KickStart 軟件是吉時(shí)利Keithley是為吉時(shí)利keithley儀器專配的測試軟件，使用 KickStart 軟件能夠加速所需的測量方法，簡化了儀器了解過程，只需幾分鐘即可將儀器從包裝箱中取出并獲取實(shí)際設(shè)備數(shù)據(jù)。

通過立即繪制數(shù)據(jù)并在讀數(shù)表中提供數(shù)據(jù)的快速統(tǒng)計(jì)摘要信息，KickStart 可更快地獲得測試數(shù)據(jù)，并制定進(jìn)入下一個設(shè)備開發(fā)階段時(shí)所需的決策。該軟件通過使用便捷的導(dǎo)出功能來幫助快速復(fù)制測試和比較結(jié)果，從而節(jié)省您的寶貴時(shí)間。通過 KickStart，工程師能夠?qū)Ｗ⒂诮庾x測試結(jié)果，從而實(shí)現(xiàn)創(chuàng)新目標(biāo)。

一、KickStart 軟件支持多種儀器的器件表征測試平臺

KickStart軟件可以支持多種吉時(shí)利keithley儀器使用：

1.數(shù)據(jù)采集器

KickStart軟件能夠快速配置多通道數(shù)據(jù)采集儀器，將數(shù)百萬個讀數(shù)直接傳輸?shù)?PC 磁盤介質(zhì)，以實(shí)現(xiàn)安全的數(shù)據(jù)存檔，以隨時(shí)可用的格式導(dǎo)出數(shù)據(jù)，用于報(bào)告和進(jìn)一步分析，即使正在運(yùn)行測試也可以同時(shí)保存數(shù)據(jù)。

2. 吉時(shí)利源表及其他I-V 表征器

KickStart軟件能實(shí)現(xiàn)各種材料和設(shè)備上進(jìn)行電流與電壓 (I-V) 測試，在每次測試中Z多使用四個 SourceMeter? SMU 儀器。

3. 精密萬用表

通過KickStart軟件獨(dú)立或同時(shí)運(yùn)行多次測試，記錄來自一臺或多臺數(shù)字萬用表的測量結(jié)果，使用內(nèi)置在數(shù)據(jù)表中的統(tǒng)計(jì)信息快速獲取數(shù)據(jù)摘要，準(zhǔn)確迅速完成jing準(zhǔn)測試。

4. 電源

通過KickStart軟件輕松訪問控制偏壓和電流限制，同時(shí)在主視圖區(qū)域中查看來自主測量儀器的數(shù)據(jù)，配置列表掃描功能以自動執(zhí)行測試，例如監(jiān)控功耗或負(fù)載電流穩(wěn)定性。

二、KickStart 軟件-無需專業(yè)知識即可自動從多臺儀器中收集數(shù)據(jù)

KickStart能夠收集數(shù)百萬個讀數(shù)并將其流式傳輸?shù)?PC 磁盤介質(zhì)以進(jìn)行安全存檔，并且在多臺儀器上單獨(dú)或同時(shí)運(yùn)行測試

三、KickStart 軟件是用于快速可視化數(shù)據(jù)的簡單工具

1.用于查看數(shù)據(jù)的大面積區(qū)域

2.在一個窗口中訪問有關(guān)多次測試的信息

3.使用標(biāo)記突出顯示您感興趣的數(shù)據(jù)

4.在單個繪圖中比較來自多輪測試的數(shù)據(jù)

四、KickStart 軟件能夠快速簡單地復(fù)制測試和共享或結(jié)果

1.使用模擬的儀器配置測試，并在真實(shí)儀器可用時(shí)切換到真實(shí)儀器中

2.將測試配置保存在 KickStart 項(xiàng)目中，并與測試文檔數(shù)據(jù)一起導(dǎo)出

3.以 .csv 格式導(dǎo)出數(shù)據(jù)

4.以圖片格式導(dǎo)出圖形

除了上述基本應(yīng)用和主要特點(diǎn)，KickStart軟件還能提供用于絕緣材料的體積和表面電阻率測量、材料的時(shí)間常數(shù)的電氣化時(shí)間、電阻率與環(huán)境溫度和相對濕度的相關(guān)性等測試的高級應(yīng)用。目前，此軟件提供安裝免費(fèi)使用 60 天。安泰測試作為泰克吉時(shí)利的長期合作伙伴，專業(yè)提供設(shè)備選型和測試方案的提供，歡迎有需求有疑問的廣大客戶訪問安泰測試網(wǎng)。

在面對需要測量多項(xiàng)參數(shù)或多個設(shè)備時(shí)，如果用獨(dú)立式的解決方案雖然也能解決問題，但是常常繁瑣且耗時(shí)。面對這些難題，工程師們憑借著各自的智慧和經(jīng)驗(yàn)積累，盡可能讓測試工作簡單。

1、使用更簡單

DAQ6510大大縮短了測試設(shè)置、執(zhí)行和分析的時(shí)間。它的設(shè)置和運(yùn)行測試簡單、快速，無需編寫測試程序。DAQ6510數(shù)據(jù)采集和記錄萬用表系統(tǒng)的直觀觸摸屏能夠提供簡單的配置、可視的直觀測試設(shè)置、實(shí)時(shí)的掃描狀態(tài)可視信息，可快速捕捉問題以避免消耗測試時(shí)間，便于分析測試數(shù)據(jù)。

