* 主要功能：線性掃描或?qū)?shù)掃描、電壓電流脈沖循環(huán)、數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)存儲。

* 程控對象：吉時利 keithley2600 系列源表。

* 程控接口：源表脈沖掃描循環(huán)測試軟件提供 USB、RS232、TCP/LAN/ 以太網(wǎng)、GPIB 的連接方式。

* 儀器兼容性：系統(tǒng)兼容泰克 / 吉時利（Tektronix/Keithley）源表 2600 全系列。

1、軟件概述

為了保證硬件系統(tǒng)的穩(wěn)定，需要對系統(tǒng)中的電氣元器件的性能有一定了解至關(guān)重要。因此了解電氣元器件的伏安特性曲線顯得十分重要，源表脈沖掃描循環(huán)測試軟件應(yīng)運而生。軟件可以控制源表指定通道進(jìn)行線性掃描或?qū)?shù)掃描，可以選擇脈沖源為電壓脈沖或電流脈沖來對電氣元器件的伏安特性曲線更加精準(zhǔn)的測試，并繪制相應(yīng)的伏安特性曲線圖，軟件也可以將掃描數(shù)據(jù)進(jìn)行保存。

2、軟件特點

◆源表脈沖掃描循環(huán)測試軟件提供 USB、RS232、TCP/LAN/ 以太網(wǎng)、GPIB 的連接方式；

◆軟件可實時顯示源表測試到的數(shù)據(jù)，可實時顯示當(dāng)前掃描進(jìn)度，可實時繪制伏安特性曲線；

◆測試數(shù)據(jù)可選擇 CSV 格式格式導(dǎo)出。

3、軟件應(yīng)用

吉時利 keithley 源表測試軟件可應(yīng)用于：半導(dǎo)體電子元器件生產(chǎn)測試、LED 發(fā)光二極管測試、憶阻器測試、激光二極管生產(chǎn)測試、激光雷達(dá) VCSEL 測試等；

4、兼容的部分儀器型號

吉時利 keithley2600 系列源表脈沖掃描循環(huán)測試軟件兼容吉時利 Keithley2600A/B 全系列數(shù)字源表。

5、軟件功能介紹

5.1、儀器連接

儀器連接界面可以進(jìn)行吉時利源表的連接?？蛇x USB、RS232、TCP/LAN/ 以太網(wǎng)、GPIB 的連接方式；

5.2、參數(shù)配置

需要配置源表的測量通道、脈沖類型（電壓脈沖或電流脈沖）、掃描類型（線性掃描或?qū)?shù)掃描）、脈沖基線、起始值、終止值、通道限值、脈沖寬度、脈沖間隔、掃描點數(shù)以及循環(huán)參數(shù)（循環(huán)次數(shù)和循環(huán)間隔）的配置。

5.3、運行測試

點擊開始掃描進(jìn)入測試界面，如圖所示?？蓪崟r顯示當(dāng)前掃描進(jìn)度、可實時繪制伏安特性曲線。

5.4、導(dǎo)出報告文件和趨勢圖

在導(dǎo)出界面可以導(dǎo)出文件和趨勢圖，可將掃描數(shù)據(jù)以 csv 格式進(jìn)行保存。

看完納米軟件對于吉時利 keithley2600 脈沖信號測試軟件，憶阻器測試 | 半導(dǎo)體測試的介紹，是不是想馬上去體驗看看呢？索取產(chǎn)品資料，申請免費試用聯(lián)系，搜索【納米軟件】

交流C-V測試可以揭示材料的氧化層厚度，晶圓工藝的界面陷阱密度，摻雜濃度，摻雜分布以及載流子壽命等，通常使用交流C-V測試方式來評估新工藝，材料， 器件以及電路的質(zhì)量和可靠性等。比如在MOS結(jié)構(gòu)中， C-V測試可以方便的確定二氧化硅層厚度dox、襯底 摻雜濃度N、氧化層中可動電荷面密度Q1、和固定電 荷面密度Qfc等參數(shù)。

C-V測試要求測試設(shè)備滿足寬頻率范圍的需求，同時連線簡單，系統(tǒng)易于搭建，并具備系統(tǒng)補償功能，以補償系統(tǒng)寄生電容引入的誤差。

進(jìn)行C-V測量時，通常在電容兩端施加直流偏壓，同時利用一個交流信號進(jìn)行測量。一般這類測量中使用的交流信號頻率在10KHz到10MHz之間。所加載的 直流偏壓用作直流電壓掃描，掃描過程中測試待測器件待測器件的交流電壓和電流，從而計算出不同電壓下的電容值。

在CV特性測試方案中，同時集成了美國吉時利公司源表（SMU）和合作伙伴針對CV測試設(shè)計的專用精 密LCR分析儀。源表SMU可以輸出正負(fù)電壓，電壓 輸出分辨率高達(dá)500nV。同時配備的多款LCR表和 CT8001 直流偏置夾具，可以覆蓋 100Hz~ 1MHz 頻 率和正負(fù)200V電壓范圍內(nèi)的測試范圍。

方案特點：

★包含C-V（電容-電壓），C-T（電容-時間），C-F （電容-頻率）等多項測試測試功能，C-V測試可同時支持測試四條不同頻率下的曲線

★測試和計算過程由軟件自動執(zhí)行，能夠顯示數(shù)據(jù)和 曲線，節(jié)省時間

★提供外置直流偏壓盒，偏壓支持到正負(fù)200V， 頻率范圍 100Hz - 1MHz。

★支持使用吉時利24XX/26XX系列源表提供偏壓

測試功能：

電壓-電容掃描測試

頻率-電容掃描測試

電容-時間掃描測試

MOS器件二氧化硅層厚度、襯底摻雜濃度等參數(shù)的計算

原始數(shù)據(jù)圖形化顯示和保存

MOS電容的 C-V 特性測試方案

系統(tǒng)結(jié)構(gòu)：

系統(tǒng)主要由源表、LCR 表、探針臺和上位機軟件組成。 LCR 表支持的測量頻率范圍在0.1Hz~ 30MHz。源表 (SMU)負(fù)責(zé)提供可調(diào)直流電壓偏置，通過偏置夾具盒 CT8001加載在待測件上。

LCR 表測試交流阻抗的方式是在 HCUR 端輸出交流電 流，在 LCUR 端測試電流，同時在 HPOT 和 LPOT 端 測量電壓值。電壓和電流通過鎖相環(huán)路同步測量，可 以精確地得到兩者之間的幅度和相位信息，繼而可以推算出交流阻抗參數(shù)。

