1.4.如果峰形解析不正確（未完全分離的重疊峰），可能會被誤認(rèn)為柱（色譜柱）或緩沖液的問題。

如果僅部分解析兩個(gè)峰形（兩個(gè)峰僅有部分分開），則可能會認(rèn)為其是裂峰或雙峰。如圖4顯示的情形。

在圖4a中，可觀察到與圖3極為類似的峰值變形（峰變形），其表明玻璃料被堵塞（篩板堵塞）。

改變柱并未糾正這個(gè)問題（更換色譜柱不能解決此問題），所以玻璃料（篩板）堵塞并非導(dǎo)致這一現(xiàn)象的原因。如果柱上樣品的質(zhì)量減少（減少上樣量）（圖4b），峰形看起來更像是兩個(gè)峰，而不是一個(gè)肩形峰。

這便需要進(jìn)一步研究，以確定是否存在第二個(gè)峰。可以通過修改方法條件來完全分離兩個(gè)峰（由此進(jìn)行了進(jìn)一步的研究，證實(shí)了存在第二個(gè)峰。

調(diào)整方法的條件后，兩個(gè)峰完全分離）。

圖4. 由于存在第二個(gè)組分而產(chǎn)生分裂峰。

（a）25ng / mL，和（b）等離子體中10ng/ mL的藥物（第二個(gè)峰）（10 ng/mL血漿中的藥物（第二個(gè)峰））。來源[1]。

熒光檢測器出現(xiàn)半峰是什么原因？

GX液相色譜出現(xiàn)肩峰的原因有哪些？

作者：郭睿

一 問題的提出

       重疊峰的剝離是電子探針分析的難點(diǎn)之一。例如，TiN 作為涂層材料經(jīng)常被要求給出準(zhǔn)確的定量分析數(shù)據(jù)。

       N Kα 和 Ti Ll 線系相差僅 3eV（N Ka=0.392keV；Ti Ll=0.395keV），即使當(dāng)前Z高 級別的電子探針波譜儀也無法將二者分開。忽略 Ti Ll 線系對 N Kα 線的“貢獻(xiàn)”會造成定量分析結(jié)果的嚴(yán)重偏差。

       日本電子的探針提供一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)軟件（Interference Correction），可以很好的解決這一問題。

二 解決辦法的物理背景

       上圖是待測樣品 TiN 的電子探針分析圖。右上圖為 LIH 晶體測得的 Ti 的主線系 Ti Kα， 左上圖為使用 LDE1 晶體測得的 N Kα 譜圖（紅色為 N 的譜圖，黑色為 Ti 的次級線系Ti Ll 和 Ti Ln 的譜圖，以下簡稱為 Ti Ll 譜圖）。左上圖中黃色線段是 Ti 的“貢獻(xiàn)”，是需要扣除的，我們稱之為“干擾峰強(qiáng)度”，紅色線段是我們所需要的 N 的真實(shí)峰值，我們稱之為“待測元素實(shí)際強(qiáng)度”。

       Interference Correction 方法的關(guān)鍵點(diǎn)就是準(zhǔn)確測量校正系數(shù) α，α=標(biāo)準(zhǔn)樣品 Ti Ll 強(qiáng)度值/標(biāo)準(zhǔn)樣品 Ti Kα 標(biāo)準(zhǔn)樣品強(qiáng)度值，如下圖所示：

干擾峰 Ti Ll 的強(qiáng)度值=α*待測樣品 Ti Kα 的實(shí)際強(qiáng)度值

待測元素 N Kα 的強(qiáng)度值（凈值）=N Kα 峰值處實(shí)測強(qiáng)度值 - 干擾峰 Ti Ll 的強(qiáng)度值

操作步驟如下：

       ? 選擇區(qū)別于待測樣品 TiN 的含 N 標(biāo)準(zhǔn)樣品，例如 BN，準(zhǔn)確測量 N 的峰值和左、右

背景值

       ? 選擇區(qū)別于待測樣品 TiN 的含 Ti 標(biāo)準(zhǔn)樣品，例如純 Ti，準(zhǔn)確測量 Ti 的 Ti Kα 峰值以及在 N 元素峰值處的 Ti Ll 強(qiáng)度值（注意不是 Ti Ll 的峰值），以便獲得準(zhǔn)確的干擾系數(shù) α ? 實(shí)測待測樣品 TiN 中的 Ti Kα 的強(qiáng)度值以及 N 元素 Kα 峰值處的強(qiáng)度值，程序會自動獲得 N 元素 Kα 的凈值

三 具體實(shí)驗(yàn)步驟

1．標(biāo)準(zhǔn)樣品的錄入和標(biāo)樣的測量

       ? 將 Ti 的標(biāo)準(zhǔn)樣品純 Ti 和 N 的標(biāo)準(zhǔn)樣品 BN，以及 TiN 樣品裝入探針內(nèi)

       ? 錄入 Ti 的標(biāo)樣和 N 的標(biāo)樣信息，注意：準(zhǔn)確找到標(biāo)準(zhǔn)樣品位置，將十字叉絲調(diào)節(jié)清晰，錄入標(biāo)準(zhǔn)樣品的名稱，成份信息，以及位置信息