2、測量更廣泛

DAQ6510是一臺可以測量多項(xiàng)參數(shù)并能同時(shí)測量多臺設(shè)備的儀器。它有12個插入式開關(guān)模塊可供選擇，擁有巨大的靈活性，可以構(gòu)建各種各樣的數(shù)據(jù)采集或測試系統(tǒng)。例如，可以使用熱電偶在環(huán)境箱中測量器件的溫度，這種應(yīng)用可以使用插入式開關(guān)模塊，為熱電偶測量提供自動冷端補(bǔ)償，通過使用兩個開關(guān)模塊能測量多達(dá)80 個器件。此外，DAQ6510除測量溫度，還可以測量電流、電壓、電阻等參數(shù)。

2、 采集數(shù)據(jù)更快速

使用KickStart儀器控制軟件PC上快速編程數(shù)據(jù)采集測試。軟件不需要編程，只需使用菜單屏幕輸入測試設(shè)置即可，然后將以表格和圖形格式顯示結(jié)果。

以上內(nèi)容由西安安泰測試整理，如需了解吉時(shí)利DAQ6510更多詳細(xì)產(chǎn)品介紹，歡迎咨詢安泰測試網(wǎng)。

* 主要功能：線性掃描或?qū)?shù)掃描、電壓電流脈沖循環(huán)、數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)存儲。

* 程控對象：吉時(shí)利 keithley2600 系列源表。

* 程控接口：源表脈沖掃描循環(huán)測試軟件提供 USB、RS232、TCP/LAN/ 以太網(wǎng)、GPIB 的連接方式。

* 儀器兼容性：系統(tǒng)兼容泰克 / 吉時(shí)利（Tektronix/Keithley）源表 2600 全系列。

1、軟件概述

為了保證硬件系統(tǒng)的穩(wěn)定，需要對系統(tǒng)中的電氣元器件的性能有一定了解至關(guān)重要。因此了解電氣元器件的伏安特性曲線顯得十分重要，源表脈沖掃描循環(huán)測試軟件應(yīng)運(yùn)而生。軟件可以控制源表指定通道進(jìn)行線性掃描或?qū)?shù)掃描，可以選擇脈沖源為電壓脈沖或電流脈沖來對電氣元器件的伏安特性曲線更加精準(zhǔn)的測試，并繪制相應(yīng)的伏安特性曲線圖，軟件也可以將掃描數(shù)據(jù)進(jìn)行保存。

2、軟件特點(diǎn)

◆源表脈沖掃描循環(huán)測試軟件提供 USB、RS232、TCP/LAN/ 以太網(wǎng)、GPIB 的連接方式；

◆軟件可實(shí)時(shí)顯示源表測試到的數(shù)據(jù)，可實(shí)時(shí)顯示當(dāng)前掃描進(jìn)度，可實(shí)時(shí)繪制伏安特性曲線；

◆測試數(shù)據(jù)可選擇 CSV 格式格式導(dǎo)出。

3、軟件應(yīng)用

吉時(shí)利 keithley 源表測試軟件可應(yīng)用于：半導(dǎo)體電子元器件生產(chǎn)測試、LED 發(fā)光二極管測試、憶阻器測試、激光二極管生產(chǎn)測試、激光雷達(dá) VCSEL 測試等；

4、兼容的部分儀器型號

吉時(shí)利 keithley2600 系列源表脈沖掃描循環(huán)測試軟件兼容吉時(shí)利 Keithley2600A/B 全系列數(shù)字源表。

5、軟件功能介紹

5.1、儀器連接

儀器連接界面可以進(jìn)行吉時(shí)利源表的連接?？蛇x USB、RS232、TCP/LAN/ 以太網(wǎng)、GPIB 的連接方式；

5.2、參數(shù)配置

需要配置源表的測量通道、脈沖類型（電壓脈沖或電流脈沖）、掃描類型（線性掃描或?qū)?shù)掃描）、脈沖基線、起始值、終止值、通道限值、脈沖寬度、脈沖間隔、掃描點(diǎn)數(shù)以及循環(huán)參數(shù)（循環(huán)次數(shù)和循環(huán)間隔）的配置。

5.3、運(yùn)行測試

點(diǎn)擊開始掃描進(jìn)入測試界面，如圖所示?？蓪?shí)時(shí)顯示當(dāng)前掃描進(jìn)度、可實(shí)時(shí)繪制伏安特性曲線。

5.4、導(dǎo)出報(bào)告文件和趨勢圖

在導(dǎo)出界面可以導(dǎo)出文件和趨勢圖，可將掃描數(shù)據(jù)以 csv 格式進(jìn)行保存。

看完納米軟件對于吉時(shí)利 keithley2600 脈沖信號測試軟件，憶阻器測試 | 半導(dǎo)體測試的介紹，是不是想馬上去體驗(yàn)看看呢？索取產(chǎn)品資料，申請免費(fèi)試用聯(lián)系，搜索【納米軟件】

交流C-V測試可以揭示材料的氧化層厚度，晶圓工藝的界面陷阱密度，摻雜濃度，摻雜分布以及載流子壽命等，通常使用交流C-V測試方式來評估新工藝，材料， 器件以及電路的質(zhì)量和可靠性等。比如在MOS結(jié)構(gòu)中， C-V測試可以方便的確定二氧化硅層厚度dox、襯底 摻雜濃度N、氧化層中可動電荷面密度Q1、和固定電 荷面密度Qfc等參數(shù)。