典型方案配置：

系統(tǒng)參數(shù)：

下表中參數(shù)以 PCA1000 LCR 表和 2450 源表組成的 C-V測試系統(tǒng)為例：

安泰測試已為西安多所院校、企業(yè)和研究所提供吉時利源表現(xiàn)場演示，并獲得客戶的高度認(rèn)可，安泰測試將和泰克吉時利廠家一起，為客戶提供更優(yōu)質(zhì)的服務(wù)和全面的測試方案，為客戶解憂。

KickStart 軟件是吉時利Keithley是為吉時利keithley儀器專配的測試軟件，使用 KickStart 軟件能夠加速所需的測量方法，簡化了儀器了解過程，只需幾分鐘即可將儀器從包裝箱中取出并獲取實際設(shè)備數(shù)據(jù)。

通過立即繪制數(shù)據(jù)并在讀數(shù)表中提供數(shù)據(jù)的快速統(tǒng)計摘要信息，KickStart 可更快地獲得測試數(shù)據(jù)，并制定進(jìn)入下一個設(shè)備開發(fā)階段時所需的決策。該軟件通過使用便捷的導(dǎo)出功能來幫助快速復(fù)制測試和比較結(jié)果，從而節(jié)省您的寶貴時間。通過 KickStart，工程師能夠?qū)Ｗ⒂诮庾x測試結(jié)果，從而實現(xiàn)創(chuàng)新目標(biāo)。

一、KickStart 軟件支持多種儀器的器件表征測試平臺

KickStart軟件可以支持多種吉時利keithley儀器使用：

1.數(shù)據(jù)采集器

KickStart軟件能夠快速配置多通道數(shù)據(jù)采集儀器，將數(shù)百萬個讀數(shù)直接傳輸?shù)?PC 磁盤介質(zhì)，以實現(xiàn)安全的數(shù)據(jù)存檔，以隨時可用的格式導(dǎo)出數(shù)據(jù)，用于報告和進(jìn)一步分析，即使正在運行測試也可以同時保存數(shù)據(jù)。

2. 吉時利源表及其他I-V 表征器

KickStart軟件能實現(xiàn)各種材料和設(shè)備上進(jìn)行電流與電壓 (I-V) 測試，在每次測試中Z多使用四個 SourceMeter? SMU 儀器。

3. 精密萬用表

通過KickStart軟件獨立或同時運行多次測試，記錄來自一臺或多臺數(shù)字萬用表的測量結(jié)果，使用內(nèi)置在數(shù)據(jù)表中的統(tǒng)計信息快速獲取數(shù)據(jù)摘要，準(zhǔn)確迅速完成jing準(zhǔn)測試。

4. 電源

通過KickStart軟件輕松訪問控制偏壓和電流限制，同時在主視圖區(qū)域中查看來自主測量儀器的數(shù)據(jù)，配置列表掃描功能以自動執(zhí)行測試，例如監(jiān)控功耗或負(fù)載電流穩(wěn)定性。

二、KickStart 軟件-無需專業(yè)知識即可自動從多臺儀器中收集數(shù)據(jù)

KickStart能夠收集數(shù)百萬個讀數(shù)并將其流式傳輸?shù)?PC 磁盤介質(zhì)以進(jìn)行安全存檔，并且在多臺儀器上單獨或同時運行測試

三、KickStart 軟件是用于快速可視化數(shù)據(jù)的簡單工具

1.用于查看數(shù)據(jù)的大面積區(qū)域

2.在一個窗口中訪問有關(guān)多次測試的信息

3.使用標(biāo)記突出顯示您感興趣的數(shù)據(jù)

4.在單個繪圖中比較來自多輪測試的數(shù)據(jù)

四、KickStart 軟件能夠快速簡單地復(fù)制測試和共享或結(jié)果

1.使用模擬的儀器配置測試，并在真實儀器可用時切換到真實儀器中

2.將測試配置保存在 KickStart 項目中，并與測試文檔數(shù)據(jù)一起導(dǎo)出

3.以 .csv 格式導(dǎo)出數(shù)據(jù)

4.以圖片格式導(dǎo)出圖形

除了上述基本應(yīng)用和主要特點，KickStart軟件還能提供用于絕緣材料的體積和表面電阻率測量、材料的時間常數(shù)的電氣化時間、電阻率與環(huán)境溫度和相對濕度的相關(guān)性等測試的高級應(yīng)用。目前，此軟件提供安裝免費使用 60 天。安泰測試作為泰克吉時利的長期合作伙伴，專業(yè)提供設(shè)備選型和測試方案的提供，歡迎有需求有疑問的廣大客戶訪問安泰測試網(wǎng)。

半導(dǎo)體分立器件是組成集成電路的基礎(chǔ)，包含大量的 雙端口或三端口器件，如二極管，晶體管，場效應(yīng)管等。 直流I-V測試則是表征微電子器件、工藝及材料特性的 基石。通常使用I-V特性分析，或I-V曲線，來決定器 件的基本參數(shù)。微電子器件種類繁多，引腳數(shù)量和待 測參數(shù)各不相同，除此以外，新材料和新器件對測試 設(shè)備提出了更高的要求，要求測試設(shè)備具備更高的低 電流測試能力，且能夠支持各種功率范圍的器件。

分立器件I-V特性測試的主要目的是通過實驗，幫助工 程師提取半導(dǎo)體器件的基本I-V特性參數(shù)，并在整個工 藝流程結(jié)束后評估器件的優(yōu)劣。

隨著器件幾何尺寸的減小，半導(dǎo)體器件特性測試對測 試系統(tǒng)的要求越來越高。通常這些器件的接觸電極尺 寸只有微米量級，這些對低噪聲源表，探針臺和顯微 鏡性能都提出了更高的要求。

半導(dǎo)體分立器件I-V特性測試方案，泰克公司與合作 伙伴使用泰克吉時利公司開發(fā)的高精度源測量單元 （SMU）為核心測試設(shè)備，配備使用簡便靈活，功能 豐富的CycleStar測試軟件，及穩(wěn)定的探針臺，為客戶提供了可靠易用的解決方案，極大的提高了用戶 的工作效率。

