的切片圖像管理功能，采用金字塔圖像數(shù)據(jù)結構，在不同放大倍率的瀏覽需求下按需調用不同分辨率的圖像，縮放瀏覽毫無卡頓感；提供API可獲取圖像數(shù)據(jù)底層Raw Data用于AI計算。

掃描成像之前，應先通過顯微鏡閱片，快速確定切片是否可用于掃描以及需要掃描的區(qū)域（局部或全景），然后通過全自動顯微鏡系

統(tǒng)掃描玻片采集得到高分辨率數(shù)字圖像，再用計算機軟件對這些圖像自動進行無縫隙拼接和處理，并獲得全視野數(shù)字化切片，可以自由觀察切片的任意位置，進行無限倍率放大、縮小或連續(xù)變倍觀察，這樣既能看到切片全貌，又能從細微處觀察病理變化，不再受鏡下單一視野的局限。

  顯微數(shù)字切片掃描儀的切片信息長期保存，實現(xiàn)了數(shù)字化、信息化、網(wǎng)絡化，可以根據(jù)需求建立私有切片庫，在沒有顯微鏡和切片的條件下也能進行觀察；在實際使用過程中，針對不同的工作目的，需要有取舍的來選擇是采用傳統(tǒng)顯微鏡觀察模式還是采用掃描采圖模式，才能發(fā)揮出顯微數(shù)字切片掃描儀的技術優(yōu)勢。

來源：https://www.mshot.com/article/1367.html

反射膜厚儀的測試原理基于白光干涉原理工作，光源發(fā)出的寬帶光入射至待測薄膜表面后，經(jīng)薄膜上下表面反射形成的兩束反射光會因光程差產(chǎn)生干涉，干涉信號中包含薄膜厚度、光學常數(shù)等關鍵信息，設備通過探頭采集干涉后的反射光譜，對特定波段范圍內的光譜進行模型擬合后，即可反演解析出薄膜的厚度、光學常數(shù)及粗糙度等參數(shù)，整個系統(tǒng)由高強度組合光源提供寬光譜入射光，經(jīng)光學系統(tǒng)傳輸至樣品，反射光返回后由高速光譜模塊采集信號，最后通過上位機軟件完成數(shù)據(jù)處理與結果輸出。