C-V測試要求測試設(shè)備滿足寬頻率范圍的需求，同時(shí)連線簡單，系統(tǒng)易于搭建，并具備系統(tǒng)補(bǔ)償功能，以補(bǔ)償系統(tǒng)寄生電容引入的誤差。

進(jìn)行C-V測量時(shí)，通常在電容兩端施加直流偏壓，同時(shí)利用一個交流信號進(jìn)行測量。一般這類測量中使用的交流信號頻率在10KHz到10MHz之間。所加載的 直流偏壓用作直流電壓掃描，掃描過程中測試待測器件待測器件的交流電壓和電流，從而計(jì)算出不同電壓下的電容值。

在CV特性測試方案中，同時(shí)集成了美國吉時(shí)利公司源表（SMU）和合作伙伴針對CV測試設(shè)計(jì)的專用精 密LCR分析儀。源表SMU可以輸出正負(fù)電壓，電壓 輸出分辨率高達(dá)500nV。同時(shí)配備的多款LCR表和 CT8001 直流偏置夾具，可以覆蓋 100Hz~ 1MHz 頻 率和正負(fù)200V電壓范圍內(nèi)的測試范圍。

方案特點(diǎn)：

★包含C-V（電容-電壓），C-T（電容-時(shí)間），C-F （電容-頻率）等多項(xiàng)測試測試功能，C-V測試可同時(shí)支持測試四條不同頻率下的曲線

★測試和計(jì)算過程由軟件自動執(zhí)行，能夠顯示數(shù)據(jù)和 曲線，節(jié)省時(shí)間

★提供外置直流偏壓盒，偏壓支持到正負(fù)200V， 頻率范圍 100Hz - 1MHz。

★支持使用吉時(shí)利24XX/26XX系列源表提供偏壓

測試功能：

電壓-電容掃描測試

頻率-電容掃描測試

電容-時(shí)間掃描測試

MOS器件二氧化硅層厚度、襯底摻雜濃度等參數(shù)的計(jì)算

原始數(shù)據(jù)圖形化顯示和保存

MOS電容的 C-V 特性測試方案

系統(tǒng)結(jié)構(gòu)：

系統(tǒng)主要由源表、LCR 表、探針臺和上位機(jī)軟件組成。 LCR 表支持的測量頻率范圍在0.1Hz~ 30MHz。源表 (SMU)負(fù)責(zé)提供可調(diào)直流電壓偏置，通過偏置夾具盒 CT8001加載在待測件上。

LCR 表測試交流阻抗的方式是在 HCUR 端輸出交流電 流，在 LCUR 端測試電流，同時(shí)在 HPOT 和 LPOT 端 測量電壓值。電壓和電流通過鎖相環(huán)路同步測量，可 以精確地得到兩者之間的幅度和相位信息，繼而可以推算出交流阻抗參數(shù)。

典型方案配置：

系統(tǒng)參數(shù)：

下表中參數(shù)以 PCA1000 LCR 表和 2450 源表組成的 C-V測試系統(tǒng)為例：

安泰測試已為西安多所院校、企業(yè)和研究所提供吉時(shí)利源表現(xiàn)場演示，并獲得客戶的高度認(rèn)可，安泰測試將和泰克吉時(shí)利廠家一起，為客戶提供更優(yōu)質(zhì)的服務(wù)和全面的測試方案，為客戶解憂。

半導(dǎo)體分立器件是組成集成電路的基礎(chǔ)，包含大量的 雙端口或三端口器件，如二極管，晶體管，場效應(yīng)管等。 直流I-V測試則是表征微電子器件、工藝及材料特性的 基石。通常使用I-V特性分析，或I-V曲線，來決定器 件的基本參數(shù)。微電子器件種類繁多，引腳數(shù)量和待 測參數(shù)各不相同，除此以外，新材料和新器件對測試 設(shè)備提出了更高的要求，要求測試設(shè)備具備更高的低 電流測試能力，且能夠支持各種功率范圍的器件。

分立器件I-V特性測試的主要目的是通過實(shí)驗(yàn)，幫助工 程師提取半導(dǎo)體器件的基本I-V特性參數(shù)，并在整個工 藝流程結(jié)束后評估器件的優(yōu)劣。

隨著器件幾何尺寸的減小，半導(dǎo)體器件特性測試對測 試系統(tǒng)的要求越來越高。通常這些器件的接觸電極尺 寸只有微米量級，這些對低噪聲源表，探針臺和顯微 鏡性能都提出了更高的要求。

半導(dǎo)體分立器件I-V特性測試方案，泰克公司與合作 伙伴使用泰克吉時(shí)利公司開發(fā)的高精度源測量單元 （SMU）為核心測試設(shè)備，配備使用簡便靈活，功能 豐富的CycleStar測試軟件，及穩(wěn)定的探針臺，為客戶提供了可靠易用的解決方案，極大的提高了用戶 的工作效率。

吉時(shí)利方案特點(diǎn)：

豐富的內(nèi)置元器件庫，可以根據(jù)測試要求選擇所需要的待測件類型；

測試和計(jì)算過程由軟件自動執(zhí)行，能夠顯示數(shù)據(jù)和曲線，節(jié)省了大量的時(shí)間；

穩(wěn)定的探針臺，針座分辨率可高達(dá)0.7um，顯微鏡放大倍數(shù)高達(dá)x195倍；

可支持同時(shí)操作兩臺吉時(shí)利源表，可以完成三端口器件測試。

測試功能：

二極管特性的測量與分析

極型晶體管BJT特性的測量與分析

MOSFET場效應(yīng)晶體管特性的測量與分析

MOS 器件的參數(shù)提取

系統(tǒng)結(jié)構(gòu)：

系統(tǒng)主要由一臺或兩臺源精密源測量單元（SMU）、 夾具或探針臺、上位機(jī)軟件構(gòu)成。以三端口MOSFET 器件為例，共需要以下設(shè)備：