吉時利方案特點：

豐富的內(nèi)置元器件庫，可以根據(jù)測試要求選擇所需要的待測件類型；

測試和計算過程由軟件自動執(zhí)行，能夠顯示數(shù)據(jù)和曲線，節(jié)省了大量的時間；

穩(wěn)定的探針臺，針座分辨率可高達(dá)0.7um，顯微鏡放大倍數(shù)高達(dá)x195倍；

可支持同時操作兩臺吉時利源表，可以完成三端口器件測試。

測試功能：

二極管特性的測量與分析

極型晶體管BJT特性的測量與分析

MOSFET場效應(yīng)晶體管特性的測量與分析

MOS 器件的參數(shù)提取

系統(tǒng)結(jié)構(gòu)：

系統(tǒng)主要由一臺或兩臺源精密源測量單元（SMU）、 夾具或探針臺、上位機軟件構(gòu)成。以三端口MOSFET 器件為例，共需要以下設(shè)備：

1、兩臺吉時利 2450 精密源測量單元

2、四根三同軸電纜

3、夾具或帶有三同軸接口的探針臺

4、三同軸T型頭

5、上位機軟件與源測量單元（SMU）的連接方式如下圖所示，可以使用LAN/USB/GPIB中的任何一個接口進(jìn)行連接。

系統(tǒng)連接示意圖：

典型方案配置：

西安某高?，F(xiàn)場演示圖

安泰測試已為西安多所院校、企業(yè)和研究所提供吉時利源表現(xiàn)場演示，并獲得客戶的高度認(rèn)可，安泰測試將和泰克吉時利廠家一起，為客戶提供更優(yōu)質(zhì)的服務(wù)和全面的測試方案，為客戶解憂。

在面對需要測量多項參數(shù)或多個設(shè)備時，如果用獨立式的解決方案雖然也能解決問題，但是常常繁瑣且耗時。面對這些難題，工程師們憑借著各自的智慧和經(jīng)驗積累，盡可能讓測試工作簡單。

1、使用更簡單

DAQ6510大大縮短了測試設(shè)置、執(zhí)行和分析的時間。它的設(shè)置和運行測試簡單、快速，無需編寫測試程序。DAQ6510數(shù)據(jù)采集和記錄萬用表系統(tǒng)的直觀觸摸屏能夠提供簡單的配置、可視的直觀測試設(shè)置、實時的掃描狀態(tài)可視信息，可快速捕捉問題以避免消耗測試時間，便于分析測試數(shù)據(jù)。

2、測量更廣泛

DAQ6510是一臺可以測量多項參數(shù)并能同時測量多臺設(shè)備的儀器。它有12個插入式開關(guān)模塊可供選擇，擁有巨大的靈活性，可以構(gòu)建各種各樣的數(shù)據(jù)采集或測試系統(tǒng)。例如，可以使用熱電偶在環(huán)境箱中測量器件的溫度，這種應(yīng)用可以使用插入式開關(guān)模塊，為熱電偶測量提供自動冷端補償，通過使用兩個開關(guān)模塊能測量多達(dá)80 個器件。此外，DAQ6510除測量溫度，還可以測量電流、電壓、電阻等參數(shù)。

2、 采集數(shù)據(jù)更快速

使用KickStart儀器控制軟件PC上快速編程數(shù)據(jù)采集測試。軟件不需要編程，只需使用菜單屏幕輸入測試設(shè)置即可，然后將以表格和圖形格式顯示結(jié)果。

以上內(nèi)容由西安安泰測試整理，如需了解吉時利DAQ6510更多詳細(xì)產(chǎn)品介紹，歡迎咨詢安泰測試網(wǎng)。

測試速度對波形采集的影響到底有多大，下圖是NPLC在0.005、0.5時分別采集到的電流波形，結(jié)果一目了然。

功耗測量的重要性

在 NB-IOT，LORA，BLE 等低功耗的測試中，需要在極低的范圍內(nèi)，測量每一個器件的功耗。

準(zhǔn)確的功耗量，是優(yōu)化產(chǎn)品耗電性能的基礎(chǔ)，準(zhǔn)確測量IoT設(shè)備的耗電特性，可以讓設(shè)計工程師推算產(chǎn)品的待機時間，使用時間等關(guān)鍵信息，也能為進(jìn)一步的耗電優(yōu)化提供數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。因此完整捕獲波形尤為關(guān)鍵。

方案選擇：

安泰測試推薦吉時利DMM7510+2280S+KSC-4000A， 為低功耗測量采集波形提供理想的解決方案。

在本方案中，吉時利DMM7510可以作為高精度電流表，以采樣速率高達(dá)1MS/s的18位數(shù)字化儀精確地抓取、分析瞬間電流、電壓波形。此外，DMM7510還具備2750萬的數(shù)據(jù)存儲能力，支持長時間采樣分析。在吉時利DMM7510萬用表5英寸電容觸摸顯示屏上，使用水平和垂直光標(biāo)，可以計算出平均電流，利用此值則可以確定DUT的功耗。

與此同時，吉時利2280S高精度電源為DUT提供電源，并搭載低功耗直流特性分析軟件KSC-4000A，整個低功耗測試操作過程，僅需三步即可完成，大大減輕了工程師的工作負(fù)荷：

1. 選擇連接模式連接測試設(shè)備以及 DUT 設(shè)備；

2. 設(shè)置相應(yīng)的測試時間，采樣率；

3. 啟動。等待測試時間完成。工程師可以對生成的電流曲線進(jìn)行放大縮小，通過分析和改善DUT設(shè)備在工作和待機過程中的狀態(tài)，達(dá)到提高DUT設(shè)備待機時間的目的；

吉時利DMM7510+2280S+KSC-4000A，為捕獲波形提供強有力的保障，是低功耗測試高效、放心之選。

安泰測試作為吉時利長期合作伙伴，為客戶提供吉時利產(chǎn)品選型、銷售、維修和技術(shù)支持一站式服務(wù)沒如果您想了解吉時利更多測試方案，歡迎訪問安泰測試網(wǎng)www.agitek.com.cn。

泰克及旗下吉時利品牌，提供各類材料電參數(shù)測試方案，包括：

1、電輸運特性測試，量子材料、超導(dǎo)材料、半金屬材料、異質(zhì)結(jié)構(gòu)材料，物性表征測試方案

2、新一代高速存儲單元及類腦計算、神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)測試方案：

憶阻器測試方案

半浮柵器件測試方案

MOSFET器件測試方案

類腦計算/神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)測試方案

3、微機電系統(tǒng)MEMS 測試方案

4、寬禁帶材料測試方案

5、納米結(jié)構(gòu)材料測試方案

納米材料測試方案概述

納米材料微小電阻測試方案

納米發(fā)電測試方案

二維/石墨烯材料電阻率測試方案

6、薄膜類及表面材料的電阻率測試方案

7、絕緣材料電性能表征測試方案

材料測試平臺主要提供材料電學(xué)特性的測試方案。電學(xué)特性是許多材料研究的ZD，常見的測試參數(shù)：

包括電阻率，方阻，載流子濃度，載流子遷移率等

常用的測試方法是四探針法，范德瓦爾堡法，霍爾效應(yīng)。

推薦設(shè)備：

現(xiàn)場演示圖：

安泰測試致力于電子電力測試測量行業(yè)十一年，和泰克吉時利廠家建立了密切穩(wěn)定的合作關(guān)系，立足西北，服務(wù)全國的廣大客戶，公司具備專業(yè)的技術(shù)支持和選型能力，為客戶提供產(chǎn)品選型、方案定制、儀器銷售、租賃、維修、培訓(xùn)等一站式服務(wù)。

