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常用的粒度測試方法有哪些？

常用的粒度測試方法有激光散射法（um）、動態(tài)光散射法（nm）、動態(tài)和靜態(tài)顯微鏡圖像法（um，粒度和粒形）、重力和離心沉降法（um/nm）、庫爾特電阻法（um）、電鏡法（um/nm）、超聲波法(um)、以及篩分法等。目前最常用的是激光散射法和動靜態(tài)圖像分析法。

各種常用粒度測試方法各有哪些優(yōu)缺點？

1、激光衍射/散射法

• 由激光光源、樣品池、光學系統(tǒng)、信號放大及A/D轉換裝置、數(shù)據(jù)處理及控制系統(tǒng)組成。

• 優(yōu)點：操作簡便，測試速度快，測試范圍寬泛，重復性和準確性好， 可實現(xiàn)在線測量和干濕法測量。

• 缺點：結果受計算分布模型影響較大，只能得到等效球徑，干法效果一般，儀器造價較高。
  

2、動態(tài)圖像法

• 隨著計算機圖像技術和視頻軟硬件的飛速發(fā)展，由專 利光路系統(tǒng)，高速攝像系統(tǒng)、樣品分散系統(tǒng)、控制系統(tǒng)以及高速圖像分析軟件組成的新一代動態(tài)圖像法粒度粒形分析儀出現(xiàn)了。同時配備重力模塊，氣流模塊和流體模塊。

• 優(yōu)點：顆粒圖像直觀清晰，統(tǒng)計量非常大，代表性強，操作簡便、拍攝與分析速度快、重復性和準確性好，干法濕法也可重力法測試，測量范圍寬，可測量從微米級到厘米級別的寬范圍顆粒樣本，可進行球形度、長徑比，對稱性等形貌分析，應用范圍寬泛。
  

3、靜態(tài)圖像法

• 由入射及透射光源、顯微鏡、攝像機、載物平臺、樣品分散裝置和圖像分析軟件組成。

• 優(yōu)點：操作簡單，圖像清晰、可進行球形度、長徑比，對稱性等形貌分析。

• 傳統(tǒng)的靜態(tài)圖像法缺點：分析速度慢，缺乏良好的粉末分散手段，制備復雜。

• 新一代的全自動靜態(tài)圖像法已經可以做到自動化掃描拍攝，并配備專用的粉末制備裝置。大大改善了靜態(tài)圖像法的使用范圍。

4、電鏡法

• 用電子顯微鏡（掃描電鏡或透射電鏡）拍攝顆粒圖像，然后再進行 圖像分析的方法。

• 優(yōu)點：能精確分析納米顆粒和超細顆粒，圖像清晰，表面紋理 可見，分辨率高，是表征納米材料粒度的標準方法。

• 缺點：制備復雜，單幅圖像中的顆粒數(shù)少、代表性差、儀器價格昂貴。

5、光阻法

• 優(yōu)點：測試速度快，可測液體或氣體中顆粒數(shù)，分辨力高，樣品用量少。

• 缺點：測量誤差較大，進樣系統(tǒng)復雜，不適用粒徑＜10um的樣品。

6、電阻法

• 優(yōu)點：操作簡便，可測顆粒數(shù)，等效概念明確，速度快，準確性好。

• 缺點：取樣代表性較差，測試范圍較窄，約0.5um~200um，且不適合寬分布樣品。

7、沉降法

• 優(yōu)點：操作簡便，儀器可以連續(xù)運行，價格較低，準確性和重復較好，測試范圍較大。

• 缺點：測試時間較長，操作較復雜，結果易受環(huán)境因素影響。

8、篩分法

• 優(yōu)點：簡單、直觀、設備造價低，常用于大于 38μm（400目）的樣品。

• 缺點：不能用于超細樣品，結果受認為因素和篩孔變形影響較大。

9、動態(tài)光散射法

• 動態(tài)光散射法是測試納米材料粒度分布的常用方法。首先將 納米顆粒放到合適的液體（通常為純凈水）中制成懸浮液，懸浮液中的納米顆粒 由于受到水分子熱運動（布朗運動）的碰撞而進行不規(guī)則運動。當一束水平偏振 的激光照射到這些顆粒上時，會在引起的散射光強的瞬間變化。這些瞬間變化的 散射光信號的幅度、頻率等特征與顆粒大小有關，對這些信號進行相關運算就可 以得到呢米顆粒的粒度分布了。

• 優(yōu)點：測試范圍寬（從納米到微米）、測試速度快，重復性好，操作簡便。

• 缺點：測試寬分布的納米材料誤差及較大。

10、超聲波法

• 優(yōu)點：可對高濃度漿料直接現(xiàn)場測量，無需取樣。

• 缺點：分辨率較低，準確性和重復性較差，結果受環(huán)境因素影響較大。