1、兩臺吉時(shí)利 2450 精密源測量單元

2、四根三同軸電纜

3、夾具或帶有三同軸接口的探針臺

4、三同軸T型頭

5、上位機(jī)軟件與源測量單元（SMU）的連接方式如下圖所示，可以使用LAN/USB/GPIB中的任何一個接口進(jìn)行連接。

系統(tǒng)連接示意圖：

典型方案配置：

西安某高?，F(xiàn)場演示圖

安泰測試已為西安多所院校、企業(yè)和研究所提供吉時(shí)利源表現(xiàn)場演示，并獲得客戶的高度認(rèn)可，安泰測試將和泰克吉時(shí)利廠家一起，為客戶提供更優(yōu)質(zhì)的服務(wù)和全面的測試方案，為客戶解憂。

測試速度對波形采集的影響到底有多大，下圖是NPLC在0.005、0.5時(shí)分別采集到的電流波形，結(jié)果一目了然。

功耗測量的重要性

在 NB-IOT，LORA，BLE 等低功耗的測試中，需要在極低的范圍內(nèi)，測量每一個器件的功耗。

準(zhǔn)確的功耗量，是優(yōu)化產(chǎn)品耗電性能的基礎(chǔ)，準(zhǔn)確測量IoT設(shè)備的耗電特性，可以讓設(shè)計(jì)工程師推算產(chǎn)品的待機(jī)時(shí)間，使用時(shí)間等關(guān)鍵信息，也能為進(jìn)一步的耗電優(yōu)化提供數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。因此完整捕獲波形尤為關(guān)鍵。

方案選擇：

安泰測試推薦吉時(shí)利DMM7510+2280S+KSC-4000A， 為低功耗測量采集波形提供理想的解決方案。

在本方案中，吉時(shí)利DMM7510可以作為高精度電流表，以采樣速率高達(dá)1MS/s的18位數(shù)字化儀精確地抓取、分析瞬間電流、電壓波形。此外，DMM7510還具備2750萬的數(shù)據(jù)存儲能力，支持長時(shí)間采樣分析。在吉時(shí)利DMM7510萬用表5英寸電容觸摸顯示屏上，使用水平和垂直光標(biāo)，可以計(jì)算出平均電流，利用此值則可以確定DUT的功耗。

與此同時(shí)，吉時(shí)利2280S高精度電源為DUT提供電源，并搭載低功耗直流特性分析軟件KSC-4000A，整個低功耗測試操作過程，僅需三步即可完成，大大減輕了工程師的工作負(fù)荷：

1. 選擇連接模式連接測試設(shè)備以及 DUT 設(shè)備；

2. 設(shè)置相應(yīng)的測試時(shí)間，采樣率；

3. 啟動。等待測試時(shí)間完成。工程師可以對生成的電流曲線進(jìn)行放大縮小，通過分析和改善DUT設(shè)備在工作和待機(jī)過程中的狀態(tài)，達(dá)到提高DUT設(shè)備待機(jī)時(shí)間的目的；

吉時(shí)利DMM7510+2280S+KSC-4000A，為捕獲波形提供強(qiáng)有力的保障，是低功耗測試高效、放心之選。

安泰測試作為吉時(shí)利長期合作伙伴，為客戶提供吉時(shí)利產(chǎn)品選型、銷售、維修和技術(shù)支持一站式服務(wù)沒如果您想了解吉時(shí)利更多測試方案，歡迎訪問安泰測試網(wǎng)www.agitek.com.cn。

泰克及旗下吉時(shí)利品牌，提供各類材料電參數(shù)測試方案，包括：

1、電輸運(yùn)特性測試，量子材料、超導(dǎo)材料、半金屬材料、異質(zhì)結(jié)構(gòu)材料，物性表征測試方案

2、新一代高速存儲單元及類腦計(jì)算、神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)測試方案：

憶阻器測試方案

半浮柵器件測試方案

MOSFET器件測試方案

類腦計(jì)算/神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)測試方案

3、微機(jī)電系統(tǒng)MEMS 測試方案

4、寬禁帶材料測試方案

5、納米結(jié)構(gòu)材料測試方案

納米材料測試方案概述

納米材料微小電阻測試方案

納米發(fā)電測試方案

二維/石墨烯材料電阻率測試方案

6、薄膜類及表面材料的電阻率測試方案

7、絕緣材料電性能表征測試方案

材料測試平臺主要提供材料電學(xué)特性的測試方案。電學(xué)特性是許多材料研究的ZD，常見的測試參數(shù)：

包括電阻率，方阻，載流子濃度，載流子遷移率等

常用的測試方法是四探針法，范德瓦爾堡法，霍爾效應(yīng)。

推薦設(shè)備：

現(xiàn)場演示圖：

安泰測試致力于電子電力測試測量行業(yè)十一年，和泰克吉時(shí)利廠家建立了密切穩(wěn)定的合作關(guān)系，立足西北，服務(wù)全國的廣大客戶，公司具備專業(yè)的技術(shù)支持和選型能力，為客戶提供產(chǎn)品選型、方案定制、儀器銷售、租賃、維修、培訓(xùn)等一站式服務(wù)。