【納米發(fā)電技術(shù)概述】

納米發(fā)電機，是基于規(guī)則的氧化鋅納米線，在納米范圍內(nèi)將機械能轉(zhuǎn)化成電能，是世界上最小的發(fā)電機。目前納米發(fā)電機可以分為三類：

一類是壓電納米發(fā)電機；第二類是摩擦納米發(fā)電機；第三類為熱釋電納米發(fā)電機。一般被應(yīng)用在生物醫(yī)學(xué)，軍事，無線通信，無線傳感。

【測試難點】

1、發(fā)電機產(chǎn)生的電流小

由于納米發(fā)電自身的技術(shù)特點，在研究過程中需要測試單位面積機械能產(chǎn)生的電能，測試產(chǎn)生的電壓，微小的電流及功率信號，電壓基本在幾伏甚至幾十伏，而電流一般都是uA甚至nA級別，功率在mW甚至uW級別。如何精確的測試微小電流及功率信號比較困難，對測試儀器精度和穩(wěn)定性要求非常高。泰克吉時利公司專注于微小電信號測試，史上多位物理學(xué)諾貝爾獎獲得者都使用和信賴吉時利測試儀器。在納米發(fā)電研究中，吉時利的產(chǎn)品仍是業(yè)內(nèi)大多數(shù)人的選擇，尤其在微小信號測試值得信賴。

2、大電機的內(nèi)阻大，開路電壓測不準(zhǔn)

上圖為您介紹了測量靈敏度的理論極限取決于在電路中的電阻所產(chǎn)生的噪聲。電壓噪聲是與墊著、帶寬和溫度的乘積的平方根成正比的。從圖中可見，源電阻限制了電壓測量的理論靈敏度，也就是說能準(zhǔn)確測量一個1Ω源電阻的1uV信號時，如果該信號的源墊著變成1TΩ，則該測量就會變得不可能。因為在源電阻為1MΩ時對于1uV的測量已經(jīng)接近理論極限了。這時候采用通常的數(shù)字萬用表是無法完成這類測量的。了解了這個原理，選擇合適的儀器是保證準(zhǔn)確測試微小信號前提。

3、信號變化快，很難測電壓或者電流峰值

由于機械的拉伸和沖擊碰撞運動都是在短時間內(nèi)完成，而評價一個納米發(fā)電機的性能高低的一個關(guān)鍵因素是其輸出的峰值電流和峰值電壓，以及峰值功率，而采用傳統(tǒng)的表由于采樣率不足，就可能導(dǎo)致峰值點采集缺失，從而會誤導(dǎo)實驗人員，導(dǎo)致錯失機遇。

而吉時利的高阻計內(nèi)置了模擬輸出端口，通過將測試信號轉(zhuǎn)化為一個2V的模擬電壓信號進(jìn)行實時輸出，這樣只需要在外部再加一個高速/高ADC的采集系統(tǒng)就可以將快速變化的電流，電壓和電阻進(jìn)行實時采集。

【納米發(fā)電測試方案】

微小電流信號測試應(yīng)用

采用高內(nèi)阻的吉時利靜電計6517+數(shù)據(jù)采集儀DMM6500+納米發(fā)電采集軟件來進(jìn)行微小納米發(fā)電電流數(shù)據(jù)采集。

納米發(fā)電矩陣應(yīng)用測試

由于現(xiàn)在納米發(fā)電機中有一部分已經(jīng)轉(zhuǎn)向?qū)嶋H應(yīng)用研究，其中之一就有壓力傳感方向，而矩陣式壓力傳感器的測試是很多老師和同學(xué)比較頭疼的一個問題，為了解決這類問題，我們就根據(jù)要求搭建了一個測試方案如下：

測試配置：

西安安泰測試作為泰克吉時利的長期忠誠的綜合服務(wù)商，具備專業(yè)的技術(shù)支持和選型能力；經(jīng)過十多年的發(fā)展，已經(jīng)服務(wù)西安本地乃至西北五省各大研究所院校企業(yè)單位眾多單位，深受客戶廣泛好評。安泰測試歡迎各位有需求、有疑問的電子工程師訪問安泰測試網(wǎng)。

1. 交流電容C-V測試模塊

【納米發(fā)電技術(shù)】

納米發(fā)電機，是基于規(guī)則的氧化鋅納米線，在納米范圍內(nèi)將機械能轉(zhuǎn)化成電能，是世界上最小的發(fā)電機。目前納米發(fā)電機可以分為三類：

一類是壓電納米發(fā)電機；第二類是摩擦納米發(fā)電機；第三類為熱釋電納米發(fā)電機。一般被應(yīng)用在生物醫(yī)學(xué)，軍事，無線通信，無線傳感。

【測試難點】

由于納米發(fā)電自身的技術(shù)特點，在研究過程中需要測試單位面積機械能產(chǎn)生的電能，測試產(chǎn)生的電壓，微小的電流及功率信號，電壓基本在幾伏甚至幾十伏，而電流一般都是uA甚至nA級別，功率在mW甚至uW級別。

如何精確的測試微小電流及功率信號比較困難，對測試儀器精度和穩(wěn)定性要求非常高。泰克吉時利公司專注于微小電信號測試，史上多位物理學(xué)諾貝爾獎獲得者都使用和信賴吉時利測試儀器。在納米發(fā)電研究中，吉時利的產(chǎn)品仍是大多數(shù)的選擇，尤其在微小信號測試值得信賴。

【吉時利測試技術(shù)】

 下圖為您介紹了測量靈敏度的理論極限取決于在電路中的電阻所產(chǎn)生的噪聲。電壓噪聲是與電阻、帶寬和絕dui溫度的乘積的平方根成正比的。

從圖中可見，源電阻限制了電壓測量的理論靈敏度，也就是說能準(zhǔn)確測量一個1Ω源電阻的1uV信號時，如果該信號的源電阻變成1TΩ，則該測量就會變得不可能。因為在源電阻為1MΩ時對于1uV的測量已經(jīng)接近理論極限了。這時候采用通常的數(shù)字萬用表是無法完成這類測量的。了解了這個原理，選擇合適的儀器是保證準(zhǔn)確測試微小信號前提。

