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銅牌會(huì)員 第 6 年
上海波銘科學(xué)儀器有限公司
認(rèn)證:工商信息已核實(shí)
- 產(chǎn)品分類
- 品牌分類
- 光譜探測(cè)系統(tǒng)
- CMOS相機(jī)
- 光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)
- 光源/激光器
- 光譜儀
- 光電探測(cè)器
- 電子數(shù)據(jù)采集器
- 光學(xué)平臺(tái)
- 電動(dòng)位移臺(tái)
- 手動(dòng)位移臺(tái)
- 調(diào)整架
- 光學(xué)元件
- 激光器和激光量測(cè)
- 光學(xué)平臺(tái)和光學(xué)機(jī)械
- 光譜系統(tǒng)
- 光電探測(cè)系統(tǒng)
- 電學(xué)測(cè)試儀表
- 低溫和探針臺(tái)
- 半導(dǎo)體材料測(cè)試
- 探針臺(tái)顯微鏡系統(tǒng)(含測(cè)試機(jī))
- ( 美國(guó))Klar
- ( 福州)福州鑫圖
- ( 英國(guó))牛津儀器
- ( 日本)日本濱松
- ( 美國(guó))深圳愛(ài)特蒙特
- ( 美國(guó))北京理波光譜
- ( 浦東新區(qū))上海波銘
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儀企號(hào)
上海波銘科學(xué)儀器有限公司
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非接觸遷移率測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格:面議- 品牌:上海波銘
- 產(chǎn)地:上海 浦東新區(qū)
LEIModel1605,是非接觸遷移率測(cè)試系統(tǒng),可對(duì)各種半導(dǎo)體材料和器件結(jié)構(gòu)進(jìn)行測(cè)試。無(wú)需制樣,消除了樣品制備引起的遷移率變化。
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非接觸方塊電阻測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格:面議- 品牌:上海波銘
- 產(chǎn)地:上海 浦東新區(qū)
LEI88 是針對(duì)科研類客戶開發(fā)的產(chǎn)品,具備非接觸快速測(cè)試方塊電阻和電導(dǎo)率功能。
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非接觸Hall和方塊電阻測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格:面議- 品牌:上海波銘
- 產(chǎn)地:上海 浦東新區(qū)
非接觸Hal和方塊電陽(yáng)測(cè)試系統(tǒng),可對(duì)GaAs,InP,InAs,GaN,AIN,Si,SiC等各種半導(dǎo)體材料設(shè)計(jì)的HEMTs,pHEMTs,HBTs,FETs器件結(jié)構(gòu)進(jìn)行測(cè)試。
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SRP 擴(kuò)展電阻測(cè)試價(jià)格:面議- 品牌:上海波銘
- 產(chǎn)地:上海 浦東新區(qū)
SRP 測(cè)試系統(tǒng),采用擴(kuò)展電阻率技術(shù)(SRP),對(duì)載流子濃度和電阻率隨深度的變化做快速測(cè)試。