【納米發(fā)電技術(shù)概述】

納米發(fā)電機(jī)，是基于規(guī)則的氧化鋅納米線，在納米范圍內(nèi)將機(jī)械能轉(zhuǎn)化成電能，是世界上最小的發(fā)電機(jī)。目前納米發(fā)電機(jī)可以分為三類：

一類是壓電納米發(fā)電機(jī)；第二類是摩擦納米發(fā)電機(jī)；第三類為熱釋電納米發(fā)電機(jī)。一般被應(yīng)用在生物醫(yī)學(xué)，軍事，無線通信，無線傳感。

【測試難點(diǎn)】

1、發(fā)電機(jī)產(chǎn)生的電流小

由于納米發(fā)電自身的技術(shù)特點(diǎn)，在研究過程中需要測試單位面積機(jī)械能產(chǎn)生的電能，測試產(chǎn)生的電壓，微小的電流及功率信號，電壓基本在幾伏甚至幾十伏，而電流一般都是uA甚至nA級別，功率在mW甚至uW級別。如何精確的測試微小電流及功率信號比較困難，對測試儀器精度和穩(wěn)定性要求非常高。泰克吉時(shí)利公司專注于微小電信號測試，史上多位物理學(xué)諾貝爾獎獲得者都使用和信賴吉時(shí)利測試儀器。在納米發(fā)電研究中，吉時(shí)利的產(chǎn)品仍是業(yè)內(nèi)大多數(shù)人的選擇，尤其在微小信號測試值得信賴。

2、大電機(jī)的內(nèi)阻大，開路電壓測不準(zhǔn)

上圖為您介紹了測量靈敏度的理論極限取決于在電路中的電阻所產(chǎn)生的噪聲。電壓噪聲是與墊著、帶寬和溫度的乘積的平方根成正比的。從圖中可見，源電阻限制了電壓測量的理論靈敏度，也就是說能準(zhǔn)確測量一個1Ω源電阻的1uV信號時(shí)，如果該信號的源墊著變成1TΩ，則該測量就會變得不可能。因?yàn)樵谠措娮铻?MΩ時(shí)對于1uV的測量已經(jīng)接近理論極限了。這時(shí)候采用通常的數(shù)字萬用表是無法完成這類測量的。了解了這個原理，選擇合適的儀器是保證準(zhǔn)確測試微小信號前提。

3、信號變化快，很難測電壓或者電流峰值

由于機(jī)械的拉伸和沖擊碰撞運(yùn)動都是在短時(shí)間內(nèi)完成，而評價(jià)一個納米發(fā)電機(jī)的性能高低的一個關(guān)鍵因素是其輸出的峰值電流和峰值電壓，以及峰值功率，而采用傳統(tǒng)的表由于采樣率不足，就可能導(dǎo)致峰值點(diǎn)采集缺失，從而會誤導(dǎo)實(shí)驗(yàn)人員，導(dǎo)致錯失機(jī)遇。

而吉時(shí)利的高阻計(jì)內(nèi)置了模擬輸出端口，通過將測試信號轉(zhuǎn)化為一個2V的模擬電壓信號進(jìn)行實(shí)時(shí)輸出，這樣只需要在外部再加一個高速/高ADC的采集系統(tǒng)就可以將快速變化的電流，電壓和電阻進(jìn)行實(shí)時(shí)采集。

【納米發(fā)電測試方案】

微小電流信號測試應(yīng)用

采用高內(nèi)阻的吉時(shí)利靜電計(jì)6517+數(shù)據(jù)采集儀DMM6500+納米發(fā)電采集軟件來進(jìn)行微小納米發(fā)電電流數(shù)據(jù)采集。

納米發(fā)電矩陣應(yīng)用測試

由于現(xiàn)在納米發(fā)電機(jī)中有一部分已經(jīng)轉(zhuǎn)向?qū)嶋H應(yīng)用研究，其中之一就有壓力傳感方向，而矩陣式壓力傳感器的測試是很多老師和同學(xué)比較頭疼的一個問題，為了解決這類問題，我們就根據(jù)要求搭建了一個測試方案如下：

測試配置：

西安安泰測試作為泰克吉時(shí)利的長期忠誠的綜合服務(wù)商，具備專業(yè)的技術(shù)支持和選型能力；經(jīng)過十多年的發(fā)展，已經(jīng)服務(wù)西安本地乃至西北五省各大研究所院校企業(yè)單位眾多單位，深受客戶廣泛好評。安泰測試歡迎各位有需求、有疑問的電子工程師訪問安泰測試網(wǎng)。

1. 交流電容C-V測試模塊

【納米發(fā)電技術(shù)】

納米發(fā)電機(jī)，是基于規(guī)則的氧化鋅納米線，在納米范圍內(nèi)將機(jī)械能轉(zhuǎn)化成電能，是世界上最小的發(fā)電機(jī)。目前納米發(fā)電機(jī)可以分為三類：

一類是壓電納米發(fā)電機(jī)；第二類是摩擦納米發(fā)電機(jī)；第三類為熱釋電納米發(fā)電機(jī)。一般被應(yīng)用在生物醫(yī)學(xué)，軍事，無線通信，無線傳感。