【納米發(fā)電測試方案】

微小電流信號測試

1. 采用絕緣材料納米發(fā)電技術(shù)，一般源內(nèi)阻在GΩ級，測試電流在pA級別，所以業(yè)內(nèi)都是采用吉時利靜電計6514+StanfordSR570（低噪聲電流前置放大器）+專用的采集軟件來進(jìn)行發(fā)電電流數(shù)據(jù)采集。

2.通用的納米發(fā)電技術(shù)，一般源內(nèi)阻在幾十到幾百MΩ，電流一般在nA，uA

級別，推薦采用吉時利源表SMU2450+Kickstar軟件來測試。

電壓測試方案

1.對于電壓信號測試推薦選用泰克示波器MDO3系+電壓探頭測試V&T波形數(shù)據(jù)。

2. 另外一個方法是采用高速采樣萬用表DMM7510+kickstart軟件，測試電壓變化波形。

安泰測試作為泰克吉時利長期合作伙伴，專業(yè)提供設(shè)備選型和測試方案的提供，為西安多家企業(yè)、院校和研究所提供泰克示波器、吉時利源表等現(xiàn)場演示，并獲得客戶的高度認(rèn)可，如果您想了解泰克吉時利更多應(yīng)用方案，歡迎訪問安泰測試網(wǎng)。

電源產(chǎn)品zui后一道工序需要進(jìn)行長時間烤機測試，如何提GX率，尤其對于大批量生產(chǎn)的情景，既準(zhǔn)確又GX的測試方法非常重要。

利用高精度數(shù)據(jù)采集萬用表測試熱電偶、熱電阻多點溫度及電壓，實現(xiàn)長時間數(shù)據(jù)采集監(jiān)控是行業(yè)內(nèi)推薦的測試方法。想提高電源老化測試效率，吉時利DAQ6510這個方案不可錯過。

一、寬泛且準(zhǔn)確的測量能力

吉時利DAQ6510可以處理 8 種熱電偶類型中的信號，測試溫度范圍：-200℃ ~ 1820℃。

如果想在更窄的溫度范圍內(nèi)獲得更準(zhǔn)確的溫度讀數(shù)，DAQ6510 可以使用熱電阻器測量 -80℃ ~ 150℃的溫度，兩年準(zhǔn)確度為 0.08℃。

DAQ6510 還可以使用電阻溫度檢測器 (RTD) 測量 -200℃ ~ 850℃的溫度，支持2線、3線和4線配置。在使用4線 RTD 時，溫度測量準(zhǔn)確度可以達(dá)到 0.06℃。

二、多達(dá)80通道的測試容量

吉時利DAQ6510是一款高達(dá)6位半測試精度的數(shù)據(jù)采集萬用表，功能強大。單臺DAQ6510 主機支持多達(dá)80通道信號測試；使用固態(tài)多路復(fù)用器插件開關(guān)模塊以每秒 800 個通道的速率進(jìn)行掃描；通過專用的軟件，可以便捷GX地完成電源老化測試。

還在為電源老化測試發(fā)愁嗎？安泰測試推薦吉時利DAQ6510，如需了解吉時利DAQ6510更多應(yīng)用方案或者產(chǎn)品詳細(xì)介紹，歡迎訪問安泰測試網(wǎng)。

吉時利功率數(shù)字源表2657A為吉時利2600A系列高速、精密源測量單元數(shù)字源表系列產(chǎn)品增加了高電壓功能。此系列儀器能幫助吉時利客戶分析范圍更寬的功率半導(dǎo)體器件和材料。2657A內(nèi)建3,000V、180W源，支持以極低的成本向被測器件輸出5倍于接近競爭系統(tǒng)的功率，并且，構(gòu)建至2657A的精密、高速6位半測量引擎的1fA（飛安）電流測量分辨率滿足了下一代功率半導(dǎo)體器件的低漏電要求。

2657A專門做了這些優(yōu)化：二極管、FETs和IGBTs等功率半導(dǎo)體器件的高壓測試應(yīng)用以及氮化鎵(GaN)、碳化硅(SiC)等新材料及其它復(fù)合半導(dǎo)體材料和器件的特性分析。而且，2657A還適于高速瞬態(tài)分析以及在高達(dá)3000V的各種電子器件上進(jìn)行故障測試和漏電測試。

類似于2600A系列的其它產(chǎn)品，2657A提供了極高的靈活性、四象限電壓和電流源/負(fù)載，外加精密電壓計和電流計。2657A在一個全機架機箱中整合了多種儀器功能：半導(dǎo)體特性分析儀、精密電源、真電流源、6位半DMM、任意波形發(fā)生器、電壓或電流脈沖發(fā)生器、電子負(fù)載和觸發(fā)控制器，而且通過吉時利的TSP-Link?技術(shù)完全可擴展至多通道、緊同步系統(tǒng)。與功率相對有限的同類競爭方案所不同的是，2657A的源或阱能力高達(dá)180W直流功率(±3,000V@20mA，±1500V@120mA)。而且，2657A具有1fA分辨率，甚至在輸出3000V高壓的同時還能快速、準(zhǔn)確地進(jìn)行亞皮安級電流測量。

數(shù)字化或集成測量模式

對于瞬態(tài)和穩(wěn)態(tài)特性分析（包括快速變化的熱效應(yīng)）而言，2657A可以選擇數(shù)字化測量模式或集成測量模式。每種模式由兩個獨立的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)定義：一個用于電流，另一個用于電壓，這兩個ADC同步工作并在不犧牲測試吞吐量的前提下確保源回讀的準(zhǔn)確性。數(shù)字化測量模式的18bit模數(shù)轉(zhuǎn)換器支持1毫秒每點的采樣，使用戶能同步采樣電壓和電流瞬時值。反之，競爭方案通常須對多個讀數(shù)取平均值后得出結(jié)果，所以競爭方案的瞬態(tài)特性分析速度不夠快?；?2bit模數(shù)轉(zhuǎn)換器且為整個2600A系列儀器所共有的集成測量模式，優(yōu)化了2657A在需要高測量準(zhǔn)確度和分辨率應(yīng)用中的操作，確保了下一代功率半導(dǎo)體器件常見的極低電流和極高電壓的高精密測量。

強大的測試開發(fā)工具

無需安裝軟件或使用吉時利基于LXI的I-V測試軟件工具TSP Express編程就能實現(xiàn)基本的器件特性分析。用戶只需將PC連接至LXI LAN端口并用任意支持Java的Web瀏覽器即能訪問TSP Express。測試結(jié)果可以用圖形方式或列表方式查看，然后導(dǎo)出為電子表格應(yīng)用的.csv文件。