       ? 將 N 標(biāo)樣 BN 進(jìn)行標(biāo)樣檢測，電子光學(xué)條件是 20kV，50nA，如下圖所示：

       ? 將 Ti 的標(biāo)樣進(jìn)行標(biāo)樣檢測，電子光學(xué)條件同上，如下圖所示：

2． 常規(guī)方法進(jìn)行未知樣品 TiN 的定量分析（不使用 Interference Correction 校正） 

       ? “未知樣品”選擇的是國產(chǎn)標(biāo)樣 TiN（Ti:77.37%;N: 27.6%;純度 99.97%） 

       ? 對上述 TiN 樣品進(jìn)行常規(guī)定量分析，電子光學(xué)條件 20kV,50nA，Ti 選擇的是 PETJ

       晶體，N 選擇的是 LDE1H，并采用的 Metal-ZAF 定量分析方法，如下圖所示：

       ? 注意上述紅框中未“勾選”，這意味著定量分析未進(jìn)行重疊峰校正

       ? 鼠標(biāo)單擊 Data-Selection 對話框中的文件夾，可以進(jìn)行標(biāo)樣的存儲路徑選擇，選擇合適的標(biāo)樣

       ? N 元素的左、右背景值分別選擇 10mm，選擇好 N 的標(biāo)準(zhǔn)樣品數(shù)據(jù)

       ? 執(zhí)行定量分析后，得到如下圖的結(jié)果。與國產(chǎn)標(biāo)樣 TiN 的真實(shí)含量進(jìn)行比對，發(fā)現(xiàn)定量數(shù)據(jù)偏差較大，而且總量偏差也較大

       標(biāo)樣數(shù)值：Ti:77.37%;N: 22.6%;純度 99.97% 

       未經(jīng)重疊峰校正的定量分析數(shù)值：Ti:79.46%;N: 25.96%;總量 105.4%

3. 使用 Interference Correction 校正進(jìn)行未知樣品 TiN 的定量分析

       ? 將 TiN 作為待測樣品進(jìn)行檢測，電子光學(xué)條件 20kV,50nA，Ti 選擇的是 PETJ，N 選擇的是 LDE1H，采用的是 Metal-ZAF 定量分析條件，

       如下圖所示：

       ? 鼠標(biāo)單擊 Data-Selection 對話框中的文件夾，可以進(jìn)行標(biāo)樣的存儲路徑選擇，選擇合適的標(biāo)樣

       ? N 元素的左、右背景值選擇 10mm，選擇好 N 的標(biāo)準(zhǔn)樣品數(shù)據(jù)

       ? 在 Quantitative analysis condition 中，在 Interference Correction下面的 Apply 前的復(fù)選框打鉤。在 Element 下選擇 N 以及通道和分光晶體，注意，這里選擇的是被干擾元素。這與 Analysis Element Condition中選擇 N 的通道和分光晶體對應(yīng)。在 Interference 下面選擇 Ti 以及通道和分光晶體，注意，這里選擇的是干擾元素。這與 Analysis ElementCondition 中選擇 Ti 的通道和分光晶體對應(yīng)。

       ? 點(diǎn)擊 Calibrate，目的是要計(jì)算 Ratio，會有對話框彈出，再確認(rèn) Ti 的標(biāo)準(zhǔn)樣品（純 Ti）以及 N 的標(biāo)準(zhǔn)樣品（BN）的坐標(biāo)位置，以及十字叉絲調(diào)節(jié)清晰，確認(rèn)無誤后，點(diǎn)擊 Start。

       ? Ratio 下面顯示開始運(yùn)行“Running”

       ? 程序運(yùn)行完成后，Radio 得到值 0.0100（程序運(yùn)算值），并自動顯示

       ? 執(zhí)行定量分析后，得到如下圖的結(jié)果，與 TiN 的真實(shí)含量以及未經(jīng)校正得到的定量數(shù)據(jù)比對，發(fā)現(xiàn)經(jīng)過重疊峰校正后的數(shù)據(jù)明顯、大幅改善，說明該種校正非常有效。

       標(biāo)樣數(shù)值：Ti:77.37%;N: 22.6%;純度 99.97% 

       經(jīng)重疊峰校正的定量分析數(shù)值：Ti:78.96%;N: 21.09%;總量 100.05%

四 總結(jié)

       ? Interference Correction 可以有效地解決電子探針中重疊峰的問題，對重疊峰有效地剝離，正確的計(jì)算出兩個(gè)重疊元素各自真實(shí)的含量。

       ? 電子探針中還有其它重疊峰剝離方法，例如 Spectrum De-convolution Analysis Program 程序，該程序是利用Z小二乘法進(jìn)行重疊峰的剝離，屬于選購軟件，我們不建議推薦該軟件。因?yàn)闃?biāo)準(zhǔn)配Interference Correction 方法能夠勝任大多數(shù)工作。

五 小知識

       ? 如何判斷出兩個(gè)元素重疊與否呢？在 Analysis Element Condition 中，選擇這兩個(gè)元素，如下圖所示，選擇 Ti 與 N，點(diǎn)擊 Peak Overlap

       ? 如下圖所示，藍(lán)色區(qū)域：N Kα 線峰 peak 位置和 Ti Ll 一階線非常相近，兩條線的 L 值的“diff”距離是 0.889mm；N Kα 線下背底“bg-”位置和 Ti LN 一階線非常相近，兩條線的 L 值的“diff”距離是 1.922mm

液相色譜儀出峰不佳，峰分叉的原因