【測試難點(diǎn)】

由于納米發(fā)電自身的技術(shù)特點(diǎn)，在研究過程中需要測試單位面積機(jī)械能產(chǎn)生的電能，測試產(chǎn)生的電壓，微小的電流及功率信號，電壓基本在幾伏甚至幾十伏，而電流一般都是uA甚至nA級別，功率在mW甚至uW級別。

如何精確的測試微小電流及功率信號比較困難，對測試儀器精度和穩(wěn)定性要求非常高。泰克吉時(shí)利公司專注于微小電信號測試，史上多位物理學(xué)諾貝爾獎獲得者都使用和信賴吉時(shí)利測試儀器。在納米發(fā)電研究中，吉時(shí)利的產(chǎn)品仍是大多數(shù)的選擇，尤其在微小信號測試值得信賴。

【吉時(shí)利測試技術(shù)】

 下圖為您介紹了測量靈敏度的理論極限取決于在電路中的電阻所產(chǎn)生的噪聲。電壓噪聲是與電阻、帶寬和絕dui溫度的乘積的平方根成正比的。

從圖中可見，源電阻限制了電壓測量的理論靈敏度，也就是說能準(zhǔn)確測量一個1Ω源電阻的1uV信號時(shí)，如果該信號的源電阻變成1TΩ，則該測量就會變得不可能。因?yàn)樵谠措娮铻?MΩ時(shí)對于1uV的測量已經(jīng)接近理論極限了。這時(shí)候采用通常的數(shù)字萬用表是無法完成這類測量的。了解了這個原理，選擇合適的儀器是保證準(zhǔn)確測試微小信號前提。

【納米發(fā)電測試方案】

微小電流信號測試

1. 采用絕緣材料納米發(fā)電技術(shù)，一般源內(nèi)阻在GΩ級，測試電流在pA級別，所以業(yè)內(nèi)都是采用吉時(shí)利靜電計(jì)6514+StanfordSR570（低噪聲電流前置放大器）+專用的采集軟件來進(jìn)行發(fā)電電流數(shù)據(jù)采集。

2.通用的納米發(fā)電技術(shù)，一般源內(nèi)阻在幾十到幾百M(fèi)Ω，電流一般在nA，uA

級別，推薦采用吉時(shí)利源表SMU2450+Kickstar軟件來測試。

電壓測試方案

1.對于電壓信號測試推薦選用泰克示波器MDO3系+電壓探頭測試V&T波形數(shù)據(jù)。

2. 另外一個方法是采用高速采樣萬用表DMM7510+kickstart軟件，測試電壓變化波形。

安泰測試作為泰克吉時(shí)利長期合作伙伴，專業(yè)提供設(shè)備選型和測試方案的提供，為西安多家企業(yè)、院校和研究所提供泰克示波器、吉時(shí)利源表等現(xiàn)場演示，并獲得客戶的高度認(rèn)可，如果您想了解泰克吉時(shí)利更多應(yīng)用方案，歡迎訪問安泰測試網(wǎng)。

電源產(chǎn)品zui后一道工序需要進(jìn)行長時(shí)間烤機(jī)測試，如何提GX率，尤其對于大批量生產(chǎn)的情景，既準(zhǔn)確又GX的測試方法非常重要。

利用高精度數(shù)據(jù)采集萬用表測試熱電偶、熱電阻多點(diǎn)溫度及電壓，實(shí)現(xiàn)長時(shí)間數(shù)據(jù)采集監(jiān)控是行業(yè)內(nèi)推薦的測試方法。想提高電源老化測試效率，吉時(shí)利DAQ6510這個方案不可錯過。

一、寬泛且準(zhǔn)確的測量能力

吉時(shí)利DAQ6510可以處理 8 種熱電偶類型中的信號，測試溫度范圍：-200℃ ~ 1820℃。

如果想在更窄的溫度范圍內(nèi)獲得更準(zhǔn)確的溫度讀數(shù)，DAQ6510 可以使用熱電阻器測量 -80℃ ~ 150℃的溫度，兩年準(zhǔn)確度為 0.08℃。

DAQ6510 還可以使用電阻溫度檢測器 (RTD) 測量 -200℃ ~ 850℃的溫度，支持2線、3線和4線配置。在使用4線 RTD 時(shí)，溫度測量準(zhǔn)確度可以達(dá)到 0.06℃。

二、多達(dá)80通道的測試容量

吉時(shí)利DAQ6510是一款高達(dá)6位半測試精度的數(shù)據(jù)采集萬用表，功能強(qiáng)大。單臺DAQ6510 主機(jī)支持多達(dá)80通道信號測試；使用固態(tài)多路復(fù)用器插件開關(guān)模塊以每秒 800 個通道的速率進(jìn)行掃描；通過專用的軟件，可以便捷GX地完成電源老化測試。

還在為電源老化測試發(fā)愁嗎？安泰測試推薦吉時(shí)利DAQ6510，如需了解吉時(shí)利DAQ6510更多應(yīng)用方案或者產(chǎn)品詳細(xì)介紹，歡迎訪問安泰測試網(wǎng)。