2657A提供創(chuàng)建測試序列的兩種附加工具：測試腳本生成器應(yīng)用（用于創(chuàng)建、修改、調(diào)試、運行和管理TSP腳本）和基于IVI的LabVIEW?驅(qū)動程序（簡化了將2657A集成至LabVIEW測試序列）。測試腳本生成器應(yīng)用的新調(diào)試功能使測試項目開發(fā)更方便并且更有成效。

ACS軟件基礎(chǔ)版也是元器件特性分析的一個選件。新發(fā)布版具有的豐富特性便于分析高電壓和大電流元器件。已更新的附帶測量庫用于支持高壓2657A和大電流2651A高功率數(shù)字源表的直流和脈沖工作模式。通過測試大多數(shù)器件的輸入、輸出和傳輸特性，這些測量庫支持FETs、BJT、二極管、IGBTs等各種功率器件。一種特殊的“追蹤模式”用簡單滑動條實現(xiàn)對儀器電壓或電流輸出的實時控制。

靈活、準(zhǔn)確度高的連接和探測方案

2657A能通過兼容現(xiàn)有高壓測試應(yīng)用的標(biāo)準(zhǔn)安全高壓(SHV)同軸電纜連接至測試系統(tǒng)的其它儀器。但是，對于需要從測量儀器的小電流測量中實現(xiàn)性能大化的應(yīng)用而言，吉時利還提供了專門的高壓三軸（防漏電）的連接以佳化2657A的測量準(zhǔn)確度。

新型8010高功率器件測試夾具選件能連接高達(dá)3000V或100A的測試封裝高功率器件，可以更安全、更容易地配置包含高電壓2657A，一臺或兩臺大電流2651A測量儀器以及多達(dá)3臺低功率SMU儀器（其它2600A系列儀器或4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)）的器件測試系統(tǒng)。除了標(biāo)準(zhǔn)的香蕉頭跳線外，8010的后面板示波器和散熱探針端口簡化了DUT深入特性分析的系統(tǒng)集成。8010具有完整的安全互鎖功能。為防止在發(fā)生器件故障時損壞測量儀器，8010的集成保護(hù)電路防止2600A系列儀器的較低電壓輸入端口被2657A輸出的高壓損壞。而且，獨立保護(hù)模塊簡化了多臺SMU與第三方探測臺、元器件機械手或其它測試夾具的連接。

以上內(nèi)容由西安安泰測試整理，如果您在吉時利源表選型或者使用過程中有什么問題歡迎咨詢安泰測試技術(shù)工程師。

近期有很多用戶在網(wǎng)上咨詢I-V特性測試， I-V特性測試是很多研發(fā)型企業(yè)和高校研究的對象，分立器件I-V特性測試可以幫助工程師提取半導(dǎo)體器件的基本I-V特性參數(shù)，并在整個工藝流程結(jié)束后評估器件的優(yōu)劣。

I-V特性測試難點：

種類多

微電子器件種類繁多，引腳數(shù)量和待測參數(shù)各不相同，此外，新材料和新器件對測試設(shè)備提出了更高的要求，要求測試設(shè)備具備更高的低電流測試能力，且能夠支持各種功率范圍的器件。

尺寸小

隨著器件幾何尺寸的減小，半導(dǎo)體器件特性測試對測試系統(tǒng)的要求越來越高。通常這些器件的接觸電極尺寸只有微米量級，這些對低噪聲源表，探針臺和顯微鏡性能都提出了更高的要求。

I-V特性測試方案： 

針對I-V 特性測試難點，安泰測試建議可采用keithley高精度源測量單元（SMU）為核心測試設(shè)備，配備使用簡便靈活、功能豐富的 CycleStar 測試軟件，及穩(wěn)定的探針臺。

圖：系統(tǒng)配置連接示意圖

測試功能：

這是一個簡單易用的I-V特性測試方案，無論對于雙端口或三端口器件，如二極管、晶體管、場效應(yīng)管都很適用。

? 二極管特性的測量與分析

? 雙極型晶體管 BJT 特性的測量與分析

? MOSFET 場效應(yīng)晶體管特性的測量與分析

? MOS器件的參數(shù)提取 

吉時利源表簡介及熱門型號推薦：

吉時利源表將數(shù)字萬用表 (DMM)、電源、實際電流源、電子負(fù)載和脈沖發(fā)生器的功能集成在一臺儀器中。通過吉時利源表進(jìn)行分立器件 I-V 特性測試時，支持同時操作兩臺吉時利源表，輕松完成三端口器件測試。此外，因為吉時利源表兼顧高精度和通用性，廣泛適用于教育、科研、產(chǎn)業(yè)等眾多行業(yè)。

安泰測試作為泰克吉時利長期合作伙伴，為多家院校，研究所提供了I-V特性測試方案，并提供了吉時利源表現(xiàn)場演示，如果您也有相關(guān)應(yīng)用，歡迎關(guān)注安泰測試網(wǎng)。

 《半導(dǎo)體測試制程介紹》

 　　測試制程乃是于IC構(gòu)裝后測試構(gòu)裝完成的產(chǎn)品之電性功能以保證出廠IC 功能上的完整性，并對已測試的產(chǎn)品依其電性功能作分類（即分Bin），作為 IC不同等級產(chǎn)品的評價依據(jù)；Z后并對產(chǎn)品作外觀檢驗（Inspect）作業(yè)。

 　　電性功能測試乃針對產(chǎn)品之各種電性參數(shù)進(jìn)行測試以確定產(chǎn)品能正常運作，用于測試之機臺將根據(jù)產(chǎn)品不同之測試項目而加載不同之測試程序；而 外觀檢驗之項目繁多，且視不同之構(gòu)裝型態(tài)而有所不同，包含了引腳之各項性質(zhì)、印字（mark）之清晰度及膠體（mold）是否損傷等項目。而隨表面黏著技術(shù)的發(fā)展，為確保構(gòu)裝成品與基版間的準(zhǔn)確定位及完整密合，構(gòu)裝成品接腳之諸項性質(zhì)之檢驗由是重要。以下將對測試流程做一介紹

上圖為半導(dǎo)體產(chǎn)品測試之流程圖，其流程包括下面幾道作業(yè)：

 1.上線備料  

　　上線備料的用意是將預(yù)備要上線測試的待測品，從上游廠商送來的 包箱內(nèi)拆封，并一顆顆的放在一個標(biāo)準(zhǔn)容器（幾十顆放一盤，每一盤可以放的數(shù)量及其容器規(guī)格，依待測品的外形而有不同）內(nèi)，以利在上測 試機臺（Tester）時，待測品在分類機（Handler）內(nèi)可以將待測品定位，而使其內(nèi)的自動化機械機構(gòu)可以自動的上下料。

 2.測試機臺測試（FT1、FT2、FT3）  

　　待測品在入庫后，經(jīng)過入庫檢驗及上線備料后，再來就是上測試機 臺去測試；如前述，測試機臺依測試產(chǎn)品的電性功能種類可以分為邏輯 IC測試機、內(nèi)存IC測試機及混合式IC（即同時包含邏輯線路及模擬線 路）測試機三種，測試機的主要功能在于發(fā)出待測品所需的電性訊號并接受待測品因此訊號后所響應(yīng)的電性訊號并作出產(chǎn)品電性測試結(jié)果的判 斷，當(dāng)然這些在測試機臺內(nèi)的控制細(xì)節(jié)，均是由針對此一待測品所寫之測試程序（Test Program）來控制。

  　即使是同一類的測試機，因每種待測 品其產(chǎn)品的電性特性及測試機臺測試能力限制而有所不同。一般來說，待測品在一 家測試廠中，會有許多適合此種產(chǎn)品電性特性的測試機臺可供其選擇；除了測試機 臺外，待測品要完成電性測試還需要一些測試配件：

 1）分類機（Handler）

　　承載待測品進(jìn)行測試的自動化機械結(jié)構(gòu)，其內(nèi)有機械機構(gòu)將 待測品一顆顆從標(biāo)準(zhǔn)容器內(nèi)自動的送到測試機臺的測試頭（Test Head）上接受測試，測試的結(jié)果會從測試機臺內(nèi)傳到分類機內(nèi)， 分類機會依其每顆待測品的電性測試結(jié)果來作分類（此即產(chǎn)品分 Bin）的過程；此外分類機內(nèi)有升溫裝置，以提供待測品在測試 時所需測試溫度的測試環(huán)境，而分類機的降溫則一般是靠氮氣，以達(dá)到快速降溫的目的。不同的Handler、測試機臺及待測品的搭配下，其測試效果 會有所同，因此對測試產(chǎn)品而言，對可適用的Handler與Tester就會有喜好的選擇現(xiàn)象存在。測試機臺一般會有很多個測試頭（Test Head），個數(shù)視測試機臺的機型規(guī)格而定，而每個測試頭同時可以上一部分類機或針測機， 因此一部測試機臺可以同時的與多臺的分類機及針測機相連，而依連接的方式又可分為平行 處理，及乒乓處理，前者指的是在同一測試機臺上多臺分類機以相同的測試程試測試同一批 待測品，而后者是在同一測試機臺上多臺分類機以不同的測試程序同時進(jìn)行不同批待測品的 測試。

 2）測試程序（Test Program）

　　每批待測產(chǎn)品都有在每個不同的測試階段（FT1、FT2、FT3） ，如果要上測試機臺測試，都需要不同的測試程序，不同品牌的測試機臺，其測試程序的語法并不相同，因此即使此測試機臺有 能力測試某待測品，但卻缺少測試程序，還是沒有用；一般而言，因為測試程序的內(nèi)容與待測品的電性特性+息息相關(guān)，所以大多 是客戶提供的。

 3）測試機臺接口

　　這是一個要將待測品 接腳上的訊號連接上測試 機臺的測試頭上的訊號傳送接點的一個轉(zhuǎn)換接口， 此轉(zhuǎn)換接口，依待測品的 電性特性及外形接腳數(shù)的不同而有很多種類，如：Hi-Fix（內(nèi)存類產(chǎn)品）、Fixture Board（邏輯類產(chǎn)品）、Load Board（邏輯類產(chǎn) 品）、Adopt Board + DUT Board（邏輯類產(chǎn)品）、Socket（接腳器 ，依待測品其接腳的分布位置及腳數(shù)而有所不同）。

 　　每批待測品在測試機臺的測試次數(shù)并不相同，這完全要看客戶的要求，一般而言邏輯性的產(chǎn)品，只需上測試機臺一次（即FT2）而不用FT1 、FT3，如果為內(nèi)存IC則會經(jīng)過二至三次的測試，而每次的測試環(huán)境溫度要求會有些不同，測試環(huán)境的溫度選擇，有三種選擇，即高溫、常溫 及低溫，溫度的度數(shù)有時客戶也會要求，升溫比降溫耗時許多，而即于那一道要用什么溫度，這也視不同客戶的不同待測品而有所不同。

 　　每次測試完，都會有測試結(jié)果報告，若測試結(jié)果不佳，則可能會產(chǎn)生Hold住本批待測品的現(xiàn)象產(chǎn)生。

3.預(yù)燒爐（Burn-In Oven）（測試內(nèi)存IC才有此程序）  

　　在測試內(nèi)存性產(chǎn)品時，在FT1之后，待測品都會上預(yù)燒爐里去 Burn In，其目的在于提供待測品一個高溫、高電壓、高電流的環(huán)境，使生命周期較短的待測品在Burn In的過程中提早的顯現(xiàn)出來，在Burn In后 必需在96個小時內(nèi)待測品Burn In物理特性未消退之前完成后續(xù)測試機臺 測試的流程，否則就要將待測品種回預(yù)燒爐去重新Burn In。在此會用到 的配件包括Burn-In Board及Burn In Socket..等。

4.電性抽測  

　　在每一道機臺測試后，都會有一個電性抽測的動作（俗稱QC或Q貨） ，此作業(yè)的目的在將此完成測試機臺測試的待測品抽出一定數(shù)量，重回測試機臺在測試程序、測試機臺、測試溫度都不變下，看其測試結(jié)果是 否與之前上測試機臺的測試結(jié)果相一致，若不一致，則有可能是測試機臺故障、測試程序有問題、測試配件損壞、測試過程有瑕疵..等原因， 原因小者，則需回測試機臺重測，原因大者，將能將此批待測品Hold住，等待工程師、生管人員與客戶協(xié)調(diào)后再作決策。