2450 型觸摸屏數(shù)字源表是吉時(shí)利新一代數(shù)字源表儀器。其創(chuàng)新的圖表化用戶界面和先進(jìn)的電容觸摸屏技術(shù)，使用操作相對直觀與簡便。與采用數(shù)字顯示屏的傳統(tǒng)儀器相比，2450 型源表采用 5 英寸全彩色高分辨率觸摸屏界面，降低了學(xué)習(xí)曲線，提高工作效率，從而使工程師與科研人員將更多的時(shí)間投入到生產(chǎn)與試驗(yàn)中。適合現(xiàn)代半導(dǎo)體、納米器件和材料、有機(jī)半導(dǎo)體、印刷電子技術(shù)以及其他小尺寸、低功率器件特性分析，這些特性與吉時(shí)利源測量單元(SMU)的精度和準(zhǔn)確度相結(jié)合，外加更直觀的觸摸操作體驗(yàn)，新一代 2450 系列觸摸屏數(shù)字源表將為您的工作帶來前所未有的便利與jing準(zhǔn)服務(wù)。

2450 系列前面板

除了 5 英寸彩色觸摸屏，2450 型儀器還具有許多特性，包括 USB 2.0 存儲器 I/O 端口、HELP 按鍵、旋轉(zhuǎn)指引/控制按鈕、前/后面板輸入選擇按鈕，以及適合基本測試臺應(yīng)用的香蕉插孔。USB 2.0 存儲器端口支持便利的數(shù)據(jù)存儲、保存儀器配置、裝載測試腳本及系統(tǒng)升級。系統(tǒng)內(nèi)置 4 種“Quickset”模式簡化用戶設(shè)置。輕輕一摸，儀器就可以迅速配置不同操作模式，無需配置本次操作不需要的儀器。通過后面板可接入后輸入三軸連接器、程控接口(GPIB, USB 2.0, LXI /以太網(wǎng))、D-sub 9 針數(shù)字 I/O 端口(用于內(nèi)部/外部觸發(fā)信號和夾具控制)、儀器互鎖控制以及 TSP-Link ? 插孔，支持多部儀器測試解決方案的輕松配置，并節(jié)省購置其他適配器附件所需的費(fèi)用。

2450 系列后面板

Quickset 模式支持快速設(shè)置，縮短測量時(shí)間

當(dāng) 2450 型源表作為多通道 I-V 測試系統(tǒng)的一部分進(jìn)行集成時(shí)，可通過測試腳本處理器(TSP ? )進(jìn)行腳本測試，使用戶創(chuàng)建功能強(qiáng)大的測量應(yīng)用，大幅縮短開發(fā)時(shí)間。TSP 技術(shù)還提供無需主機(jī)的通道擴(kuò)展功能，吉時(shí)利 TSP-Link ? 通道擴(kuò)展總線采用 100 Base T 以太網(wǎng)電纜，可在一個主-從配置（作為一個綜合系統(tǒng)發(fā)揮作用）中實(shí)現(xiàn)多個 2450 型儀器以及其他 TSP 儀器（如吉時(shí)利 2600B 系列數(shù)字源表，以及 3700A 系列開關(guān)/多用表系統(tǒng)）的連接。TSP-Link 擴(kuò)展總線的每個 GPIB 或 IP 地址支持高達(dá) 32 個單元，因此很容易對系統(tǒng)進(jìn)行擴(kuò)展，滿足應(yīng)用的具體需求。2450 儀器包括標(biāo)準(zhǔn) SCPI 編程模式，可以優(yōu)化儀器的新特性；還包括2400 SCPI 模式，提供與現(xiàn)有數(shù)字源表一起的后向兼容能力。這不僅保護(hù)用戶的 2400 儀器投資，而且省去了儀器升級方面的重復(fù)工作。

擁有 TSP 技術(shù)的 2450 型源表，具有并行測試的能力，可以對多個器件進(jìn)行并行測試，滿足器件研究、先進(jìn)半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用以及高吞吐量生產(chǎn)測試。這種并行測試能力支持系統(tǒng)中的每部儀器運(yùn)行自己的完整測試序列，創(chuàng)建完全多線程測試環(huán)境。

功能特點(diǎn)：

1、具備分析儀、曲線追蹤儀和I-V系統(tǒng)功能特點(diǎn)，降低實(shí)驗(yàn)成本、

2、5 英寸高分辨率電容觸摸屏圖形用戶界面（GUI）

3、基本測量準(zhǔn)確度 0.012%，分辨率 6? 數(shù)位

4、靈敏度更高，新增源/測量量程：20mV 和 10nA 源和阱(4象限)操作

5、4 種“Quickset” 模式，用于快速設(shè)置和測量

6、內(nèi)建上下文相關(guān)的前面板幫助

7、前面板輸入香蕉頭輸入；后面板三同軸輸入連接

8、2450 SCPI 和 TSP ? 腳本編程模式

9、2400 型 SCPI 兼容編程模式

10、前面板 USB 端口，用于數(shù)據(jù)/編程/配置 I/O

以上就是安泰測試給大家介紹的2450 型觸摸屏吉時(shí)利數(shù)字源表，安泰測試作為泰克、吉時(shí)利合作伙伴致力于為廣大工程師提供更好的產(chǎn)品、滿意的服務(wù)。如果您想了解更多吉時(shí)利的產(chǎn)品，歡迎咨詢安泰測試網(wǎng)。

吉時(shí)利數(shù)字源表2450使用直觀的觸摸屏控制和圖標(biāo)化操作界面，令新用戶通過簡單操作快速獲取測試結(jié)果，大大縮減學(xué)習(xí)儀器操作的時(shí)間，顯著提高工作效率，同時(shí)將更多時(shí)間用于科研領(lǐng)域的發(fā)明和創(chuàng)新。