5.卷標(biāo)掃描（Mark Scan）  

　　利用機械視覺設(shè)備對待測品的產(chǎn)品上的產(chǎn)品Mark作檢測，內(nèi)容包括 Mark的位置歪斜度及內(nèi)容的清晰度..等。

6.人工檢腳或機器檢腳  

　　檢驗待測品IC的接腳的對稱性、平整性及共面度等，這部份作業(yè)有 時會利用雷射掃描的方式來進(jìn)行，也會有些利用人力來作檢驗。

7.檢腳抽檢與彎腳修整  

　　對于彎腳品，會進(jìn)行彎腳品的修復(fù)作業(yè)，然后再利用人工進(jìn)行檢腳 的抽驗。

8.加溫烘烤（Baking）  

　　在所有測試及檢驗流程之后，產(chǎn)品必需進(jìn)烘烤爐中進(jìn)行烘烤，將待測品上水氣烘干，使產(chǎn)品在送至客戶手中之前不會因水氣的腐蝕而影響待測品的質(zhì)量。

9.包裝（Packing）

　　將待測品依其客戶的指示，將原來在標(biāo)準(zhǔn)容器內(nèi)的待測品的分類包 裝成客戶所指定的包裝容器內(nèi)，并作必要的包裝容器上之商標(biāo)粘貼等。

10.出貨的運送作業(yè)

　　由于Z終測試是半導(dǎo)體IC制程的Z后一站，所以許多客戶就把測試 廠當(dāng)作他們的成品倉庫，以避免自身工廠的成品存放的管理，另一方面也減少不必要的成品搬運成本，因此針對客戶的要求，測試廠也提供所 謂的「Door to Door」的服務(wù)，即幫助客戶將測試完成品送至客戶指定的地方（包括客戶的產(chǎn)品買家），有些客戶指的地點在海外者，便需要考慮船期的安排，如果在國內(nèi)者，則要考慮貨運的安排事宜。  

   半導(dǎo)體組件制造過程可概分為晶圓處理制程（Wafer Fabrication；簡稱 Wafer Fab）、晶圓針測制程（Wafer Probe）、封裝（Packaging）、測試制程（Initial Test and Final Test）等幾個步驟。一般稱晶圓處理制程與晶圓針測制程為前段（Front End）制程，而構(gòu)裝、測試制程為后段（Back End）制程

隨著電子技術(shù)的發(fā)展，電池被廣泛用于移動電話、聽力器、電子工具，甚至衛(wèi)星上。根據(jù)電池所使用的不同行業(yè)，其測試也根據(jù)其化學(xué)特性、尺寸、特殊用途而有所區(qū)別。二次電池(可充電電池)一般需要進(jìn)行放電－充電測試過程。二次電池的放電特性是其容量和壽命的重要指標(biāo)，在產(chǎn)品測試過程中，進(jìn)行充放電可用來確保其質(zhì)量，同時應(yīng)保證測試電池不被短路。

典型的電池充放電測試應(yīng)包括程控電源、電子負(fù)載、電壓表、電流表。而Keithley吉時利2400系列數(shù)字源表由于可激勵并測試電流和電壓，故僅一臺儀器便可完成測試過程，從而節(jié)省了空間和編程時間。

測試原理：

二次電池根據(jù)不同應(yīng)用可采用不同方法進(jìn)行充放電測試，本文采用恒壓或恒流方法。

使用恒壓方法，程控電壓源提供一固定電壓，該值與電池電壓相等。電壓源的電流可限定為一安全充電電流值。當(dāng)電池充滿時，電流會降低直至為零(或近似為零)。出于對電池安全考慮，不要過量充電。過量充電使電壓低于一規(guī)定的限值，會增長充電時間或損壞電池。

采用恒流方法，程控電流源可提供一額定的電流。電流源將連續(xù)對電池進(jìn)行充放電直至其到達(dá)一電壓值。

可用恒流方法來定義電池容量(C)。該容量是電池流出電流對時間的積分，從t=0開始到規(guī)定的cut-off電壓為止。表達(dá)式為：C=∫ tid t，其單位為安培小時，同時注明負(fù)載電流。如：500mA.hour的電池,在50mA下放電,并放電至0.1C(或C/10)，500mAh@50mA的電池，可給10mA的負(fù)載供電50小時。影響電池容量的因素包括電池尺寸、化學(xué)物質(zhì)、溫度、放電比率等。

測試過程：

把源表作為恒壓源進(jìn)行充放電 使源表處于恒壓方式，可同時測試電流或電壓。電壓源可根據(jù)電池要求設(shè)定到所要求的值，鉗位電流值也可適當(dāng)設(shè)定。當(dāng)源表使電池充電或放電到達(dá)相應(yīng)的電壓值，該儀器便處于電流鉗位狀態(tài)，直到電池達(dá)到所要求的電壓。

把源表作為恒流源進(jìn)行充放電

當(dāng)源表處于恒流時，可同時測量電壓/電流。首先對該儀器進(jìn)行電流輸出的設(shè)定。當(dāng)充電時，采用正電流；當(dāng)放電時，使用負(fù)電流。其鉗位電壓也可進(jìn)行適當(dāng)設(shè)定。

在充電方式下，鉗位電壓設(shè)定成電池電壓，源表作為恒電流輸出，直到到達(dá)設(shè)定電壓值。在該點時，儀器將處于鉗位狀態(tài)，而變成恒壓源。在放電方式下，鉗位電壓應(yīng)高于電池電壓。如果其低于或等于電池電壓，源表將鉗位而使電流變大。

放電過程自動測試：

由于充放電過程需持續(xù)幾個小時，故用計算機程控源表自動完成測試。

使用脈沖電流進(jìn)行充放電

在手機及尋呼機中，二次電池在使用中其負(fù)載電流為數(shù)字信號，故電池要求采用脈沖電流方式進(jìn)行充放電。

用2400系列源表來產(chǎn)生脈沖電流

例1：產(chǎn)生脈沖電流并監(jiān)控電壓

該例中，電流峰值為-1A(6.7ms)，休眠電流為-0.2A(13.3ms)，間隔為20ms。在該例中，對電壓進(jìn)行監(jiān)控，并與設(shè)定值進(jìn)行比較，一旦電壓到達(dá)規(guī)定值，輸出電流便關(guān)掉。

例2：按GSM標(biāo)準(zhǔn)對手機電池的測試

根據(jù)GSM協(xié)議，電池發(fā)生的脈沖電流為幾微秒或幾百毫秒。源表可輸出該脈沖電流波形，同時需另一塊源表進(jìn)行電壓測試。

多個電池測試

由于電池充放電過程需幾個小時，故需要對若干電池進(jìn)行同時測試。在圖1中，可對40個電池進(jìn)行測試。

用一獨立的電壓表來對各個電池進(jìn)行監(jiān)測，源表輸出為10mA,同時給40個電池供電。Keithley2000表(6{1}\over{2}DMM)對每個電池電壓進(jìn)行監(jiān)測,并可將測量值與設(shè)定值進(jìn)行比較，同時可用計算機實現(xiàn)自動測試。

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