吉時(shí)利Z新一代2450型數(shù)字源表的設(shè)計(jì)，基于“Touch, Test, Invent”（觸摸、測試、創(chuàng)新）的設(shè)計(jì)理念，為用戶提供測試測量儀器的嶄新互動方式。

該嶄新的設(shè)計(jì)理念反映了Z近的市場變化-更短的設(shè)計(jì)/研發(fā)周期和更少的測試專業(yè)技術(shù)人員需求。同時(shí)，儀器用戶的背景也在不斷的變化。測試測量儀器的用戶除了電氣工程師，出現(xiàn)越來越多非電子工程專業(yè)的技術(shù)人員，如電化學(xué)家、物理學(xué)家、材料科學(xué)家等，這些用戶都需要快速得到測量數(shù)據(jù)，但缺少電氣測量方面的基礎(chǔ)和知識。另外，年輕的用戶群體更傾向于使用便捷的操作界面和軟件系統(tǒng)。為適應(yīng)這些市場需求，2450型數(shù)字源表的易于使用的特性，使用戶更快速地獲得測試結(jié)果，這些特性包括：快速幫助功能；“Quickset”（快速設(shè)置）模式；快速繪圖功能。

2450型數(shù)字源表結(jié)合2400系列數(shù)字源表（自1995年推出后即成為業(yè)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)）和2600B系列數(shù)字源表的產(chǎn)品設(shè)計(jì)優(yōu)勢和測量jing準(zhǔn)度。2450型數(shù)字源表在一個半機(jī)架 (half-rack) 尺寸的儀器中結(jié)合了電壓源、電流源、6-1/2位數(shù)字多用表、電子負(fù)載及觸發(fā)控制器的功能。這些測試功能，令2450型觸摸屏數(shù)字源表具有I-V特性測試系統(tǒng)、曲線追蹤儀和半導(dǎo)體分析儀的各種測試能力，而成本更低廉。

吉時(shí)利數(shù)字源表2450優(yōu)勢：

2450型數(shù)字源表的特性有助于加快和簡化實(shí)驗(yàn)室/工作臺的測試工作：

●全彩5英寸觸摸屏用戶界面：全彩顯示屏和大屏幕字符易于讀取。簡潔的圖標(biāo)化菜單結(jié)構(gòu)只需輕輕一觸即可快速設(shè)置。

●拓展的測量范圍和出色的低電流測量能力：低電流(100nA, 10nA)和低電壓(20mV)測試范圍拓展了低電平測試能力。后面板上拓展的三同軸連接端口不需要昂貴的電纜適配器就能確保低電平測量的準(zhǔn)確性。

●內(nèi)置快速幫助功能：幫助信息出現(xiàn)在有操作疑問的任何地方，勿需查閱厚重的使用手冊。

●錯誤和事件日志記錄：錯誤消息和事件日志，幫助用戶快速診斷錯誤，提高工作效率。

●KickStart軟件：該軟件能快速完成電學(xué)信號測試，數(shù)據(jù)采集和繪圖的任務(wù)。如需更復(fù)雜的測試數(shù)據(jù)分析，可以將數(shù)據(jù)存儲到磁盤，導(dǎo)入Microsoft Excel或其他軟件進(jìn)行分析。

系統(tǒng)級應(yīng)用優(yōu)勢

2450型數(shù)字源表的功能有助于將2450型源表集成到自動測試系統(tǒng)中：

●嵌入式測試腳本處理器 (TSP)：嵌入式式測試腳本處理器將完整的測度程序加載到儀器的非易失性存儲器，無需依賴外部PC控制器通過常見的GPIB通訊執(zhí)行測試程序，產(chǎn)能更高。

●TSP-Link通信總線：TSP-Link技術(shù)支持測試系統(tǒng)擴(kuò)展，實(shí)現(xiàn)多臺2450儀器和其他基于TSP技術(shù)的儀器（包括吉時(shí)利2600B數(shù)字源表系列產(chǎn)品和3706A開關(guān)/數(shù)字多用筆系列產(chǎn)品）的系統(tǒng)拓展，拓展的測試系統(tǒng)Z多可連接32臺2450，在一臺主儀器的TSP控制下進(jìn)行多點(diǎn)或多通道并行測試。

●兼容的2400工作模式：除了本身的2450 SCPI工作模式， 2450還支持2400 SCPI工作模式，并兼容現(xiàn)有的2400 SCPI程序。這保護(hù)了用戶的軟件投資，避免儀器升級換代所帶來測試軟件的轉(zhuǎn)換工作。

●PC連接和自動化：后面板三同軸電纜連接端口、儀器通信接口（GPIB、USB 2.0和LXI/Ethernet）、D型9針數(shù)字I/O端口（用于內(nèi)部/外部觸發(fā)信號及機(jī)械臂控制）、儀器安全互鎖裝置及TSP-Link連接端口簡化多儀器測試系統(tǒng)的集成。

吉時(shí)利2450是適用于各行各業(yè)使用者的源測量單元(SMU)：這種多用途儀器特別適合現(xiàn)代半導(dǎo)體、納米器件和材料、有機(jī)半導(dǎo)體、印刷電子技術(shù)以及其他小尺寸、低功率器件特性分析。

吉時(shí)利數(shù)字源表因其無與倫比的多功能性受到政府、研究所、院校及研發(fā)生產(chǎn)單位的青睞。近期也有很多高校、企業(yè)咨詢源表，如需申請樣機(jī)演示請咨詢安泰測試。